CN113514673A - 触控通道切换电路、装置及检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及触屏矩阵阻容测试技术领域，公开了一种触控通道切换电路、装置及检测系统，包括多个开关单元组，多个开关单元组的输出端与多个触控通道一一对应相连通，开关单元组包括第一开关单元和第二开关单元，第一开关单元的第一端和第二开关单元的第一端相连接，形成输出端；第一开关单元的第二端连接触控通道切换电路的正端或负端，第二开关单元的第二端接地。通过控制触控通道切换电路内各个开关单元的通断，可以实现对各个触控通道连接通断的控制。在对触屏矩阵进行阻容测试时，可以利用控制触控通道切换电路快速切换连接至测试电路的触控通道，利用测试电路对触控通道进行阻容测试，降低了对触屏矩阵阻容进行测试时的切换复杂程度。

Description

触控通道切换电路、装置及检测系统

技术领域

本发明涉及触屏矩阵阻容测试技术领域，特别是涉及一种触控通道切换电路、装置及检测系统。

背景技术

随着技术的发展，触控芯片和显示芯片分离的局面将慢慢消失，随之出现了触控芯片和显示芯片合二为一的驱动芯片TDDI。TDDI芯片的出现对TDDI芯片的生产测试提出了新的要求。由于TDDI芯片保留了显示驱动芯片的特点，采用COG（Chip On Glass）和COF（Chip On Flex）的封装模式，因此无法焊接到PCB（Printed Circuit Board，印制电路板）上，无法使用TP测试盒对TDDI芯片的性能进行测试。如何针对触控屏的矩阵阻容进行质量测试成为一个难题。

发明内容

基于此，有必要针对如何对触控屏的矩阵阻容进行质量测试的问题，提供一种触控通道切换电路、装置及检测系统。

一种触控通道切换电路，用于控制触屏矩阵中各触控通道的通断，所述触控通道切换电路包括多个开关单元组，所述多个开关单元组的输出端与多个触控通道一一对应相连通，所述开关单元组包括第一开关单元和第二开关单元，所述第一开关单元的第一端和所述第二开关单元的第一端相连接，形成所述输出端；所述第一开关单元的第二端连接触控通道切换电路的正端或负端，所述第二开关单元的第二端接地。

在其中一个实施例中，与第奇数个所述触控通道相连接的所述第一开关单元的第二端与奇数公共端相连接构成奇数开关组，与第偶数个所述触控通道相连接的所述第一开关单元的第二端与偶数公共端相连接构成偶数开关组；所述奇数公共端用于作为所述触控通道切换电路的正端，所述偶数公共端用于作为所述触控通道切换电路的负端；或所述奇数公共端用于作为所述触控通道切换电路的负端，所述偶数公共端用于作为所述触控通道切换电路的正端。

在其中一个实施例中，所述开关单元组还包括第三开关单元，所述奇数公共端通过一个所述第三开关单元与测试电路的正端相连接，所述奇数公共端还通过一个所述第三开关单元与测试电路的负端相连接。

在其中一个实施例中，所述开关单元组还包括第三开关单元，所述偶数公共端通过一个所述第三开关单元与测试电路的正端相连接，所述偶数公共端还通过一个所述第三开关单元与测试电路的负端相连接。

在其中一个实施例中，所述触控通道包括发送触控通道和接收触控通道。

在其中一个实施例中，所述触控通道切换电路包括16路输出，分别连接触屏矩阵中16个触控通道。

一种触控通道切换装置，包括多个上述任意一项实施例中所述的触控通道切换电路，多个所述触控通道切换电路的正端相互连接，多个所述触控通道切换电路的负端相互连接。

一种检测系统，包括触控通道切换装置，用于与触屏矩阵的触控通道相连接；测试电路，与所述触控通道切换装置相连接，用于对所述触屏矩阵中各所述触控通道的阻容参数进行测试。

在其中一个实施例中，所述触控通道包括发送触控通道和接收触控通道，所述测试电路包括互容测试电路，用于对任一所述发送触控通道与任一所述接收触控通道的交汇点进行互容测试；自容测试电路，用于对所述触控通道进行自容测试；线电阻测试电路，用于对所述触控通道进行线电阻测试；绝缘电阻测试电路，用于对所述触控通道进行绝缘电阻测试。

在其中一个实施例中，所述测试电路还包括相邻触控通道检测电路，用于任一奇数触控通道与任一偶数触控通道间的短路测试。

上述触控通道切换电路，包括多个开关单元组，多个开关单元组的输出端分别与触屏矩阵中的多个触控通道一一对应连接，可以利用开关单元组对各触控通道的通断进行控制。开关单元组包括第一开关单元和第二开关单元。第一开关单元的第一端与第二开关单元的第一端相连接形成输出端，第一开关单元的第二端与触控通道切换电路的正端或者负端相连接，第二开关单元的第二端接地。通过控制触控通道切换电路内开关单元的导通与关断，可以实现对不同触控通道上或不同触控通道之间的电容和电阻的测试。利用触控通道切换电路可以快速切换到待测触控通道以对待测触控通道进行阻容测试，大大降低了矩阵阻容的切换复杂程度。同时，对于电路的合理设计与排布还可以减小印制电路的面积。

附图说明

为了更清楚地说明本说明书实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本公开其中一实施例的触控通道切换电路的结构示意图；

图2为本公开其中一实施例的触控通道矩阵的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的优选实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反的，提供这些实施方式的目的是为了对本发明的公开内容理解得更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“上”、“下”、“前”、“后”、“周向”以及类似的表述是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

随着制备工艺的提高手机越做越薄，目前手机触屏已从以前的表贴式变成如今设置于显示屏与显示屏合二为一，因此触控和显示的驱动芯片也需要合二为一，可见TDDI是将来解决触控与显示的主流方案。然而TDDI芯片出现对于生产测试提出了新的要求。由于TDDI芯片保留了显示驱动芯片的特点，COG和COF的封装模式无法焊接到PCB上，无法使用TP测试盒对TDDI芯片的性能进行测试。

触控屏的质量测试只能通过LCR方案来实现，利用LCR测试盒直接测试触控的矩阵阻容。然而LCR测试盒的要求比较高，对于pF级的电容测试难度较大，如何利用LCR测试盒对矩阵阻容进行测试也成为一个问题。

本发明提供一种触控通道切换电路，可以将触控通道切换电路与LCR测试盒连接，来实现利用LCR测试盒对矩阵阻容进行测试。

图1为本公开其中一实施例的触控通道切换电路的结构示意图，在其中一个实施例中，触控通道切换电路包括多个开关单元组100。开关单元组100的数量可以与触屏矩阵中触控通道10的数量相同，一个触控通道10与一个开关单元组100的输出端对应连接。一个开关单元组100包括一个第一开关单元110和一个第二开关单元120。第一开关单元110的第一端与第二开关单元120的第一端相连接，第一开关单元110与第二开关单元120的连接点构成开关单元组100的输出端。

第一开关单元110的第二端与触控通道切换电路的正端或负端相连接，第二开关单元120的第二端则接地。导通任意一个开关单元组100中的第一开关单元110，可以将与导通的第一开关单元110相连接的触控通道10与触控通道切换电路的正端或负端相连接，同样地，导通任意一个开关单元组100中的第二开关单元120可以将与导通的第二开关单元120相连接的触控通道10接地。

在其中一个实施例中，第一开关单元110和第二开关单元120可以为模拟开关。触屏矩阵可以为智能手表、智能眼镜、智能手机、平板电脑等移动设备中的触屏矩阵。

上述触控通道切换电路可以通过改变第一开关单元110和/或第二开关单元120的通断来控制触控通道的通断。将触控通道切换电路与测试电路相连接，即可利用测试电路实现对触屏矩阵的测试。通过控制触控通道切换电路内各个开关单元组100的导通与关断，将待测的触控通道10快速切换至与测试电路相连接，从而可以利用测试电路灵活地对触屏矩阵中任意一个触控通道10上或两个触控通道10之间的阻容参数进行测试。使用本公开提供的触控通道切换电路对触屏矩阵进行阻容测试，可以快速切换连接至测试电路的触控通道10，大大降低了矩阵阻容的切换复杂程度。同时，对于电路的合理设计与排布还可以减小印制电路的面积。

在其中一个实施例中，可以按照触屏矩阵中的排列顺序将多个触控通道10分为奇数通道和偶数通道，在电路中将第奇数个触控通道10定义为奇数通道，将第偶数个触控通道10定义为偶数通道。如图1所示，所有与奇数通道相连接的第一开关单元110的第二端都彼此互相连接，所有与奇数通道相连接的第一开关单元110构成了奇数开关组，可以将所有与奇数通道相连接的第一开关单元110第二端的连接点作为触控通道切换电路的奇数公共端TRx_COM_ODD。同样地，所有与偶数通道相连接的第一开关单元110的第二端也彼此互相连接，所有与偶数通道相连接的第一开关单元110构成了偶数开关组，可以将所有与偶数通道相连接的第一开关单元110第二端的连接点作为触控通道切换电路的偶数公共端TRx_COM_EVEN。

在本公开的一些实施例中，可以将奇数公共端TRx_COM_ODD作为触控通道切换电路的正端，将偶数公共端作为触控通道切换电路的负端。在一些其他的实施例中，也可以将奇数公共端TRx_COM_ODD作为触控通道切换电路的负端，将偶数公共端TRx_COM_EVEN作为触控通道切换电路的正端。触控通道切换电路的正端和负端用于与外接的检测电路相连接。在应用时，可以通过控制触控通道切换电路中与各个触控通道10相连接的开关单元的通断情况，来选择对触屏矩阵中的哪一个或哪几个触控通道10的阻容参数进行检测。

例如，可以通过导通与任意一个奇数通道和任意一个偶数通道连接的第一开关单元110，并断开其余第一开关单元110和所有第二开关单元120，将奇数公共端TRx_COM_ODD和偶数公共端TRx_COM_EVEN与测试电路相连接，从而利用测试电路实现对于两个触控通道10之间的阻容测试。另外，也可以通过导通任意一个触控通道10连接的第一开关单元110和第二开关单元120，并断开其余第一开关单元110和其余第二开关单元120，将奇数公共端TRx_COM_ODD/偶数公共端TRx_COM_EVEN与测试电路相连接，从而利用测试电路实现对与导通的单个触控通道10进行阻容测试。

在本公开中为了更好地说明触控通道切换电路的电路构成，以图1所示的电路图为例来进行说明，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。图1中触控通道切换电路包括16个触控通道TRx1~TRx16，可以采用1个32位高压模拟开关作为触控通道切换电路中的16个开关单元组100，每个开关单元组100中包括两个高压模拟开关，其中一个高压模拟开关作为第一开关单元110，另一个高压模拟开关作为第二开关单元120。一个触控通道10对应与两个高压模拟开关相连接，触控通道10通过第一开关单元110连接到奇数公共端TRx_COM_ODD/偶数公共端TRx_COM_EVEN，通过第二开关单元120接地。

奇数通道TRx1、TRx3、TRx5……TRx15均分别通过对应的第一开关单元110与奇数公共端TRx_COM_ODD相连接，可以通过控制奇数开关组中任意一个第一开关单元110的导通与关断来选择导通的奇数通道。同样地，偶数通道TRx2、TRx4、TRx6...TRx16均分别通过对应的第一开关单元110与偶数公共端TRx_COM_EVEN相连接，可以通过控制偶数开关组中任意一个第一开关单元110的导通与关断来选择导通的偶数通道。触控通道TRx1~TRx16均分别通过对应的第二开关单元120接地，可以通过控制接地的第二开关单元120的导通与关断来选择对哪一个或哪几个触控通道10进行对地测试。

例如，可以通过导通触控通道TRx1与奇数公共端TRx_COM_ODD之间的高压模拟开关，导通触控通道TRx2与偶数公共端TRx_COM_EVEN之间的高压模拟开关，断开其余的高压模拟开关，同时，将奇数公共端TRx_COM_ODD作为触控通道切换电路的正端、将偶数公共端TRx_COM_EVEN作为触控通道切换电路的负端分别与LCR测试盒的正端和负端相连接，即可利用LCR测试盒对触控通道TRx1和触控通道TRx2进行互容测试。

同样地，也可以通过导通触控通道TRx1与奇数公共端TRx_COM_ODD之间的高压模拟开关，以及导通触控通道TRx1对地的高压模拟开关，断开其余的高压模拟开关，同时，将奇数公共端TRx_COM_ODD与LCR测试盒相连接，即可利用LCR测试盒对触控通道TRx1进行自容测试或绝缘电阻测试。

同样地，也可以通过导通触控通道TRx2与偶数公共端TRx_COM_EVEN之间的高压模拟开关，以及断开触控通道TRx2对地的高压模拟开关，断开与其余触控通道相连接的高压模拟开关，同时，将偶数公共端TRx_COM_EVEN与LCR测试盒相连接，即可利用LCR测试盒对触控通道TRx2进行线电阻测试。

在其中一个实施例中，开关单元组100还包括第三开关单元130。奇数公共端TRx_COM_ODD通过一个第三开关单元130与测试电路的正端相连接，奇数公共端TRx_COM_ODD还通过一个第三开关单元130与测试电路的负端相连接。

在其中一个实施例中，同样地，偶数公共端TRx_COM_EVEN也通过一个第三开关单元130与测试电路的正端相连接，偶数公共端TRx_COM_ODD还通过一个第三开关单元130与测试电路的负端相连接。

如图1所示，将触控通道切换电路作为被测器件DUT（Device Under Test），CAP_TEST_P和CAP_TEST_N分别为用于与测试电路的正端和负端相连接的两个端点。将CAP_TEST_P定义为DUT（Device Under Test，被测器件）的正端，CAP_TEST_N定义为DUT的负端。通过控制四个第三开关单元130的通断可以实现CAP_TEST_P/CAP_TEST_N与TRx_COM_ODD/TRx_COM_EVEN之间连接关系的任意切换，即奇数公共端TRx_COM_ODD可以做DUT的正端，也可以做DUT的负端；偶数公共端TRx_COM_EVEN同样也可以做DUT的正端，可以做DUT的负端。

例如，断开偶数公共端TRx_COM_EVEN与测试电路的负端之间的第三开关单元130，闭合偶数公共端TRx_COM_EVEN与测试电路的正端之间的第三开关单元130，并断开奇数公共端TRx_COM_ODD与测试电路的正端之间的第三开关单元130，闭合奇数公共端TRx_COM_ODD与测试电路的负端之间的第三开关单元130，即可实现令偶数公共端TRx_COM_EVEN作为触控通道切换电路的正端与测试电路的正端相连接，令奇数公共端TRx_COM_ODD作为触控通道切换电路的负端与测试电路的负端相连接。

在其中一个实施例中，触控通道10包括发送触控通道Tx（transport）和接收触控通道Rx(receive)。在硬件设计上发送触控通道Tx和接收触控通道Rx是等价的，即发送触控通道Tx和接收触控通道Rx使用的硬件元件是相同的，硬件上不分Tx和Rx。任意一个触控通道都既可以被设置成Tx，也可以被设置成Rx。

如图1所示，在硬件上可以将Tx和Rx合并定义成TRx的网络编号。触控通道切换电路中的哪一个或哪几个触控通道10是发送触控通道Tx/接收触控通道Rx，可以通过软件编程来进行设置。在实际使用中，可以根据设计需求对触控通道10的设置进行调整。

在其中一个实施例中，触控通道切换电路包括16路输出，分别连接触屏矩阵中16个触控通道10。即触控通道切换电路中包括16个开关单元组100，16个开关单元组100的输出端分别与触屏矩阵中的16个触控通道10对应连接。由于在触控通道切换电路中测试任意一个触控通道10时，其他通道需要接地，因此在触控通道切换电路中至少使用两个开关单元来实现对单个触控通道10导通状况的切换控制，即通过改变第一开关单元110的通断状态控制与其连接的触控通道10是否接地，通过改变第二开关单元120的通断状态控制与其连接的触控通道10是否导通与奇数公共端/偶数公共端的连接通路。

由于目前市面上32位高压模拟开关较为常见，因此，在单个触控通道切换电路中设置16个触控通道10可以最大化地对32位高压模拟开关进行利用。在一些其他的实施例中，也可以出于简化编程、提高切换速度等优化目的选择其他合适的开关单元组数量。

图2为本公开其中一实施例的触控通道矩阵的结构示意图。图2所示的是一个简易的8*8电容触摸屏矩阵模型，其中Tx0 ~ Tx7为信号发送端即发送触控通道，Rx0 ~ Rx7为信号接收端即接收触控通道。在连接测试时，可将Tx0 ~ Tx7对应的接到TRx1- TRx7，将Rx0 ~Rx7对应的接到TRx8- TRx16，当然顺序也可变，具体以能够有序控制测试为准。

触控通道Tx0 ~ Tx7分别对地之间的容值称为Tx的自容，触控通道Rx0 ~ Rx7分别对地之间的容值称为Rx的自容。单条触控通道Tx0与Tx0A之间的阻值称为Tx0的线电阻，单条触控通道Tx1与Tx1A之间的阻值称为Tx1的线电阻，以此类推。触控通道Tx0 ~ Tx7分别对地之间的阻值称为Tx的绝缘电阻，触控通道Rx0 ~ Rx7分别对地之间的阻值称为Rx的绝缘电阻。

Tx0 ~ Tx7与Rx0 ~ Rx7形成了一个8*8的矩阵列，Tx和Rx之间交汇点存在的容值称为互容，即在图2所示的8*8电容触摸屏矩阵模型中共有64个互容节点。通过将Tx0~Tx7中任一通道与Rx0~Rx7中任一通道连通，其余通道断开，可以实现对其中一个交汇点的互容测试，例如Tx0和Rx0导通，其余断开，可以测试Tx0和RX0交叉点处的互容。

在测试时，对任意一个触控通道10自身的阻值、容值或与任意两个触控通道10之间的阻值、容值进行测试时，都需要不断调整测试电路与电容触摸屏矩阵的连接关系，大大增加了操作时间。使用本公开提供的触控通道切换电路对待测样品的触屏矩阵进行阻容测试时，通过改变控制电路中各个开关单元的通断即可快速导通待测的触控通道10与测试电路的连接通路，令测试电路对待测的触控通道10进行阻容测试，有效地降低了矩阵阻容的切换复杂程度，也有效地提高了测试效率。

上述触控通道切换电路适用于智能手表、智能眼镜、智能手机、平板电脑等显示屏上面具有电容触薄膜的触屏矩阵阻容测试中，在测试时具有良好的测试精度。同时，对于电路的合理设计与排布还可以减小印制电路的面积、减少测试设备的体积，适用于各种测试环境。

本公开还提供了一种触控通道切换装置，包括多个上述任意一个实施例中所述的触控通道切换电路。利用多个触控通道切换电路可以实现对显示屏上大数量的触屏矩阵进行阻容测试。将多个触控通道切换电路中各个开关单元组100的输出端分别与触屏矩阵中各个触控通道10对应连接，触控通道切换装置中开关单元组100的数量可以与触屏矩阵中触控通道10的数量相同。

在其中一个实施例中，多个触控通道切换电路的正端相互连接，多个触控通道切换电路的负端相互连接。将多个触控通道切换电路均视为被测器件DUT（Device UnderTest），每一个触控通道切换电路均包括一个CAP_TEST_P和一个CAP_TEST_N，分别为用于与测试电路的正端和负端相连接的两个端点。将CAP_TEST_P定义为DUT（Device Under Test，被测器件）的正端，CAP_TEST_N定义为DUT的负端。

触控通道切换装置中所有触控通道切换电路的正端CAP_TEST_P均相互连接，所有触控通道切换电路的负端CAP_TEST_N均相互连接，可以对任意两个触控通道切换电路之间的触控通道10或任意一个触控通道切换电路中的触控通道10进行电容和电阻的测试。

对于触控通道10数量较大的触屏矩阵，可以通过增加触控通道切换装置中触控通道切换电路的数量，以保证触控通道切换装置能够实现对触屏矩阵中每一个触控通道10的通断控制，从而触控通道10数量较大的触屏矩阵也可以实现高效率阻容测试。通过控制装置中各个电路中各个开关单元的通断，来实现快速导通待测的触控通道10与测试电路间的连接通路，进而利用测试电路对该触控通道10进行阻容测试，有效地降低了对大量矩阵阻容进行测试时的切换操作复杂程度，也有效地提高了测试效率。

在其中一个实施例中，触控通道切换装置包括10个触控通道切换电路。若每个触控通道切换电路可以与16个触控通道10相连接，则触控通道切换装置就可以实现对160个触控通道10的通断控制。同时，触控通道切换装置中160个触控通道10可以任意设置为发送触控通道Tx或接受触控通道Rx。任意两个触控通道切换电路中的触控通道10之间都可以测试电容和电阻，任意一个触控通道切换电路中的任意奇数通道和任意偶数通道之间可以测试电容和电阻。

本公开的触控通道切换装置适用于对穿戴类触屏、移动通信类手机触屏、平板类和笔记本类触屏的触屏矩阵阻容测试，可以支持对160个触控通道的切换控制，并且具有较高的测试精度以及较高的测试效率。

在本公开还提供了一种检测系统，包括上述实施例中提供的触控通道切换装置和测试电路。触控通道切换装置，用于与触屏矩阵的触控通道10相连接。测试电路与触控通道切换装置相连接，用于对触屏矩阵中各个触控通道10的阻容参数进行测试。

在应用时，可以利用软件对检测系统中的互容测试模式、CDC（Capacitancedigital converter，电容数字转换器）模式和F/V（Frequency/Voltage，频率/电压）模式的设置进行自由切换。利用不同的测试模式对触屏矩阵进行自容、互容、线电阻和绝缘电阻等参数测试。获取触屏矩阵中各触控通道10的真实阻容数值，还具备对于触屏矩阵中缺陷的修复功能。例如，可以通过在相邻两个发送触控通道Tx或者接收触控通道Rx之间通±30V电压的脉冲，以将短路的石刻毛刺烧断，从而实现Aging（老化）修复功能。其中，施加在相邻两个发送触控通道Tx或者接收触控通道Rx之间的电压的幅值大小可在30V上下适当调整，在此不做限制。

在其中一个实施例中，测试电路可以包括互容测试电路、自容测试电路、线电阻测试电路和绝缘电阻测试电路。互容测试电路可以用于对任意一个发送触控通道10与任意一个接收触控通道的交汇点进行互容测试。自容测试电路可以用于对触控通道10进行自容测试。线电阻测试电路可以用于对触控通道10进行线电阻测试。绝缘电阻测试电路可以用于对触控通道10进行绝缘电阻测试。

在本实施例中，可以利用软件对检测系统中的互容测试模式、CDC模式和F/V模式的设置进行自由切换，从而可以将触控通道10切换到与不同的测试电路进行连接，例如与CDC互容测试电路、F/V互容测试电路、自容测试电路、线电阻测试电路、绝缘电阻测试电路等相连接。利用不同的测试电路实现对触屏矩阵中各个触控通道10的阻容测试。

例如，可以通过将触控通道切换装置的正端和负端分别与LCR测试盒的正端和负端相连接，从而利用LCR测试盒对触控通道切换装置中任意一个发送触控通道与任意一个接收触控通道交汇点的互容值进行测试。LCR测试盒可以直接测试发送触控通道Tx和/或接收触控通道Rx的绝缘电阻、线电阻、自容和互容，LCR测试盒还可以实现触屏修复功能。

对检测系统设置CDC模式时，可以采用专业电容测试芯片进行电容测试，通过触控通道切换装置中的多个触控通道10将各个节点切换到测试芯片的正端和负端。利用CDC模式测试电容时的优势在于测试方式比较简单，只需要将I2C接口设置为电容测试模式，直接读取专业电容测试芯片的内部寄存器即可获取测试得到的电容值。

对检测系统设置F/V模式时，可以采用FPGA（Field Programmable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列）发送激励波形，经过待测试的电容后，再经过运放和比较器，将测试电容的波形输入给FPGA测试脉宽来实现互容测试。使用F/V模式测试电容时的优势在于测试时间更短、测试效率更高。

在实际应用时，可以根据测试需求合理选择与触控通道切换装置相连接的测试电路，从而实现对与触控通道切换装置中各个触控通道10的阻容测试。

在其中一个实施例中，所述测试电路还可以包括相邻触控通道检测电路。相邻触控通道检测电路可以用于任一奇数触控通道与任一偶数触控通道间的短路测试。例如，导通与第一个触控通道相连接的第一开关单元110以导通第一个触控通道10与相邻触控通道检测电路之间的连接通路，导通与第二个触控通道10相连接的第一开关单元110以导通第二个触控通道10与相邻触控通道检测电路之间的连接通路，并断开其余所有开关单元，即可利用相邻触控通道检测电路对相邻的第一个触控通道10和第二个触控通道10进行短路测试。

在本公开一些其他的实施例中，利用相邻触控通道检测电路对导通的奇数触控通道和导通的偶数触控通道进行短路测试时，导通的奇数触控通道与导通的偶数触控通道也可以不相邻。通过完成对奇数触控通道与偶数触控通道间所有排列组合的短路测试，可以对触屏矩阵中是否存在短路故障进行排查，进而提高产品的良品率。

在本说明书的描述中，参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种触控通道切换电路，其特征在于，用于控制触屏矩阵中各触控通道的通断，所述触控通道切换电路包括多个开关单元组，所述多个开关单元组的输出端与多个触控通道一一对应相连通，

所述开关单元组包括第一开关单元和第二开关单元，所述第一开关单元的第一端和所述第二开关单元的第一端相连接，形成所述输出端；所述第一开关单元的第二端连接触控通道切换电路的正端或负端，所述第二开关单元的第二端接地。

2.根据权利要求1所述的触控通道切换电路，其特征在于，与第奇数个所述触控通道相连接的所述第一开关单元的第二端与奇数公共端相连接构成奇数开关组，与第偶数个所述触控通道相连接的所述第一开关单元的第二端与偶数公共端相连接构成偶数开关组；

所述奇数公共端用于作为所述触控通道切换电路的正端，所述偶数公共端用于作为所述触控通道切换电路的负端；或

所述奇数公共端用于作为所述触控通道切换电路的负端，所述偶数公共端用于作为所述触控通道切换电路的正端。

3.根据权利要求2所述的触控通道切换电路，其特征在于，所述开关单元组还包括第三开关单元，所述奇数公共端通过一个所述第三开关单元与测试电路的正端相连接，所述奇数公共端还通过一个所述第三开关单元与测试电路的负端相连接。

4.根据权利要求2所述的触控通道切换电路，其特征在于，所述开关单元组还包括第三开关单元，所述偶数公共端通过一个所述第三开关单元与测试电路的正端相连接，所述偶数公共端还通过一个所述第三开关单元与测试电路的负端相连接。

5.根据权利要求1-4任一项所述的触控通道切换电路，其特征在于，所述触控通道包括发送触控通道和接收触控通道。

6.根据权利要求1所述的触控通道切换电路，其特征在于，所述触控通道切换电路包括16路输出，分别连接触屏矩阵中16个触控通道。

7.一种触控通道切换装置，其特征在于，包括：

多个权利要求1-5任意一项所述的触控通道切换电路；

多个所述触控通道切换电路的正端相互连接，多个所述触控通道切换电路的负端相互连接。

8.一种检测系统，其特征在于，包括：

触控通道切换装置，用于与触屏矩阵的触控通道相连接；

测试电路，与所述触控通道切换装置相连接，用于对触屏矩阵中各所述触控通道的阻容参数进行测试。

9.根据权利要求8所述的检测系统，其特征在于，所述触控通道包括发送触控通道和接收触控通道，所述测试电路包括：

互容测试电路，用于对任一所述发送触控通道与任一所述接收触控通道的交汇点进行互容测试；

自容测试电路，用于对所述触控通道进行自容测试；

线电阻测试电路，用于对所述触控通道进行线电阻测试；

绝缘电阻测试电路，用于对所述触控通道进行绝缘电阻测试。

10.根据权利要求9所述的检测系统，其特征在于，所述测试电路还包括：

相邻触控通道检测电路，用于任一奇数触控通道与任一偶数触控通道间的短路测试。

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