CN114088485B - 一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡及其使用方法 - Google Patents
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Abstract
一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡，标记卡为多个色块组组成的长方体结构，每个色块组内具有多个不同颜色的色块。所述标记卡的使用方法，步骤S1：根据待检测试样的长度以及待检测试样上缺陷的长度，截取合适长度的标记卡并粘接粘在待检测试样上缺陷位置的一侧，使得标记卡的长方向沿着缺陷的长方向，标记卡的下端面与待检测试样的磨抛面平行；步骤S2：记录缺陷的下端以及上端位置所对应的色块颜色；步骤S3：将粘接好标记卡的待检测试样进行镶嵌，得到镶嵌试样；步骤S4：对镶嵌试样进行磨抛，当磨抛至标记卡显示缺陷下端对应的色块的颜色时，则磨抛临近缺陷；若磨抛至标记卡显示缺陷上端对应的色块的颜色时，则缺陷即将磨抛到末端。
Description
技术领域
本发明涉及理化性能检测技术领域，尤其涉及一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡及其使用方法。
背景技术
在理化性能检测中，部分试样由于形状不规则，为了将样品固定或使样品形状标准化，磨抛金相试样之前要先进行镶嵌。
金相试样镶嵌包括热镶嵌和冷镶嵌。热镶嵌过程一般是先将试样放置在镶嵌筒内，再往镶嵌筒内倒入镶嵌粉将试样掩埋，然后加压加热让树脂玻璃化与试样合为一体的过程。常用的热镶嵌料粉有酚醛树脂、丙烯酸树脂、环氧树脂等，一般热镶嵌料是不透光的，镶嵌完毕后的样品除了磨抛面无法观测到内部试样的状态。冷镶嵌常见的是使用双组分混合的常温固化树脂与功能性填充物的混合物，这种混合物凝固后虽然具备较高的透光率，但是由于光的折射以及磨制过程中难以避免的损伤及污染，对于试样上细窄的缺陷同样无法准确观测。
金相镶嵌试样重点位置观测，传统磨抛方法及标记工具需要游标卡尺等辅助工具对磨抛深度进行判定。此外，传统标记工具如矩形金属片，等边三角形金属片等，需要使用游标卡尺测量，然后通过几何关系计算出试样磨抛深度。传统磨抛方法和标记工具，由于需要通过测量和几何关系换算得出试样磨抛深度，满足这些换算关系的前提是磨抛面处于同一水平状态，对试样磨抛面的平整度要求极高，如果制样者技术或经验欠缺，导致磨抛面倾斜较重，传统方法或标记工具换算出的磨抛深度值会严重偏离实际值，导致试验失败。传统标记工具都为金属材质，制造工艺相对较难，成本较高。而且金属材质由于硬度及耐磨性较高，增加了制样磨抛过程的难度。
发明内容
本发明的主要目的是提出一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡及其使用方法，旨在解决上述技术问题。
为实现上述目的，本发明提出一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡，所述标记卡为多个色块组组成的长方体结构，每个色块组内具有多个不同颜色的色块。
优选的，所述色块的材质为聚苯硫醚(PPS)。
优选的，每个色块组内具有五个色块，从左至右颜色为白色、浅红、浅绿、浅黄、浅蓝。
优选的，所述色块为边长1mm的立方体结构。
优选的，标记卡的其中一长侧面为粘接面，在粘接面上设置有涂覆有粘接胶。
优选的，在所述粘接面上覆盖有胶布纸。
优选的，在粘接面上涂覆有粘接胶为环氧树脂胶、丙烯酸胶或热硫化胶。
优选的，标记卡上具有五个色块组。
本发明还提供了一种上述标记金相镶嵌试样位置的标记卡的使用方法，包括以下步骤：
步骤S1：根据待检测试样的长度以及待检测试样上缺陷的长度，截取合适长度的标记卡并粘接粘在待检测试样上缺陷位置的一侧，使得标记卡的长方向沿着缺陷的长方向，标记卡的下端面与待检测试样的磨抛面平行；
步骤S2：记录缺陷的下端以及上端位置所对应的色块颜色；
步骤S3：将粘接好标记卡的待检测试样进行镶嵌，得到镶嵌试样；
步骤S4：对镶嵌试样进行磨抛，当磨抛至标记卡显示缺陷下端对应的色块的颜色时，则磨抛临近缺陷；若磨抛至标记卡显示缺陷上端对应的色块的颜色时，则缺陷即将磨抛到末端。
优选的，在所述步骤S1中，粘接标记卡时，缺陷的下端与标记卡上的其中某一色块的端面齐平。
由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：
(1)在本发明中，采用标记卡进行标记，通过使用标记卡上不同颜色的色块颜色差异进行标记，磨抛时通过观察颜色变化，便可直接得出磨抛深度，无需使用游标卡尺等任何辅助工具或几何换算。
(2)在本发明中，通过使用标记卡上不同颜色的色块颜色差异进行标记，即使磨抛面倾斜也可高精度标记，对制样操作水平要求不高，操作便利。
(3)在本发明中选用聚苯硫醚(PPS)作为该标记卡的制作材料，降低了制造工艺难度，聚苯硫醚(PPS)的耐磨性低，便于在试验时进行磨抛，降低磨抛难度。PPS的热变形温度一般大于260度，可在180～220℃温度范围内使用，可以满足镶嵌试验要求。另外，聚苯硫醚(PPS)具有机械强度高、耐高温、耐化学药品性、热稳定性好、染色方便的优点。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明所提供的一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡的结构示意图；
图2为本发明所提供的标记卡粘接在待检测试样上并进行镶嵌后的结构示意图；
附图标记说明：100-标记卡；1-色块组；11-色块；2-粘接面；3-胶布纸；4-待检测试样；5-镶嵌试样。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
如图1所示，为本发明所提供的一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡100的具体实施例，该标记卡100为多个色块组1组成的长方体结构，每个色块组1内具有多个不同颜色的色块11。所述色块11的材质为聚苯硫醚(PPS)。
在本实施例中，如图1所示，每个色块11为边长1mm的立方体；每个色块组1内具有五个色块11，从左至右颜色为白色(#FFFFFF)、浅红(#FF77FF)、浅绿(#79FF79)、浅黄(#FFFF37)、浅蓝(#80FFFF)，括号中的标识为其HTML代码，由于试验室常用热镶嵌料颜色较为暗沉，冷镶嵌试样成型后基本为半透明状态，故标记卡100上的色块11的颜色选择较为明亮鲜艳的颜色(即白色、浅红、浅绿、浅黄、浅蓝)，以便于区别。五个颜色的色块11形成一个色块组1，多个色块组1首尾相接形成标记卡100。标记卡100上具有五个色块组1。金相镶嵌试样5的常规高度在20mm～30mm之间，因此采用五个色块组1所组成的标记卡100长度为30mm。
在本实施例中，如图1所示，标记卡100的其中一长侧面为粘接面2，在粘接面2上设置有涂覆有粘接胶；在粘接面2上涂覆有粘接胶为环氧树脂胶、丙烯酸胶或热硫化胶；在所述粘接面2上覆盖有胶布纸3。粘接面2主要功能是起到固定标记卡100与待检测试样4的作用。在所述粘接面2上设有胶布纸3，使用时需将胶布纸3撕开露出粘接面2。
如图2所示，本发明还提供了一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡的使用方法，包括以下步骤：
步骤S1：根据待检测试样4的长度以及待检测试样4上缺陷41的长度，截取合适长度的标记卡100并粘接粘在待检测试样4上缺陷41位置的一侧，使得标记卡100的长方向沿着缺陷41的长方向，标记卡100的下端面与待检测试样4的磨抛面41平行；
步骤S2：记录缺陷41的下端以及上端位置所对应的色块11颜色；
步骤S3：将粘接好标记卡100的待检测试样4进行镶嵌，得到镶嵌试样5；
步骤S4：对镶嵌试样5进行磨抛，当磨抛至标记卡100显示缺陷41下端对应的色块11的颜色时，则磨抛临近缺陷41；若磨抛至标记卡100显示缺陷41上端对应的色块11的颜色时，则缺陷41即将磨抛到末端。
在所述步骤S1中，粘接标记卡100时，缺陷41的下端与标记卡100上的其中某一色块11的端面齐平，在磨抛时，只要显示的颜色转变至该色块11的颜色时，就预示着刚好磨到缺陷41位置。
具体地，如图2所示，采用本发明所提供的标记卡100进行标记金相镶嵌试样位置时，缺陷41的下端对应色块11的颜色为浅红色(#FF77FF)，上端对应的色块11的颜色为浅绿色(#79FF79)。当磨抛到显示浅红色时，就预示着临近缺陷41，需谨慎磨抛。找到缺陷后，如需观测缺陷深度方向不同面的特征，我们可以在浅红色色块11高度内反复磨抛后观测，但如若多次磨抛后显示浅绿色时，则需小心，因为这预示着线性缺陷41已经要磨抛到末端。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (8)
1.一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡的使用方法，其特征在于，标记卡（100）为多个色块组（1）组成的长方体结构，每个色块组（1）内具有多个不同颜色的色块（11）；所述色块（11）的材质为聚苯硫醚；使用方法包括以下步骤：
步骤S1：根据待检测试样（4）的长度以及待检测试样（4）上缺陷（41）的长度，截取合适长度的标记卡（100）并粘接在待检测试样（4）上缺陷（41）位置的一侧，使得标记卡（100）的长方向沿着缺陷（41）的长方向，标记卡（100）的下端面与待检测试样（4）的磨抛面平行；
步骤S2：记录缺陷（41）的下端以及上端位置所对应的色块（11）颜色；
步骤S3：将粘接好标记卡（100）的待检测试样（4）进行镶嵌，得到镶嵌试样（5）；
步骤S4：对镶嵌试样（5）进行磨抛，当磨抛至标记卡（100）显示缺陷（41）下端对应的色块（11）的颜色时，则磨抛临近缺陷（41）；若磨抛至标记卡（100）显示缺陷（41）上端对应的色块（11）的颜色时，则缺陷（41）即将磨抛到末端。
2.如权利要求1所述的一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡的使用方法，其特征在于：在所述步骤S1中，粘接标记卡（100）时，缺陷（41）的下端与标记卡（100）上的其中某一色块（11）的端面齐平。
3.如权利要求1所述的一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡的使用方法，其特征在于：每个色块组（1）内具有五个色块（11），从左至右颜色为白色、浅红、浅绿、浅黄、浅蓝。
4.如权利要求1所述的一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡的使用方法，其特征在于：所述色块（11）为边长1mm的立方体结构。
5.如权利要求1所述的一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡的使用方法，其特征在于：标记卡（100）的其中一长侧面为粘接面（2），在粘接面（2）上涂覆有粘接胶。
6.如权利要求5所述的一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡的使用方法，其特征在于：在所述粘接面（2）上覆盖有胶布纸（3）。
7.如权利要求5所述的一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡的使用方法，其特征在于：在粘接面（2）上涂覆有粘接胶为环氧树脂胶、丙烯酸胶或热硫化胶。
8.如权利要求1所述的一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡的使用方法，其特征在于：标记卡（100）上具有五个色块组（1）。
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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