CN218360726U - 一种芯片测试平台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试平台，包括放置台、测试机构和芯片转移机构，放置台上设有芯片固定机构，测试机构设于放置台一侧，测试机构的上部位于放置台的正上方，芯片转移机构包括两组传送带和一组芯片转移组件，两组传送带分别于放置台两侧，两组传送带的一端均设有芯片收集盒，芯片转移组件位于两组传送带和放置台的上方。本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体提供了一种既可对芯片进行稳定定位，为芯片测试提供条件，又可自动转移良品芯片和次品芯片的芯片测试平台。

Description

一种芯片测试平台

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试平台。

背景技术

芯片作为电子产品核心的部件，在出厂前，需要进行功能测试，以区分良品和次品，保证芯片的出厂质量。芯片位置固定的稳定性是保证芯片测试顺利进行的前提，且芯片的测试在测试平台上完成，但是，测试后的芯片需要人工转移至良品区和次品区，人工劳动强度大。

实用新型内容

针对上述情况，为弥补上述现有缺陷，本实用新型提供了一种既可对芯片进行稳定定位，为芯片测试提供条件，又可自动转移良品芯片和次品芯片的芯片测试平台。

本实用新型提供如下的技术方案：本实用新型提出的一种芯片测试平台，包括放置台、测试机构和芯片转移机构，所述放置台上设有芯片固定机构，所述测试机构设于放置台一侧，所述测试机构的上部位于放置台的正上方，所述芯片转移机构包括两组传送带和一组芯片转移组件，两组所述传送带分别于放置台两侧，两组所述传送带的一端均设有芯片收集盒，所述芯片转移组件位于两组传送带和放置台的上方。

为实现检测之后的芯片的分类转移，所述芯片转移组件包括支撑竖板、芯片转移电机、芯片转移驱动螺杆、限位导向滑杆和转移驱动块，所述支撑竖板设有两组，两组所述支撑竖板分别设于两组传送带两侧，所述芯片转移电机设于一组支撑竖板上，所述芯片转移驱动螺杆转动设于两组支撑竖板之间，所述芯片转移驱动螺杆与芯片转移电机的输出轴相连，所述限位导向滑杆设于两组支撑竖板之间，所述转移驱动块的一端通过螺纹连接设于芯片转移驱动螺杆上，所述转移驱动块的另一端滑动设于限位导向滑杆上，所述转移驱动块上设有负压泵，所述转移驱动块的下表面设有转移电动伸缩杆，所述转移电动伸缩杆的自由端连接有负压吸附板，所述负压吸附板的下表面设有负压吸附盘，所述负压吸附板与负压泵之间设有负压管。

为实现芯片在放置台上的稳定放置定位，为芯片的准确测试提供条件，所述芯片固定机构包括固定板、横向电动伸缩杆和固定块，所述固定板设于放置台上，所述横向电动伸缩杆设于固定板上，所述固定块设于横向电动伸缩杆的自由端，所述固定块内设有压紧机构。

进一步地，所述压紧机构包括压紧电机、凸轮、滑板、压紧推杆、复位弹簧和压紧板，所述固定块内设有压紧驱动腔，所述压紧电机设于压紧驱动腔内，所述凸轮设于压紧电机的输出轴上，所述滑板滑动设于压紧驱动腔内，所述凸轮位于滑板上方，所述压紧推杆滑动设于压紧驱动腔的底壁上，所述压紧推杆的上端与滑板相连，所述压紧板设于压紧推杆的下端，所述复位弹簧设于滑板与压紧驱动腔的底壁之间。

进一步地，所述芯片固定机构设有两组，两组所述芯片固定机构于放置台的两端对称设置。

为实现芯片的测试，所述测试机构包括支撑架、安装横板、测试电动伸缩杆和安装板，所述支撑架位于放置台的后侧，所述安装横板设于支撑架的上端，所述测试电动伸缩杆设于安装横板上，所述安装板设于测试电动伸缩杆的自由端，所述安装板上开设有缓冲槽，所述缓冲槽内设有缓冲组件，所述缓冲组件的下端设有测试板，所述测试板上设有测试探针。

进一步地，所述缓冲槽沿安装板的下表面设有多组，所述缓冲组件与缓冲槽对应设有多组，所述缓冲组件包括缓冲弹簧、缓冲滑板和连接杆，所述缓冲弹簧设于缓冲槽内，所述缓冲滑板滑动设于缓冲槽内，所述缓冲滑板与缓冲弹簧相连，所述连接杆设于缓冲滑板和测试板之间。

采用上述结构本实用新型取得的有益效果如下：本实用新型提出的一种芯片测试平台，通过芯片固定机构的设置，实现了芯片在放置台上的稳定固定定位，为测试机构的准确测试提供了条件，并通过芯片转移机构的设置可以对测试之后的良品芯片和次品芯片进行自动转移，降低了工人的劳动量。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型提出的一种芯片测试平台的整体结构示意图；

图2为本实用新型提出的一种芯片测试平台的芯片转移机构和放置台的俯视结构示意图；

图3为本实用新型提出的一种芯片测试平台的芯片转移机构的结构示意图；

图4为本实用新型提出的一种芯片测试平台的测试机构和芯片固定机构的结构示意图；

图5为本实用新型提出的一种芯片测试平台的压紧驱动腔的内部结构示意图。

其中，1、放置台，2、测试机构，3、芯片转移机构，4、芯片固定机构，5、传送带，6、芯片收集盒，7、支撑竖板，8、芯片转移电机，9、芯片转移驱动螺杆，10、限位导向滑杆，11、转移驱动块，12、负压泵，13、负压吸附盘，14、负压管，15、固定板，16、横向电动伸缩杆，17、固定块，18、凸轮，19、滑板，20、压紧推杆，21、复位弹簧，22、压紧板，23、支撑架，24、安装横板，25、测试电动伸缩杆，26、安装板，27、缓冲槽，28、测试板，29、测试探针，30、缓冲弹簧，31、缓冲滑板，32、连接杆，33、转移电动伸缩杆，34、负压吸附板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。

如图1和图2所示，本实施例提供了一种芯片测试平台，包括放置台1、测试机构2和芯片转移机构3，放置台1上设有芯片固定机构4，测试机构2设于放置台1一侧，测试机构2的上部位于放置台1的正上方，芯片转移机构3包括两组传送带5和一组芯片转移组件，两组传送带5分别于放置台1两侧，两组传送带5分别用于转移良品芯片和次品芯片，两组传送带5的一端均设有芯片收集盒6，芯片转移组件位于两组传送带5和放置台1的上方。

如图1、图2和图3所示，在本实施例中，芯片转移组件包括支撑竖板7、芯片转移电机8、芯片转移驱动螺杆9、限位导向滑杆10和转移驱动块11，支撑竖板7设有两组，两组支撑竖板7分别设于两组传送带5两侧，芯片转移电机8设于一组支撑竖板7上，芯片转移驱动螺杆9转动设于两组支撑竖板7之间，芯片转移驱动螺杆9与芯片转移电机8的输出轴相连，限位导向滑杆10设于两组支撑竖板7之间，转移驱动块11的一端通过螺纹连接设于芯片转移驱动螺杆9上，转移驱动块11的另一端滑动设于限位导向滑杆10上，转移驱动块11上设有负压泵12，转移驱动块11的下表面设有转移电动伸缩杆33，转移电动伸缩杆33的自由端连接有负压吸附板34，负压吸附板34的下表面设有负压吸附盘13，负压吸附板34与负压泵12之间设有负压管14，在负压吸附泵的作用下，可以通过负压吸附芯片，从而实现芯片转移。

在芯片转移组件的作用下，可以实现检测之后的良品芯片和次品芯片的分类转移。

如图1、图2、图4和图5所示，在本实施例中，芯片固定机构4包括固定板15、横向电动伸缩杆16和固定块17，固定板15设于放置台1上，横向电动伸缩杆16设于固定板15上，固定块17设于横向电动伸缩杆16的自由端，固定块17内设有压紧机构，压紧机构包括压紧电机、凸轮18、滑板19、压紧推杆20、复位弹簧21和压紧板22，固定块17内设有压紧驱动腔，压紧电机设于压紧驱动腔内，凸轮18设于压紧电机的输出轴上，滑板19滑动设于压紧驱动腔内，凸轮18位于滑板19上方，压紧推杆20滑动设于压紧驱动腔的底壁上，压紧推杆20的上端与滑板19相连，压紧板22设于压紧推杆20的下端，复位弹簧21设于滑板19与压紧驱动腔的底壁之间，通过凸轮18与复位弹簧21的配合可以实现压紧板22位置的变动，从而可以顺利实现芯片测试的压紧和芯片测试完毕之后的顺利解压。

在本实施例中，芯片固定机构4设有两组，两组芯片固定机构4于放置台1的两端对称设置，两组芯片固定机构4配合对芯片进行固定定位。

芯片固定机构4的设置可以实现芯片在放置台1上的稳定放置定位，为芯片的准确测试提供条件。

如图1、图2和图4所示，在本实施例中，测试机构2包括支撑架23、安装横板24、测试电动伸缩杆25和安装板26，支撑架23位于放置台1的后侧，安装横板24设于支撑架23的上端，测试电动伸缩杆25设于安装横板24上，安装板26设于测试电动伸缩杆25的自由端，安装板26位于芯片转移驱动螺杆9和限位导向滑杆10之间，安装板26可以于芯片转移驱动螺杆9和限位导向滑杆10之间顺利升降实现芯片测试，安装板26上开设有缓冲槽27，缓冲槽27内设有缓冲组件，缓冲组件的下端设有测试板28，测试板28上设有测试探针29，缓冲组件的设置，可以有效保证测试探针29与芯片紧密接触实现测试，又有效避免测试探针29下压损坏芯片，缓冲槽27沿安装板26的下表面设有多组，缓冲组件与缓冲槽27对应设有多组，缓冲组件包括缓冲弹簧30、缓冲滑板31和连接杆32，缓冲弹簧30设于缓冲槽27内，缓冲滑板31滑动设于缓冲槽27内，缓冲滑板31与缓冲弹簧30相连，连接杆32设于缓冲滑板31和测试板28之间。

具体使用时，将芯片放置于放置台1上，启动横向电动伸缩杆16带动固定块17移动至芯片上方，在压紧电机的驱动作用下，压紧电机带动凸轮18转动，凸轮18的大头端转向靠近滑板19时下压滑板19，复位弹簧21压缩，压紧推杆20带动压紧板22下压固定芯片，测试电动伸缩杆25带动测试板28和测试探针29下降实现芯片测试，同时在缓冲弹簧30的作用下既可保证测试探针29与芯片紧密接触实现测试，又可以有效避免测试探针29对芯片的施压过大损坏芯片，测试完毕之后，芯片转移电机8驱动芯片转移驱动螺杆9转动，在限位导向滑杆10的导向作用下，转移驱动块11移动至芯片上方，转移电动伸缩杆33带动负压吸附板34下降，在负压泵12的作用下，负压吸附盘13吸附芯片，之后在芯片转移电机8的作用下带动芯片移动至对应的传送带5上，实现良品芯片和次品芯片的自动转移。

要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物料或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物料或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种芯片测试平台，包括放置台、测试机构和芯片转移机构，其特征在于：所述放置台上设有芯片固定机构，所述测试机构设于放置台一侧，所述测试机构的上部位于放置台的正上方，所述芯片转移机构包括两组传送带和一组芯片转移组件，两组所述传送带分别于放置台两侧，两组所述传送带的一端均设有芯片收集盒，所述芯片转移组件位于两组传送带和放置台的上方。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试平台，其特征在于：所述芯片转移组件包括支撑竖板、芯片转移电机、芯片转移驱动螺杆、限位导向滑杆和转移驱动块，所述支撑竖板设有两组，两组所述支撑竖板分别设于两组传送带两侧，所述芯片转移电机设于一组支撑竖板上，所述芯片转移驱动螺杆转动设于两组支撑竖板之间，所述芯片转移驱动螺杆与芯片转移电机的输出轴相连，所述限位导向滑杆设于两组支撑竖板之间，所述转移驱动块的一端通过螺纹连接设于芯片转移驱动螺杆上，所述转移驱动块的另一端滑动设于限位导向滑杆上，所述转移驱动块上设有负压泵，所述转移驱动块的下表面设有转移电动伸缩杆，所述转移电动伸缩杆的自由端连接有负压吸附板，所述负压吸附板的下表面设有负压吸附盘，所述负压吸附板与负压泵之间设有负压管。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试平台，其特征在于：所述芯片固定机构包括固定板、横向电动伸缩杆和固定块，所述固定板设于放置台上，所述横向电动伸缩杆设于固定板上，所述固定块设于横向电动伸缩杆的自由端，所述固定块内设有压紧机构。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试平台，其特征在于：所述压紧机构包括压紧电机、凸轮、滑板、压紧推杆、复位弹簧和压紧板，所述固定块内设有压紧驱动腔，所述压紧电机设于压紧驱动腔内，所述凸轮设于压紧电机的输出轴上，所述滑板滑动设于压紧驱动腔内，所述凸轮位于滑板上方，所述压紧推杆滑动设于压紧驱动腔的底壁上，所述压紧推杆的上端与滑板相连，所述压紧板设于压紧推杆的下端，所述复位弹簧设于滑板与压紧驱动腔的底壁之间。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试平台，其特征在于：所述芯片固定机构设有两组，两组所述芯片固定机构于放置台的两端对称设置。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试平台，其特征在于：所述测试机构包括支撑架、安装横板、测试电动伸缩杆和安装板，所述支撑架位于放置台的后侧，所述安装横板设于支撑架的上端，所述测试电动伸缩杆设于安装横板上，所述安装板设于测试电动伸缩杆的自由端，所述安装板上开设有缓冲槽，所述缓冲槽内设有缓冲组件，所述缓冲组件的下端设有测试板，所述测试板上设有测试探针。

7.根据权利要求6所述的一种芯片测试平台，其特征在于：所述缓冲槽沿安装板的下表面设有多组，所述缓冲组件与缓冲槽对应设有多组，所述缓冲组件包括缓冲弹簧、缓冲滑板和连接杆，所述缓冲弹簧设于缓冲槽内，所述缓冲滑板滑动设于缓冲槽内，所述缓冲滑板与缓冲弹簧相连，所述连接杆设于缓冲滑板和测试板之间。

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