CN113899756A - 高压线束分组测试方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种高压线束分组测试方法、装置、设备及存储介质。本发明通过对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组；获取多个测试项目集合，测试项目集合中的测试项目相同但各测试项目的执行顺序不同；将不同的测试项目集合随机分配至不同的初始待测试高压线束组进行测试，获得处于非初始状态的待测高压线束组；对处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果。由于是对待测高压线束进行分组，并对各组待测高压线束进行不同顺序的项目测试，然后对测试后的高压线束组再次进行测试，从而避免了高压线束测试数据结果的单一性，提升了测试的准确性，使高压线束的测试更加符合真实使用环境。

Description

高压线束分组测试方法、装置、设备及存储介质
技术领域
本发明涉及线束测试技术领域，尤其涉及一种高压线束分组测试方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
新能源电动车中的高压线束是电动车重要组成部分，作为各个高压零部件之间能量传输介质，高压线束的性能、可靠性、质量情况直接影响着电动车正常使用，一旦高压线束功能失效，甚至影响电动车安全，高压线束的实际使用环境一般是复杂、多变的，高压线束受到环境条件的影响也是持续的、相互联系的。而一般的高压线束测试技术一般只进行单一的实现项目，并且实验测试环境也只是单一不变的，不能模拟现实情况中使用环境条件复杂多变的条件，现有技术对高压线束的测试没有分组对比，并且实验测试项目顺序单一，对高压线束测试的结果不准确，测试数据过于单一。
上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种高压线束分组测试方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中对高压线束的测试未进行分组对比，并且实验测试项目顺序单一，导致对高压线束测试的结果不准确的技术问题。
为实现上述目的，本发明提供了一种高压线束分组测试方法，所述方法包括以下步骤：
对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组；
获取多个测试项目集合，所述测试项目集合中的测试项目相同但各测试项目的执行顺序不同；
将不同的测试项目集合随机分配至不同的初始待测试高压线束组进行测试，获得处于非初始状态的待测高压线束组；
对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果。
可选地，所述对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果的步骤之后，所述方法还包括：
对所述初始待测试高压线束组对应的测试结果进行评价，获得第一测试评价；
对所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的测试结果进行评价，获得第二测试评价；
对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果。
可选地，对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果的步骤之后，所述方法还包括：
根据预设导通率规则对所述初始待测试高压线束组对应的测试结果进行检测，获得第一线束导通率；
根据所述预设导通率规则对所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的测试结果进行检测，获得第二线束导通率；
对所述第一线束导通率和所述第二线束导通率进行对比分析，获得导通率对比结果。
可选地，对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组的步骤之前，所述方法还包括：
根据预设筛选规则对待筛选高压线束进行外观检测，获得外观检测结果；
根据所述外观检测结果确定处于初始状态的待测高压线束。
可选地，对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果的步骤，包括：
根据预设分析规则对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果。
可选地，对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果的步骤，包括：
根据预设合格规则和所述第一测试评价确定所述初始待测试高压线束组对应的第一合格率；
根据所述预设合格规则和所述第二测试评价确定所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的第二合格率；
对所述第一合格率和所述第二合格率进行对比分析，生成测试对比结果。
可选地，对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组的步骤之前，所述方法还包括：
获取高压线束测试项目的内容及目的信息，根据所述内容及目的信息确定多个测试项目集合。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种高压线束分组测试装置，所述高压线束分组测试装置包括：
分组模块：用于对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组；
获取模块：用于获取多个测试项目集合，所述测试项目集合中的测试项目相同但各测试项目的执行顺序不同；
分配模块：用于将不同的测试项目集合随机分配至不同的初始待测试高压线束组进行测试，获得处于非初始状态的待测高压线束组；
测试模块：用于对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种高压线束分组测试设备，所述高压线束分组测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的高压线束分组测试程序，所述高压线束分组测试程序配置为实现如上文所述的高压线束分组测试方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有高压线束分组测试程序，所述高压线束分组测试程序被处理器执行时实现如上文所述的高压线束分组测试方法的步骤。
本发明通过通过对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组，获取多个测试项目集合，所述测试项目集合中的测试项目相同但各测试项目的执行顺序不同，将不同的测试项目集合随机分配至不同的初始待测试高压线束组进行测试，获得处于非初始状态的待测高压线束组，对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果。由于本发明是通过对处于初始状态的待测高压线束进行分组，并对各组待测高压线束进行不同顺序的项目测试，以此获得处于非初始状态的高压线束组，然后对处于非初始状态的高压线束组再次进行测试，获得高压线束的测试结果，从而避免了高压线束测试数据结果的单一性，提升了测试的准确性，使高压线束的测试更加符合真实使用环境。
附图说明
图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的高压线束分组测试设备的结构示意图；
图2为本发明高压线束分组测试方法第一实施例的流程示意图；
图3为本发明高压线束分组测试方法第二实施例的流程示意图；
图4为本发明高压线束分组测试方法第三实施例的流程示意图；
图5为本发明高压线束分组测试装置第一实施例的结构框图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的高压线束分组测试设备结构示意图。
如图1所示，该高压线束分组测试设备可以包括：处理器1001，例如中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，通信总线1002、用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如无线保真(Wireless-Fidelity，Wi-Fi)接口)。存储器1005可以是高速的随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)，也可以是稳定的非易失性存储器(Non-Volatile Memory，NVM)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对高压线束分组测试设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图1所示，作为一种存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及高压线束分组测试程序。
在图1所示的高压线束分组测试设备中，网络接口1004主要用于与网络服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于与用户进行数据交互；本发明高压线束分组测试设备中的处理器1001、存储器1005可以设置在高压线束分组测试设备中，所述高压线束分组测试设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的高压线束分组测试程序，并执行本发明实施例提供的高压线束分组测试方法。
本发明实施例提供了一种高压线束分组测试方法，参照图2，图2为本发明一种高压线束分组测试方法第一实施例的流程示意图。
本实施例中，所述高压线束分组测试方法包括以下步骤：
步骤S10：对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组。
应理解的的是，本实施例方法的执行主体可以是具有数据处理、网络通信以及程序运行功能的计算服务设备，例如服务器以及电脑等，或者是其他能够实现相同或相似功能的电子设备，本实施例对此不加以限制。
需要说明的是，所述处于初始状态的待测试高压线束指的是未经过使用、测试或其他操作的处于初始环境的高压线束。
可理解的是，高压线束分组测试设备对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，进行分组的待测试高压线束是同车间以及批次生产的高压线束。
在具体实现中，高压线束分组测试设备根据待测试高压线束的总数量对同车间以及批次生产的需要测试的高压线束进行平均分组，获得多个高压线束数量相同的初始待测试高压线数组，例如，待测试高压线束的总数量为100，则将待测试高压线束分为5个初始待测试高压线数组，其中，每个初始待测试高压线数组的线束数量为20，本实施例不加以限定。
进一步地，为了在高压线束测试之前筛选出有明显外观破损和外观缺陷的待测高压线束，步骤S10之前，还包括：
根据预设筛选规则对待筛选高压线束进行外观检测，获得外观检测结果；
根据所述外观检测结果确定处于初始状态的待测高压线束。
需要说明的是，所述预设筛选规则指的是预先设置满足高压线束外观要求的规则，所述预设筛选规则包括：高压线束外观应清洁、色泽均匀、表面平整、干燥以及无裂纹，并且不应有损伤、变形或者缺陷。
应理解的是，根据预设筛选结果筛选出满足外观要求的高压线束作为初始状态的待测高压线束。
进一步地，为了保证高压线束测试的准确性，上步骤S10之前，还包括：
获取高压线束测试项目的内容及目的信息，根据所述内容及目的信息确定多个测试项目集合。
需要说明的是，根据所述内容及目的信息将高压线束测试项目分类为性能测试和可靠性测试。
步骤S20：获取多个测试项目集合，所述测试项目集合中的测试项目相同但各测试项目的执行顺序不同。
需要说明的是，所述测试项目集合指的是包含多个高压线束测试项目的集合，所述高压线束测试项目包括高压线束性能测试项目和高压线束可靠性测试项目，其中，所述高压线束性能测试项目包括：外观检查、绝缘电阻测试、耐电压测试、电压降测试、阻燃性、水密性以及气密性测试等其他用于测试高压线束性能的项目；所述高压线束可靠性测试项目包括：盐雾测试、耐冷热冲击性能、耐温度变化性能、耐高温测试、耐低温测试、湿热循环、耐氙灯以及短期老化等其他用于测试高压线束可靠性的项目，本实施例不加以限定。
应理解的是，各高压线束测试项目均有不同的测试方法以及评价标准，根据测试后的结果需要按照对应测试的评价标准对该项测试进行评价。
外观测试的测试方法为：待测高压线束包装完好并且无损伤，测试环境光照度应≥50lm或在距离1m高的50W日光灯下进行检查。
绝缘电阻测试的测试方法为：在待测高压线束连接器的端子与端子之间、端子与屏蔽层之间、以及端子与金属外壳(仅针对金属连接器)之间施加1000V/DC的电压测试，出厂检验测试时间为10s，型式试验测试时间为60s。针对带有高压互锁的连接器，在低压端子与高压端子之间、低压端子与屏蔽层之间加1000V/DC的电压测试，出厂检验测试时间为10s，型式试验测试时间为60s。
耐电压测试的测试方法为：在待测高压线束连接器的端子与端子之间、端子与屏蔽层之间、以及端子与金属外壳(仅针对金属连接器)之间施加2500V/AC的电压测试，出厂检验测试时间为10s，型式试验测试时间为60s。
电压降测试的测试方法为：将待测高压线束以串联的方式连接在直流电源上，按额定电流值调节电源输出电流，若在1min内数据状态保持不变，达到稳定状态，记录此时的电压降值，并测试端子压接处两端75mm处的电压降。
温升测试的测试方法为：将待测高压线束安装在试验台上，连接热电偶，通入电缆横截面积对应的电流，其中，温升持续时间根据试验电流确定，例如，温升试验持续时间为1h，适用于额定电流不超过32A的电器附件；温升试验持续时间为2h，适用于额定电流超过32A但不超过125的电器附件；温升试验持续时间为3h，适用于额定电流超过125A的电器附件。
水密性测试的测试方法为：按防水等级IP5、IP6和IP7规定的试验方法进行试验，其中IP5使用喷嘴直径为6.3mm、距离为2.5m-3.0m的喷水装置，水流速度为12.5L/min±5％，水压约为30kPa，实验时间为3min；IP6使用喷嘴直径为12.5mm、距离为2.5m-3.0m的喷水装置，水流速度为100L/min±5％，水压约为100kPa，实验时间为3min；IP7使用浸水箱，DUT底部应低于水面至少1m，顶部应低于水面至少0.15m，实验时间为30min。
气密性测试的测试方法为：准备和待测高压线束相匹配的高压测台治具，将治具安装在高压侧台上，将高压线束插入到治具内，通入45KPa～55KPa的气压，其中，充气时间5s，稳压时间10s，泄露时间10s，再观察气压的泄漏量。
耐冷热冲击测试的测试方法为：设定测试温度为高温85℃，低温-40℃，对高压线束进行高低温转换，转换时间不超过30s，循环次数为250次，根据待测高压线束的重量选择温度保持时间，例如，待测高压线束的重量小于0.68kg，温度保持30min；待测高压线束的重量为0368kg～4.53kg，温度保持60min；待测高压线束的重量大于4.53kg，温度保持大于60min，本实施例不加以限定。
耐温度变化测试的测试方法为：将待测高压线束放置在自动调温设备中进行，待测高压线束不带载情况下在-40℃保持1h；待测高压线束带载情况下由-40℃升至85℃，温度交替时间为2h，在温度达到85℃后保持1h，然后将高压线束负载去掉，并且将温度从85℃降至-40℃，温度交变时间为2h，循环进行8次温度交变。
耐高温测试的测试方法为：将待测高压线束放置于温度稳定在125℃的高温箱内测试8h，取出放置室温24h后再对高压线束判定。
耐低温测试的测试方法为：将待测高压线束放置于温度稳定在-40℃的低温箱内测试8h，取出放置室温24h后再对高压线束判定。
短期老化测试的测试方法为：将待测高压线束放置于温度稳定在150℃的烘箱内240h，高压线束彼此之间及高压线束和烘箱内表面距离间隔至少达到20mm，不同绝缘材料的高压线束不应放在一起测试，高压线束老化后，从烘焙箱取出试样使其在室温23±5C°下存放16h，经过室温调整后对高压线束判定。
盐雾测试的测试方法为：将待测高压线束放置于盐溶液浓度(5±1)％、PH值(6.5～7.2)以及试验温度(35±2)℃的环境中48h。
在具体实现中，各测试项目集合中的测试项目均包括性能测试项目和可靠性测试项目，但是各测试项目集合中的测试项目执行顺序不同，例如，第一测试项目集合中按照先执行高压线束性能测试项目，再执行高压线束可靠性测试项目的顺序；第二测试项目集合中按照先执行高压线束可靠性测试项目，再执行高压线束性能测试项目的顺序，本实施例不加以限定。
步骤S30：将不同的测试项目集合随机分配至不同的初始待测试高压线束组进行测试，获得处于非初始状态的待测高压线束组。
需要说明的是，所述非初始状态的待测高压线束组指的是经过高压线束测试项目测试的待测高压线束组。
可理解的是，除外观检查外的性能测试项目和可靠性测试项目按照随机排序进行测试，例如，本次以绝缘电阻测试、耐电压测试、电压降测试、温升测试、水密性测试、气密性测试、耐冷热冲击测试、耐温度变化测试、耐高温测试、耐低温测试、湿热循环测试、耐氙灯测试、短期热老化测试、盐雾测试的顺序进行测试，本实施例不加以限定。
在具体实现中，高压线束分组测试设备将不同的测试项目集合随机分配至不同的初始待测试高压线束组进行测试，例如，测试项目A集合中的测试项目执行顺序为先进行可靠性测试再进行性能测试，测试项目B集合中的测试项目执行顺序为先进行性能测试再进行可靠性测试，将测试项目A集合和测试项目B集合随机分配至初始待测试高压线束1组和初始待测试高压线束2组进行测试，其中初始待测试高压线束1组进行测试项目A集合中的测试项目执行顺序，初始待测试高压线束2组进行测试项目B集合中的测试项目执行顺序，以获得处于非初始状态的待测高压线束1组和待测高压线束2组，本实施例不加以限定。
步骤S40：对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果。
在具体实现中，高压线束分组测试设备对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行高压线束性能测试和高压线束可靠性测试，获得测试结果。
本发明通过通过对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组，获取多个测试项目集合，所述测试项目集合中的测试项目相同但各测试项目的执行顺序不同，将不同的测试项目集合随机分配至不同的初始待测试高压线束组进行测试，获得处于非初始状态的待测高压线束组，对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果。由于本发明是通过对处于初始状态的待测高压线束进行分组，并对各组待测高压线束进行不同顺序的项目测试，以此获得处于非初始状态的高压线束组，然后对处于非初始状态的高压线束组再次进行测试，获得高压线束的测试结果，从而避免了高压线束测试数据结果的单一性，提升了测试的准确性，使高压线束的测试更加符合真实使用环境。
参考图3，图3为本发明一种高压线束分组测试方法第二实施例的流程示意图。
基于上述第一实施例，在本实施例中，所述步骤S20之后还包括：
步骤S401：对所述初始待测试高压线束组对应的测试结果进行评价，获得第一测试评价。
需要说明的是，各高压线束测试项目预设有对应的各测试评价标准，按照各测试评价标准对初始待测试高压线束组对应的测试结果进行评价。
外观检查的评价标准为：高压线束外观无锈蚀、霉斑、镀涂层剥落、毛刺、塑料件起泡、开裂、变形等现象，文字、符号标志应清晰，结构件应完整、无机械损伤，否则为该测试结果不合格。
绝缘电阻测试的评价标准为：高压线束在任何情况下高压电缆的绝缘电阻不小于200MΩ，否则为该测试结果不合格。
耐电压测试的评价标准为：高压线束在绝缘耐压试验过程中不应产生介质断裂或者击穿现象，漏电流应符合如下规定。高压线束尺寸不大于1m时，耐压测试电流不大于1mA；高压线束尺寸在1m～5m时，耐压测试电流不大于3mA；高压线束尺寸在5m～10m时，耐压测试电流不大于5mA；高压线束尺寸在10m～20m时，耐压测试电流不大于15mA，否则为该测试结果不合格。
电压降测试的评价标准为：高压线束的电压降应满足下面要求：测量端子的温升应小于55℃；对于镀锡的端子，电压降不应大于80mV，对于镀银的端子，电压降不应大于60mV；电压降在试验过程中的变化幅度不应大于20mV，否则为该测试结果不合格。
温升测试的评价标准为：端子温度上升不允许超过55℃；电缆绝缘层的温度上升不允许超过40℃，否则为该测试结果不合格。
水密性测试的评价标准为：高压线束的防水等级应符合IP5、IP6、IP7的规定，否则为该测试结果不合格。
气密性测试的评价标准为：高压线束的气压泄漏量不应大于400Pa，否则为该测试结果不合格。
耐冷热冲击测试的评价标准为：高压线束试验后不出现老化、变色或变形等现象，符合产品外观以及电气要求的规定，否则为该测试结果不合格。
耐温度变化测试的评价标准为：试验后不出现老化、变色或变形等现象，符合产品外观以及电气要求的规定，否则为该测试结果不合格。
耐高温测试的评价标准为：高压线束的外观、导通性、绝缘性应符合要求，测试后连接器没有断开，各部无明显变色，没有龟裂现象，绝缘电阻不小于200MΩ，漏电流不大于10mA，否则为该测试结果不合格。
耐低温测试的评价标准为：高压线束的外观、导通性、绝缘性应符合要求，测试后连接器没有断开，各部无明显变色，没有龟裂现象，绝缘电阻不小于200MΩ，漏电流不大于10mA，否则为该测试结果不合格。
短期老化的评价标准为：高压线束绕卷后无导体外露，在耐电压试验期间不发生击穿，否则为该测试结果不合格。
盐雾测试的评价标准为：高压线束的外壳、连接器表面、金属支架、紧固件以及端子没有明显的锈蚀，绝缘电阻不小于200MΩ，漏电流不大于5mA，否则为该测试结果不合格。
在具体实现中，对所述初始待测试高压线束组进行各项测试项目之后获得的对应的各测试结果按照各测试项目的测试评价标准进行评价，以获得初始待测试高压线束组进行各测试项目的第一测试评价。
步骤S402：对所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的测试结果进行评价，获得第二测试评价。
在具体实现中，对所述处于非初始状态的待测试高压线束组再次进行各项测试项目之后获得的对应的各测试结果按照各测试项目的测试评价标准进行评价，以获得处于非初始状态的始待测试高压线束组进行各测试项目的第二测试评价。
步骤S403：对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果。
需要说明的是，根据第一测试评价获得初始待测试高压线束组的评价结果，根据第二测试评价获得处于非初始的待测试高压线束组的评价结果，再对二者的评级结果进行对比分析，获得初始待测试高压线束组与处于非初始状态的待测试高压线束组的测试对比结果。
在具体实现中，若初始待测试高压线束组的第一测试评价为合格，但是处于非初始的待测试高压线束组的第二测试评价为不合格，则该高压线束组为不合格产品；若初始待测试高压线束组的第一测试评价为合格，并且处于非初始的待测试高压线束组的第二测试评价也为合格，则该高压线束组为合格产品。
进一步地，为了更加准确的对测试评价进行对比分析，上述步骤S403，包括：
根据预设分析规则对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果。
需要说明的是，所述预设分析规则指的是预先设置的用于对第一测试评价和第二测试评价进行对比分析的规则，若根据预设分析规则获得的测试对比结果为合格，则高压线束测试评价结果为合格。
进一步地，为了更加精准的计算出待测高压线数组的线束合格率，通过线束合格率对高压线束的生产工艺进行改进，上述步骤S403，包括：
根据预设合格规则和所述第一测试评价确定所述初始待测试高压线束组对应的第一合格率；
根据所述预设合格规则和所述第二测试评价确定所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的第二合格率；
对所述第一合格率和所述第二合格率进行对比分析，生成测试对比结果。
需要说明的是，所述预设合格规则指的是预先设置通过高压线束的测试结果计算线束合格率的规则。
本实施例通过对所述初始待测试高压线束组对应的测试结果进行评价，获得第一测试评价，对所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的测试结果进行评价，获得第二测试评价，对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果。由于本实施例是通过对初始待测试高压线束组与处于非初始状态的待测高压线数束组的测试评级进行对比分析，获得高压线束组的测试对比结果，从而避免了高压线束测试数据结果的单一性，提升了测试的准确性，使高压线束的测试更加符合真实使用环境。
参考图4，图4为本发明一种高压线束分组测试方法第三实施例的流程示意图。
基于上述第二实施例，在本实施例中，所述步骤S403之后还包括：
步骤S4031：根据预设导通率规则对所述初始待测试高压线束组对应的测试结果进行检测，获得第一线束导通率。
需要说明的是，所述预设导通率规则指的是预先设置根据各测试项目的评价标准计算高压线束导通率的规则，其中高压线束的导通率为100％才符合电气合格标准。
在具体实现中，若初始待测试高压线束组进行各性能测试的测试项目均为合格，进行各可靠性测试的测试项目均为合格，则该初始待测试高压线束组导通率为100％。
步骤S4032：根据所述预设导通率规则对所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的测试结果进行检测，获得第二线束导通率。
在具体实现中，若处于非初始状态的待测试高压线束组进行各性能测试的测试项目均为合格，进行各可靠性测试的测试项目均为合格，则该处于非初始状态的待测试高压线束组导通率为100％。
步骤S4033：对所述第一线束导通率和所述第二线束导通率进行对比分析，获得导通率对比结果。
在具体实现中，根据预设导通率规则获得的第一线束导通率和第二线束导通率均为100％，该高压线束组的线束导通才合格，例如，若初始待测试高压线束组根据预设导通率规则获得的第一线束导通率和处于非初始状态的待测试高压线束组根据预设导通率规则获得的第二线束导通率均为100％，则该高压线束组的线束导通合格；若初始待测试高压线束组根据预设导通率规则获得的第一线束导通率为100％，处于非初始状态的待测试高压线束组根据预设导通率规则获得的第二线束导通率为90％，则该高压线束组的线束导通不合格。
本实施例通过根据预设导通率规则对所述初始待测试高压线束组对应的测试结果进行检测，获得第一线束导通率，根据所述预设导通率规则对所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的测试结果进行检测，获得第二线束导通率，对所述第一线束导通率和所述第二线束导通率进行对比分析，获得导通率对比结果。由于是通过预设导通率规则分别获得初始状态待测试高压线束组和非初始状态的待测试高压线束组的线束导通率，并对二者的线束导通率进行对比分析，以此提升了高压线束的测试准确性，避免了测试结果的误差。
此外，本发明实施例还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有高压线束分组测试程序，所述高压线束分组测试程序被处理器执行时实现如上文所述的高压线束分组测试方法的步骤。
由于本存储介质采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。
参照图5，图5为本发明高压线束分组测试装置第一实施例的结构框图。
如图5所示，本发明实施例提出的高压线束分组测试装置包括：
分组模块501，用于对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组；
获取模块502，用于获取多个测试项目集合，所述测试项目集合中的测试项目相同但各测试项目的执行顺序不同；
分配模块503，用于将不同的测试项目集合随机分配至不同的初始待测试高压线束组进行测试，获得处于非初始状态的待测高压线束组；
测试模块504，用于对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果。
本发明通过通过对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组，获取多个测试项目集合，所述测试项目集合中的测试项目相同但各测试项目的执行顺序不同，将不同的测试项目集合随机分配至不同的初始待测试高压线束组进行测试，获得处于非初始状态的待测高压线束组，对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果。由于本发明是通过对处于初始状态的待测高压线束进行分组，并对各组待测高压线束进行不同顺序的项目测试，以此获得处于非初始状态的高压线束组，然后对处于非初始状态的高压线束组再次进行测试，获得高压线束的测试结果，从而避免了高压线束测试数据结果的单一性，提升了测试的准确性，使高压线束的测试更加符合真实使用环境。
一实施例中，所述测试模块504，还用于对所述初始待测试高压线束组对应的测试结果进行评价，获得第一测试评价；对所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的测试结果进行评价，获得第二测试评价；对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果。
一实施例中，所述测试模块504，还用于根据预设导通率规则对所述初始待测试高压线束组对应的测试结果进行检测，获得第一线束导通率；根据所述预设导通率规则对所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的测试结果进行检测，获得第二线束导通率；对所述第一线束导通率和所述第二线束导通率进行对比分析，获得导通率对比结果。
一实施例中，所述分组模块501，还用于根据预设筛选规则对待筛选高压线束进行外观检测，获得外观检测结果；根据所述外观检测结果确定处于初始状态的待测高压线束。
一实施例中，所述测试模块504，还用于根据预设分析规则对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果。
一实施例中，所述测试模块504，还用于根据预设合格规则和所述第一测试评价确定所述初始待测试高压线束组对应的第一合格率；根据所述预设合格规则和所述第二测试评价确定所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的第二合格率；对所述第一合格率和所述第二合格率进行对比分析，生成测试对比结果。
一实施例中，所述分组模块501，还用于获取高压线束测试项目的内容及目的信息，根据所述内容及目的信息确定多个测试项目集合。
应当理解的是，以上仅为举例说明，对本发明的技术方案并不构成任何限定，在具体应用中，本领域的技术人员可以根据需要进行设置，本发明对此不做限制。
需要说明的是，以上所描述的工作流程仅仅是示意性的，并不对本发明的保护范围构成限定，在实际应用中，本领域的技术人员可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部来实现本实施例方案的目的，此处不做限制。
另外，未在本实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明任意实施例所提供的高压线束分组测试方法，此处不再赘述。
此外，需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如只读存储器(Read Only Memory，ROM)/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种高压线束分组测试方法，其特征在于，所述高压线束分组测试方法包括以下步骤：
对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组；
获取多个测试项目集合，所述测试项目集合中的测试项目相同但各测试项目的执行顺序不同；
将不同的测试项目集合随机分配至不同的初始待测试高压线束组进行测试，获得处于非初始状态的待测高压线束组；
对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果。
2.如权利要求1所述的高压线束分组测试方法，其特征在于，所述对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果的步骤之后，所述方法还包括：
对所述初始待测试高压线束组对应的测试结果进行评价，获得第一测试评价；
对所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的测试结果进行评价，获得第二测试评价；
对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果。
3.如权利要求2所述的高压线束分组测试方法，其特征在于，所述对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果的步骤之后，所述方法还包括：
根据预设导通率规则对所述初始待测试高压线束组对应的测试结果进行检测，获得第一线束导通率；
根据所述预设导通率规则对所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的测试结果进行检测，获得第二线束导通率；
对所述第一线束导通率和所述第二线束导通率进行对比分析，获得导通率对比结果。
4.如权利要求1所述的高压线束分组测试方法，其特征在于，所述对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组的步骤之前，所述方法还包括：
根据预设筛选规则对待筛选高压线束进行外观检测，获得外观检测结果；
根据所述外观检测结果确定处于初始状态的待测高压线束。
5.如权利要求2所述的高压线束分组测试方法，其特征在于，所述对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果的步骤，包括：
根据预设分析规则对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果。
6.如权利要求2所述的高压线束分组测试方法，其特征在于，所述对所述第一测试评价和所述第二测试评价进行对比分析，获得测试对比结果的步骤，包括：
根据预设合格规则和所述第一测试评价确定所述初始待测试高压线束组对应的第一合格率；
根据所述预设合格规则和所述第二测试评价确定所述处于非初始状态的待测高压线束组对应的第二合格率；
对所述第一合格率和所述第二合格率进行对比分析，生成测试对比结果。
7.如权利要求1至6中任一项所述的高压线束分组测试方法，其特征在于，所述对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组的步骤之前，所述方法还包括：
获取高压线束测试项目的内容及目的信息，根据所述内容及目的信息确定多个测试项目集合。
8.一种高压线束分组测试装置，其特征在于，所述高压线束分组测试装置包括：
分组模块，用于对处于初始状态的待测试高压线束进行分组，获得多个初始待测试高压线束组；
获取模块，用于获取多个测试项目集合，所述测试项目集合中的测试项目相同但各测试项目的执行顺序不同；
分配模块，用于将不同的测试项目集合随机分配至不同的初始待测试高压线束组进行测试，获得处于非初始状态的待测高压线束组；
测试模块，用于对所述处于非初始状态的待测高压线束组再次进行测试，获得测试结果。
9.一种高压线束分组测试设备，其特征在于，所述高压线束分组测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的高压线束分组测试程序，所述高压线束分组测试程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的高压线束分组测试方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有高压线束分组测试程序，所述高压线束分组测试程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的高压线束分组测试方法。
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