CN116298408A - 电子元件测试装置、测试分选机、测量方法及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种电子元件测试装置、测试分选机、测量方法及电子设备，涉及但不限于电子元器件测试技术领域，电子元件测试装置设置有至少一个测试通道以及与测试通道对应的测试连接接口；电子元件测试装置还包括与每一测试通道对应的一个通道控制组件；通道控制组件包括第一继电器和第二继电器，第一继电器和第二继电器不同；电子元件测试装置根据待测的第一电子元件的电学参数预估值，控制第一继电器闭合以导通对应的测试连接接口与测试通道或控制第二继电器闭合以导通对应的测试连接接口与测试通道。本申请实施例能提升电子元件的测试效率。
Description
技术领域
本申请实施例涉及但不限于电子元件测试技术领域，尤其涉及一种电子元件测试装置、测试分选机、测量方法及电子设备。
背景技术
电子元件的电学参数的测量，其往往需要借助一定的仪表测试工具进行电学参数的测量。以测量电容容值C和损耗角因素D为例，可以采用电桥测试仪表(如LCR表)进行测试。但是单一的仪表测试工具一次仅能对一个电子元件进行测量，以电桥测试仪表进行测试为例，电桥测试仪表在对一个电子元件测量完成后需要将测试连线从已测试完成的电子元件转接至待测的电子元件。因此，在大批量的电容进行测量时，测量的效率很低。
相关技术中，有通过测试分选机同时提供多个测试通道，以减少电子元件与仪表测试工具连接的变更次数，但上述方式，测试分选机的通道切换是通过测量误差满足覆盖全电容参数段测量的继电器进行切换的。随着被测量的电子元件的增加，测试分选机受限于继电器的寿命需要频繁更换，从而使得电子元件的测试效率降低。
发明内容
以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
本申请实施例提供了一种电子元件测试装置、测试分选机、测量方法、电子设备、存储介质及程序产品，能提升电子元件的测试效率。
第一方面，根据本申请一些实施例提供的一种电子元件测试装置，所述电子元件测试装置设置有至少一个测试通道以及与所述测试通道对应的测试连接接口；
所述电子元件测试装置还包括与每一所述测试通道对应的一个通道控制组件；
所述通道控制组件包括第一继电器和第二继电器，所述第一继电器和所述第二继电器不同；所述电子元件测试装置根据待测的第一电子元件的电学参数预估值，控制所述第一继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道或控制所述第二继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道。
第二方面，根据本申请一些实施例提供的一种电子元件测试分选机，所述测试分选机包括如第一方面任一所述的电子元件测试装置。
第三方面，根据本申请一些实施例提供的一种电子元件测试分选机，所述测试分选机包括上位机、电桥测试仪表以及电子元件测试装置；所述电子元件测试装置设置有至少一个测试通道以及与所述测试通道对应的测试连接接口；所述电子元件测试装置还包括与每一所述测试通道对应的一个通道控制组件；所述通道控制组件包括第一继电器和第二继电器，所述第一继电器和所述第二继电器不同；
所述上位机被配置为根据待测的第一电子元件的电学参数预估值生成控制指令，并发送给所述电子元件测试装置；
所述电子元件测试装置根据所述控制指令控制所述第一继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道或控制所述第二继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道；
所述电桥测试仪表与所述电子元件测试装置连接，所述电桥测试仪表被配置为根据导通的测试通道获取第一电子元件的电学参数并发送给所述上位机。
第四方面，根据本申请一些实施例提供的一种电子元件测试方法，应用于第二方面所述的电子元件测试分选机，所述方法包括：
获取待测的第一电子元件的电学参数预估值；
根据所述电学参数预估值生成控制指令；
根据所述控制指令，控制所述第一继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道或控制所述第二继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道。
第五方面，根据本申请一些实施例提供的一种电子元件测试方法，应用于包括上位机、电桥测试仪表以及如第二方面所述的电子元件测试装置的测试分选机，所述方法包括：
所述上位机获取待测的第一电子元件的电学参数预估值，并生成控制指令发送给所述电子元件测试装置；
所述电子元件测试装置根据所述控制指令，控制所述第一继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道或控制所述第二继电器闭合以导通对应的所述第二接口与测试通道；
所述电桥测试仪表根据导通的测试通道获取所述第一电子元件的电学参数并发送给所述上位机。
第六方面，根据本申请一些实施例提供的电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第四方面和第五方面任意一项所述的电子元件测试方法。
第七方面，根据本申请一些实施例提供的一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于实现如第四方面和第五方面任意一项所述的电子元件测试方法。
第八方面，根据本申请一些实施例提供的一种计算机程序产品，包括计算机程序或计算机指令，所述计算机程序或所述计算机指令存储在计算机可读存储介质中，计算机设备的处理器从所述计算机可读存储介质读取所述计算机程序或所述计算机指令，所述处理器执行所述计算机程序或所述计算机指令，使得所述计算机设备执行如第四方面和第五方面任意一项所述的电子元件测试方法。
本申请实施例包括：通过设置不同类型的第一继电器和第二继电器，在不同预估范围的第一电子元件连接测试连接接口时，可以相应的控制第一继电器或者第二继电器闭合，以使用于测量的测试电路由测试连接接口、闭合的第一继电器以及测试通道组成，或者由测试连接接口、闭合的第二继电器以及测试通道组成，从而实现不同批次的第一电子元件的分类检测。因此，相对于相关技术中采用一种继电器导通测试通道与测试连接接口的方式，本申请实施例中通过对每一测试通道设置两种触发方式实现对第一电学元件的分类检测，使得第一继电器和第二继电器中的一个能选用寿命更长的继电器来对指定电学参数范围的第一电子元件进行测量，进而可以实现一次对至少一个第一电子元件的测试且降低电子元件测试装置的更换频率，因此，本申请实施例能提升电子元件的测试效率。
附图说明
图1是相关技术中测试分选机的作用原理示意图；
图2是本申请实施例中电子元件测试装置的示意图；
图3a是本申请实施例中电子元件测试装置的测试通道1的第二继电器的电路控制结构示意图；
图3b是本申请实施例中电子元件测试装置的测试通道1的第一继电器的电路控制结构示意图；
图4a是本申请实施例中电子元件测试装置的测试通道2的第二继电器的电路控制结构示意图；
图4b是本申请实施例中电子元件测试装置的测试通道2的第一继电器的电路控制结构示意图；
图5a是本申请实施例中电子元件测试装置的测试通道3的第二继电器的电路控制结构示意图；
图5b是本申请实施例中电子元件测试装置的测试通道3的第一继电器的电路控制结构示意图；
图6a是本申请实施例中电子元件测试装置的测试通道4的第二继电器的电路控制结构示意图；
图6b是本申请实施例中电子元件测试装置的测试通道4的第一继电器的电路控制结构示意图；
图7是本申请实施例中电子元件测试装置的第二继电器作用原理等效电路图；
图8是本申请实施例中电子元件测试分选机的结构示意图；
图9是本申请实施例中电子元件测试方法的流程示意图；
图10是本申请实施例中另一电子元件测试方法的流程示意图；
图11是本申请实施例中电子元件测试方法对应的电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
需要说明的是，虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
附图中所示的流程图仅是示例性说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解，而有的操作/步骤可以合并或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
电子元件的电学参数的测量，其往往需要借助一定的仪表测试工具进行电学参数的测量。以测量电容容值C和损耗角因素D为例，可以采用电桥测试仪表(如LCR表)进行测试。但是单一的仪表测试工具一次仅能对一个电子元件进行测量，以电桥测试仪表进行测试为例，电桥测试仪表在对一个电子元件测量完成后需要将测试连线从已测试完成的电子元件转接至待测的电子元件，因此，在大批量的电容进行测量时，测量的效率很低。虽然也可以通过测试分选机同时提供多个测试通道，以减少电子元件与仪表测试工具连接的变更次数，但是相关技术中，测试分选机的通道切换的原理是通过自动开关进行切换，以自动开关为晶体管为例，晶体管需要满足输入电压电流和输出电压电流在规格内，才能确保使用寿命足够长，而晶体管导通电阻与OPEN电容成反比关系，导致在测量电学参数如电容的C值和D值时存在测量误差，因此晶体管仅适用于一定电学参数范围内的电子元件的测量。因此测量误差满足覆盖全电容参数段测量的继电器作为自动开关被广泛使用，此时，继电器的使用寿命1亿次至10亿次不等。随着被测量的电子元件的增加，测试分选机受限于该继电器的寿命需要频繁更换，从而使得电子元件的测试效率降低。
示例性的，以电学参数的电容的C值和D值测量为例，相关技术中，测试分选机的作用原理图如图1所示，其中，测试分选机设置有4个测试通道，每个测试通道上均设置有一个自动开关，分别为SW1、SW2、SW3、SW4，与SW1对应的测试连接接口Hc1、Hp1、Lp1、Lc1连接电容C1，与SW2对应的测试连接接口Hc1、Hp1、Lp1、Lc1连接电容C2，与SW3对应的测试连接接口Hc1、Hp1、Lp1、Lc1连接电容C3，与SW4对应的测试连接接口Hc1、Hp1、Lp1、Lc1连接电容C4；LCR表的Hp、Hc、Lp、Lc连接测试分选机。当SW1、SW2、SW3、SW4任意一个闭合时，测试连接接口、闭合的自动开关以及测试通道形成的测试电路；对应的电容通过该测试电路与Hp、Hc、Lp、Lc电导通，从而可以实现对电容的测试。因此通过对不同的自动开关进行闭合、打开，依次对不同的一电容进行测试，从而可以实现一个LCR表对多个电容进行测量。
图2为本申请实施例的电子元件测试装置的一个具体实施例的结构示意图，参照图2所示，电子元件测试装置设置有至少一个测试通道以及与测试通道对应的测试连接接口；
电子元件测试装置还包括与每一测试通道对应的一个通道控制组件；
通道控制组件包括第一继电器和第二继电器，第一继电器和第二继电器不同；电子元件测试装置根据待测的第一电子元件的电学参数预估值，控制第一继电器闭合以导通对应的测试连接接口与测试通道或控制第二继电器闭合以导通对应的测试连接接口与测试通道。
因此，通过设置不同类型的第一继电器和第二继电器，在不同预估范围的第一电子元件连接测试连接接口时，可以相应的控制第一继电器或者第二继电器闭合，以使用于测量的测试电路由测试连接接口、闭合的第一继电器以及测试通道组成，或者由测试连接接口、闭合的第二继电器以及测试通道组成，从而实现不同批次的第一电子元件的分类检测。因此，相对于相关技术中采用一种继电器导通测试通道与测试连接接口的方式，本申请实施例中通过对每一测试通道设置两种触发方式实现对第一电学元件的分类检测，使得第一继电器和第二继电器中的一个能选用寿命更长的继电器来对指定电学参数范围的第一电子元件进行测量，进而可以实现一次对至少一个第一电子元件的测试且降低电子元件测试装置的更换频率，因此，本申请实施例能提升电子元件的测试效率。
需说明的是，电学参数预估值用于表征与第一电子元件同一批次的电子元件的电学参数的估算值。需说明的是，电学参数预估值可以是一个值或者是一个范围值，如电学参数预估值为10uF，或者100pF-10uF。电学参数预估值可以是与待测的第一电子元件同一批次的第二电子元件进行测量得到，第二电子元件的测量结果可以是通过本申请的电子元件测试装置进行测试或者是其他测试装置进行测试得到，对此本申请的上述实施例对第二电子元件的测量不做限制。
需说明的是，不同类型的第一继电器和第二继电器的使用寿命不同。
需说明的是，第一继电器与第二继电器不同表示其继电器的触发形式不同。
在一些实施例中，本申请实施例中的电子元件测试装置可以作为一种测试分选机的辅助装置来辅助进行电学参数测量。示例性的，参照图1所示，电子元件测试装置设置有4个测试通道，每个测试通道对应一个测试连接接口以及一个通道控制组件。4个测试连接接口均用于连接第一电子元件，电桥测量仪表与测试通道电导通。其中，参照图2所示，4个通道控制组件中第一继电器的接入引脚分别为CK1、CK2、CK3及CK4，以在接收到触发信号时触发对应的第一继电器闭合，以触发对应的测试连接接口和测试通道导通；4个通道控制组件中的第二继电器的接入引脚分别为CP1、CP2、CP3及CP4，以在接收到触发信号时触发对应的第二继电器闭合以触发对应的测试连接接口和测试通道导通。以CK1、CK2、CK3、CK4、CP1、CP2、CP3及CP4在低电平时触发对应的继电器闭合，电桥测量仪表为LCR表为例，参照图2、图3a～图6b所示，其中，图3a和图3b为测试通道1的电路控制原理示意图，其中图3a中的JK1、JK2、JK3以及JK4均为第一继电器，LCR表的Hc、Hp、Lp以及Lc通过测试通道1连接第一继电器，测试连接接口Hc1以及Hp1连接于电容的一端，测试连接接口Lp1以及Lc1连接于电容的另一端。当第一继电器的CK1接收到低电平信号，第一继电器JK1、JK2、JK3以及JK4闭合，此时LCR表的Hc、Hp、Lp以及Lc与测试通道1、第一继电器以及测试连接接口Hc1、Hp1、Lp1、Lc1形成测试电路，从而与电容电导通，从而可以对电容进行测试。当第二继电器的CP1接收到低电平信号，参照图3b所示，第二继电器U1、U2、U3以及U4闭合，此时，此时LCR表的Hc、Hp、Lp以及Lc、第二继电器以及测试连接接口Hc1、Hp1、Lp1、Lc1形成测试电路，从而与电容电导通。同理，图4a和图4b为测试通道2的电路控制原理示意图，图5a和图5b为测试通道3的电路控制原理示意图，图6a和图6b为测试通道4的电路控制原理示意图；图4a～图6b的原理参照图3a和图3b中相同类型的继电器的工作原理。
在一些实施例中，本申请实施例中的电子元件测试装置为集成通道切换与测量于一体的装置，此时，在测量通道处连接测量模块，即可实现测量功能的集成。本领域技术人员可以根据实际需求选择性实现本申请的电子元件测试装置。
可理解的是，第一继电器为光电继电器。
需说明的是，光电继电器，如PhotoMos，其控制信号与输出是分开隔离的，导通电阻小且低输出电容(Low output capacitance)低。且由于是采用光信号触发继电器的闭合，因此，从理论而言，其寿命是无限的，因此，相对于非光电继电器，如机械继电器，其寿命更长。需说明的是，光电继电器在满足测量误差时，其仅能对一定电学参数范围的第一电子元件进行测量，因此，相关技术中采用的继电器为非光电继电器。
需说明的是，光电继电器用于对电学参数在常用范围内的第一电子元件进行测量，以减少第二继电器的使用，延长电子元件测试装置的使用寿命。
可理解的是，电学参数包括容值和损耗角因素中至少一个，光电继电器的导通电阻小于5Ω，光电继电器的低输出电容小于1pF。
需说明的是，参照图7所示，光电继电器可以等效成一个纯开关并联一个电容，当第一电子元件为电容时，通过光电继电器对第一电子元件进行测量的等效电路图如图7所示。则光电继电器的电学参数可以通过如下几步确定：
(1)被测容值(C1，C2，C3，C4)过低，其测量的电容值的测量误差原理分析如下：
当开关S1闭合测量C1时，LCR表测量的实际电容C实测为:
C实测＝C1+(C2串联C)+(C3串联C)+(C4串联C)+LCR系统补正参数；
当被测量的C1，C2，C3，C4远远大于串联的C时，则有：
C实测＝C1+3*C+LCR系统补正参数；其中，LCR系统补正参数是自动补正出来的，有正负数且不可调节；串联的C则是光电继电器的Low output capacitance固定值。当测量误差e＝3*C+LCR系统补正参数时，e不可调的，则有：
C实测＝C1+e；
所以被测容值C1不能太小，如果太小的话，会受e影响C实测的测试精度。
(2)被测容值C1，C2，C3，C4过高，对损耗角因素D有误差，原理分析如下：
D值与被测试线路的阻抗Z有关，当Z越精确，则损耗角因素D精确。
每个开关S1，S2，S3，S4都有内阻r，当S1闭合测量Z实测时，则有：
Z实测＝Z1+r；其中，Z1为被测试线路的阻抗；
在固定频率状态测量时，当C1，C2，C3，C4值越高，Z1测越小；因为r不变，所以Z1越大，Z测越精确。Z越精确，则损耗角因素越精确。
(3)基于上述(1)和(2)中的原理，结合实测，确定出光电继电器的电学参数。
可理解的是，第一继电器对电学参数在第一参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求；第二继电器对电学参数在第二参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求，第二参数范围包括第一参数范围。
需说明的是，在一些实施例中，第二参数范围为与第一电子元件相同类型的电子元件的全电学参数段，以电容为例，其为第二参数范围为电容的全容值段。在另一些实施例中，第二参数范围为生产过程中的全电学参数段。通过第二参数范围包括第一参数范围，可以在不确定待测批次的电学参数预估值时，通过第二继电器进行测量确定其电学参数预估值后，进一步根据电学参数预估值选用第一继电器和第二继电器进行相同批次中其他第一电子元件的测量，从而提升测量装置的使用寿命。
可理解的是，电学参数包括容值和损耗角因素中至少一个，第一参数范围为100pF～10uF。
需说明的是，第一参数范围为实际生产过程中电容占比大于预设比例的电容，预设比例如90％。从而可以将生产常用电容通过第一继电器进行测试，使用光电继电器切换通道使用较多，进而可以在寿命问题以及电学参数覆盖范围上进行平衡。
在一些实施例中，电学参数预估值在10uF以上和100pF以下，则用第二继电器进行测试，电学参数预估值在100pF～10uF则用第一继电器进行测试。
可理解的是，本申请实施例还提供一种电子元件测试分选机，测试分选机包括上述电子元件测试装置。
因此，通过设置不同类型的第一继电器和第二继电器，在不同预估范围的第一电子元件连接测试连接接口时，可以相应的控制第一继电器或者第二继电器闭合，以使用于测量的测试电路由测试连接接口、闭合的第一继电器以及测试通道组成，或者由测试连接接口、闭合的第二继电器以及测试通道组成，从而实现不同批次的第一电子元件的分类检测。因此，相对于相关技术中采用一种继电器导通测试通道与测试连接接口的方式，本申请实施例中通过对每一测试通道设置两种触发方式实现对第一电学元件的分类检测，使得第一继电器和第二继电器中的一个能选用寿命更长的继电器来对指定电学参数范围的第一电子元件进行测量，进而可以实现一次对至少一个第一电子元件的测试且降低电子元件测试装置的更换频率，因此，本申请实施例能提升电子元件的测试效率。
可理解的是，本申请实施例还提供一种电子元件测试分选机，测试分选机包括上位机、电桥测试仪表以及电子元件测试装置；电子元件测试装置设置有至少一个测试通道以及与测试通道对应的测试连接接口；电子元件测试装置还包括与每一测试通道对应的一个通道控制组件；通道控制组件包括第一继电器和第二继电器，第一继电器和第二继电器不同；
上位机被配置为根据待测的第一电子元件的电学参数预估值生成控制指令，并发送给电子元件测试装置；
电子元件测试装置根据控制指令控制第一继电器闭合以导通对应的测试连接接口与测试通道或控制第二继电器闭合以导通对应的测试连接接口与测试通道；
电桥测试仪表与电子元件测试装置连接，电桥测试仪表被配置为根据导通的测试通道获取第一电子元件的电学参数并发送给上位机。
因此，通过设置不同类型的第一继电器和第二继电器，在不同预估范围的第一电子元件连接测试连接接口时，可以相应的控制第一继电器或者第二继电器闭合，以使用于测量的测试电路由测试连接接口、闭合的第一继电器以及测试通道组成，或者由测试连接接口、闭合的第二继电器以及测试通道组成，从而实现不同批次的第一电子元件的分类检测。因此，相对于相关技术中采用一种继电器导通测试通道与测试连接接口的方式，本申请实施例中通过对每一测试通道设置两种触发方式实现对第一电学元件的分类检测，使得第一继电器和第二继电器中的一个能选用寿命更长的继电器来对指定电学参数范围的第一电子元件进行测量，进而可以实现一次对至少一个第一电子元件的测试且降低电子元件测试装置的更换频率，因此，本申请实施例能提升电子元件的测试效率。
需说明的是，电桥测试仪表的测试引脚与电子元件测试装置连接，当测试通道与测试连接接口导通时，测试引脚与通过该测试通道与第一电子元件电导通。
在一些实施例中，电子元件测试分选机还包括板卡，板卡可插拔设置于电子元件测试装置，板卡接收上位机的控制指令，并根据控制指令输出IO信号控制第一继电器或第二继电器闭合。
示例性的，参照图8所示，以电桥测试仪表为LCR表，电子元件测试装置为改进后的CD测试通道切换盒，第一电子元件为电容，第一继电器为PhotoMos为例，LCR表和上位机、CD测试通道切换盒连接，板卡设置于CD测试通道切换盒，被测电容与CD测试通道切换盒连接，上位机切换信号发送至板卡，板卡接收到上位机信号后，打开板卡对应的IO，再通过端口传输至CD测试通道切换盒上，CD测试通道切换盒根据IO控制被测电容连接第一继电器或第二继电器进行闭合以导通连接被测电容的测试连接接口和对应测试通道来让LCR表测试；LCR表实时将测试数据通过网口通信传输，上传到上位机，从而形成一个闭环的控制回路。CD测试通道切换盒在切换通道的同时，打开对应测试通道的指示灯作显示，从而更加直观的看见当前的通道切换状态。
在一些实施例中，上位机开始时并不知道被测同批次生产电容的容值(批次生产的容值大至相同)，此时参照图1所示，默认打开第二继电器的CK所对应的测试通道(1-4)进行测试，LCR表实时将被测电容的容值上传给上机位。上传一定的数据后，上位机根据LCR表上传的数据，取数据的中位数及平均值，当中位数和平均值都在第一参数范围(如100pF-10uF范围)内，则上位机认为该批次的电容容值在100pF-10uF范围内，则上位机改用PhotoMos的命令发送至板卡，板卡再通过IO输出，控制切换盒PhotoMos的CP进行对应的测试通道(1-4)的测试；否则继续用第二继电器进行切换。这样能满足电容的测量误差，又能延长第二继电器的寿命，使得每个测试通道的自动开关的寿命延长，从而增强切换盒的整体使用寿命。
参照图9所示，本申请实施例还提供一种电子元件测试方法，方法包括：
步骤S110、获取待测的第一电子元件的电学参数预估值；
步骤S120、根据电学参数预估值生成控制指令；
步骤S130、根据控制指令，控制第一继电器闭合以导通对应的测试连接接口与测试通道或控制第二继电器闭合以导通对应的测试连接接口与测试通道。
因此，通过设置不同类型的第一继电器和第二继电器，在不同预估范围的第一电子元件连接测试连接接口时，可以相应的控制第一继电器或者第二继电器闭合，以使用于测量的测试电路由测试连接接口、闭合的第一继电器以及测试通道组成，或者由测试连接接口、闭合的第二继电器以及测试通道组成，从而实现不同批次的第一电子元件的分类检测。因此，相对于相关技术中采用一种继电器导通测试通道与测试连接接口的方式，本申请实施例中通过对每一测试通道设置两种触发方式实现对第一电学元件的分类检测，使得第一继电器和第二继电器中的一个能选用寿命更长的继电器来对指定电学参数范围的第一电子元件进行测量，进而可以实现一次对至少一个第一电子元件的测试且降低电子元件测试装置的更换频率，因此，本申请实施例能提升电子元件的测试效率。
示例性的，参照图1和图8所示，第一继电器和第二继电器均通过低电平触发，高电平关断，当控制指令为其中一个测试通道对应的第一继电器的低电平信号时，该第一继电器闭合，从而和对应的测试通道、测试连接接口形成测试通路。当控制指令为其中一个测试通道对应的第一继电器的高电平信号时，第一继电器打开，从而断开对应的测试通道和测试连接接口，从而无法通过该测试通道对对应测试连接接口连接的第一电子元件进行测试。
可理解的是，第一继电器对电学参数在第一参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求；第二继电器对电学参数在第二参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求，第二参数范围包括第一参数范围；电学参数预估值通过如下步骤得到：
从待测批次的电子元件集中确定第二电子元件，并将电子元件集中剩余的电子元件均作为待测的第一电子元件；
控制第二继电器闭合以触发对应的测试连接接口与测试通道导通，以对第二电子元件进行测量；
根据第二电子元件的电学参数，确定电学参数预估值。
可理解的是，第二电子元件设置有多个，根据第二电子元件的电学参数，确定电学参数预估值，包括：
计算多个第二电子元件的参数均值以及参数中值；
根据参数均值和参数中值，确定电学参数预估值。
可理解的是，步骤S130、根据控制指令，控制第一继电器闭合以导通对应的测试连接接口与测试通道或控制第二继电器闭合以导通对应的测试连接接口与测试通道，包括：
当控制指令表征电学参数预估值在第一参数范围内，控制第一继电器闭合以触发对应的测试连接接口与测试通道导通，以对第一电子元件进行测量；
当控制指令表征电学参数预估值超出第一参数范围内且在第二参数范围内，控制第二继电器闭合以触发对应的测试连接接口与测试通道导通，以对第一电子元件进行测量。
可理解的是，参照图10所示，根据本申请提供的另一电子元件测试方法，方法包括：
步骤S210、上位机获取待测的第一电子元件的电学参数预估值，并生成控制指令发送给电子元件测试装置；
步骤S220、电子元件测试装置根据控制指令，控制第一继电器闭合以导通对应的测试连接接口与测试通道或控制第二继电器闭合以导通对应的第二接口与测试通道；
步骤S230、电桥测试仪表根据导通的测试通道获取第一电子元件的电学参数并发送给上位机。
因此，通过设置不同类型的第一继电器和第二继电器，在不同预估范围的第一电子元件连接测试连接接口时，可以相应的控制第一继电器或者第二继电器闭合，以使用于测量的测试电路由测试连接接口、闭合的第一继电器以及测试通道组成，或者由测试连接接口、闭合的第二继电器以及测试通道组成，从而实现不同批次的第一电子元件的分类检测。因此，相对于相关技术中采用一种继电器导通测试通道与测试连接接口的方式，本申请实施例中通过对每一测试通道设置两种触发方式实现对第一电学元件的分类检测，使得第一继电器和第二继电器中的一个能选用寿命更长的继电器来对指定电学参数范围的第一电子元件进行测量，进而可以实现一次对至少一个第一电子元件的测试且降低电子元件测试装置的更换频率，因此，本申请实施例能提升电子元件的测试效率。
可理解的是，第一继电器对电学参数在第一参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求；第二继电器对电学参数在第二参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求，第二参数范围包括第一参数范围；电学参数预估值通过如下步骤得到：
上位机从待测批次的电子元件集确定第二电子元件，并将电子元件集中剩余的电子元件均作为待测的第一电子元件；
上位机控制第二继电器触发对应的测试连接接口与测试通道导通，以使测试通道与第二电子元件连通；
电桥测试仪表通过导通的测试通道对第二电子元件进行测量，获取第二电子元件的电学参数并发送给上位机；
上位机根据第二电子元件的电学参数，确定电学参数预估值。
需说明的是，会对第二电子元件的电学参数进行中值和均值计算，从而将计算得到的均值和中值作为电学参数预估值。
可理解的是，本申请实施例还提出一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述电子元件测试方法。
存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序以及非暂态性计算机可执行程序。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至该处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
下面结合图11对计算机设备的硬件结构进行详细说明。该电子设备包括：处理器310、存储器320、输入/输出接口330、通信接口340和总线350。
处理器310，可以采用通用的CPU(Centra l Process in Un it，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(App l icat ion Specific I ntegrated Ci rcu it，ASIC)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本公开实施例所提供的技术方案；
存储器320，可以采用ROM(Read On ly Memory，只读存储器)、静态存储设备、动态存储设备或者RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)等形式实现。存储器320可以存储操作系统和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器320中，并由处理器310来调用执行本公开实施例的电子元件测试方法；
输入/输出接口330，用于实现信息输入及输出；
通信接口340，用于实现本设备与其他设备的通信交互，可以通过有线方式(例如USB、网线等)实现通信，也可以通过无线方式(例如移动网络、WI FI、蓝牙等)实现通信；和总线350，在设备的各个组件(例如处理器310、存储器320、输入/输出接口330和通信接口340)之间传输信息；
其中，处理器310、存储器320、输入/输出接口330和通信接口340通过总线350实现彼此之间在设备内部的通信连接。
可理解的是，本申请还提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令用于实现上述电子元件测试方法。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
可理解的是，本申请还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序或计算机指令，计算机程序或计算机指令存储在计算机可读存储介质中，计算机设备的处理器从计算机可读存储介质读取计算机程序或计算机指令，处理器执行计算机程序或计算机指令，使得计算机设备执行上述电子元件测试方法。
Claims (16)
1.一种电子元件测试装置，其特征在于：
所述电子元件测试装置设置有至少一个测试通道以及与所述测试通道对应的测试连接接口；
所述电子元件测试装置还包括与每一所述测试通道对应的一个通道控制组件；
所述通道控制组件包括第一继电器和第二继电器，所述第一继电器和所述第二继电器不同；所述电子元件测试装置根据待测的第一电子元件的电学参数预估值，控制所述第一继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道或控制所述第二继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道。
2.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述第一继电器为光电继电器。
3.根据权利要求2所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述电学参数包括容值和损耗角因素中至少一个，所述光电继电器的导通电阻小于5Ω，所述光电继电器的低输出电容小于1pF。
4.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述第一继电器对电学参数在第一参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求；所述第二继电器对电学参数在第二参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求，所述第二参数范围包括所述第一参数范围。
5.根据权利要求4所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述电学参数包括容值和损耗角因素中至少一个，所述第一参数范围为100pF～10uF。
6.一种电子元件测试分选机，其特征在于，所述测试分选机包括如权利要求1所述的电子元件测试装置。
7.一种电子元件测试分选机，其特征在于，所述测试分选机包括上位机、电桥测试仪表以及电子元件测试装置；所述电子元件测试装置设置有至少一个测试通道以及与所述测试通道对应的测试连接接口；所述电子元件测试装置还包括与每一所述测试通道对应的一个通道控制组件；所述通道控制组件包括第一继电器和第二继电器，所述第一继电器和所述第二继电器不同；
所述上位机被配置为根据待测的第一电子元件的电学参数预估值生成控制指令，并发送给所述电子元件测试装置；
所述电子元件测试装置根据所述控制指令控制所述第一继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道或控制所述第二继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道；
所述电桥测试仪表与所述电子元件测试装置连接，所述电桥测试仪表被配置为根据导通的测试通道获取第一电子元件的电学参数并发送给所述上位机。
8.一种电子元件测试方法，其特征在于，应用于如权利要求6所述的电子元件测试分选机，所述方法包括：
获取待测的第一电子元件的电学参数预估值；
根据所述电学参数预估值生成控制指令；
根据所述控制指令，控制所述第一继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道或控制所述第二继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道。
9.根据权利要求8所述的电子元件测试方法，其特征在于，所述第一继电器对电学参数在第一参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求；所述第二继电器对电学参数在第二参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求，所述第二参数范围包括所述第一参数范围；所述电学参数预估值通过如下步骤得到：
从待测批次的电子元件集中确定第二电子元件，并将所述电子元件集中剩余的电子元件均作为待测的第一电子元件；
控制所述第二继电器闭合以触发对应的所述测试连接接口与测试通道导通，以对所述第二电子元件进行测量；
根据所述第二电子元件的电学参数，确定所述电学参数预估值。
10.根据权利要求9所述的电子元件测试方法，其特征在于，所述第二电子元件设置有多个，所述根据所述第二电子元件的电学参数，确定所述电学参数预估值，包括：
计算多个所述第二电子元件的参数均值以及参数中值；
根据所述参数均值和所述参数中值，确定所述电学参数预估值。
11.根据权利要求9所述的电子元件测试方法，其特征在于，所述根据所述控制指令，控制所述第一继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道或控制所述第二继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道，包括：
当所述控制指令表征所述电学参数预估值在所述第一参数范围内，控制所述第一继电器闭合以触发对应的所述测试连接接口与测试通道导通，以对所述第一电子元件进行测量；
当所述控制指令表征所述电学参数预估值超出所述第一参数范围内且在所述第二参数范围内，控制所述第二继电器闭合以触发对应的所述测试连接接口与测试通道导通，以对所述第一电子元件进行测量。
12.一种电子元件测试方法，其特征在于，应用于包括上位机、电桥测试仪表以及如权利要求1所述的电子元件测试装置的测试分选机；所述方法包括：
所述上位机获取待测的第一电子元件的电学参数预估值，并生成控制指令发送给所述电子元件测试装置；
所述电子元件测试装置根据所述控制指令，控制所述第一继电器闭合以导通对应的所述测试连接接口与测试通道或控制所述第二继电器闭合以导通对应的所述第二接口与测试通道；
所述电桥测试仪表根据导通的测试通道获取所述第一电子元件的电学参数并发送给所述上位机。
13.根据权利要求12所述的电子元件测试方法，其特征在于，所述第一继电器对电学参数在第一参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求；所述第二继电器对电学参数在第二参数范围的第一电子元件的测量误差满足预设要求，所述第二参数范围包括所述第一参数范围；所述电学参数预估值通过如下步骤得到：
所述上位机从待测批次的电子元件集确定第二电子元件，并将所述电子元件集中剩余的电子元件均作为待测的第一电子元件；
所述上位机控制所述第二继电器闭合以触发对应的所述测试连接接口与测试通道导通，以使所述测试通道与所述第二电子元件连通；
所述电桥测试仪表通过导通的测试通道对所述第二电子元件进行测量，获取所述第二电子元件的电学参数并发送给所述上位机；
所述上位机根据所述第二电子元件的电学参数，确定所述电学参数预估值。
14.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求8至11中任意一项所述的电子元件测试方法。
15.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于实现至少如权利要求8至13中任意一项所述的电子元件测试方法。
16.一种计算机程序产品，包括计算机程序或计算机指令，其特征在于，所述计算机程序或所述计算机指令存储在计算机可读存储介质中，计算机设备的处理器从所述计算机可读存储介质读取所述计算机程序或所述计算机指令，所述处理器执行所述计算机程序或所述计算机指令，使得所述计算机设备执行如权利要求8至13中任意一项的电子元件测试方法。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
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