KR102263142B1 - 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 이를 포함한 스캐너 - Google Patents

마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 이를 포함한 스캐너 Download PDF

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Abstract

본 발명은, 검사체에 장착되어 결함을 검사하는 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 이를 포함한 스캐너에 관한 것으로, 구체적으로 검사체의 축 방향으로 일열로 배열된 복수개의 마이크로파 트랜시버를 포함한 마이크로파 트랜시버 모듈, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈이 상기 검사체의 원주 방향으로 회전되도록 모터를 포함한 구동부를 포함하고, 복수개의 상기 마이크로파 트랜시버의 개수에 따른 중첩된 송신 또는 수신 신호에 대한 분석 알고리즘을 이용하여 비파괴 검사 정보를 산출하는 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 이를 포함한 스캐너에 관한 것이다.

Description

마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 이를 포함한 스캐너{NON-DESTRUCTIVE AUTOMATIC INSPECTION FIXTURE USING MICRO WAVE TRANSCEIVER MODULE AND SCANNER HAVING THE SAME}
본 발명은, 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 이를 포함한 스캐너에 관한 것으로, 더욱 구체적으로 종래의 단일 마이크로파 트랜시버로 래스터 스캔(Raster Scan)하여 배관 등의 검사체의 비파괴 검사를 하던 기술에 비해, 복수개의 마이크로파 트랜시버를 포함한 트랜시버 모듈을 이용하여 검사체의 원주 방향으로 회전하여 비파괴 검사를 함으로써 검사 시간을 대폭 줄인 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 이를 포함한 스캐너에 관한 것이다.
비파괴 검사란, 검사체의 물리적 성질, 즉 빛, 전기, 자기에너지 등을 이용하여 시험체의 이상이나 결함의 존재를 검사하는 방법이다. 비파괴 검사는, 검사체의 재료나 원형 또는 기능에 영향을 주지 않으면서도 결함 등을 효과적으로 발견할 수 있어 비파괴 검사 장치에 대한 연구가 활발히 이루어지고 있다.
비파괴 검사의 한 가지 방법으로써 마이크로파 검사는, 표면 및 표면하의 불연속 또는 내부 불연속부에 전기-자기력이 변화하는 것을 관찰하여 결함의 존재를 검사하는 방법이다. 이러한 마이크로파 비파괴 검사는, 최근 금속 소재 및 금속 재질의 부품 등의 대안으로 떠오르고 있는 비금속 재질, 즉 엔지니어링 플라스틱, 폴리머 그리고 복합재료를 대상으로 하는 비파괴 검사를 수행하기에 적합한 검사이다.
한편 종래의 마이크로파 비파괴 검사 장치는 단일 트랜시버(Transceiver)를 사용하여 래스터 스캔(Raster Scan)함으로 이루어진다. 래스터 스캔은, 도 1에 도시된 바와 같이, 일정한 검사 범위(50a) 내에서 단일 트랜시버로 축 방향으로 스캔하고, 원주 방향으로 인덱싱 하는 것을 반복하여 검사하는 방법이다. 따라서, 요구되는 검사 영역에 따라 많은 검사 시간이 소요되는 큰 문제가 있었다.
또한, 종래의 마이크로파 비파괴 검사 장치는 배관에 슬로프가 연결되어있는 형상 등 평평한 표면을 가지지 않은 검사 부위에 트랜시버의 밀착이 어려워 검사 누락 등 여러 제약을 가진 문제 또한 있었다.
더욱이, 검사용 스캐너 제작 시 구동을 위하여, 원주 방향으로 이동을 위한 축과 축 방향으로 이동을 위한 축, 두 개의 축이 필수적으로 요구되는데, 이는 검사 환경에 적합한 자동 검사용 스캐너 제작에 있어 검사 스캐너의 크기, 모양 및 중량에 제약을 가지게 되어, 직경이 작은 배관에는 적용이 어려운 문제가 있었다.
또한, 비금속 재질의 두 배관이 융착하면서 열에 의하여 휘어지거나, 배관 생산 중 나타나는 진원도가 불균일한 경우, 즉 배관의 단면이 정확한 원이 아닌 타원인 부위에서의 배관의 융착 연결부가 아닌 배관의 모재 검사시 마이크로파 트랜시버의 밀착이 어려워 정확한 검사가 어려운 문제 또한 내포하고 있었다.
한국공개특허 제 10-2017-0006124 호(“측정 품질을 향상시키는 마이크로파 이미징 장치 및 방법”, 2017.01.17.)
본 발명은 상기한 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, 종래의 단일 마이크로파 트랜시버로 래스터 스캔(Raster Scan)하여 배관 등의 검사체의 비파괴 검사를 하던 기술에 비해, 복수개의 마이크로파 트랜시버를 포함한 트랜시버 모듈을 이용하여 검사체의 원주 방향으로 회전하여 비파괴 검사를 함으로써 검사 시간을 대폭 줄일 수 있으며, 비파괴 검사시 검사체의 형상에 제약이 거의 없는 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 이를 포함한 스캐너에 관한 것이다.
상기한 과제를 해결하기 위한, 본 발명은 검사체에 장착되어 결함을 검사하는 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치에 있어서, 상기 검사체의 축 방향으로 일열로 배열된 복수개의 마이크로파 트랜시버(101)를 포함한 마이크로파 트랜시버 모듈(100), 상기 마이크로파 트랜시버 모듈과 결합되고, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)이 상기 검사체의 축 방향으로 이동되도록 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)과 관통 결합된 수평 축을 포함한 수평 암(200) 및 상기 수평 암(200)의 일단과 결합되고, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)이 상기 검사체의 원주 방향으로 회전되도록 모터(301)를 포함한 구동부(300)를 포함하는 것일 수 있다.
상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)은, 복수개의 상기 마이크로파 트랜시버 각각을 탄성을 이용하여 상기 검사체의 반경 방향으로 압박하는 압박부(110)를 포함하는 것일 수 있다.
상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)은, 복수개의 상기 마이크로파 트랜시버(101)가 탈착 가능하도록, 상기 마이크로파 트랜시버(101)의 배열 방향으로 크기가 변경되는 탈착부(120)를 포함하는 것일 수 있다.
상기 수평 암(200)의 타단과 결합되고, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)이 상기 검사체를 중심으로 회전할 수 있도록, 상기 검사체와 미끄럼 결합된 적어도 하나의 바퀴 유닛(401)을 포함하는 지지부(400)를 더 포함하고, 상기 지지부(400)는, 탄성을 이용하여 상기 수평 암(200)의 수평 상태를 유지하는 것일 수 있다.
상기 지지부(400)는, 상기 바퀴 유닛(401)의 상하 높이를 조절하는 높이조절부(410)를 더 포함하는 것일 수 있다.
또한, 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐너에 있어서, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치를 포함한 스캐너(500)는, 복수개의 상기 마이크로파 트랜시버(101)의 개수에 따른 중첩된 송신 또는 수신 신호에 대한 분석 알고리즘을 이용해 분석하는 분석 모듈(510)을 포함하고, 상기 분석 모듈(510)은, 상기 복수의 마이크로파 트랜시버(101)의 송신 및 수신 신호에 대해 비파괴 검사 정보를 산출하는 것일 수 있다.
상기한 구성에 따른 본 발명은, 복수의 마이크로파 트랜시버를 포함한 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용하여 검사함으로써, 검사 시간을 대폭 줄일 수 있는 큰 효과가 있다.
또한, 평면 이외의 형상을 가지는 검사 대상체의 표면을 따라 스캔이 가능하게 되어 구간을 나누어 검사할 필요성이 줄어들며, 단일 트랜시버를 이용하는 장치와 달리 신호 누락으로 인한 재검사가 필요하지 않게 되어 총 검사 시간을 줄일 수 있는 큰 효과가 있다.
또한 종래의 원주 방향, 축 방향 두 개의 구동 축을 가진 마이크로파 검사 장치에서, 본 발명은 하나의 축 방향 구동축으로 동작이 가능하여 검사 장치의 크기와 중량이 크게 절감되고, 이에 따라 직경이 작은 배관에서도 적용할 수 있는 효과가 있다.
더욱이, 상기 수평 축(201)에 결합된 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)을 상기 검사체의 축 방향으로 이동함으로써 검사 영역의 위치를 조절할 수 있으며, 마이크로파 트랜시버(101)의 개수를 조절함으로써 손쉽게 검사 영역의 너비를 조절할 수 있다.
더 나아가, 마이크로파 트랜시버 모듈에 다수의 마이크로파 트랜시버가 포함되며, 마이크로파 트랜시버를 분리 및 장착함으로써 개수를 조절할 수 있어 전체 집합체에 대한 확장성이 매우 높아 다양한 형상의 검사체에서도 검사가 가능하다.
또한, 본 발명에 의하면 압박부의 탄성에 의하여 상기 마이크로파 트랜시버(101)가 상기 검사체의 표면에 밀착되어, 상기 검사체의 표면이 매끄럽지 않더라도 동일한 검사 품질을 확보할 수 있는 효과가 있다.
더욱이, 두 배관이 융착되면서 발생한 미스 얼라인된 형상변화에도 트랜시버의 밀착을 도와주어 마이크로파 트랜시버 모듈이 균일한 신호를 획득할 수 있어, 검사체의 형상에 제한을 거의 받지 않으면서도 정확한 마이크로파 비파괴 검사를 수행할 수 있는 큰 효과가 있다.
더 나아가, 비금속 재질의 두 배관이 융착하면서 열에 의하여 휘어진 경우, 즉 배관의 단면이 정확한 원이 아닌 타원인 부위에서의 배관의 융착 연결부가 아닌 배관의 모재 검사시에도 마이크로파 트랜시버가 밀착되어 정확한 검사가 가능한 효과가 있다.
또한, 프로그래밍 되어있는 분석 알고리즘에 의해 복수개의 마이크로파 트랜시버(101)의 중첩된 트랜시버 신호에 대해 정확한 해석을 할 수 있어, 빠르면서도 정확한 마이크로파 비파괴 검사를 할 수 있는 스캐너를 제공할 수 있다.
도 1은 종래의 마이크로파 비파괴 검사장치의 대략적인 검사 방법이 도시되었다.
도 2는 본 발명의 바람직한 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치의 사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치의 일부 확대도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치의 측면도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치의 일부 확대도이다.
도 6은 발명의 바람직한 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 이를 포함한 스캐너의 구성도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명을 하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 “연결되어” 있다거나 “접속되어” 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다.
일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 본 발명의 기술적 사상을 첨부된 도면을 사용하여 더욱 구체적으로 설명한다.
첨부된 도면은 본 발명의 기술적 사상을 더욱 구체적으로 설명하기 위하여 도시한 일예에 불과하므로 본 발명의 기술적 사상이 첨부된 도면의 형태에 한정되는 것은 아니다.
상기한 바와 같이, 종래의 배관 검사에 사용되는 마이크로파 비파괴 검사 장치는 단일 트랜시버(Transceiver)를 사용하여 래스터 스캔(Raster Scan)함으로 이루어진다. 래스터 스캔은, 도 1에 도시된 바와 같이, 일정한 검사 범위(50a) 내에서 단일 트랜시버로 축 방향으로 스캔하고, 원주 방향으로 인덱싱 하는 것을 반복하여 검사하는 방법이다. 한편 도 1에서, x 방향은 축 방향이고, y 방향은 원주 방향이다. 따라서 요구되는 검사 영역에 따라 많은 검사 시간이 소요되는 큰 문제가 있었다.
본 발명의 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 스캐너는 복수개의 마이크로파 트랜시버를 포함한 트랜시버 모듈을 이용하여 검사체의 원주 방향으로 회전하여 비파괴 검사를 함으로써 검사 시간을 대폭 줄일 수 있는 큰 효과가 있다. 이하, 본 발명의 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치 및 스캐너에 대해 구체적으로 설명한다.
본 발명의 검사체(50)에 장착되어 결함을 검사하는 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치에 있어서, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 검사체(50)의 축 방향으로 일열로 배열된 복수개의 마이크로파 트랜시버(101)를 포함한 마이크로파 트랜시버 모듈(100), 상기 마이크로파 트랜시버 모듈과 결합되고, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)이 상기 검사체(50)의 축 방향으로 이동되도록 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)과 관통 결합된 수평 축(201)을 포함한 수평 암(200) 및 상기 수평 암(200)의 일단과 결합되고, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)이 상기 검사체(50)의 원주 방향으로 회전되도록 모터(301)를 포함한 구동부(300)를 포함하는 것일 수 있다.
이러한 구성으로, 종래의 래스터 스캔 방식에서 벗어나 원주 방향으로 회전하여 비파괴 검사를 함으로써 같은 스캔 영역 대비 검사 시간을 대폭 줄일 수 있는 큰 효과가 있다. 또한, 종래의 원주 방향, 축 방향 두 개의 구동 축을 가진 마이크로파 비파괴 검사 장치에서, 본 발명은 하나의 축 방향 구동축으로 동작이 가능하여 검사 장치의 크기와 중량이 크게 절감되고, 이에 따라 직경이 작은 배관에서도 적용할 수 있는 효과가 있다.
상기 수평 암(200)은 수평 축(201)를 포함하고, 상기 수평 축(201)의 회전 운동에 의해 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)이 상기 검사체(50)의 축 방향으로 이동되는 것일 수 있다.
상기 수평 축(201)는 스크류 나사일 수 있으며, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)을 상기 검사체(50)의 축 방향으로의 이동에 적합한 구성이라면 특별히 제한되지 않는다.
이러한 구성으로, 상기 수평 축(201)에 결합된 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)을 상기 검사체(50)의 축 방향으로 이동함으로써 손쉽게 검사 영역의 위치를 조절할 수 있는 효과가 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)은, 복수개의 상기 마이크로파 트랜시버 각각을 탄성을 이용하여 상기 검사체(50)의 반경 방향으로 압박하는 압박부(110)를 포함하는 것일 수 있다.
상기 압박부는, 도 3에 도시된 바와 같이, 압박 축(112) 및 제 1 탄성 수단(111)을 포함할 수 있으며, 상기 압박 축(112) 상에 상기 제 1 탄성 수단(111)이 형성된 것일 수 있다.
이러한 구성으로, 탄성에 의하여 상기 마이크로파 트랜시버(101)가 상기 검사체(50)의 표면에 밀착되어, 상기 검사체(50)의 표면이 매끄럽지 않더라도 동일한 검사 품질을 확보할 수 있는 효과가 있다.
상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)은, 도 5에 도시된 바와 같이, 복수개의 상기 마이크로파 트랜시버(101)가 탈착 가능하도록, 상기 마이크로파 트랜시버(101)의 배열 방향으로 크기가 변경되는 탈착부(120)를 포함하는 것일 수 있다.
바람직하게, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 탈착부(120)는 제 2 탄성 수단(121)을 포함할 수 있으며, 상기 마이크로파 트랜시버(101)는 독립적으로 분리될 수 있다. 상기 탈착부(120)는 탄성을 이용하여 상기 마이크로파 트랜시버(101)의 배열 방향으로 크기가 변경되는 것일 수 있다. 구체적으로, 상기 제 2 탄성 수단(121)은 상기 마이크로파 트랜시버(101)의 배열 방향으로 압박할 수 있으며, 탄성을 이용하여 상기 탈착부(120)의 배열 방향으로의 크기를 늘려 상기 마이크로파 트랜시버(101)를 추가하는 것일 수 있다.
바람직하게, 상기 마이크로파 트랜시버(101)의 개수는 검사 영역(50a)이 충분히 포함되도록 복수개 선택할 수 있다.
이러한 구성으로, 마이크로파 트랜시버(101)의 개수를 조절함으로써 손쉽게 검사 영역의 너비를 조절할 수 있다.
한편, 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치는, 상기 수평 암(200)의 타단과 결합되고, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)이 상기 검사체(50)를 중심으로 회전할 수 있도록, 상기 검사체(50)와 미끄럼 결합된 적어도 하나의 바퀴 유닛(401)을 포함하는 지지부(400)를 더 포함하고, 상기 지지부(400)는, 탄성을 이용하여 상기 수평 암(200)의 수평 상태를 유지하는 것일 수 있다.
상기 지지부(400)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 3 탄성 수단(402)에 의해 상기 수평 암(200)의 수평 상태를 유지하는 것일 수 있다.
이러한 구성으로, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)의 양측을 구동부(300) 및 지지부(400)로 지지할 수 있다.
상기 지지부(400)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 바퀴 유닛(401)의 상하 높이를 조절하는 높이조절부(410)를 더 포함하는 것일 수 있다.
상기 높이조절부(410)는 래치일 수 있으며, 래치의 회전운동에 의하여 상기 바퀴 유닛(401)이 결합된 높이조절 축(411)의 높이가 조절되는 것일 수 있다.
이러한 구성으로, 두 배관이 융착되면서 발생한 미스 얼라인된 형상변화에도 트랜시버의 밀착을 도와주어 마이크로파 트랜시버 모듈(100)이 균일한 신호를 획득할 수 있어, 검사체(50)의 형상에 제한을 거의 받지 않으면서도 정확한 마이크로파 비파괴 검사를 수행할 수 있는 큰 효과가 있다.
또한, 비금속 재질의 두 배관이 융착하면서 열에 의하여 휘어지거나, 배관 생산 방식에서 나타날 수 있는 진원도가 불균일한 경우, 즉 배관의 단면이 정확한 원이 아닌 타원인 부위에서의 배관의 융착 연결부가 아닌 배관의 모재 검사시에도 마이크로파 트랜시버가 밀착되어 정확한 검사가 가능한 효과가 있다.
한편, 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐너에 있어서, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치를 포함한 스캐너(500)는, 복수개의 상기 마이크로파 트랜시버(101)의 개수에 따른 중첩된 송신 또는 수신 신호에 대한 분석 알고리즘을 이용해 분석하는 분석 모듈을 포함하고, 상기 분석 모듈은 상기 복수의 마이크로파 트랜시버(101)의 송신 및 수신 신호에 대해 비파괴 검사 정보를 산출하는 것일 수 있다.
상기 분석 모듈(510)은, 마이크로파 트랜시버(101)에서 수신된 마이크로파의 진폭과 위상 정보를 특정 분석 알고리즘을 이용해 분석하는 것일 수 있으며, 수신된 마이크로파의 산란에 따른 진폭과 위상 정보에 따라 검사체에 대한 유전율이나 도전율 분포 기반의 데이터를 산출하는 것일 수 있다.
또한 상기 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐너는, 도 6에 도시된 바와 같이, 수신된 산란 신호를 기반으로 이미지화하여 출력하는 디스플레이(530)를 포함하고, 검사체 내부에 전기적 특성을 달리하는 불연속부가 포함된 경우, 디스플레이(530)에 해당 부위를 출력하는 것일 수 있다.
여기서 불연속부란, 비파괴 검사에서 지시가 결함·조직·모양 등의 영향에 의해 정상부(건전부)와 다르게 나타나는 부분을 말한다.
상기 분석 모듈(510)은 개별 형태를 가지거나, 관련 하드웨어와 응용소프트웨어로 동작하는 컴퓨터로 구성될 수도 있다.
또한 상기 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐너는, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)로부터 수신한 송신 및 수신 신호를 디지털 신호로 변환하는 디지타이저(501)를 더 포함하는 것일 수 있다.
또한 상기 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐너는, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 구동부의 회전을 제어하는 모션구동기(520)를 더 포함하는 것일 수 있다.
이러한 구성으로, 프로그래밍 되어있는 분석 알고리즘에 의해 복수개의 마이크로파 트랜시버(101)의 중첩된 트랜시버 신호에 대해 정확한 해석을 할 수 있어, 빠르면서도 정확한 마이크로파 비파괴 검사를 할 수 있는 스캐너를 제공할 수 있다. 또한, 마이크로파 트랜시버 모듈(100)에 집합되는 개별 마이크로파 트랜시버(101)가 마이크로파 트랜시버 모듈(100)에 독립적으로 장착되고 동작됨에 따라 송수신 마이크로파 간의 간섭과 누설전파에 의한 직류 오프셋에 영향을 받지 않아 측정 데이터의 정확도를 향상시킬 수 있으며, 유전율이나 도전율 분포 기반의 신호 영상의 품질을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 아니하며, 적용범위가 다양함은 물론이고, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이다.
10 : 비파괴 자동검사 장치
50 : 검사체
100 : 마이크로파 트랜시버 모듈
101 : 마이크로파 트랜시버
110 : 압박부
111 : 제 1 탄성 수단
120 : 탈착부
121 : 제 2 탄성 수단
200 : 수평 암
201 : 스크류 나사
300 : 구동부
301 : 모터
400 : 지지부
401 : 바퀴 유닛
402 : 제 3 탄성 수단
410 : 높이조절부
411 : 높이조절 축
500 : 스캐너
510 : 분석 모듈
520 : 모션구동기
530 : 디스플레이

Claims (7)

  1. 검사체에 장착되어 결함을 검사하는 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치(10)에 있어서,
    상기 검사체의 축 방향으로 일열로 배열된 복수개의 마이크로파 트랜시버(101)를 포함한 마이크로파 트랜시버 모듈(100);
    상기 마이크로파 트랜시버 모듈과 결합되고, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)이 상기 검사체의 축 방향으로 이동되도록 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)과 관통 결합된 수평 축을 포함한 수평 암(200); 및
    상기 수평 암(200)의 일단과 결합되고, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)이 상기 검사체의 원주 방향으로 회전되도록 모터(301)를 포함한 구동부(300);를 포함하고,
    상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)은,
    복수개의 상기 마이크로파 트랜시버(101) 각각을 탄성을 이용하여 상기 검사체의 반경 방향으로 압박하는 압박부(110); 및
    복수개의 상기 마이크로파 트랜시버(101)가 탈착 가능하도록, 상기 마이크로파 트랜시버(101)의 배열 방향으로 크기가 변경되는 탈착부(120);를 포함하고,
    원주 방향으로 회전하며 단일 스캔에 의해 상기 복수개의 마이크로파 트랜시버(101)의 개수에 비례한 검사 영역을 비파괴 검사하는 것
    을 특징으로 하는 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 수평 암(200)의 타단과 결합되고, 상기 마이크로파 트랜시버 모듈(100)이 상기 검사체를 중심으로 회전할 수 있도록, 상기 검사체와 미끄럼 결합된 적어도 하나의 바퀴 유닛(401)을 포함하는 지지부(400);를 더 포함하고,
    상기 지지부(400)는, 탄성을 이용하여 상기 수평 암(200)의 수평 상태를 유지하는 것
    을 특징으로 하는 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 지지부(400)는,
    상기 바퀴 유닛(401)의 상하 높이를 조절하는 높이조절부(410);를 더 포함하는 것
    을 특징으로 하는 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치.
  6. 제 1 항의 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치(10)를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐너.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치를 포함한 스캐너(500)는,
    복수개의 상기 마이크로파 트랜시버(101)의 개수에 따른 중첩된 송신 또는 수신 신호에 대한 분석 알고리즘을 이용해 분석하는 분석 모듈(510);을 포함하고,
    상기 분석 모듈(510)은, 상기 복수의 마이크로파 트랜시버(101)의 송신 및 수신 신호에 대해 비파괴 검사 정보를 산출하는 것
    을 특징으로 하는 마이크로파 트랜시버 모듈을 이용한 비파괴 자동검사 장치를 포함한 스캐너.
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