CN107680521B - 基于阵列基板的检测电路及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种基于阵列基板的检测电路及显示装置，其中，该检测电路包括第一选择电路、第二选择电路以及控制电路，该第二选择电路与该第一选择电路及该控制电路电性连接，该控制电路沿着第一方向设置于该第二选择电路的一侧，该第一选择电路与该第二选择电路沿着与该第一方向相垂直的第二方向设置；该第一选择电路输出一检测信号至该第二选择电路，该控制电路接收一触发信号，并根据该触发信号控制该第二选择电路输出该检测信号至阵列基板，以便该阵列基板根据该检测信号进行显示检测。实施本发明，通过将控制电路沿第一方向设在第二选择电路的一侧，不仅可实现对于阵列基板的检测控制，还可以实现在第二方向窄边框的目的。

Description

基于阵列基板的检测电路及显示装置

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种基于阵列基板的检测电路及具有该阵列基板的显示装置。

背景技术

随着液晶显示技术的不断发展，用户对液晶显示屏(Liquid Crystal Display，LCD)等显示装置的窄边框设计的要求越来越高。随着制造工艺的不断发展，制造厂商为了制造窄边框的手机等电子装置，采用了多种多样的技术手段，例如，将LCD的边框进行缩减。

通常来说，需要在LCD等显示装置的阵列基板电路中设置一组检测电路来检测该显示装置的阵列基板的像素是否能正常显示。然而，该检测电路往往会占用较大的设计空间，进而不利于显示装置的窄边框化设计。如图1所示，图1是现有技术提供的一种基于阵列基板的检测电路的电路示意图。该检测电路包括第一选择电路10、第二选择电路20、控制电路30及测试端70。该测试端70与该第一选择电路10电性连接，该第一选择电路10与该第二选择电路20电性连接，该第二选择电路20与该控制电路30电性连接。其中，测试端70为第一选择电路10提供检测信号，并经由第一选择电路10以及第二选择电路20之间的协作，实现向设置于如图1所示的y方向(此处y方向可定义为第二方向)的控制电路30输出检测信号的目的，从而可以通过与该控制电路30电性连接的数据线(如图1所示的D1-D24)将该检测信号传输至阵列基板以完成显示检测。然而，由于在y方向上设置的所述控制电路30会占用较大的设计空间，因此不利于实现在图1所示的y方向上的窄边框设计。

发明内容

本发明实施例提供了一种基于阵列基板的检测电路及显示装置，其通过将控制电路沿第一方向设置在第二检测电路的一侧后，不仅可以利用第一方向上的冗余空间，还可以达到第二方向窄边框的目的，并且可以实现对于阵列基板的显示检测。

第一方面，本发明实施例提供了一种基于阵列基板的检测电路，包括第一选择电路、第二选择电路以及控制电路，所述第二选择电路与所述第一选择电路及所述控制电路电性连接，其特征在于，所述控制电路沿着第一方向设置于所述第二选择电路的一侧，所述第一选择电路与所述第二选择电路沿着与所述第一方向相垂直的第二方向设置；所述第一选择电路输出一检测信号至所述第二选择电路，所述控制电路接收一触发信号，并根据所述触发信号控制所述第二选择电路输出所述检测信号至阵列基板，以便所述阵列基板在接收到所述检测信号时，根据所述检测信号进行显示检测。

其中，所述第一选择电路包括第一开关单元以及第一控制单元，所述第一开关单元与所述第一控制单元电性连接；所述第一控制单元接收第一控制信号，并将所述第一控制信号传输至所述第一开关单元，以控制该第一开关单元接收检测信号，所述第一开关单元在接收到所述检测信号时，将所述检测信号传输至所述第二选择电路。

其中，所述第一开关单元包括至少一个第一开关；所述第一控制单元包括多条沿第一方向延伸且相互绝缘的第一控制线；其中，每个第一开关分别与多条第一控制线中对应的一条第一控制线电性连接；所述多条第一控制线中的任意一条第一控制线在接收到所述第一控制信号时，与所述第一控制线对应电性连接的第一开关处于导通状态，所述检测信号传输至所述第二选择电路。

其中，所述第二选择电路，包括第二开关单元以及第二控制单元，所述第二开关单元与所述第二控制单元电性连接；所述第二控制单元接收第二控制信号，并将所述第二控制信号传输至所述第二开关单元，以控制所述第二开关单元接收由所述第一开关单元输出的所述检测信号，所述第二开关单元在接收到所述检测信号时，将所述检测信号通过至少一条数据线输出至所述阵列基板。

其中，所述第二开关单元包括多组第二开关；所述第二控制单元包括多条沿第一方向延伸且相互绝缘的第二控制线；每组第二开关中的每个第二开关分别与多条第二控制线中的对应一条第二控制线电性连接；多条第二控制线中的任意一条第二控制线在接收到所述第二控制信号时，将所述第二控制信号传输至与所述第二控制线对应电性连接的第二开关，所述第二开关处于导通状态，并将所述检测信号通过与所述第二开关电性连接的数据线输出至所述阵列基板。

其中，所述检测电路还包括测试端，所述测试端与所述第一开关单元中的每个第一开关的第一端电性连接，所述第一开关在处于导通状态时，接收由所述测试端输出的检测信号，并将该检测信号输出至第二开关单元。

其中，所述控制电路至少包括第三开关单元；所述第三开关单元包括多个第三开关；每个第三开关的控制端用以接收输入的触发信号，所述每个第三开关的第一端与所述第二控制单元连接；所述多个第三开关在利用所述触发信号处于导通状态时，所述第二控制信号传输至所述第二开关单元。

其中，所述检测电路还包括第三控制线和第四控制线，所述第一开关单元包括N个第一开关，所述第一控制单元包括N条第一控制线，所述第二开关单元包括N组第二开关，每组第二开关包括M个第二开关，所述第二控制单元包括M条第二控制线；所述第三开关单元包括M个第三开关；

所述N个第一开关中的每个第一开关的第一端与所述测试端电性连接，所述每个第一开关的第二端与所述N组第二开关中的每组第二开关的第一端电性连接，所述每个第一开关的控制端与所述N条第一控制线中对应的一条第一控制线分别电性连接；

每组第二开关中的各第二开关的第二端与对应的数据线电性连接，所述各第二开关的控制端与所述M条第二控制线中的对应的一条第二控制线分别电性连接；

所述M个第三开关中的各第三开关的第一端分别与所述M条第二控制线中对应的一条第二控制线电性连接，所述各第三开关的第二端与所述第三控制线电性连接，所述各第三开关的控制端与所述第四控制线电性连接，用于控制所述M个第三开关的通断状态，所述M个第三开关中的任意一个第三开关处于导通状态时，所述第二控制信号加载于所述第二控制单元以控制每组第二开关中的第K个第二开关的通断状态，其中，K≤M。

其中，在所述第三开关为N型薄膜晶体管时，若所述触发信号位于高电位，则所述第三开关处于导通状态；在所述第三开关为P型薄膜晶体管时，若所述触发信号处于低电位，则所述第三开关处于导通状态。

第二方面，本发明另一实施例还提供了一种显示装置，包括所述的用于阵列基板的检测电路。

综上所述，本发明实施例提供的基于阵列基板的检测电路中，通过将该控制电路沿着第一方向设置于该第二选择电路一侧未被利用的设计空间处，实现了在与所述第一方向垂直的第二方向上窄边框设计的目的。并且，该控制电路通过控制该第二选择电路对于检测信号的接收和输出过程，实现了对于所述阵列基板的检测控制。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术提供的一种基于阵列基板的检测电路的电路示意图；

图2是本发明实施例提供的一种基于阵列基板的检测电路的电路示意图；

图3是本发明实施例提供的另一种基于阵列基板的检测电路的电路示意图；

图4是本发明实施例提供的又一种基于阵列基板的检测电路的电路示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施方式是本发明的一部分实施方式，而不是全部实施方式。基在本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施方式，都应属在本发明保护的范围。

此外，以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明中所提到的方向用语，例如，“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“内”、“外”、“侧面”等，仅是参考附加图式的方向，因此，使用的方向用语是为了更好、更清楚地说明及理解本发明，而不是指示或暗指所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸地连接，或者一体地连接；可以是机械连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

此外，在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。若本说明书中出现“工序”的用语，其不仅是指独立的工序，在与其它工序无法明确区别时，只要能实现所述工序所预期的作用则也包括在本用语中。另外，本说明书中用“～”表示的数值范围是指将“～”前后记载的数值分别作为最小值及最大值包括在内的范围。在附图中，结构相似或相同的单元用相同的标号表示。

请参见图2，图2是本发明实施例提供的一种基于阵列基板的检测电路的电路示意图。该检测电路设置于显示面板(该显示面板至少包括阵列基板)用于显示图像的有效显示区域(Active Area，AA)外围的边框区域中。其中，所述有效显示区域即可显示文字图形的总面积。在本发明的实施例中，图2所示的检测电路至少包括第一选择电路40、第二选择电路50及控制电路60，该第二选择电路50分别与该第一选择电路40以及控制电路60电性连接。其中，该控制电路沿着第一方向(即图2中所示的x方向)设置，该第一选择电路40与该第二选择电路50沿着与该第一方向垂直的第二方向设置(即图2与x方向垂直的y方向设置)设置，即该控制电路60布设于该第二选择电路50的一侧。

本发明实施例中，该控制电路60沿该x方向设置于该第二选择电路50的一侧。在阵列基板的电路设计中，由于该第一选择电路40及第二选择电路50在线路设计时所占用的面积较小，导致在该第一选择电路40及第二选择电路50的x方向上存在较大的设计空间未被利用(如图4中所示第一选择电路40或第二选择电路50右侧的部分设计空间)，因此，将该控制电路60沿着x方向设置于该第二选择电路50一侧未被利用的设计空间处，节省了在第二方向(即图2所示的y方向)上布设如图1所示的控制电路30所占用的设计空间，有利于在y方向上实现窄边框设计的目的。

其中，该第一选择电路40用于输出一检测信号至该第二选择电路50。该检测信号用于检测该阵列基板(图未示)是否能正常显示。

该控制电路60用于接收一触发信号，并根据所述触发信号控制该第二选择电路50输出该检测信号。

该第二选择电路50用于在该控制电路60的控制下接收由所述第一选择电路40输出的检测信号，并将该检测信号输出至该阵列基板以进行显示检测。

在本发明的一个实施例中，该检测信号用于对阵列基板包括的各像素进行显示测试。

综上所述，本发明实施例提供的基于阵列基板的检测电路中，通过将该控制电路沿着第一方向设置于该第二选择电路一侧未被利用的设计空间处，实现了在与所述第一方向垂直的第二方向上窄边框设计的目的。并且，该控制电路通过控制该第二选择电路对于检测信号的接收和输出过程，实现了对于所述阵列基板的检测控制。

请参阅图3，图3是本发明实施例提供的另一种基于阵列基板的检测电路的电路示意图。结合图2所示的检测电路，图3所示的检测电路包括第一选择电路40、第二选择电路50以及控制电路60。该第二选择电路50分别与该第一选择电路40以及该控制电路60电性连接。

其中，该第一选择电路40包括第一控制单元41及第一开关单元42。该第二选择电路50包括第二控制单元51及第二开关单元52。该控制电路60至少包括第三开关单元61。该第一开关单元42分别与第一控制单元41以及第二开关单元52电性连接。该第二开关单元52还与该第二控制单元51电性连接。该第二控制单元51还与该第三开关单元61电性连接。

需要说明的是，该第一控制单元41接收第一控制信号，并将该第一控制信号输出至该第一开关单元42，以控制该第一开关单元42接收检测信号。该第一开关单元42在接收到检测信号时，将该检测信号传输至该第二开关单元52。该第三开关单元61根据接收到的一触发信号控制第二控制单元51对第二开关单元52输出第二控制信号，从而使得第二开关单元52在接收到第二控制信号时，输出由第一开关单元42传输的检测信号。

具体地，该第一开关单元42包括至少一个第一开关；该第一控制单元41包括多条沿第一方向(即图3所示的x方向)延伸且相互绝缘的第一控制线；其中，每个第一开关分别与多条第一控制线中对应的一条控制线电性连接。该第二开关单元52包括多组第二开关；该第二控制单元51包括多条沿x方向延伸且相互绝缘的第二控制线；每组第二开关中的各个第二开关分别与多条第二控制线中的对应一条第二控制线电性连接，即每个第二开关对应电性连接一条第二控制线。

需要说明的是，当多条第一控制线中的任意一条第一控制线在接收到第一控制信号时，使得与该第一控制线对应电性连接的第一开关处于导通状态，以便该第一开关在处于导通状态时，将接收到的检测信号输出至第二选择电路50。具体地，该第一开关在处于导通状态时，将接收到的检测信号输出至第二开关单元52。其中，当多条第二控制线中的任意一条第二控制线在接收到第二控制信号时，使得与该第二控制线对应电性连接的第二开关处于导通状态，以便在该第二开关处于导通状态时，将接收到的由该第一开关单元42输出的检测信号通过与该第二开关电性连接的数据线输出至该阵列基板(图未示)。

请一并参阅图4，该第一开关单元42包括4个第一开关，该检测电路还包括测试端70，该测试端70与该第一开关单元42中的4个第一开关电性连接。该第一控制单元41包括但不限于4条沿x方向延伸的第一控制线C1-C4。该4条第一控制线C1-C4中的任意一条第一控制线在加载了第一控制信号时，与该第一控制线电性连接的第一开关处于导通状态。例如，若对第一控制线C1加载了第一控制信号，则与该第一控制线C1电性连接的第一开关处于导通状态；若对第一控制线C2加载了该第一控制信号，则与该第一控制线C2电性连接的第一开关处于导通状态。其中，该第一开关在处于导通状态时，接收由该测试端70输出的检测信号，并将该检测信号输出至第二开关单元52。该第二开关单元52包括4组第二开关，该4组第二开关中每组第二开关包括但不限于6个第二开关。该第二控制单元51包括但不限于6条沿x方向延伸的第二控制线C5-C10。该6条第二控制线C5-C10中的任意一条第二控制线在加载了第二控制信号时，与该第二控制线电性连接的第二开关处于导通状态。例如，在对第二控制线C5加载了第二控制信号时，与该第二控制线C5对应电性连接的第二开关处于导通状态；在对第二控制线C6加载了该第二控制信号时，与该第二控制线C6对应电性连接的第二开关处于导通状态。其中，该第二开关在处于导通状态时，其接收由该第一开关单元42输出的检测信号，并将该检测信号通过数据线(即图4所示的D1-D24)输出至该阵列基板。

在本发明的其他实施例中，该第一开关单元42包括N个第一开关，该第一控制单元41包括N条第一控制线，该第二开关单元52包括N组第二开关，每一组第二开关包括M个第二开关，该第二控制单元51包括M条第二控制线；该第三开关单元61包括M个第三开关。例如，在图4所示的实施例中，N等于4，M等于6。需要说明的是，此处是为了清楚地说明各单元的连接关系，而将对应控制线以及开关的数量进行了量化后所列举的其中一个实施方式，当然，各个单元或者模块根据需求，其对应的开关或者控制线的数量可以进行相应调整，本发明实施例对其不做限制。

具体地，该N个第一开关中每个第一开关的第一端与测试端70电性连接，该每个第二开关的第二端与该N组第二开关中的每组第二开关的第一端电性连接，该每各第二开关的控制端与该N条第一控制线中对应的一条第一控制线分别连接；每组第二开关中的各第二开关的第二端与对应的数据线电性连接，该各第二开关的控制端与该M条第二控制线中的对应的一条第二控制线分别电性连接。其中，该N个第一开关中的每个第一开关对应向该N组第二开关中的每组第二开关分别输出检测信号，以实现检测信号的逐级输出。该M个第三开关中的各第三开关的第一端分别与该M条第二控制线中的每条第二控制线电性连接，该各第三开关的第二端与第三控制线80连接，该各第三开关的控制端与该第四控制线90连接，用于控制该M个第三开关的通断状态，以便在该M个第三开关中的任意一个第三开关处于导通状态时，使该第二控制信号加载于该第二控制单元51以控制该N组第二开关中的每组第二开关中的第K(其中K≤M)个第二开关的通断状态。其中，该第四控制线90用于输出控制信号以控制该第三开关的通断状态，从而控制该第二选择电路50的检测信号的输出。采用本发明实施例，可以实现一个测试端对于M×N条数据线输出的检测信号的控制。

请一并参照图4，在本发明的实施例中，该第一开关单元42包括4个第一开关，该4个第一开关的第一端分别与该测试端70电性连接，用于在4个第一开关中任意一个第一开关处于导通状态时，接收由测试端70输出的检测信号。每一第一开关的控制端分别与对应的一条第一控制线电性连接，该4条第一控制线C1-C4根据加载在该第一控制线上的第一控制信号，分别控制对应电性连接的第一开关的通断状态。该第二开关单元52包括4组第二开关，每组第二开关包括6个第二开关。该每组第二开关中的各第二开关的第二端与对应的数据线(即图4所示的D1-D24)电性连接，则每组第二开关中的各第二开关在处于导通状态时，该各第二开关可将检测信号通过该数据线输出至该阵列基板；每组第二开关中的各第二开关的控制端与该6条第二控制线中的每条第二控制线分别电性连接，用于在接收到由第二控制线输出的第二控制信号时，使对应电性连接的第二开关处于导通状态。

请一并参照图4，在本发明的实施例中，该第三开关单元61包但不限于6个第三开关。该6个第三开关中的各第三开关的第一端分别与该6条第二控制线中对应的一条第二控制线电性连接，该各第三开关的第二端与该第三控制线80连接，其控制端与该第四控制线90连接。该各第三开关的控制端用于接收一触发信号EN，并根据该触发信号EN控制该第三单元61包括的6个第三开关的通断状态，以便在该6个第三开关中的任意一个第三开关处于导通状态时，使得第二控制信号加载至与该第三开关电性连接的第二控制线，从而使该第二控制信号加载于与该第二控制线电性连接的4组第二开关中每组第二开关中的第K个第二开关，从而控制该每组第二开关中的第K个第二开关的通断状态。例如，当与第二控制线C8对应连接的第三开关处于导通状态时，则该第二控制信号加载至于该第三开关连接的第二控制线C8，从而使得该检测信号加载于与该第二控制线C8对应电性连接的4组第二开关中的第三个第二开关(在每组第二开关中按照从左至右的排序中位于第3位的第二开关)，从而控制每组第二开关中的第3个第二开关的通断状态。

在一个实施例中，在该第三开关均为N型薄膜晶体管时，若该触发信号位于高电位，则该第三开关处于导通状态。在该第三开关均为P型薄膜晶体管时，若该触发信号位于低电位，则该第三开关处于导通状态。

在一个实施例中，在该第三开关为N型薄膜晶体管时，若阵列基板根据检测信号确定显示状态正常，则第三开关单元61可以通过该第四控制线90接收处于低电位的触发信号，使得该第三开关单元61中的各个第三开关处于关断状态，从而结束测试过程。

在一个实施例中，在该第三开关为P型薄膜晶体管时，若阵列基板根据检测信号确定显示状态正常，则第三开关单元61可以通过高第四控制线90接收处于高电位的触发信号，使得该第三开关单元61中的各个第三开关处于关断状态，从而结束测试过程。

本发明实施例中，控制电路中的第三开关单元，根据接收到的触发信号控制第二控制信号在第二开关单元上的加载，通过将控制电路沿第一方向设置在第二选择电路的一侧后，不仅使得电路得到了简化，而且使得设置于该第二选择电路一侧未被利用的设计空间处被合理利用，从而达到了在第二方向窄边框设计的目的。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含在本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上对本发明实施例公开的一种基于阵列基板的检测电路及显示装置进行了详细介绍，以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种基于阵列基板的检测电路，包括第一选择电路、第二选择电路以及控制电路，所述第二选择电路与所述第一选择电路及所述控制电路电性连接，其特征在于，所述控制电路沿着第一方向设置于所述第二选择电路的一侧的部分设计空间，所述第一选择电路与所述第二选择电路沿着与所述第一方向相垂直的第二方向设置；所述第一选择电路包括第一控制单元及第一开关单元，所述第二选择电路包括第二控制单元及第二开关单元，所述控制电路至少包括第三开关单元，所述第一开关单元分别与所述第一控制单元和所述第二开关单元电性连接，所述第二开关单元还与所述第二控制单元电性连接，所述第二控制单元还与所述第三开关单元电性连接，所述第一控制单元接收第一控制信号，并将该第一控制信号输出至所述第一开关单元，以控制该第一开关单元接收检测信号，所述第一开关单元将接收到的检测信号传输至所述第二开关单元，所述第三开关单元根据接收到的一触发信号控制所述第二控制单元对所述第二开关单元输出第二控制信号，从而使得所述第二开关单元在接收到所述第二控制信号时，输出所述检测信号至阵列基板，以便所述阵列基板在接收到所述检测信号时，根据所述检测信号进行显示检测。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一开关单元在接收到所述检测信号时，将所述检测信号传输至所述第二选择电路。

3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一开关单元包括至少一个第一开关；所述第一控制单元包括多条沿第一方向延伸且相互绝缘的第一控制线；其中，每个第一开关分别与多条第一控制线中对应的一条第一控制线电性连接；所述多条第一控制线中的任意一条第一控制线在接收到所述第一控制信号时，与所述第一控制线对应电性连接的第一开关处于导通状态，所述检测信号传输至所述第二选择电路。

4.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述第二控制单元接收第二控制信号，并将所述第二控制信号传输至所述第二开关单元，以控制所述第二开关单元接收由所述第一开关单元输出的所述检测信号，所述第二开关单元在接收到所述检测信号时，将所述检测信号通过至少一条数据线输出至所述阵列基板。

5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述第二开关单元包括多组第二开关；所述第二控制单元包括多条沿第一方向延伸且相互绝缘的第二控制线；每组第二开关中的每个第二开关分别与多条第二控制线中的对应一条第二控制线电性连接；多条第二控制线中的任意一条第二控制线在接收到所述第二控制信号时，将所述第二控制信号传输至与所述第二控制线对应电性连接的第二开关，所述第二开关处于导通状态，并将所述检测信号通过与所述第二开关电性连接的数据线输出至所述阵列基板。

6.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括测试端，所述测试端与所述第一开关单元中的每个第一开关的第一端电性连接，所述第一开关在处于导通状态时，接收由所述测试端输出的检测信号，并将该检测信号输出至第二开关单元。

7.根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述第三开关单元包括多个第三开关；每个第三开关的控制端用以接收输入的触发信号，所述每个第三开关的第一端与所述第二控制单元连接；所述多个第三开关在利用所述触发信号处于导通状态时，所述第二控制信号传输至所述第二开关单元。

8.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括第三控制线和第四控制线，所述第一开关单元包括N个第一开关，所述第一控制单元包括N条第一控制线，所述第二开关单元包括N组第二开关，每组第二开关包括M个第二开关，所述第二控制单元包括M条第二控制线；所述第三开关单元包括M个第三开关；

所述N个第一开关中的每个第一开关的第一端与所述测试端电性连接，所述每个第一开关的第二端与所述N组第二开关中的每组第二开关的第一端电性连接，所述每个第一开关的控制端与所述N条第一控制线中对应的一条第一控制线分别电性连接；

每组第二开关中的各第二开关的第二端与对应的数据线电性连接，所述各第二开关的控制端与所述M条第二控制线中的对应的一条第二控制线分别电性连接；

所述M个第三开关中的各第三开关的第一端分别与所述M条第二控制线中对应的一条第二控制线电性连接，所述各第三开关的第二端与所述第三控制线电性连接，所述各第三开关的控制端与所述第四控制线电性连接，用于控制所述M个第三开关的通断状态，所述M个第三开关中的任意一个第三开关处于导通状态时，所述第二控制信号加载于所述第二控制单元以控制每组第二开关中的第K个第二开关的通断状态，其中，K≤M。

9.根据权利要求7或8所述的检测电路，其特征在于，在所述第三开关为N型薄膜晶体管时，若所述触发信号位于高电位，则所述第三开关处于导通状态；在所述第三开关为P型薄膜晶体管时，若所述触发信号处于低电位，则所述第三开关处于导通状态。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1至9任一项所述的基于阵列基板的检测电路。

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