CN113985073A - 一种适用于微波组件的新型测试夹具及测试方法 - Google Patents
一种适用于微波组件的新型测试夹具及测试方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明提供一种适用于微波组件的新型测试夹具及测试方法,包括测试底座,可拆卸的组装在测试底座上的左侧固定架、右侧固定架、A型组合夹具、B型组合夹具,左侧固定架、右侧固定架在测试底座上紧固的位置可调;A型组合夹具和B型组合夹具的一端与微波组件的端口连接、另一端与测试设备的端口连接,A型组合夹具和B型组合夹具跟随微波组件进行全部测试后再卸下。本发明通过使用组合夹具对微波组件快速定位,同时能够快速完成微波组件的测试,在大幅提升微波组件的测试效率的同时还能避免重复插拔对产品接口的损伤,大幅提高微波组件的测试效率和产品可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及测量测试技术领域,具体涉及一种适用于微波组件的新型测试夹具及测试方法。
背景技术
随着微波毫米波技术的飞速进步,微波毫米波产品朝着小型化和集成化不断发展,为了满足微波组件小型化和高集成度的要求,微波组件的接口已经从传统的SMA型接头向SMP甚至WMP等微型接插件转变,现有的测试技术已经无法满足高集成度微波组件快速测试的需求,测试的缓慢严重制约着产品交付进度。
发明内容
本发明是为了解决微波组件测试慢并且可靠性差的问题,提供一种适用于微波组件的新型测试夹具及测试方法,通过使用组合夹具对微波组件快速定位,同时能够快速完成微波组件的测试,在大幅提升微波组件的测试效率的同时还能避免重复插拔对产品接口的损伤,大幅提高微波组件的测试效率和产品可靠性。
本发明提供一种适用于微波组件的新型测试夹具,包括测试底座和可拆卸的组装在测试底座上的左侧固定架、右侧固定架、A型组合夹具、B型组合夹具,左侧固定架和右侧固定架在测试底座上紧固的位置可调;
测试底座、左侧固定架、右侧固定架、A型组合夹具和B型组合夹具用于固定微波组件,测试底座位于微波组件的底部,左侧固定架、右侧固定架、A型组合夹具和B型组合夹具位于微波组件的四周;
A型组合夹具包括可拆卸的组装在左侧固定架、右侧固定架上端的A型组合夹具框架和可拆卸的固定在A型组合夹具框架上的射频测试电缆组件、视频测试电缆组件,A型组合夹具框架上设置供射频测试电缆组件和视频测试电缆组件穿过的通孔,射频测试电缆组件一端与微波组件的射频端口连接、另一端与测试设备的射频端口连接,视频测试电缆组件一端与微波组件的视频输出端口连接、另一端与测试设备的视频输入端口连接,射频测试电缆组件和视频测试电缆组件跟随微波组件进行全部测试后再卸下;
射频测试电缆组件包括射频转接头、设置在射频转接头外侧的转接法兰和与射频转接头依次连接的柔性电缆、快插头,射频转接头用于与微波组件的射频端口进行插拔连接,快插头用于与测试设备的射频端口进行插拔连接,转接法兰用于穿过A型组合夹具框架的通孔紧固在A型组合夹具框架上;
B型组合夹具包括可拆卸的组装在左侧固定架、右侧固定架下端的B型组合夹具框架和可拆卸的穿过B型组合夹具框架的射频测试电缆组件,B型组合夹具框架上设置供射频测试电缆组件穿过的通孔;
左侧固定架和右侧固定架的上下两端分别设置限位销钉,A型组合夹具框架和B型组合夹具框架分别设置与限位销钉对应的限位孔。
本发明所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,作为优选方式,限位孔的直径大于限位销钉的直径。
本发明所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,作为优选方式,左侧固定架和右侧固定架高度相同且结构对称,A型组合夹具框架左右两端设置用于将A型组合夹具框架固定在左侧固定架和右侧固定架的上端的不脱出紧固螺钉;
B型组合夹具框架左右两端设置用于将B型组合夹具框架固定在左侧固定架和右侧固定架的下端的不脱出紧固螺钉。
本发明所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,作为优选方式,视频测试电缆组件通过螺钉固定在A型组合夹具框架上。
本发明所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,作为优选方式,左侧固定架和右侧固定架在横向、纵向上均设置椭圆通孔,测试底座上设置若干螺钉安装孔,螺钉穿过椭圆通孔与螺钉安装孔将左侧固定架和右侧固定架可调尺寸的固定在测试底座上。
本发明所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,作为优选方式,安装在B型组合夹具上的射频测试电缆组件的数量为至少2个。
本发明所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,作为优选方式,快插头用于与测试设备的射频端口进行快速插拔连接,快插头的为SMA型。
本发明提供一种适用于微波组件的新型测试方法,包括如下步骤:
S1、将左侧固定架和右侧固定架安装在测试底座上,将B型组合夹具安装在左侧固定架和右侧固定架的下端,放入微波组件,并将B型组合夹具上的射频转接头与微波组件的射频端口进行组装,再将A型组合夹具固定在左侧固定架和右侧固定架的上端;
S2、将快插头与第一项测试设备的射频端口连接,将视频测试电缆组件的另一端与第一项测试设备视频端口连接,进行第一项性能测试;
S3、第一项性能测试结束后,将快插头和视频测试电缆组件从第一项测试设备上拆下,再与下一项测试设备连接,进行下一项性能测试;
重复步骤S3,直至全部性能测试完成;
S4、全部性能测试完成后,将射频测试电缆组件和视频测试电缆组件与微波组件脱离,并将微波组件从测试底座上取下,测试完成。
本发明所述的一种适用于微波组件的新型测试方法,作为优选方式,步骤S1包括以下步骤:
S11、测试底座组装:将左侧固定架和右侧固定架安装在测试底座上,调整左侧固定架和右侧固定架的位置使微波组件可以放入;
S12、B型组合夹具组装:将射频测试电缆组件通过转接法兰固定在B型组合夹具框架上,将B型组合夹具框架的限位孔与左侧固定架、右侧固定架下端的限位销钉对正,再通过不脱出紧固螺钉固定;
S13、微波组件放入:将微波组件沿左侧固定架和右侧固定架放入,并将微波组件的射频端口与B型组合夹具的射频测试电缆组件组装;
S14、A型组合夹具组装:将A型组合夹具的射频测试电缆组件和视频测试电缆组件固定在A型组合夹具框架上,将A型组合夹具框架的限位孔与左侧固定架、右侧固定架上端的限位销钉对正,再通过不脱出紧固螺钉固定,同时将A型组合夹具框架上的射频转接头与微波组件的射频端口进行组装、将视频测试电缆组件与微波组件的视频端口进行组装。
本发明所述的一种适用于微波组件的新型测试方法,作为优选方式,步骤S11中,左侧固定架、右侧固定架与测试底座固定的位置有多个以便调节左侧固定架和右侧固定架之间的距离适应不同尺寸的微波组件;
步骤S12中,B型组合夹具通过两个不脱出紧固螺钉固定在左侧固定架和右侧固定架的下端,不脱出紧固螺钉设置在B型组合夹具一侧;
步骤S14中,A型组合夹具通过两个不脱出紧固螺钉固定在左侧固定架和右侧固定架的上端,不脱出紧固螺钉设置在A型组合夹具一侧。
一种适用于微波组件的新型测试夹具,夹具用于测试微波组件,包括测试底座、左侧固定架、右侧固定架、A型组合夹具、B型组合夹具、限位销钉、限位孔和不脱出紧固螺钉;
测试底座设有许多等间距的螺纹孔,螺纹尺寸为M2-M5,用于固定左侧固定架和右侧固定架;左侧固定架和右侧固定架在两个方向各有一个椭圆孔,可以将自身紧固到测试底座上的同时沿着两个椭圆的方向进行移动,以适应不同尺寸的微波组件;左侧固定架和右侧固定架固定到测试底座上后,左侧固定架和右侧固定架与微波组件之间有缝隙,缝隙尺寸为0.1.mm-0.2mm,保证微波组件能够放入的同时兼具一定的定位功能;左侧固定架和右侧固定架固定到测试底座上后,左侧固定架和右侧固定架的上下表面在同一水平面上;左侧固定架和右侧固定架在两侧各有一个限位销钉;A型组合夹具和B型组合夹具各有两个限位孔,左侧固定架和右侧固定架的限位销钉位置与限位孔位置一一对应;A型组合夹具和B型组合夹具限位孔直径大于左侧固定架和右侧固定架限位销钉的直径;
不脱出紧固螺钉将A型组合夹具和B型组合夹具固定于左侧固定架和右侧固定架上,且采用适配不脱出紧固螺钉的结构设计,拆卸时不脱出紧固螺钉不会从A型组合夹具和B型组合夹具上脱出;A型组合夹具和B型组合夹具一侧和微波组件的接口连接,另一侧连接测试设备,连接完成后可以进行微波组件的性能测试。
A型组合夹具包含A型组合夹具框架、射频测试电缆组件、视频测试电缆组件、限位孔和不脱出紧固螺钉;重点在于这些结构射频测试电缆组件的位置和微波组件上的射频接口是对应的;射频测试电缆组件一端与微波组件的接口连接,另一端连接测试设备;视频测试电缆组件的位置和微波组件上视频接口的位置是对应的;视频频测试电缆组件一端与微波组件的接口连接,另一端连接测试设备;A型组合夹具框架上设有通孔和螺纹孔,射频测试电缆组件与微波组件相连的一端插入通孔,通过螺钉紧固到A型组合夹具框架上,A型组合夹具框架上的通孔直径大于射频测试电缆组件插入端的外径尺寸;A型组合夹具框架上设有开槽和螺纹孔,视频测试电缆组件的一端穿过开槽,通过螺钉紧固到A型组合夹具框架上,A型组合夹具框架上的开槽尺寸大于视频测试电缆组件穿过开槽一端的外形尺寸。
B型组合夹具包含B型组合夹具框架、射频测试电缆组件、限位孔和不脱出紧固螺钉;射频测试电缆组件的位置和微波组件上的射频接口是一一对应的;射频测试电缆组件一端与微波组件的射频接口连接,一端连接测试设备;B型组合夹具框架上设有通孔和螺纹孔,射频测试电缆组件与微波组件相连的一端插入通孔,通过螺钉紧固到B型组合夹具框架上,B型组合夹具框架上的通孔直径大于射频测试电缆组件插入端的外径尺寸。
射频测试电缆组件包含射频转接头、转接法兰、柔性电缆和SMA型快插头;射频转接头和微波组件的接口插头是匹配的,可以实现射频信号的传输;转接法兰一端与射频转接头连接,一端与柔性电缆连接,可以传输射频信号;转接法兰带有装配法兰,同时与射频转接头连接的一端穿过A型组合夹具框架或者B型组合夹具框架的通孔,通过紧固件固定到A型组合夹具框架或者B型组合夹具框架上;转接法兰与射频转接头连接的一端直径大于A型组合夹具框架或者B型组合夹具框架的通孔直径;SMA型快插头一端与柔性电缆连接传输射频信号,另一端可以和测试设备之间快速插拔连接,从而将射频信号传输到测试设备上。
一种适用于微波组件的新型测试方法,包括如下步骤:
步骤一、将左侧固定架和右侧固定架装到测试底座上,调节左侧固定架和右侧固定架的位置,确保左侧固定架和右侧固定架与微波组件之间存在缝隙,缝隙尺寸为0.1mm-0.2mm;用紧固螺钉固定左侧固定架和右侧固定架。
步骤二、将射频测试电缆组件装到A型组合夹具框架上并用螺钉紧固;将视频测试电缆组件装到A型组合夹具框架上并用螺钉紧固。
步骤三、将射频测试电缆组件全部装到B型组合夹具框架上并用螺钉紧固。
步骤四、通过不脱出紧固螺钉将B型组合夹具固定于左侧固定架和右侧固定架上。
步骤五、将微波组件沿着左侧固定架和右侧固定架之间装入,确保微波组件的接口和B型组合夹具上对应的射频测试电缆组件连接上。
步骤六、通过不脱出紧固螺钉将A型组合夹具固定于左侧固定架和右侧固定架上,同时确保微波组件的接口和A型组合夹具上对应的射频测试电缆组件连接上。
步骤七、将A型组合夹具和B型组合夹具上的测试电缆组件与相应的测试设备连接。
步骤八、通过相关测试设备开始对微波组件进行性能测试。
左侧固定架和右侧固定架在两个方向各有一个椭圆孔,可以将自身紧固到测试底座上的同时沿着两个椭圆的方向进行移动,以适应不同尺寸的微波组件,具有一定的兼容性;左侧固定架和右侧固定架的上下表面在同一水平面上;A型组合夹具和B型组合夹具与左侧固定架和右侧固定架之间采用限位销钉设计,通过限位销钉确保装配定位的精确度,起到保护微波组件接口的作用;A型组合夹具和B型组合夹具与左侧固定架和右侧固定架之间采用不脱出紧固螺钉固定,通过相应的结构设计,拆卸时不脱出紧固螺钉可以一直连接在A型组合夹具和B型组合夹具上,具有减少零部件数量、避免螺钉遗失和提升拆卸效率的优点。
本发明具有以下优点:
(1)现有的测试夹具主要通过转接头将产品与测试设备相连接,转接头无法固定,测试时转接头的晃动容易对产品接口造成损伤,严重的甚至可能造成产品报废。本发明不仅可以保证微波组件快速定位固定,而且可以固定连接到产品接口的转接头,给产品提供有效保护;
(2)相较于传统测试时每次都要插拔转接头,本发明只需对产品装卡一次即可完成所有测试,大幅提升产品的测试效率,同时转接头插拔次数的减少可以大幅降低产品接口的损伤率;
(3)本发明在装卡测试后可以和产品一起进行高低温试验、温冲试验、老练试验、热真空试验等而无需拆除,同时还能给产品提供一定的防护功能,有效避免产品在转运和试验过程中可能发生的冲击、磕碰和跌落等情况对产品造成的损伤。
(4)本发明具有通用性,通过对相应参数的调整,适用于各种微波组件以及其他类型的类似产品。
附图说明
图1为一种适用于微波组件的新型测试夹具原理图;
图2为一种适用于微波组件的新型测试夹具结构示意图;
图3为一种适用于微波组件的新型测试夹具测试底座与左侧固定架右侧固定架组装结构示意图;
图4为一种适用于微波组件的新型测试夹具A型组合夹具结构示意图;
图5为一种适用于微波组件的新型测试夹具射频测试电缆组件结构示意图;
图6为一种适用于微波组件的新型测试夹具B型组合夹具结构示意图;
图7为一种适用于微波组件的新型测试方法流程图;
图8为一种适用于微波组件的新型测试方法步骤S1流程图。
附图标记:
1、测试底座;2、左侧固定架;3、右侧固定架;4、A型组合夹具;41、A型组合夹具框架;42、射频测试电缆组件;421、射频转接头;422、转接法兰;423、柔性电缆;424、快插头;43、视频测试电缆组件;5、B型组合夹具;51、B型组合夹具框架;6、限位销钉;7、限位孔;8、不脱出紧固螺钉。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
实施例1
如图1-3所示,一种适用于微波组件的新型测试夹具,包括测试底座1和可拆卸的组装在测试底座1上的左侧固定架2、右侧固定架3、A型组合夹具4、B型组合夹具5,左侧固定架2和右侧固定架3在测试底座1上紧固的位置可调;
测试底座1、左侧固定架2、右侧固定架3、A型组合夹具4和B型组合夹具5用于固定微波组件,测试底座1位于微波组件的底部,左侧固定架2、右侧固定架3、A型组合夹具4和B型组合夹具5位于微波组件的四周;
如图4所示,A型组合夹具4包括可拆卸的组装在左侧固定架2、右侧固定架3上端的A型组合夹具框架41和可拆卸的固定在A型组合夹具框架41上的射频测试电缆组件42、视频测试电缆组件43,A型组合夹具框架41上设置供射频测试电缆组件42和视频测试电缆组件43穿过的通孔,射频测试电缆组件42一端与微波组件的射频端口连接、另一端与测试设备的射频端口连接,视频测试电缆组件43一端与微波组件的视频输出端口连接、另一端与测试设备的视频输入端口连接,射频测试电缆组件42和视频测试电缆组件43跟随微波组件进行全部测试后再卸下;
如图5所示,射频测试电缆组件42包括射频转接头421、设置在射频转接头421外侧的转接法兰422和与射频转接头421依次连接的柔性电缆423、快插头424,射频转接头421用于与微波组件的射频端口进行插拔连接,快插头424用于与测试设备的射频端口进行插拔连接,转接法兰422用于穿过A型组合夹具框架41的通孔紧固在A型组合夹具框架41上;
如图6所示,B型组合夹具5包括可拆卸的组装在左侧固定架2、右侧固定架3下端的B型组合夹具框架51和可拆卸的穿过B型组合夹具框架51的射频测试电缆组件42,B型组合夹具框架51上设置供射频测试电缆组件42穿过的通孔;
左侧固定架2和右侧固定架3的上下两端分别设置限位销钉6,A型组合夹具框架41和B型组合夹具框架51分别设置与限位销钉6对应的限位孔7;
限位孔7的直径大于限位销钉6的直径;
左侧固定架2和右侧固定架3高度相同且结构对称,A型组合夹具框架41左右两端设置用于将A型组合夹具框架41固定在左侧固定架2和右侧固定架3的上端的不脱出紧固螺钉8;
B型组合夹具框架51左右两端设置用于将B型组合夹具框架51固定在左侧固定架2和右侧固定架3的下端的不脱出紧固螺钉8;
视频测试电缆组件43通过螺钉固定在A型组合夹具框架41上;
左侧固定架2和右侧固定架3在横向、纵向上均设置椭圆通孔,测试底座1上设置若干螺钉安装孔,螺钉穿过椭圆通孔与螺钉安装孔将左侧固定架2和右侧固定架3可调尺寸的固定在测试底座1上;
安装在B型组合夹具5上的射频测试电缆组件42的数量为8个;
快插头424用于与测试设备的射频端口进行快速插拔连接,快插头424的为SMA型。
实施例2
如图7-8所示,一种适用于微波组件的新型测试方法,包括如下步骤:
S1、将左侧固定架2和右侧固定架3安装在测试底座1上,将B型组合夹具5安装在左侧固定架2和右侧固定架3的下端,放入微波组件,并将B型组合夹具5上的射频转接头421与微波组件的射频端口进行组装,再将A型组合夹具4固定在左侧固定架2和右侧固定架3的上端;
S11、测试底座组装:将左侧固定架2和右侧固定架3安装在测试底座1上,调整左侧固定架2和右侧固定架3的位置使微波组件可以放入;
左侧固定架2、右侧固定架3与测试底座1固定的位置有多个以便调节左侧固定架2和右侧固定架3之间的距离适应不同尺寸的微波组件;
S12、B型组合夹具组装:将射频测试电缆组件42通过转接法兰422固定在B型组合夹具框架51上,将B型组合夹具框架51的限位孔7与左侧固定架2、右侧固定架3下端的限位销钉6对正,再通过不脱出紧固螺钉8固定;
B型组合夹具5通过两个不脱出紧固螺钉8固定在左侧固定架2和右侧固定架3的下端,不脱出紧固螺钉8设置在B型组合夹具5一侧;
S13、微波组件放入:将微波组件沿左侧固定架2和右侧固定架3放入,并将微波组件的射频端口与B型组合夹具5的射频测试电缆组件42组装;
S14、A型组合夹具组装:将A型组合夹具4的射频测试电缆组件42和视频测试电缆组件43固定在A型组合夹具框架41上,将A型组合夹具框架41的限位孔7与左侧固定架2、右侧固定架3上端的限位销钉6对正,再通过不脱出紧固螺钉8固定,同时将A型组合夹具框架41上的射频转接头421与微波组件的射频端口进行组装、将视频测试电缆组件43与微波组件的视频端口进行组装;
A型组合夹具4通过两个不脱出紧固螺钉8固定在左侧固定架2和右侧固定架3的上端,不脱出紧固螺钉8设置在A型组合夹具4一侧;
S2、将快插头424与第一项测试设备的射频端口连接,将视频测试电缆组件43的另一端与第一项测试设备视频端口连接,进行第一项性能测试;
S3、第一项性能测试结束后,将快插头424和视频测试电缆组件43从第一项测试设备上拆下,再与下一项测试设备连接,进行下一项性能测试;
重复步骤S3,直至全部性能测试完成;
S4、全部性能测试完成后,将射频测试电缆组件42和视频测试电缆组件43与微波组件脱离,并将微波组件从测试底座1上取下,测试完成。
实施例3
一种适用于微波组件的新型测试方法,包括如下步骤:
(1)将射频测试电缆组件42装到A型组合夹具框架41上并用螺钉紧固;将视频测试电缆组件43装到A型组合夹具框架41上并用螺钉紧固。
(2)将射频测试电缆组件42全部装到B型组合夹具框架51上并用螺钉紧固。
(3)将A型组合夹具4和B型组合夹具5上的测试电缆组件与相应的测试设备连接。
(4)将左侧固定架2和右侧固定架3装到测试底座1上,调节左侧固定架2和右侧固定架3的位置,确保左侧固定架2和右侧固定架3与微波组件之间存在缝隙。
(5)通过限位销钉6、限位孔7和不脱出紧固螺钉8将B型组合夹具5固定于左侧固定架2和右侧固定架3上。
(6)将微波组件沿着左侧固定架2和右侧固定架3之间装入,确保微波组件的接口和B型组合夹具5上对应的测试电缆组件连接上。
(7)通过限位销钉6、限位孔7和不脱出紧固螺钉8将A型组合夹具4固定于左侧固定架2和右侧固定架3上,同时确保微波组件的接口和A型组合夹具4上对应的测试电缆组件连接上。
(8)通过相关测试设备开始对微波组件进行性能测试。
(9)测试完成后松开不脱出紧固螺钉8,拆除A型组合夹具4。
(10)拆除微波组件。
(11)重复步骤(6)~(10)以完成多个微波组件的测试。
步骤(1)中A型组合夹具框架41上对应射频测试电缆组件42装配的位置设有通孔,通孔直径比射频测试电缆组件42插入端的外径尺寸大0.1mm~0.5mm;
步骤(1)中A型组合夹具框架41上对应视频测试电缆组件43的位置设有开槽,开槽尺寸比视频测试电缆组件43穿过开槽一端的外形尺寸大0.2mm~1mm。
步骤(2)中B型组合夹具框架51上对应射频测试电缆组件42装配的位置设有通孔,通孔直径比射频测试电缆组件42插入端的外径尺寸大0.1mm~0.5mm。
步骤(3)中根据测试电缆组件的型号规格以及微波组件的性能指标选择适宜的测试设备进行连接。
步骤(4)中左侧固定架2和右侧固定架3与微波组件之间存在缝隙,缝隙大小为0.1mm~0.5mm。
步骤(5)中左侧固定架2和右侧固定架3与B型组合夹具5之间采用限位销钉6进行定位,B型组合夹具5限位孔7直径比限位销钉6的直径大0.1mm~0.3mm。
步骤(5)中左侧固定架2和右侧固定架3与B型组合夹具5之间采用不脱出紧固螺钉结构设计,确保在装拆时不脱出紧固螺钉8能够一直连接在B型组合夹具5上。
步骤(7)中左侧固定架2和右侧固定架3与A型组合夹具4之间采用限位销钉6进行定位,限位孔7直径比左侧固定架2和右侧固定架3限位销钉6的直径大0.1mm~0.3mm。
步骤(7)中左侧固定架2和右侧固定架3与A型组合夹具4之间采用不脱出紧固螺钉结构设计,确保在装拆时不脱出紧固螺钉8能够一直连接在A型组合夹具4上。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种适用于微波组件的新型测试夹具,其特征在于:包括测试底座(1)和可拆卸的组装在所述测试底座(1)上的左侧固定架(2)、右侧固定架(3)、A型组合夹具(4)、B型组合夹具(5),所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)在所述测试底座(1)上紧固的位置可调;
所述测试底座(1)、所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)、所述A型组合夹具(4)和所述B型组合夹具(5)用于固定微波组件,所述测试底座(1)位于所述微波组件的底部,所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)、所述A型组合夹具(4)和所述B型组合夹具(5)位于所述微波组件的四周;
所述A型组合夹具(4)包括可拆卸的组装在所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)上端的A型组合夹具框架(41)和可拆卸的固定在所述A型组合夹具框架(41)上的射频测试电缆组件(42)、视频测试电缆组件(43),所述A型组合夹具框架(41)上设置供所述射频测试电缆组件(42)和所述视频测试电缆组件(43)穿过的通孔,所述射频测试电缆组件(42)一端与所述微波组件的射频端口连接、另一端与所述测试设备的射频端口连接,所述视频测试电缆组件(43)一端与所述微波组件的视频输出端口连接、另一端与所述测试设备的视频输入端口连接,所述射频测试电缆组件(42)和所述视频测试电缆组件(43)跟随所述微波组件进行全部测试后再卸下;
所述射频测试电缆组件(42)包括射频转接头(421)、设置在所述射频转接头(421)外侧的转接法兰(422)和与所述射频转接头(421)依次连接的柔性电缆(423)、快插头(424),所述射频转接头(421)用于与所述微波组件的射频端口进行插拔连接,所述快插头(424)用于与所述测试设备的射频端口进行插拔连接,所述转接法兰(422)用于穿过所述A型组合夹具框架(41)的通孔紧固在所述A型组合夹具框架(41)上;
所述B型组合夹具(5)包括可拆卸的组装在所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)下端的B型组合夹具框架(51)和可拆卸的穿过所述B型组合夹具框架(51)的所述射频测试电缆组件(42),所述B型组合夹具框架(51)上设置供所述射频测试电缆组件(42)穿过的通孔;
所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的上下两端分别设置限位销钉(6),所述A型组合夹具框架(41)和所述B型组合夹具框架(51)分别设置与所述限位销钉(6)对应的限位孔(7)。
2.根据权利要求1所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,其特征在于:所述限位孔(7)的直径大于所述限位销钉(6)的直径。
3.根据权利要求1所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,其特征在于:所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)高度相同且结构对称,所述A型组合夹具框架(41)左右两端设置用于将所述A型组合夹具框架(41)固定在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的上端的不脱出紧固螺钉(8);
所述B型组合夹具框架(51)左右两端设置用于将所述B型组合夹具框架(51)固定在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的下端的不脱出紧固螺钉(8)。
4.根据权利要求1所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,其特征在于:所述视频测试电缆组件(43)通过螺钉固定在所述A型组合夹具框架(41)上。
5.根据权利要求1所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,其特征在于:所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)在横向、纵向上均设置椭圆通孔,所述测试底座(1)上设置若干螺钉安装孔,螺钉穿过所述椭圆通孔与所述螺钉安装孔将所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)可调尺寸的固定在所述测试底座(1)上。
6.根据权利要求1所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,其特征在于:安装在所述B型组合夹具(5)上的所述射频测试电缆组件(42)的数量为至少2个。
7.根据权利要求1所述的一种适用于微波组件的新型测试夹具,其特征在于:所述快插头(424)用于与所述测试设备的射频端口进行快速插拔连接,所述快插头(424)的为SMA型。
8.一种适用于微波组件的新型测试方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1、将左侧固定架(2)和右侧固定架(3)安装在所述测试底座(1)上,将B型组合夹具(5)安装在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的下端,放入微波组件,并将所述B型组合夹具(5)上的射频转接头(421)与所述微波组件的射频端口进行组装,再将所述A型组合夹具(4)固定在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的上端;
S2、将快插头(424)与第一项测试设备的射频端口连接,将所述视频测试电缆组件(43)的另一端与第一项测试设备视频端口连接,进行第一项性能测试;
S3、第一项性能测试结束后,将所述快插头(424)和所述视频测试电缆组件(43)从所述第一项测试设备上拆下,再与下一项测试设备连接,进行下一项性能测试;
重复步骤S3,直至全部性能测试完成;
S4、全部性能测试完成后,将所述射频测试电缆组件(42)和所述视频测试电缆组件(43)与所述微波组件脱离,并将所述微波组件从所述测试底座(1)上取下,测试完成。
9.根据权利要求8所述的一种适用于微波组件的新型测试方法,其特征在于:步骤S1包括以下步骤:
S11、测试底座组装:将所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)安装在所述测试底座(1)上,调整所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的位置使所述微波组件可以放入;
S12、B型组合夹具组装:将所述射频测试电缆组件(42)通过转接法兰(422)固定在B型组合夹具框架(51)上,将所述B型组合夹具框架(51)的限位孔(7)与所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)下端的限位销钉(6)对正,再通过不脱出紧固螺钉(8)固定;
S13、微波组件放入:将所述微波组件沿所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)放入,并将所述微波组件的射频端口与所述B型组合夹具(5)的所述射频测试电缆组件(42)组装;
S14、A型组合夹具组装:将A型组合夹具(4)的所述射频测试电缆组件(42)和所述视频测试电缆组件(43)固定在所述A型组合夹具框架(41)上,将所述A型组合夹具框架(41)的所述限位孔(7)与所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)上端的所述限位销钉(6)对正,再通过所述不脱出紧固螺钉(8)固定,同时将所述A型组合夹具框架(41)上的所述射频转接头(421)与所述微波组件的射频端口进行组装、将所述视频测试电缆组件(43)与所述微波组件的视频端口进行组装。
10.根据权利要求9所述的一种适用于微波组件的新型测试方法,其特征在于:步骤S11中,所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)与所述测试底座(1)固定的位置有多个以便调节所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)之间的距离适应不同尺寸的所述微波组件;
步骤S12中,所述B型组合夹具(5)通过两个所述不脱出紧固螺钉(8)固定在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的下端,所述不脱出紧固螺钉(8)设置在所述B型组合夹具(5)一侧;
步骤S14中,所述A型组合夹具(4)通过两个所述不脱出紧固螺钉(8)固定在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的上端,所述不脱出紧固螺钉(8)设置在所述A型组合夹具(4)一侧。
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5038100A (en) * | 1989-05-25 | 1991-08-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Microwave test fixture |
CA2321807A1 (en) * | 2000-03-01 | 2001-09-01 | Christos Tsironis | Low-loss microwave device test fixture |
CN206773013U (zh) * | 2017-04-10 | 2017-12-19 | 国家电网公司 | 一种基于一体化电源信号采集的集成转接装置 |
CN107942108A (zh) * | 2017-12-04 | 2018-04-20 | 中航光电科技股份有限公司 | 一种射频线缆组件测试机构 |
CN110108907A (zh) * | 2019-04-26 | 2019-08-09 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | 一种bga封装产品射频性能测试夹具 |
CN209561679U (zh) * | 2019-04-28 | 2019-10-29 | 广州创维平面显示科技有限公司 | 转接端子模块及视频端子测试装置 |
KR102263142B1 (ko) * | 2020-10-19 | 2021-06-10 | 앤스코 주식회사 | 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 이를 포함한 스캐너 |
-
2021
- 2021-09-10 CN CN202111059283.3A patent/CN113985073B/zh active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5038100A (en) * | 1989-05-25 | 1991-08-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Microwave test fixture |
CA2321807A1 (en) * | 2000-03-01 | 2001-09-01 | Christos Tsironis | Low-loss microwave device test fixture |
CN206773013U (zh) * | 2017-04-10 | 2017-12-19 | 国家电网公司 | 一种基于一体化电源信号采集的集成转接装置 |
CN107942108A (zh) * | 2017-12-04 | 2018-04-20 | 中航光电科技股份有限公司 | 一种射频线缆组件测试机构 |
CN110108907A (zh) * | 2019-04-26 | 2019-08-09 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | 一种bga封装产品射频性能测试夹具 |
CN209561679U (zh) * | 2019-04-28 | 2019-10-29 | 广州创维平面显示科技有限公司 | 转接端子模块及视频端子测试装置 |
KR102263142B1 (ko) * | 2020-10-19 | 2021-06-10 | 앤스코 주식회사 | 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 이를 포함한 스캐너 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
张晓庆等: "DC-40 GHz通用化BGA封装的射频微系统测试技术研究" * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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