CN201129983Y - 测量尺 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测量尺，涉及工具尺领域，针对现有技术中对智能卡整体及各关键部件无法进行准确、便捷地测量、评估的问题。本实用新型测量尺由透明材料制成，该测量尺上设有需要检测的智能卡的标准设计样式。本实用新型适于对各种智能卡进行测量。

Description

测量尺

技术领域

本实用新型涉及一种工具尺。

背景技术

现今，智能卡(比如银行卡、交通卡、手机用户卡)已经广泛应用到人们的生活当中，这些智能卡在生产和检验时，有好多尺寸和位置、形状需要测量，如铣槽位置、磁条位置等等。

现有的测量方式主要有两种：一种为使用普通卡尺，主要用来测量智能卡上一些关键部位的尺寸大小，比如，出厂状态的手机用户卡的卡托和S IM(用户身份信息)卡之间，除了几个连接点之外，是镂空的，该镂空尺寸的大小有严格要求，如果镂空尺寸过大或过小，会造成SIM卡的尺寸相应过小或过大，导致该SIM卡因外形尺寸不合规格而不能安装在手机上，成为废卡；另一种为使用目测，主要用来评估智能卡表面图案的关键区域，是否有可能被智能卡上的镂空部位和后续加工程序加工在智能卡表面的铣槽，或者其它功能区域破坏掉，比如，SIM卡上有一个区域就需要被加工成铣槽，用来嵌入金属芯片，如果此前的印刷工序将卡号、商标或者其它关键信息印在这个区域，那将造成这些关键信息的缺失，再比如，银行卡上设有刷卡用的磁条，如果此前的印刷工序将关键信息印在这一区域，同样会造成这些关键信息的缺失。

但是，这两种测量方式都存在各自的问题：卡尺每次操作只能检验智能卡一个部位的尺寸，操作繁琐，不便捷；目测完全凭检测人经验，准确性很差。目前，急需一种专业测试工具解决现有智能卡检测当中所存在的问题。

实用新型内容

针对上述现有技术所存在的问题和不足，本实用新型提供一种测量尺，能够便捷地对各种智能卡进行测量。

本实用新型测量尺，由透明材料制成，该测量尺上设有需要检测的智能卡的标准设计样式。

具体的，所述智能卡的标准设计样式为设计样式的一种或者设计样式的组合。

其中，所述设计样式包括：

智能卡形状、智能卡形状的允许公差范围、智能卡铣槽的形状、智能卡铣槽在智能卡上的位置、智能卡铣槽的允许公差范围、智能卡镂空的形状、智能卡镂空在智能卡上的位置、智能卡镂空的允许公差范围、智能卡磁条的形状、智能卡磁条在智能卡上的位置、智能卡磁条的允许公差范围、智能卡四边外出血位的形状、智能卡四边外出血位的位置。

所述透明材料为聚氯乙烯、合成树脂或有机玻璃。

为了精确测量智能卡的外形尺寸，以便对加工工艺进行修正，上述智能卡的标准设计样式四边的任意边上标有刻度。

为了测量所述标准设计样式以外的智能卡的外形尺寸，上述测量尺另设有标准刻度。

本实用新型将智能卡的标准设计样式设置在测量尺上，这样，可以把已经加工好的智能卡与测量尺上的智能卡的标准设计样式进行比对，各个部位的尺寸是否合适一目了然，省去了传统卡尺逐个部件测量的繁琐操作，缩短了测量时间，提高了工作效率。

附图说明

图1是本实用新型测量尺实施例一的正面示意图；

图2是本实用新型测量尺实施例二的正面示意图；

图3是本实用新型测量尺实施例三的正面示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的实施例作进一步的详细描述。

本实用新型的设计思想是设计一种透明测量尺，将需要检测的智能卡的标准设计样式设在该测量尺上，使用时，将需测量的智能卡与测量尺上的标准设计样式进行比对，由于图形比对相对于传统卡尺测量的方法更简便，更形象，所以通过本实用新型测量尺可以更便捷地对智能卡进行测量。

图1为本实用新型的实施例一，包括：测量尺本体1，所述测量尺本体1由透明材料制成，所述透明材料可以为PVC(聚氯乙烯)、合成树脂或有机玻璃，所述测量尺本体1上设有智能卡的标准设计样式：智能卡形状2，所述智能卡形状2为标准智能卡的外形尺寸。该智能卡形状2可以是印在测量尺本体1上的样式图案，也可以是刻在测量尺本体1上的样式镂空。使用时，只需将加工好的智能卡与智能卡形状2进行比对，如果二者完全重合，则说明该加工好的智能卡为合格产品，这样，只需一个操作步骤便可以得出结果，测量时间大大缩短，工作效率显著提高。

本实用新型的智能卡的标准设计样式还可以进一步包括标准智能卡各部位的标准形状、位置和允许公差尺寸，以方便对加工出来的智能卡进行更细致的测量。

图2为本实用新型的实施例二，包括：测量尺本体1，所述测量尺本体1由透明材料制成，所述透明材料可以为PVC(聚氯乙烯)、合成树脂或有机玻璃，所述测量尺本体1上设有标准刻度8和智能卡形状2。所述智能卡的标准设计样式包括了两种智能卡类别，一类为带有磁条3的智能卡(比如银行卡)，另一类为带镂空4和铣槽5的智能卡(比如手机用户卡)。这两种智能卡的长、宽尺寸相同，所以可以在一个智能卡的标准设计样式中分别标注这两种智能卡各部位的位置和尺寸。

另外，在实际应用中，允许加工出来的智能卡与智能卡的标准设计之间在尺寸上存在一些微小误差，这些微小误差只要控制在一定的范围内，就不会影响智能卡的使用，这种可接受的误差我们一般称之为公差。在本实施例中，为了能更准确鉴别出可以正常使用的智能卡，我们在智能卡标准设计样式的各关键部件中引入了允许公差范围，并且各个关键部件的具体形状、位置与实际产品中的具体形状、位置相一致，具体地，带有磁条3的智能卡在智能卡的标准设计样式中的关键部件为磁条3，图2中磁条3的上下边各有一条黑线31，为磁条3的允许公差范围；带镂空4和铣槽5的智能卡在智能卡的标准设计样式中的关键部件为镂空4和铣槽5，其中，镂空4和虚线41之间的部分，为镂空4的允许公差范围，磁条3、镂空4和铣槽5的具体形状、位置与实际产品中的形状和位置保持一致。

另外，在智能卡形状2的四边，标有刻度7；在刻度7外，标有出血位6(所述出血位是指，当要为一张智能卡的一侧表面印图案时，所述图案面积一定要大于智能卡的表面面积，这样在印刷时即使图案稍稍偏移，也能保证整个智能卡的表面都能被印上图案，印刷图案大于智能卡表面面积的那一部分即为出血位)。

实施例二对于加工好的智能卡的检测方法如下：

将测量尺覆在加工好的智能卡的上面，首先观察所述加工好的智能卡外形尺寸是否与测量尺上智能卡形状2的外形尺寸一致，如果不一致，通过刻度7读取加工好的智能卡外形尺寸，与测量尺上智能卡形状2的外形尺寸之间的差值，用来对加工工艺进行修正；如果一致，使所述加工好的智能卡的四边与测量尺上智能卡形状2的四边对齐。这时，开始对所述加工好的智能卡上的关键部件的位置、形状和尺寸进行测量。

如果该加工好的智能卡为银行卡，则将该智能卡的磁条与测量尺上的磁条3区域进行比较，如果加工好的智能卡的磁条的上下边缘落入黑线31的范围内，说明该智能卡为合格产品，如果加工好的智能卡的磁条的上下边缘未落入黑线31的范围内，说明该智能卡为不合格产品。

如果该加工好的智能卡为手机用户卡，则将该智能卡的镂空和铣槽位置分别与测量尺上的镂空4区域和铣槽5区域进行比较，如果该加工好的智能卡的镂空落入镂空4和虚线41之间，并且该加工好的智能卡的铣槽和标准设计样式的铣槽5尺寸一致(由于铣槽5的公差范围很小，可以忽略不计，所以在测量尺上只有铣槽5，而没有与之相对应的公差范围)，说明该智能卡为合格产品，否则为不合格产品。

实施例二测量尺评估智能卡表面图案空缺位置的方法如下：

将测量尺覆在准备印在智能卡表面的印刷图案上，使所述印刷图案与测量尺上智能卡的标准设计样式四边之外的出血位6对齐。假设该印刷图案准备印在银行卡上，就看印刷图案上的关键信息是否落在测量尺上智能卡的标准设计样式的磁条3区域内，如果是，则需调整印刷图案的版面，使关键信息不落在磁条3区域内，如果否，则无需调整印刷图案的版面，可以进行下一步的印刷工作；假设该印刷图案准备印在手机用户卡上，就看印刷图案上的关键信息是否落在测量尺上智能卡的标准设计样式的虚线41区域或铣槽5区域内，如果是，则需调整印刷图案的版面，使关键信息不落在虚线41区域或铣槽5区域内，如果否，则无需调整印刷图案的版面，可以进行下一步的印刷工作。

另外，如图2所示，为了测量实施例二中标准设计样式以外的智能卡的外形尺寸(比如，外形尺寸更大的智能卡)，上述测量尺另设有标准刻度8，测量时只需将该标准刻度与待测智能卡进行比对即可。

本实用新型的智能卡的标准设计样式可以根据实际需要灵活改变，以针对各种不同类型的智能卡的测量要求，图3所示为本实用新型实施例三。与实施例二相比，其智能卡的标准设计样式包括了智能卡形状2、磁条3、镂空4、铣槽5，磁条3的上下边各有一条黑线31，为磁条3的允许公差范围，镂空4和虚线41之间的部分，为镂空4的允许公差范围，在智能卡形状2的四边，标有刻度7；在刻度7外，标有出血位6；与实施例二不同的是实施例三多了另一条较窄的磁条9，磁条9的上下边各有一条黑线91，为磁条9的允许公差范围。所述磁条9及黑线91即为满足另一种智能卡的测量要求而设，这种带较窄磁条的智能卡在国外的银行卡上使用比较普遍，外形尺寸与普通智能卡相同，所以可以设在同一个智能卡的标准设计样式中，测试尺上的磁条9的形状和位置也要符合该类银行卡的要求。

综上所述，本实用新型测量尺通过印在测量尺上的智能卡的标准设计样式，可以对各种不同的智能卡(带磁条的银行卡、带镂空的饭卡、带铣槽的社保卡、既带镂空又带铣槽的手机用户卡及其它所有市面上能够见到的和正在设计中的智能卡)的形状、位置和外形尺寸进行测量、评估，具有很强的通用性和灵活性。

本实用新型将智能卡的标准设计样式设置在测量尺上，并在所述智能卡的标准设计样式上标注各部位尺寸的允许公差范围，这样，可以把已经加工好的智能卡与测量尺上的智能卡的标准设计样式进行比对，如果加工好的智能卡各部位的形状、位置和尺寸与测试尺上相对应的各个标准设计样式相吻合，并且在允许公差范围内，则说明该智能卡为合格产品，否则为不合格产品，一目了然，免去了传统卡尺要对智能卡各个部件尺寸逐一测量的冗繁操作。因为是比对测量，也避免了卡尺测量因不同人测量用力不同，造成测出的数值不同的问题，将人为因素对测量准确性的影响降到了最小。

另外，在对智能卡表面进行图案印刷前，将印刷图案与测量尺上的智能卡的标准设计样式进行比对，可以清楚、准确地看出印刷图案上的关键信息，是否在智能卡的标准设计样式上需要镂空、铣槽或是加工成其它功能区域的部位，从而被破坏，这相对于以往的传统目测方式，准确性无疑大大提高了。

以上所述，仅为本实用新型实施例的具体实施方式，但本发明实施例的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内，比如，智能卡的标准设计样式可以为智能卡形状、智能卡形状的允许公差范围、智能卡铣槽的形状、智能卡铣槽在智能卡上的位置、智能卡铣槽的允许公差范围、智能卡镂空的形状、智能卡镂空在智能卡上的位置、智能卡镂空的允许公差范围、智能卡磁条的形状、智能卡磁条在智能卡上的位置、智能卡磁条的允许公差范围、智能卡四边外出血位的形状、智能卡四边外出血位的位置等设计样式的任意一种，也可以是上述多种设计样式的组合。因此，本实用新型实施例的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (6)

1、一种测量尺，由透明材料制成，其特征在于，该测量尺上设有需要检测的智能卡的标准设计样式。

2、根据权利要求1所述的测量尺，其特征在于，所述智能卡的标准设计样式为设计样式的一种或者设计样式的组合。

3、根据权利要求2所述的测量尺，其特征在于，所述设计样式包括：

智能卡形状、智能卡形状的允许公差范围、智能卡铣槽的形状、智能卡铣槽在智能卡上的位置、智能卡铣槽的允许公差范围、智能卡镂空的形状、智能卡镂空在智能卡上的位置、智能卡镂空的允许公差范围、智能卡磁条的形状、智能卡磁条在智能卡上的位置、智能卡磁条的允许公差范围、智能卡四边外出血位的形状、智能卡四边外出血位的位置。

4、根据权利要求1所述的测量尺，其特征在于，所述透明材料为聚氯乙烯、合成树脂或有机玻璃。

5、根据权利要求1、2、3或4所述的测量尺，其特征在于，所述智能卡的标准设计样式四边的任意边上标有刻度。

6、根据权利要求1、2、3或4所述的测量尺，其特征在于，所述测量尺另设有标准刻度。

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