CN216670043U - 一种微波组件的新型测试夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种微波组件的新型测试夹具，包括测试底座和设置在测试底座上方的左侧固定架、右侧固定架、A型组合夹具、B型组合夹具，A型组合夹具和B型组合夹具的一端与微波组件的端口连接、另一端与测试设备的端口连接，左侧固定架和右侧固定架的均设置通孔，测试底座上设置若干螺钉安装孔，螺钉穿过通孔与螺钉安装孔固定。本实用新型是为了解决微波组件测试慢并且可靠性差的问题，提供一种微波组件的新型测试夹具，通过使用与微波组件和测试设备对应的组合夹具对微波组件快速定位，快速完成微波组件的测试，在大幅提升微波组件的测试效率的同时还能避免重复插拔对产品接口的损伤，大幅提高微波组件的测试效率和产品可靠性。

Description

一种微波组件的新型测试夹具

技术领域

本实用新型涉及测量测试技术领域，具体涉及一种微波组件的新型测试夹具。

背景技术

随着微波毫米波技术的飞速进步，微波毫米波产品朝着小型化和集成化不断发展，为了满足微波组件小型化和高集成度的要求，微波组件的接口已经从传统的K型接头向SMP甚至WMP等微型接插件转变，现有的测试技术已经无法满足高集成度微波组件快速测试的需求，测试的缓慢严重制约着产品交付进度。

发明内容

本实用新型是为了解决微波组件测试慢并且可靠性差的问题，提供一种微波组件的新型测试夹具，通过使用与微波组件和测试设备对应的组合夹具对微波组件快速定位，快速完成微波组件的测试，在大幅提升微波组件的测试效率的同时还能避免重复插拔对产品接口的损伤，大幅提高微波组件的测试效率和产品可靠性。

本实用新型提供一种微波组件的新型测试夹具，包括测试底座和设置在测试底座上方的左侧固定架、右侧固定架、A型组合夹具、B 型组合夹具，左侧固定架可拆卸的组装在测试底座的左侧，右侧固定架可拆卸的组装在测试底座的右侧，A型组合夹具可拆卸的组装在左侧固定架和右侧固定架的上方，B型组合夹具可拆卸的组装在左侧固定架和右侧固定架的下方；

待测试的微波组件设置在左侧固定架、右侧固定架、A型组合夹具和B型组合夹具的中间且与左侧固定架、右侧固定架之间留有空隙，微波组件设置在述测试底座上方；

A型组合夹具包括A型组合夹具框架和A型射频测试电缆组件，A型组合夹具框架上设置供A型射频测试电缆组件穿过的通孔，A型射频测试电缆组件通过螺丝固定在A型组合夹具框架上；

A型组合夹具框架可拆卸的组装在左侧固定架和右侧固定架的顶部，A型射频测试电缆组件一端与微波组件的射频端口连接、另一端与测试设备的射频端口连接。

本实用新型所述的一种微波组件的新型测试夹具，作为优选方式，射频测试电缆组件包括射频转接头、设置在射频转接头外侧的转接法兰和与射频转接头依次连接的柔性电缆、快插头，射频转接头用于与微波组件的射频端口进行插拔连接，快插头用于与测试设备的射频端口进行插拔连接，转接法兰用于穿过A型组合夹具框架的通孔紧固在 A型组合夹具框架上。

本实用新型所述的一种微波组件的新型测试夹具，作为优选方式，快插头为SMA型。

本实用新型所述的一种微波组件的新型测试夹具，作为优选方式， A型组合夹具还包括视频测试电缆组件，A型组合夹具框架上设置供视频测试电缆组件穿过的通孔，视频测试电缆组件通过螺丝固定在A 型组合夹具框架上；

视频测试电缆组件一端与微波组件的视频输出端口连接、另一端与测试设备的视频输入端口连接。

本实用新型所述的一种微波组件的新型测试夹具，作为优选方式，左侧固定架和右侧固定架的上下两端分别设置限位销钉，A型组合夹具和B型组合夹具分别设置与限位销钉对应的限位孔；

限位孔的直径大于限位销钉的直径。

本实用新型所述的一种微波组件的新型测试夹具，作为优选方式，还包括不脱出紧固螺钉，A型组合夹具框架一侧设置不脱出紧固螺钉， A型组合夹具框架通过不脱出紧固螺钉与左侧固定架和右侧固定架的底部，并且在将A型组合夹具框架与左侧固定架和右侧固定架拆卸时不脱出紧固螺钉仍旧连接在A型组合夹具框架中。

本实用新型所述的一种微波组件的新型测试夹具，作为优选方式， B型组合夹具包括B型组合夹具框架和射频测试电缆组件，所B型组合夹具框架可拆卸的组装在左侧固定架、右侧固定架的下方，射频测试电缆组件穿过B型组合夹具框架并固定在B型组合夹具框架上，射频测试电缆组件一端与微波组件的射频端口连接、另一端与测试设备的射频端口连接。

本实用新型所述的一种微波组件的新型测试夹具，作为优选方式， B型组合夹具框架上设置通孔，通孔用于使射频测试电缆组件穿过B 型组合夹具框架。

本实用新型所述的一种微波组件的新型测试夹具，作为优选方式，还包括不脱出紧固螺钉，B型组合夹具框架的一侧设置两个不脱出紧固螺钉，不脱出紧固螺钉用于将B型组合夹具框架与左侧固定架和右侧固定架固定，并且在将B型组合夹具框架与左侧固定架和右侧固定架拆卸时不脱出紧固螺钉仍旧连接在B型组合夹具框架中；

B型组合夹具上安装的射频测试电缆组件的数量至少为2个。

本实用新型所述的一种微波组件的新型测试夹具，作为优选方式，左侧固定架和右侧固定架高度相同且结构对称；

左侧固定架和右侧固定架在横向、纵向上均设置椭圆通孔，测试底座上设置若干螺钉安装孔，螺钉穿过椭圆通孔与螺钉安装孔将左侧固定架和右侧固定架可调尺寸的固定在测试底座上。

测试底座设有许多等间距的螺纹孔，螺纹尺寸为M2-M5，用于固定左侧固定架和右侧固定架；左侧固定架和右侧固定架在两个方向各有一个椭圆孔，可以将自身紧固到测试底座上的同时沿着两个椭圆的方向进行移动，以适应不同尺寸的微波组件；左侧固定架和右侧固定架固定到测试底座上后，左侧固定架和右侧固定架与微波组件之间有缝隙，缝隙尺寸为0.1.mm-0.2mm，保证微波组件能够放入的同时兼具一定的定位功能；左侧固定架和右侧固定架固定到测试底座上后，左侧固定架和右侧固定架的上下表面在同一水平面上；左侧固定架和右侧固定架在两侧各有一个限位销钉；A型组合夹具和B型组合夹具各有两个限位孔，左侧固定架和右侧固定架的限位销钉位置与限位孔位置一一对应；A型组合夹具和B型组合夹具限位孔直径大于左侧固定架和右侧固定架限位销钉的直径；

不脱出紧固螺钉将A型组合夹具和B型组合夹具固定于左侧固定架和右侧固定架上，且采用适配不脱出紧固螺钉的结构设计，拆卸时不脱出紧固螺钉不会从A型组合夹具和B型组合夹具上脱出；A 型组合夹具和B型组合夹具一侧和微波组件的接口连接，另一侧连接测试设备，连接完成后可以进行微波组件的性能测试。

A型组合夹具包含A型组合夹具框架、射频测试电缆组件、视频测试电缆组件、限位孔和不脱出紧固螺钉；重点在于这些结构射频测试电缆组件的位置和微波组件上的射频接口是对应的；射频测试电缆组件一端与微波组件的接口连接，另一端连接测试设备；视频测试电缆组件的位置和微波组件上视频接口的位置是对应的；视频频测试电缆组件一端与微波组件的接口连接，另一端连接测试设备；A型组合夹具框架上设有通孔和螺纹孔，射频测试电缆组件与微波组件相连的一端插入通孔，通过螺钉紧固到A型组合夹具框架上，A型组合夹具框架上的通孔直径大于射频测试电缆组件插入端的外径尺寸；A 型组合夹具框架上设有开槽和螺纹孔，视频测试电缆组件的一端穿过开槽，通过螺钉紧固到A型组合夹具框架上，A型组合夹具框架上的开槽尺寸大于视频测试电缆组件穿过开槽一端的外形尺寸。

B型组合夹具包含B型组合夹具框架、射频测试电缆组件、限位孔和不脱出紧固螺钉；射频测试电缆组件的位置和微波组件上的射频接口是一一对应的；射频测试电缆组件一端与微波组件的射频接口连接，一端连接测试设备；B型组合夹具框架上设有通孔和螺纹孔，射频测试电缆组件与微波组件相连的一端插入通孔，通过螺钉紧固到B 型组合夹具框架上，B型组合夹具框架上的通孔直径大于射频测试电缆组件插入端的外径尺寸。

射频测试电缆组件包含射频转接头、转接法兰、柔性电缆和SMA 型快插头；射频转接头和微波组件的接口插头是匹配的，可以实现射频信号的传输；转接法兰一端与射频转接头连接，一端与柔性电缆连接，可以传输射频信号；转接法兰带有装配法兰，同时与射频转接头连接的一端穿过A型组合夹具框架或者B型组合夹具框架的通孔，通过紧固件固定到A型组合夹具框架或者B型组合夹具框架上；转接法兰与射频转接头连接的一端直径大于A型组合夹具框架或者B 型组合夹具框架的通孔直径；SMA型快插头一端与柔性电缆连接传输射频信号，另一端可以和测试设备之间快速插拔连接，从而将射频信号传输到测试设备上。

一种适用于微波组件的新型测试方法，包括如下步骤：

步骤一、将左侧固定架和右侧固定架装到测试底座上，调节左侧固定架和右侧固定架的位置，确保左侧固定架和右侧固定架与微波组件之间存在缝隙，缝隙尺寸为0.1mm-0.2mm；用紧固螺钉固定左侧固定架和右侧固定架。

步骤二、将射频测试电缆组件装到A型组合夹具框架上并用螺钉紧固；将视频测试电缆组件装到A型组合夹具框架上并用螺钉紧固。

步骤三、将射频测试电缆组件全部装到B型组合夹具框架上并用螺钉紧固。

步骤四、通过不脱出紧固螺钉将B型组合夹具固定于左侧固定架和右侧固定架上。

步骤五、将微波组件沿着左侧固定架和右侧固定架之间装入，确保微波组件的接口和B型组合夹具上对应的射频测试电缆组件连接上。

步骤六、通过不脱出紧固螺钉将A型组合夹具固定于左侧固定架和右侧固定架上，同时确保微波组件的接口和A型组合夹具上对应的射频测试电缆组件连接上。

步骤七、将A型组合夹具和B型组合夹具上的测试电缆组件与相应的测试设备连接。

步骤八、通过相关测试设备开始对微波组件进行性能测试。

左侧固定架和右侧固定架在两个方向各有一个椭圆孔，可以将自身紧固到测试底座上的同时沿着两个椭圆的方向进行移动，以适应不同尺寸的微波组件，具有一定的兼容性；左侧固定架和右侧固定架的上下表面在同一水平面上；A型组合夹具和B型组合夹具与左侧固定架和右侧固定架之间采用限位销钉设计，通过限位销钉确保装配定位的精确度，起到保护微波组件接口的作用；A型组合夹具和B型组合夹具与左侧固定架和右侧固定架之间采用不脱出紧固螺钉固定，通过相应的结构设计，拆卸时不脱出紧固螺钉可以一直连接在A型组合夹具和B型组合夹具上，具有减少零部件数量、避免螺钉遗失和提升拆卸效率的优点。

本实用新型具有以下优点：

(1)现有的测试夹具主要通过转接头将产品与测试设备相连接，转接头无法固定，测试时转接头的晃动容易对产品接口造成损伤，严重的甚至可能造成产品报废。本实用新型不仅可以保证微波组件快速定位固定，而且可以固定连接到产品接口的转接头，给产品提供有效保护；

(2)相较于传统测试时每次都要插拔转接头，本实用新型只需对产品装卡一次即可完成所有测试，大幅提升产品的测试效率，同时转接头插拔次数的减少可以大幅降低产品接口的损伤率；

(3)本实用新型在装卡测试后可以和产品一起进行高低温试验、温冲试验、老练试验、热真空试验等而无需拆除，同时还能给产品提供一定的防护功能，有效避免产品在转运和试验过程中可能发生的冲击、磕碰和跌落等情况对产品造成的损伤。

(4)本实用新型具有通用性，通过对相应参数的调整，适用于各种微波组件以及其他类型的类似产品。

附图说明

图1为一种微波组件的新型测试夹具原理图；

图2为一种微波组件的新型测试夹具结构示意图；

图3为一种微波组件的新型测试夹具测试底座与左侧固定架右侧固定架组装结构示意图；

图4为一种微波组件的新型测试夹具A型组合夹具结构示意图；

图5为一种微波组件的新型测试夹具射频测试电缆组件结构示意图；

图6为一种微波组件的新型测试夹具B型组合夹具结构示意图。

附图标记：

1、测试底座；2、左侧固定架；3、右侧固定架；4、A型组合夹具；41、A型组合夹具框架；42、射频测试电缆组件；421、射频转接头；422、转接法兰；423、柔性电缆；424、快插头；43、视频测试电缆组件；5、B型组合夹具；51、B型组合夹具框架；6、限位销钉；7、限位孔；8、不脱出紧固螺钉。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

实施例1

如图1-3所示，一种微波组件的新型测试夹具，包括测试底座1 和设置在测试底座1上方的左侧固定架2、右侧固定架3、A型组合夹具4、B型组合夹具5，左侧固定架2可拆卸的组装在测试底座1 的左侧，右侧固定架3可拆卸的组装在测试底座1的右侧，A型组合夹具4可拆卸的组装在左侧固定架2和右侧固定架3的上方，B型组合夹具5可拆卸的组装在左侧固定架2和右侧固定架3的下方；

待测试的微波组件设置在左侧固定架2、右侧固定架3、A型组合夹具4和B型组合夹具5的中间且与左侧固定架2、右侧固定架3之间留有空隙，微波组件设置在述测试底座1上方；

如图4所示，A型组合夹具4包括A型组合夹具框架41和射频测试电缆组件42，A型组合夹具框架41上设置供射频测试电缆组件 42穿过的通孔，射频测试电缆组件42通过螺丝固定在A型组合夹具框架41上；

A型组合夹具框架41可拆卸的组装在左侧固定架2和右侧固定架 3的顶部，射频测试电缆组件42一端与微波组件的射频端口连接、另一端与测试设备的射频端口连接；

如图5所示，射频测试电缆组件42包括射频转接头421、设置在射频转接头421外侧的转接法兰422和与射频转接头421依次连接的柔性电缆423、快插头424，射频转接头421用于与微波组件的射频端口进行插拔连接，快插头424用于与测试设备的射频端口进行插拔连接，转接法兰422用于穿过A型组合夹具框架41的通孔紧固在A 型组合夹具框架41上；

快插头424为SMA型；

A型组合夹具4还包括视频测试电缆组件43，A型组合夹具框架 41上设置供视频测试电缆组件43穿过的通孔，视频测试电缆组件43 通过螺丝固定在A型组合夹具框架41上；

视频测试电缆组件43一端与微波组件的视频输出端口连接、另一端与测试设备的视频输入端口连接；

左侧固定架2和右侧固定架3的上下两端分别设置限位销钉6，A 型组合夹具4和B型组合夹具5分别设置与限位销钉6对应的限位孔 7；

限位孔7的直径大于限位销钉6的直径；

还包括不脱出紧固螺钉8，A型组合夹具框架41一侧设置不脱出紧固螺钉8，A型组合夹具框架41通过不脱出紧固螺钉8与左侧固定架2和右侧固定架3的底部，并且在将A型组合夹具框架41与左侧固定架2和右侧固定架3拆卸时不脱出紧固螺钉8仍旧连接在A型组合夹具框架41中；

如图6所示，B型组合夹具5包括B型组合夹具框架51和射频测试电缆组件42，所B型组合夹具框架51可拆卸的组装在左侧固定架2、右侧固定架3的下方，射频测试电缆组件42穿过B型组合夹具框架51并固定在B型组合夹具框架51上，射频测试电缆组件42一端与微波组件的射频端口连接、另一端与测试设备的射频端口连接；

B型组合夹具框架51上设置通孔，通孔用于使射频测试电缆组件 42穿过B型组合夹具框架51；

还包括不脱出紧固螺钉8，B型组合夹具框架51的一侧设置两个不脱出紧固螺钉8，不脱出紧固螺钉8用于将B型组合夹具框架51 与左侧固定架2和右侧固定架3固定，并且在将B型组合夹具框架51 与左侧固定架2和右侧固定架3拆卸时不脱出紧固螺钉8仍旧连接在B型组合夹具框架51中；

B型组合夹具5上安装的射频测试电缆组件42的数量为8个；

左侧固定架2和右侧固定架3高度相同且结构对称；

左侧固定架2和右侧固定架3在横向、纵向上均设置椭圆通孔，测试底座1上设置若干螺钉安装孔，螺钉穿过椭圆通孔与螺钉安装孔将左侧固定架2和右侧固定架3可调尺寸的固定在测试底座1上。

实施例2

如图1-3所示，一种微波组件的新型测试夹具，夹具用于测试微波组件，包括测试底座1、左侧固定架2、右侧固定架3、A型组合夹具4、B型组合夹具5、限位销钉6、限位孔7和不脱出紧固螺钉8；

测试底座1设有许多等间距的螺纹孔，螺纹尺寸为M2-M4，用于固定左侧固定架2和右侧固定架3；左侧固定架2和右侧固定架3 在两个方向各有一个椭圆孔，可以将自身紧固到测试底座上的同时沿着两个椭圆的方向进行移动，以适应不同尺寸的微波组件；左侧固定架2和右侧固定架3固定到测试底座1上后，左侧固定架2和右侧固定架3与微波组件之间有缝隙，缝隙尺寸为0.1mm-0.2mm，保证微波组件能够放入的同时兼具一定的定位功能；左侧固定架2和右侧固定架3固定到测试底座1上后，左侧固定架2和右侧固定架3的上下表面在同一水平面上；左侧固定架2和右侧固定架3在两侧各有一个限位销钉；A型组合夹具4和B型组合夹具5各有两个限位孔7，左侧固定架2和右侧固定架3的限位销钉6位置与限位孔7位置一一对应；A型组合夹具4和B型组合夹具5限位孔7直径大于左侧固定架 2和右侧固定架3限位销钉6的直径；不脱出紧固螺钉8将A型组合夹具4和B型组合夹具5固定于左侧固定架2和右侧固定架3上，且采用适配不脱出螺钉的结构设计，拆卸时不脱出紧固螺钉8不会从 A型组合夹具4和B型组合夹具5上脱出；A型组合夹具4和B型组合夹具5一侧和微波组件的接口连接，另一侧连接测试设备，连接完成后可以进行微波组件的性能测试。

如图4所示，A型组合夹具4包含A型组合夹具框架41、射频测试电缆组件42、视频测试电缆组件43和不脱出紧固螺钉8；射频测试电缆组件42的位置和微波组件上的射频接口是对应的；射频测试电缆组件42一端与微波组件的接口连接，另一端连接测试设备；视频测试电缆组件43的位置和微波组件上视频接口的位置是对应的；视频频测试电缆组件43一端与微波组件的接口连接，另一端连接测试设备；A型组合夹具框架41上设有通孔和螺纹孔，射频测试电缆组件42与微波组件相连的一端插入通孔，通过螺钉紧固到A型组合夹具框架41上，A型组合夹具框架41上的通孔直径大于射频测试电缆组件42插入端的外径尺寸；A型组合夹具框架41上设有开槽和螺纹孔，视频测试电缆组件43的一端穿过开槽，通过螺钉紧固到A型组合夹具框架41上，A型组合夹具框架41上的开槽尺寸大于视频测试电缆组件43穿过开槽一端的外形尺寸。

如图5所示，射频测试电缆组件42包含射频转接头421、转接法兰422、柔性电缆423和SMA型快插头424；射频转接头421和微波组件的接口插头是匹配的，可以实现射频信号的传输；转接法兰 422一端与射频转接头421连接，一端与柔性电缆423连接，可以传输射频信号；转接法兰422带有装配法兰，同时与射频转接头421连接的一端穿过A型组合夹具框架41或者B型组合夹具框架51的通孔，通过紧固件固定到A型组合夹具框架41或者B型组合夹具框架 51上；转接法兰422与射频转接头421连接的一端直径大于A型组合夹具框架41或者B型组合夹具框架51的通孔直径；SMA型快插头424一端与柔性电缆423连接传输射频信号，另一端可以和测试设备之间快速插拔连接，从而将射频信号传输到测试设备上。

如图6所示，B型组合夹具5包含B型组合夹具框架51、射频测试电缆组件42和不脱出紧固螺钉8；射频测试电缆组件42的位置和微波组件上的射频接口是一一对应的；射频测试电缆组件42一端与微波组件的射频接口连接，一端连接测试设备；B型组合夹具框架 51上设有通孔和螺纹孔，射频测试电缆组件42与微波组件相连的一端插入通孔，通过螺钉紧固到B型组合夹具框架51上，B型组合夹具框架51上的通孔直径大于射频测试电缆组件42插入端的外径尺寸。

实施例1-2的测试方法，包括如下步骤：

(1)将射频测试电缆组件42装到A型组合夹具框架41上并用螺钉紧固；将视频测试电缆组件43装到A型组合夹具框架41上并用螺钉紧固。

(2)将射频测试电缆组件42全部装到B型组合夹具框架51上并用螺钉紧固。

(3)将A型组合夹具4和B型组合夹具5上的测试电缆组件与相应的测试设备连接。

(4)将左侧固定架2和右侧固定架3装到测试底座1上，调节左侧固定架2和右侧固定架3的位置，确保左侧固定架2和右侧固定架3与微波组件之间存在缝隙。

(5)通过限位销钉6、限位孔7和不脱出紧固螺钉8将B型组合夹具5固定于左侧固定架2和右侧固定架3上。

(6)将微波组件沿着左侧固定架2和右侧固定架3之间装入，确保微波组件的接口和B型组合夹具5上对应的测试电缆组件连接上。

(7)通过限位销钉6、限位孔7和不脱出紧固螺钉8将A型组合夹具4固定于左侧固定架2和右侧固定架3上，同时确保微波组件的接口和A型组合夹具4上对应的测试电缆组件连接上。

(8)通过相关测试设备开始对微波组件进行性能测试。

(9)测试完成后松开不脱出紧固螺钉8，拆除A型组合夹具4。

(10)拆除微波组件。

(11)重复步骤(6)～(10)以完成多个微波组件的测试。

步骤(1)中A型组合夹具框架41上对应射频测试电缆组件42 装配的位置设有通孔，通孔直径比射频测试电缆组件42插入端的外径尺寸大0.1mm～0.5mm；

步骤(1)中A型组合夹具框架41上对应视频测试电缆组件43 的位置设有开槽，开槽尺寸比视频测试电缆组件43穿过开槽一端的外形尺寸大0.2mm～1mm。

步骤(2)中B型组合夹具框架51上对应射频测试电缆组件42 装配的位置设有通孔，通孔直径比射频测试电缆组件42插入端的外径尺寸大0.1mm～0.5mm。

步骤(3)中根据测试电缆组件的型号规格以及微波组件的性能指标选择适宜的测试设备进行连接。

步骤(4)中左侧固定架2和右侧固定架3与微波组件之间存在缝隙，缝隙大小为0.1mm～0.5mm。

步骤(5)中左侧固定架2和右侧固定架3与B型组合夹具5之间采用限位销钉6进行定位，B型组合夹具5限位孔7直径比限位销钉6的直径大0.1mm～0.3mm。

步骤(5)中左侧固定架2和右侧固定架3与B型组合夹具5之间采用不脱出紧固螺钉结构设计，确保在装拆时不脱出紧固螺钉能够一直连接在B型组合夹具5上。

步骤(7)中左侧固定架2和右侧固定架3与A型组合夹具4之间采用限位销钉6进行定位，限位孔7直径比左侧固定架2和右侧固定架3限位销钉6的直径大0.1mm～0.3mm。

步骤(7)中左侧固定架2和右侧固定架3与A型组合夹具4之间采用不脱出紧固螺钉8结构设计，确保在装拆时不脱出紧固螺钉8 能够一直连接在A型组合夹具4上。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种微波组件的新型测试夹具，其特征在于：包括测试底座(1)和设置在所述测试底座(1)上方的左侧固定架(2)、右侧固定架(3)、A型组合夹具(4)、B型组合夹具(5)，所述左侧固定架(2)可拆卸的组装在所述测试底座(1)的左侧，所述右侧固定架(3)可拆卸的组装在所述测试底座(1)的右侧，所述A型组合夹具(4)可拆卸的组装在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的上方，所述B型组合夹具(5)可拆卸的组装在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的下方；

待测试的微波组件设置在所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)、所述A型组合夹具(4)和所述B型组合夹具(5)的中间且与所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)之间留有空隙，所述微波组件设置在所述述测试底座(1)上方；

所述A型组合夹具(4)包括A型组合夹具框架(41)和A型射频测试电缆组件(42)，所述A型组合夹具框架(41)上设置供所述A型射频测试电缆组件(42)穿过的通孔，所述A型射频测试电缆组件(42)通过螺丝固定在所述A型组合夹具框架(41)上；

所述A型组合夹具框架(41)可拆卸的组装在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的顶部，所述A型射频测试电缆组件(42)一端与所述微波组件的射频端口连接、另一端与测试设备的射频端口连接。

2.根据权利要求1所述的一种微波组件的新型测试夹具，其特征在于：所述射频测试电缆组件(42)包括射频转接头(421)、设置在所述射频转接头(421)外侧的转接法兰(422)和与所述射频转接头(421)依次连接的柔性电缆(423)、快插头(424)，所述射频转接头(421)用于与所述微波组件的射频端口进行插拔连接，所述快插头(424)用于与所述测试设备的射频端口进行插拔连接，所述转接法兰(422)用于穿过所述A型组合夹具框架(41)的通孔紧固在所述A型组合夹具框架(41)上。

3.根据权利要求2所述的一种微波组件的新型测试夹具，其特征在于：所述快插头(424)为SMA型。

4.根据权利要求1所述的一种微波组件的新型测试夹具，其特征在于：所述A型组合夹具(4)还包括视频测试电缆组件(43)，所述A型组合夹具框架(41)上设置供所述视频测试电缆组件(43)穿过的通孔，所述视频测试电缆组件(43)通过螺丝固定在所述A型组合夹具框架(41)上；

所述视频测试电缆组件(43)一端与所述微波组件的视频输出端口连接、另一端与测试设备的视频输入端口连接。

5.根据权利要求1所述的一种微波组件的新型测试夹具，其特征在于：所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的上下两端分别设置限位销钉(6)，所述A型组合夹具(4)和所述B型组合夹具(5)分别设置与所述限位销钉(6)对应的限位孔(7)；

所述限位孔(7)的直径大于所述限位销钉(6)的直径。

6.根据权利要求1所述的一种微波组件的新型测试夹具，其特征在于：还包括不脱出紧固螺钉(8)，所述A型组合夹具框架(41)一侧设置不脱出紧固螺钉(8)，所述A型组合夹具框架(41)通过所述不脱出紧固螺钉(8)与所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的底部，并且在将所述A型组合夹具框架(41)与所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)拆卸时所述不脱出紧固螺钉(8)仍旧连接在所述A型组合夹具框架(41)中。

7.根据权利要求1所述的一种微波组件的新型测试夹具，其特征在于：所述B型组合夹具(5)包括B型组合夹具框架(51)和射频测试电缆组件(42)，所B型组合夹具框架(51)可拆卸的组装在所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)的下方，所述射频测试电缆组件(42)穿过所述B型组合夹具框架(51)并固定在所述B型组合夹具框架(51)上，所述射频测试电缆组件(42)一端与所述微波组件的射频端口连接、另一端与所述测试设备的射频端口连接。

8.根据权利要求7所述的一种微波组件的新型测试夹具，其特征在于：所述B型组合夹具框架(51)上设置通孔，所述通孔用于使所述射频测试电缆组件(42)穿过所述B型组合夹具框架(51)。

9.根据权利要求7所述的一种微波组件的新型测试夹具，其特征在于：还包括不脱出紧固螺钉(8)，所述B型组合夹具框架(51)的一侧设置两个所述不脱出紧固螺钉(8)，所述不脱出紧固螺钉(8)用于将所述B型组合夹具框架(51)与所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)固定，并且在将所述B型组合夹具框架(51)与所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)拆卸时所述不脱出紧固螺钉(8)仍旧连接在所述B型组合夹具框架(51)中；

所述B型组合夹具(5)上安装的所述射频测试电缆组件(42)的数量至少为2个。

10.根据权利要求1所述的一种微波组件的新型测试夹具，其特征在于：

所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)高度相同且结构对称；

所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)在横向、纵向上均设置椭圆通孔，所述测试底座(1)上设置若干螺钉安装孔，螺钉穿过所述椭圆通孔与所述螺钉安装孔将所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)可调尺寸的固定在所述测试底座(1)上。

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