CN113834575A - 用于测量熔融金属的温度的装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于测量熔融金属浴温度的装置，包括：光学芯线；管套，其中所述光学芯线至少部分地布置在所述管套中，所述管套具有在4mm至8mm的范围内的外径和在0.2mm至0.5mm的范围内的壁厚；和多个分隔元件，其包括多于两个分隔元件，所述分隔元件彼此间隔开地布置在管套中，并且在所述多于两个分隔元件的两者之间形成至少一个隔室。本发明还涉及一种用于测量熔融金属浴温度的系统和方法。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于测量熔融金属浴的温度的装置，该装置包括光学芯线和管套。本发明还涉及一种使用相应装置测量熔融金属浴的温度的系统和方法。
背景技术
在金属制造过程中，有几种方法可用于测量冶金容器中熔融金属浴的温度。用于测量熔融金属浴的温度、特别是在电弧炉(EAF)的熔融环境中测量铁或钢的温度的这些方法之一包括将由金属管套包围的光纤浸入熔融金属中。由金属管套包围的光纤通常也称为光学芯线。光纤可以接收热辐射，并且可以将来自熔融金属的热辐射传送到检测器、例如高温计。合适的仪器可以与检测器相关联以用于确定熔融金属浴的温度。
为了测量熔融金属浴的温度，可以将光学芯线输送入熔融金属浴，在该熔融金属浴中以基本恒定的速率消耗光学芯线，以便在预定的时间段内进行连续的温度测量。光学芯线的前部梢端浸入冶金容器中，在其朝着熔融金属浴前行的过程中首先遇到热的气氛、随后是炉渣/熔渣层、然后是熔融金属浴。一旦温度测量结束，光学芯线的梢端可以从熔融金属浴中部分地缩回。然后，缩回的光学芯线的梢端成为下一次温度测量的新的前部梢端。
EP1857792A1示例性地描述了一种使用光学芯线测量熔融金属浴温度的方法和装置。
现有技术中已知的许多装置通常通过使用定位在管套中的光纤而构成。光学线材和金属管套之间的间隙通常填充有填充材料，以在浸入过程中保护光学线材免受熔融金属浴的热量影响。光学芯线和管套可以以相同或不同的速度输送入熔融金属浴并到达熔融金属浴中的相同位置。
然而，这种结构并不总能在整个应用范围内实现可靠的测量。这里，术语“应用范围”可以用来指进行熔融金属浴温度测量的温度范围。具体而言，在低温范围进行的温度测量与高的炉渣温度相结合会导致输出数据的巨大差异。例如，普通钢级的材料的温度范围在1520℃到1700℃之间。然而，大多数相应测量的温度通常在1550℃和1620℃之间。
因此，需要一种装置和方法，利用该装置和方法可以在整个应用范围内获得更精确的温度测量，同时使装置在熔融金属中的消耗减至最少。
发明内容
本发明提供了一种用于测量熔融金属浴的温度的装置，包括:
光学芯线；
管套，其中所述光学芯线至少部分地布置在所述管套中，其中所述管套具有4mm至8mm范围内的外径和0.2mm至0.5mm范围内的壁厚；和
多个分隔元件，其包括彼此间隔开地布置在管套中的多于两个分隔元件，并且在所述多于两个分隔元件中的两个分隔元件之间形成至少一个隔室/区段。
这里，术语“光学芯线”可以用来指可以包含在外壳、特别是金属管套中的光纤。外壳可以完全包围光纤，或者可以至少部分开放从而外壳不完全包围光纤。此外，外壳可以至少部分地填充有用于施加在熔融金属中的试剂。此外，光纤可以在没有外壳的情况下使用。
该装置的管套可以是金属管套，其中光学芯线沿其长度延伸。例如，光学芯线可以布置在金属管套的中心，并且可以沿着金属管套的方向延伸。
根据本发明，该管套具有：
在4mm至8mm的范围内的外径，以及
在0.2mm至0.5mm的范围内的壁厚。
管套的壁厚优选在0.3mm至0.4mm的范围内。此外，熔融金属浴中的试验表明，温度测量的准确性与温度测量期间进入熔融金属浴的冷材料的质量有关。单位时间的质量取决于进料速度和装置的几何形状。
此外，该装置包括多个分隔元件，这些分隔元件包括布置在管套中的多于两个的分隔元件，并且在所述多于两个分隔元件中的两个分隔元件之间形成至少一个隔室。
这里，术语“隔室”涉及管套中不同分隔元件之间的容积/空间。
这里，术语“分隔元件”涉及布置在管套内的部件，用于划分管套内的容积。
分隔元件可以实现为布置在管套内的包括开口的盘形元件，光学芯线延伸穿过所述开口，并且所述开口可以至少部分地支撑光学芯线。开口优选位于元件的中间部位以将光学芯线支撑在管套的中心。然而，在示例中，分隔元件也可以具有不同的形状。例如，分隔元件可以具有立方形、圆柱形、圆锥形、三角形、球形、金字塔形、梯形和/或多边形形状。在一个示例中，该装置包括多个分隔元件，这些分隔元件包括布置在管套中的至少五个分隔元件。
分隔元件可以连接到光学芯线或管套中的任一者上，并且可以有利地由于它们布置在光学芯线和管套之间而使得管套与光学芯线之间的摩擦减至最小，从而避免了应力/压力。此外，当装置被输送入熔融金属时，光学芯线和管套可以一起移动。因此，当输送入熔融金属浴时，可以最小化或者甚至避免光学芯线和管套的相对运动。
光学芯线与管套的速度和位置可以基本相同。
有利的是，通过使用分隔元件在至少任意两个分隔元件之间产生隔室，可以有效地防止熔融金属渗透到管套中。
有利地，通过使用如上所述的装置，管套以受控的方式从浸入端熔化，这导致更精确的温度测量。当管套在熔融金属浴中熔化时，可以进行实际的温度测量。
通过采用如上所述的装置，有利地，管套在进入熔融金属浴之前不会熔化。此外，管套不会从侧面熔化，可以使将对温度测量产生不利影响的熔融金属钻入管套内部的情况减至最少。
例如，当装置插入熔融金属浴时，隔室中包含的气体会由于温度升高而膨胀。在一个示例中，可以通过简单计算熔融金属浴中在目标浸入深度处的铁水静压力来计算为防止钢进入需要增加的压力。
然而，熔融金属浴温度的突然升高可能在这些隔室中产生大约6bar的压力积累。这种压力可能会在熔化过程开始之前在管套的侧壁上造成裂纹。
此外，已经表明，如上所述，通过减小管套的直径和壁厚来使单位长度的质量减至最小有助于获得更精确的温度测量。此外，为了在没有弯曲和漂浮的情况下进入熔融金属浴，最小的直径是有利的。
在一个示例中，管套包括在室温(RT)下热导率高于30W/mK的材料。
这里，术语室温RT可用于指约20℃的温度，特别是在16℃至25℃的范围内的温度。
在一个示例中，光学芯线和管套之间的空间填充有:
-气体、气体混合物，或者
-填充材料，该填充材料包含低密度材料、特别是包含低密度有机材料。
该空间可以例如填充有空气或惰性气体。为了熔融金属最少地进入管套中(这将导致低的输出值)，填充材料可以有利地至少部分地布置在光学芯线和管套之间的空间中。
这里，术语“低密度”可以用来指材料的密度小于2g/cm3、优选小于1g/cm3。
在一个示例中，填充材料包括棉花、羊毛、大麻、稻壳和/或亚麻。灰分含量小于10％的其他低密度填充材料也是合适的。
灰分含量可以表示材料完全燃烧后剩余的不可燃成分。
在一个示例中，管套包含选自以下材料组中至少一种的材料或者合金，所述材料组包括：铁和/或合金钢级的材料。
有利的是，上述材料在室温下具有高于30W/mK的热导率。
在一个示例中，管套的热导率和壁厚的乘积大于0.015W/K。
高导热性与薄壁相结合可能是有利的。以mm(毫米)为单位的壁厚和热导率的乘积可以有利地高于0.015W/K。在一个示例中，厚度为0.3mm的外壁需要热导率大于50W/mK的材料。
有利的是，选择的管套材料的热导率越高，管套加热期间的温度分布就越均匀。相比之下，不均匀的温度分布可能导致管套侧壁发生不受控制的爆裂，导致熔融金属不希望地进入。
在典型的炉中，进入点与熔融金属浴之间的距离在1m至2m的范围内。
在一个示例中，分隔元件彼此间隔开一定距离地布置在管套中，该距离小于从炉中的进入点到熔融金属浴的高度处的距离。在这个示例中，分隔元件可以布置成形成跨越装置的长度范围的通气路径。
在一个示例中，分隔元件包括硅树脂(优选双组分硅树脂材料)、橡胶材料、皮革材料、软木材料和/或金属材料。
为了克服压力突然增大的不利影响，可以选择小的隔室，这意味着在测量过程中至少有一个隔室被输送至炉中。由于热膨胀，这个隔室里的气体会膨胀，压力会增大。有利地，通气路径防止钢和炉渣从管套的侧壁进入。在装置浸没期间，膨胀气体可以通过装置的浸没端部分排空。
在另一个示例中，分隔元件彼此间隔开一定距离地布置在管套中，该距离大于从炉中的进入点到熔融金属浴的高度处的距离。
在这种情况下，下一个/相邻的隔室部分地布置在炉内、部分地布置在炉外。有利的是，这可以防止气体在整个隔室长度上被加热，并因此降低在隔室中获得的最大压力，以克服压力突然增大的不利影响。此外，在前面提到的示例中，该分隔元件可以以气密方式布置在管套中，以在光学芯线和管套内部之间提供密封。
在另一个示例中，该分隔元件以在2m至5m的范围内、优选为3m至4m的距离彼此间隔开地布置在管套中。
在大多数冶金过程中，熔融金属浴由密度低于熔融金属浴的炉渣层覆盖。例如，在炼钢过程中，钢水的密度约为7g/cm3，炉渣覆盖物的密度约为2g/cm3。在转炉、电弧炉和钢包炉的加工阶段，由于CO(一氧化碳)/CO2(二氧化碳)气泡导致炉渣起泡，这种密度会进一步下降。如果装置的密度高于金属浴，它将倾向于沉入底部，而密度较低时，它将倾向于漂浮。
在一个示例中，该装置包括在0.8g/cm3至4g/cm3范围内、特别是在1g/cm3至3g/cm3范围内的密度。
为了防止装置浸没期间的漂浮风险，在0.8g/cm3至4g/cm3范围内、特别是在1g/cm3至3g/cm3范围内的材料密度是有利的。
电弧炉工艺会具有非常宽泛的炉渣密度范围。在塌缩阶段估计炉渣厚度为约30cm，在发泡时炉渣厚度可上升至炉顶。因此，此过程中使用的装置需要适用于此范围，以获得准确的温度测量值。
本发明还涉及一种系统，包括如本文所述的装置和用于将所述装置的前部梢端输送至熔融金属浴中的输送装置。该系统还可以进一步包括炉，该炉具有用于该装置的进入点，并且容纳熔融金属浴和炉渣覆盖物。
本发明还涉及一种使用本文所述的装置或系统测量熔融金属浴的温度的方法，包括:
输送用于测量温度的所述装置，其中，以在10g/s至50g/s的范围内的输送速度将前部梢端朝着熔融金属的方向输送入熔融金属浴中；和
测量熔融金属的温度。
可以认为50g/s的输送速度是最大值。在高温应用中，需要应用该速度以在熔融金属浴中达到足够的深度。在低温应用中，该值可以较低。在所有炼钢应用中，要求最低10g/s才能获得最小浸入深度。
例如，在电弧炉应用中以大约30g/s的输送速度、在钢包炉应用中以大约20g/s的输送速度、在钢包应用中以大约16g/s的输送速度，可以获得最精确的测量。
如前所述，可以看出温度测量的精度与温度测量期间进入熔融金属浴的冷材料的质量有关。单位时间的质量取决于进料速度和装置的几何形状。
有利地，通过以该方法中定义的输送速度输送如上所述的装置，可以获得更精确的温度测量。
在一个示例中，光学芯线和管套以相同的速度一起送入熔融金属浴中。
下面描述两个有利的示例:
在第一个示例中，验证了获得精确温度测量所需的进料速率。一种包括光学芯线和外径为6mm、壁厚为0.3mm、密度约为1.6g/cm3的低碳钢管套的装置，可以以800mm/s的速度输送入熔融金属浴至300mm的深度。大约1.6g/cm3的密度对应于44.1g/m的质量。在这个速度下，在整个应用范围内测量将是精确的。有利的是，所选择的结构将保留在熔融金属中，并将朝着熔融金属—炉渣界面的方向漂浮。
关于第一个示例，获得了以下示例参数:
时间＝300mm/800mm/s＝0.375s
质量＝44.1g/m*0.3m＝13.2g
质量/时间＝13.2g/0.375s＝35.2g/s
在第二个示例中，确定了获得精确温度测量的最大输送速度。带有外径为7mm、壁厚为0.4mm的低碳钢管套的密度约为2.2g/cm3(相当于68.6g/m)的装置，可以以728mm/s的最大速度输送入熔融金属浴至400mm的深度。在这个速度下，整个应用范围内的测量都是可靠的。所选择的结构将保留在熔融金属中，并将朝着熔融金属—炉渣界面的方向漂浮。
关于第二个示例，获得了以下示例参数:
质量＝68.6g/m*0.4m＝27.4g
时间＝27.4g/50g/s＝0.54s
速度＝400mm/0.54s＝728mm/s。
附图说明
下面将参照附图中所示的实施例更详细地描述本发明的基本思想。此处:
图1示出了根据本发明实施例的用于测量熔融金属浴的温度的系统的示意图；
图2示出了示意性的位置—时间曲线，该曲线描绘了在测量熔融金属温度之前、期间和之后装置的前部梢端的浸入状态；
图3A、3B示出了根据本发明第一实施例和第二实施例的装置的示意图；
图4示出了根据本发明实施例的用于验证隔室的气密性的系统的示意图；
图5A至5C示出了将根据本发明第一实施例的装置浸入熔融金属浴中的示意图；
图6A至6C示出了根据本发明实施例的分隔元件的不同配置的示意图；和
图7A至7C示出了根据本发明实施例的装置的示意图。
具体实施方式
图1示出了根据本发明实施例的用于测量熔融金属浴15的温度的系统的示意图。
如图1所示，该系统包括装置1，该装置1至少部分地位于线圈9上并且至少部分地从线圈9展开，以用于进行测量。装置1的第一端连接到高温计11，高温计11又可以连接到计算机系统(未示出)以处理用装置1获得的数据。如图1所示，装置1由输送机构13通过导向管套17输送至容器中，该容器具有进入点19并包含熔融金属浴15。可以认为装置1的从线圈9延伸到进入点19的一部分的温度是低的，该温度可以在从室温直至100℃的温度范围内。一旦朝着熔融金属浴15的方向通过进入点19，首先遇到能达到1700℃或甚至更高的热的气氛，接着是炉渣层16，继炉渣层16之后是熔融金属浴15。容器的进入点19可以配备吹管(图1中未示出)，以防止金属和炉渣钻入装置1中。浸没在熔融金属浴15中的装置1的前部梢端将熔化，并且在该熔化阶段期间可以获得温度测量值。装置1的位于熔融金属15内部的前部梢端所包括的长度由LMM表示。在进行测量之后，装置1的位于热的气氛中并延伸穿过炉渣层16的部分可以朝着线圈9的方向被输送返回，并且可以重新用于下一次测量。装置1的前部梢端在容器内部所包括的长度由图1中的LMEAS表示。图1中还示出了炉渣层—气氛界面即SAI和熔融金属—炉渣层界面即MSI。
图2示出了位置—时间曲线的示意图，该图示出了在测量熔融金属的温度之前、期间和之后该装置的前部梢端的浸入状态。为了解释说明的目的，图2的位置—时间图示出了一种简化的情况，其中假设在测量过程中装置的前部梢端没有熔化。图1所示的进入点被认为是容器的进入点和测量的基准点。图2示出了前部梢端在容器内部所包括的长度LMEAS、以及在熔融金属内部所包括的长度LMM以及为了执行一次测量通常所消耗的装置的长度LC。这一程序/序列/过程以装置的新的前部梢端定位在容器进入点处为终点。装置的一段长度LMM浸入熔融金属浴15中，向前输送的距离减去熔融金属浴中的长度以获得返回距离。
图3A和3B示出了在测量程序期间根据本发明的第一实施例和第二实施例的装置1、1’的示意图。图3A和3B示出了装置的从进入点19输送至熔融金属浴15中的一部分。
在两个实施例中，装置1、1’包括布置在管套5、5’中的多于两个的分隔元件7a、7a’、7b、7b’、7n’，它们在两个分隔元件7a、7a’、7b、7b’、7n’之间形成至少一个隔室/区段。
图3A示出了根据第一实施例的装置1，其包括具有大的隔室的构造。对于根据第一实施例的构造，分隔元件7a、7b围绕光学芯线3布置在管套5中，彼此间隔的距离大于从进入点19到熔融金属—炉渣层界面MSI的距离。在所示的构造中，隔室的长度选择成使得在其整个长度上没有封闭的隔室位于容器中。在进入点19配备有吹管(未示出)情况下，可以认为容器内部的一小部分是冷的。如图3A所示，隔室形成在两个分隔元件7a、7b之间，其中第一分隔元件7a在冷区域，相对的第二分隔元件7b在热区域。
图3B示出了根据第二实施例的装置1’，其包括具有小的隔室的构造。这里，分隔元件7a’、7b’、7n’彼此间隔一定距离地布置在管套5’中，该距离小于从炉中的进入点19到熔融金属—炉渣层界面MSI的距离。在图3B所示的实施例中，分隔元件7a’、7b’、7n’能至少部分地透过气体，以形成从浸入端朝着线圈方向的通气路径(图3B中未示出)。
图4示出了用于验证由布置在图3A和3B所示的装置1、1’的管套5、5’中的分隔元件7a、7b、7a’、7n’形成的隔室的气密性的系统的示意图。
所示的用于验证气密性的系统包括压力调节器21、流量计23、阀25和压力计27。为了测试，所示装置1、1’中的任何一个都可以连接到系统。然而，本领域技术人员知道也存在可用于验证隔室气密性的替代手段。
为了获得精确的测量，至少具有大隔室结构的装置1的隔室应该是气密的。隔室的“气密性”可以通过测试各个分隔元件7a、7a’、7n’的气密性来测试，以示出0.8bar的反压/背压。根据经验，可以说隔室的长度越长，这个压力应该越高。已经表明，在反压高于0.9bar的情况下，腔室长度达到热区域长度的两倍显示出有利的结果。用有机化合物分隔元件可能会在热区域形成气体。这些分隔元件在测量过程中可能会燃烧并形成通气路径。根据对包括20个分隔元件的装置1’的测试，在图4中显示为连接到系统的装置1’可以示出0.2至0.8bar的反压。在图4中紧挨着装置1’示出的装置1可以显示出大于0.9bar的反压，该反压基于用包括单个分隔元件的装置1进行的测试。
作为一个示例，使用图4所示的系统来验证气密性的方法在下面用后续步骤进行描述：
1.在阀25关闭的情况下，将压力调节器21设置为1bar过压；
2.打开阀25，将流量计23设置为5l/m(升/分钟)；
3.将样本1、1’连接到系统；以及
4.测量压力计27上的压力。
图5A-5C示出了根据第一实施例的装置1的示意图。特别地，图5A-5C示出了装置1的从进入点19输送至熔融金属浴15中的一部分。图中从左手侧到右手侧示例性地示出了将装置1浸入熔融金属浴15中的三个阶段。
在图5A中，示出了分隔元件7b位于热的气氛中。可以借助于分隔元件7b防止金属和熔渣钻入装置1的前部梢端。因为前部梢端能向熔融金属浴15中通气并且下一个/相邻的隔室部分地布置在冷区域中，所以可以防止管套5中的高压。在测量程序之后，在熔融金属浴15中的芯线部分将熔化，并且随着下一个测量程序，装置1的新的前部梢端将如图5B所示地定位。同样地，分隔元件7b避免了金属和熔渣的钻入，并且由于隔室部分地布置在冷区域中，所以降低了下一个隔室中的过压。在图5B中所示的程序结束后，新的前部梢端将如图5C中所示地定位。在该测量程序期间，分隔元件7b将进入熔融金属浴15，并且管套5将在隔室中的内部压力变得过高之前熔化。在图5C所示的程序结束后，下一次测量将再次类似于图5A所示的程序。
图6A-6C示出了根据本发明实施例的分隔元件7、7’、7”的不同配置的示意图。本领域技术人员会知道，在本文所描述的示例中，不同的构造可以一起/共同在管套内部使用。
在图6A中，示出了能透过气体的分隔元件7，该分隔元件7具有围绕光学芯线的中心开口布置的通气路径8(图6A中未示出)。所示的结构允许光学芯线在输送程序期间在装置的弯曲和矫直期间相对移动。
在图6B中，示出了能透过气体的分隔元件7’，该分隔元件7’具有布置在分隔元件7’的表面中的通气路径8’，其中当分隔元件7’安装在管套内时，分隔元件7’与装置的管套接触。
在图6C中，示出了能透过气体的分隔元件7”，其中通气路径8”通过选择可透气的材料而形成。
图7A-7C示出了根据本发明实施例的装置1、1’、1”的示意图。每幅图中的箭头表示装置1、1’、1”浸入熔融金属浴(图7A至7C中未示出)的方向。
图7A示出了装置1，该装置1具有布置在管套5和光学芯线3之间的空间中的填充材料4。填充材料4可以是诸如棉花的低密度材料。
图7B示出了装置1’，由此通气路径8’通过布置在光学芯线3’的外周中的孔形成。
图7c示出了装置1”，该装置1”具有能够提供气密密封的分隔元件7a”，7b”，以及布置在分隔元件7a”，7b”之间的、不与管套5”直接接触的附加分隔元件7c”，7d”。
附图标记
1,1’,1” 装置
3,3’,3” 光学芯线
4 填充材料
5,5’,5” 管套
7-7”，7a-7n” 分隔元件
8,8’,8” 通气路径
9 线圈
11 高温计
13 输送机构
15,15’ 熔融金属浴
16,16’ 炉渣层
17 导向管套
19 进入点
21 压力调节器
23 流量计
25 阀
27 压力计
SAI 炉渣层-大气界面
MSI 熔融金属-炉渣层界面
LMEAS 测量长度
LMM 在熔融金属中的长度
LC 在熔融金属中消耗的装置长度
Claims (15)
1.一种用于测量熔融金属浴的温度的装置，包括:
光学芯线；
管套，其中，所述光学芯线至少部分地布置在所述管套中，所述管套具有在4mm至8mm的范围内的外径和在0.2mm至0.5mm的范围内的壁厚；和
多个分隔元件，所述多个分隔元件包括彼此间隔开地布置在管套中的多于两个分隔元件，并且在所述多于两个分隔元件中的两个分隔元件之间形成至少一个隔室。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述管套包括在室温RT下的热导率高于30W/mK的材料。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述管套的热导率与壁厚的乘积大于0.015W/K。
4.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，所述光学芯线和所述管套之间的空间填充有:
-气体、气体混合物，或者
-填充材料，该填充材料包含低密度材料、特别是包含低密度有机材料。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述填充材料包括棉花、羊毛、大麻、稻壳和/或亚麻。
6.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，所述管套包含选自以下材料组中至少一种的材料或者合金，所述材料组包括：铁和/或合金钢级的材料。
7.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，所述分隔元件彼此间隔开一定距离地布置在所述管套中，所述距离小于从炉中的进入点到熔融金属浴的高度处的距离。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述分隔元件布置成形成跨越所述装置的长度范围的通气路径。
9.根据权利要求1至6中任一项所述的装置，其特征在于，所述分隔元件彼此间隔开一定距离地布置在所述管套中，所述距离大于从炉中的进入点到熔融金属浴的高度处的距离。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述分隔元件以气密方式布置在所述管套中，以在所述光学芯线和所述管套的内部之间提供密封。
11.根据权利要求1至6中任一项所述的装置，其特征在于，所述分隔元件以在2m至5m的范围内的距离、优选地以3m至4m的距离彼此隔开地布置在所述管套中。
12.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，所述分隔元件包括硅树脂、优选双组分硅树脂材料，或橡胶材料，皮革材料，软木材料以及/或者金属材料。
13.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置包括在0.8g/cm3至4g/cm3的范围内的密度，特别是在1g/cm3至3g/cm3的范围内的密度。
14.一种系统，包括:
根据权利要求1至13中任一项所述的装置；和
输送机构，所述输送机构用于将所述装置的前部梢端输送至熔融金属浴中。
15.一种使用根据权利要求1至13中任一项所述的装置或使用根据权利要求14所述的系统测量熔融金属浴的温度的方法，所述方法包括：
输送用于测量温度的所述装置，其中，以在10g/s至50g/s的范围内的输送速度将前部梢端朝着熔融金属的方向输送入熔融金属浴中；以及
测量熔融金属的温度。
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