CN113985133B - 一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,包括:用于输送厚膜晶片的输送带一;固定于所述输送带一前端面的工作台,所述工作台上端面安装有与所述输送带一平行设置的输送带二。本发明中,通过往复移动的吸盘,可以将生产线上带有厚膜电阻的晶片,取样移动至输送带二上进行电阻检测,并且安装不同数量的吸盘,与现有抽样装置相比,吸盘可以吸附在取样晶片的居中位置,防止抽样过程中造成晶片受力不均匀,断裂损坏的情况,可以根据生产线上不同数量的晶片,自由控制抽样数,提高抽样检测的精准度,且抽样速度快,无需停止生产线进行上下料抽样,更适用于厚膜晶片电阻大批量生产和抽样检测作业,提高工厂的加工效率。

Description

一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置
技术领域
本发明涉及厚膜晶片电阻检测设备领域,尤其是一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置。
背景技术
厚膜晶片电阻,是安装于晶片上的元器件,晶片是LED最主要的原物料之一,厚膜晶片电阻的好坏将直接决定LED的性能,在LED封装时,晶片来料呈整齐排列在晶片膜上,晶片上的厚膜电阻需要对其进行抽样检测,检测电阻是否符合标准。
现有的厚膜晶片电阻中抽样检测装置,在其使用的过程中,通过人工选样,将装有厚膜电阻的晶片通过检测装置进行检测,取样的过程中晶片易出现刮花,检测作业易造成损坏,同时检测效率慢,能抽样检测的电阻有限,使得检测的结果不够精准。
为此,我们提出一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置解决上述问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,以解决上述背景技术中提出现有的厚膜晶片电阻中抽样检测装置,通过人工选样,将装有厚膜电阻的晶片通过检测装置进行检测,检测效率慢,能抽样检测的电阻有限,使得检测的结果不够精准的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,包括:用于输送厚膜晶片的输送带一;固定于所述输送带一前端面的工作台,所述工作台上端面安装有与所述输送带一平行设置的输送带二,所述输送带二的输出端与所述输送带一之间安装有固定于所述工作台上端面的输送带三;固定于所述工作台上端面的检测仓,所述检测仓上端安装有电阻检测模块;固定于所述工作台上端面一侧的支撑杆,所述支撑杆上端安装有驱动组件,所述驱动组件包括固定于所述支撑杆上端面的两个安装板,两个所述安装板一侧之间转动安装有主动轮,两个所述安装板另一侧之间转动安装有从动轮,所述安装板表面安装有驱动电机,所述主动轮与所述从动轮表面啮合套接有转动带,所述转动带表面等距固定有若干个连接板;设于所述连接板表面的取样组件;及设于所述安装板上端的监测组件。
在进一步的实施例中,所述驱动电机输出端与所述主动轮固定连接,用于驱动连接板转动,使其可以带动着吸盘不间断翻转,在输送带一和输送带二上方往复移动。
在进一步的实施例中,所述取样组件包括:固定于若干个所述连接板表面的支撑板,所述支撑板内腔套接插设有两个插杆,两个所述插杆一端固定有弹簧一,所述弹簧一延长端固定有挡块,两个所述插杆表面套接有安装座,所述安装座上端面固定有气缸,所述气缸伸缩端固定有托板;及固定于所述托板表面的吸盘,所述托板下端面固定有气泵,所述吸盘与所述气泵之间固定有导管,使其吸盘可以吸附移动晶片,进行取样作业。
在进一步的实施例中,所述导管与所述托板贯穿连接。
在进一步的实施例中,所述安装座通过所述插杆与所述支撑板构成可拆装结构,使其可以根据需要取样的数量,自由添加不同数量的安装座。
在进一步的实施例中,所述托板一侧固定有抵板。
在进一步的实施例中,所述抵板尺寸长于所述吸盘。
在进一步的实施例中,所述转动带一端与所述转动带上端相对设置,所述所述转动带另一端与所述输送带二上端相对设置。
在进一步的实施例中,所述监测组件包括:固定于所述安装板上端面的支撑架,所述支撑架下端面一侧固定有高清摄像头,所述支撑架上端面固定有与所述高清摄像头电线连接的显示器,所述支撑架下端面另一侧固定有弹簧二,所述弹簧二下端面固定有软刷,所述支撑架一侧嵌有收集箱,所述收集箱一端嵌有滤网,所述收集箱表面固定有与所述滤网相连接的吸风泵,所述收集箱内嵌固定有堆料板,所述堆料板上端面固定有连接杆,所述连接杆延长端固定有与所述收集箱上端面活动连接的盖板。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
本发明中,通过往复移动的吸盘,可以将生产线上带有厚膜电阻的晶片,取样移动至输送带二上进行电阻检测,并且安装不同数量的吸盘,与现有抽样装置相比,吸盘可以吸附在取样晶片的居中位置,防止抽样过程中造成晶片受力不均匀,断裂损坏的情况,可以根据生产线上不同数量的晶片,自由控制抽样数,提高抽样检测的精准度,且抽样速度快,无需停止生产线进行上下料抽样,更适用于厚膜晶片电阻大批量生产和抽样检测作业,提高工厂的加工效率。
附图说明
图1为一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置的结构示意图;
图2为本发明中驱动组件的结构示意图;
图3为本发明中驱动组件侧视剖面的结构示意图;
图4为本发明中取样组件剖面的结构示意图;
图5为本发明中托板剖面的结构示意图;
图6为本发明中监测组件的结构示意图;
图7为本发明中监测组件侧视的结构示意图;
图8为本发明中收集箱处的结构示意图。
图中:1、输送带一;2、工作台;3、输送带二;4、输送带三;5、检测仓;6、电阻检测模块;7、支撑杆;8、驱动组件;801、安装板;802、主动轮;803、从动轮;804、驱动电机;805、转动带;806、连接板;9、取样组件;901、支撑板;902、插杆;903、弹簧一;904、挡块;905、安装座;906、气缸;907、托板;908、吸盘;909、气泵;910、导管;10、抵板;11、监测组件;1101、支撑架;1102、高清摄像头;1103、显示器;1104、弹簧二;1105、软刷;1106、收集箱;1107、滤网;1108、吸风泵;1109、堆料板;1110、连接杆;1111、盖板。
具体实施方式
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以通过具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例1
请参阅1-图8,本发明实施例中,一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,包括:用于输送厚膜晶片的输送带一1;固定于输送带一1前端面的工作台2,工作台2上端面安装有与输送带一1平行设置的输送带二3,输送带二3的输出端与输送带一1之间安装有固定于工作台2上端面的输送带三4;固定于工作台2上端面的检测仓5,检测仓5上端安装有电阻检测模块6;固定于工作台2上端面一侧的支撑杆7,支撑杆7上端安装有驱动组件8,驱动组件8包括固定于支撑杆7上端面的两个安装板801,两个安装板801一侧之间转动安装有主动轮802,两个安装板801另一侧之间转动安装有从动轮803,安装板801表面安装有驱动电机804,主动轮802与从动轮803表面啮合套接有转动带805,转动带805表面等距固定有若干个连接板806;设于连接板806表面的取样组件9;设于连接板806表面的取样组件9;及设于安装板801上端的监测组件11,驱动电机804输出端与主动轮802固定连接,用于驱动连接板806转动,转动带805一端与转动带805上端相对设置,转动带805另一端与输送带二3上端相对设置,通过驱动电机804可以带动着转动带805转动,使其能够带动着取样组件9不断翻转,可以将输送带一1上装有厚膜电阻晶片送至输送带二3上,电阻检测模块6通过四针探头可以接触厚膜电阻,对其电阻数据进行检测。
实施例2
请参阅图4和图5,与实施例1相区别的是:取样组件9包括:固定于若干个连接板806表面的支撑板901,支撑板901内腔套接插设有两个插杆902,两个插杆902一端固定有弹簧一903,弹簧一903延长端固定有挡块904,两个插杆902表面套接有安装座905,安装座905上端面固定有气缸906,气缸906伸缩端固定有托板907;及固定于托板907表面的吸盘908,托板907下端面固定有气泵909,吸盘908与气泵909之间固定有导管910,导管910与托板907贯穿连接,安装座905通过插杆902与支撑板901构成可拆装结构,托板907一侧固定有抵板10,安装座905可以通过插杆902安装在支撑板901内,通过安装不同数量的安装座905,可以自由添加若干的吸盘908,当连接板806转动时,不同数量的吸盘908可以进行不同速度的抽样作业,可以根据需要抽样数量自由的调节。
实施例3
请参阅图6-图8,与实施例1相区别的是:监测组件11包括:固定于安装板801上端面的支撑架1101,支撑架1101下端面一侧固定有高清摄像头1102,支撑架1101上端面固定有与高清摄像头1102电线连接的显示器1103,支撑架1101下端面另一侧固定有弹簧二1104,弹簧二1104下端面固定有软刷1105,支撑架1101一侧嵌有收集箱1106,收集箱1106一端嵌有滤网1107,收集箱1106表面固定有与滤网1107相连接的吸风泵1108,收集箱1106内嵌固定有堆料板1109,堆料板1109上端面固定有连接杆1110,连接杆1110延长端固定有与收集箱1106上端面活动连接的盖板1111,当吸盘908带动着抽样的厚膜电阻晶片移动至吸盘908过程中,首先通过软刷1105刮动着厚膜电阻晶片表面,通过高清摄像头1102对厚膜电阻晶片进行拍摄,并将拍摄的画面传输至显示器1103,同时软刷1105刮动着厚膜电阻晶片表面使其安装不稳定的厚膜电阻松动脱落,通过吸风泵1108将脱落的厚膜电阻吸入收集箱1106内,并堆积在堆料板1109表面,拉动盖板1111可以使其堆料板1109从收集箱1106上端抽出,将厚膜电阻从收集箱1106内取出。
本发明的工作原理是:首先根据需要取样的数量,将若干个安装座905放置支撑板901内,再手动挤压挡块904,使其挤压着弹簧一903缩入插杆902内,将插杆902穿过支撑板901与安装座905,通过弹簧一903的弹性使其挡块904复位移动,将插杆902固定在支撑板901内,使得安装座905安装,这时通过驱动电机804输出端带动主动轮802转动,主动轮802带动转动带805旋转,使其表面的连接板806带动着安装座905翻转,当安装座905带动着吸盘908移动至输送带一1上方时,气缸906推动着托板907与吸盘908向下移动,这时抵板10接触到输送带一1表面,遮挡输送带一1移动的晶片,气泵909控制吸盘908产生吸力,吸附在晶片居中位置上,连接板806带动着吸附有晶片的吸盘908向输送带二3上方移动,当吸盘908带动着抽样的厚膜电阻晶片移动至吸盘908过程中,首先通过软刷1105刮动着厚膜电阻晶片表面,通过高清摄像头1102对厚膜电阻晶片进行拍摄,并将拍摄的画面传输至显示器1103,同时软刷1105刮动着厚膜电阻晶片表面使其安装不稳定的厚膜电阻松动脱落,通过吸风泵1108将脱落的厚膜电阻吸入收集箱1106内,并堆积在堆料板1109表面,拉动盖板1111可以使其堆料板1109从收集箱1106上端抽出,将厚膜电阻从收集箱1106内取出,当吸盘908移动至输送带二3上方时,气缸906推动吸盘908向下移动与输送带二3表面接触,这时气泵909停止作业,将装有厚膜电阻的晶片放置输送带二3表面,通过电阻检测模块6进行检测,检测后的装有厚膜电阻晶片通过输送带三4送回输送带一1,就这样完成了本发明的工作原理。
对于本领域技术人员而言,显然本发明不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本发明。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外,应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施例中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (8)

1.一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,其特征在于,包括:
用于输送厚膜晶片的输送带一(1);
固定于所述输送带一(1)前端面的工作台(2),所述工作台(2)上端面安装有与所述输送带一(1)平行设置的输送带二(3),所述输送带二(3)的输出端与所述输送带一(1)之间安装有固定于所述工作台(2)上端面的输送带三(4);
固定于所述工作台(2)上端面的检测仓(5),所述检测仓(5)上端安装有电阻检测模块(6);
固定于所述工作台(2)上端面一侧的支撑杆(7),所述支撑杆(7)上端安装有驱动组件(8),所述驱动组件(8)包括固定于所述支撑杆(7)上端面的两个安装板(801),两个所述安装板(801)一侧之间转动安装有主动轮(802),两个所述安装板(801)另一侧之间转动安装有从动轮(803),所述安装板(801)表面安装有驱动电机(804),所述主动轮(802)与所述从动轮(803)表面啮合套接有转动带(805),所述转动带(805)表面等距固定有若干个连接板(806);
设于所述连接板(806)表面的取样组件(9);及
设于所述安装板(801)上端的监测组件(11),
取样组件(9)包括:
固定于若干个所述连接板(806)表面的支撑板(901),所述支撑板(901)内腔套接插设有两个插杆(902),两个所述插杆(902)一端固定有弹簧一(903),所述弹簧一(903)延长端固定有挡块(904),两个所述插杆(902)表面套接有安装座(905),所述安装座(905)上端面固定有气缸(906),所述气缸(906)伸缩端固定有托板(907);及
固定于所述托板(907)表面的吸盘(908),所述托板(907)下端面固定有气泵(909),所述吸盘(908)与所述气泵(909)之间固定有导管(910)。
2.根据权利要求1所述的一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,其特征在于,所述驱动电机(804)输出端与所述主动轮(802)固定连接,用于驱动连接板(806)转动。
3.根据权利要求1所述的一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,其特征在于,所述导管(910)与所述托板(907)贯穿连接。
4.根据权利要求1所述的一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,其特征在于,所述安装座(905)通过所述插杆(902)与所述支撑板(901)构成可拆装结构。
5.根据权利要求1所述的一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,其特征在于,所述托板(907)一侧固定有抵板(10)。
6.根据权利要求5所述的一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,其特征在于,所述抵板(10)尺寸长于所述吸盘(908)。
7.根据权利要求1所述的一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,其特征在于,所述转动带(805)一端与所述输送带一(1)上端相对设置,所述转动带(805)另一端与所述输送带二(3)上端相对设置。
8.根据权利要求1所述的一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置,其特征在于,所述监测组件(11)包括:
固定于所述安装板(801)上端面的支撑架(1101),所述支撑架(1101)下端面一侧固定有高清摄像头(1102),所述支撑架(1101)上端面固定有与所述高清摄像头(1102)电线连接的显示器(1103),所述支撑架(1101)下端面另一侧固定有弹簧二(1104),所述弹簧二(1104)下端面固定有软刷(1105),所述支撑架(1101)一侧嵌有收集箱(1106),所述收集箱(1106)一端嵌有滤网(1107),所述收集箱(1106)表面固定有与所述滤网(1107)相连接的吸风泵(1108),所述收集箱(1106)内嵌固定有堆料板(1109),所述堆料板(1109)上端面固定有连接杆(1110),所述连接杆(1110)延长端固定有与所述收集箱(1106)上端面活动连接的盖板(1111)。
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