CN113522798B - 一种半导体制冷器件的分类设备及分类检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及半导体制冷器件自动生产线技术领域，尤其涉及一种半导体制冷器件的分类设备及分类检测方法。一种半导体制冷器件的分类设备包括物料存放装置、第一抓取装置、定位装置、检测装置、第二抓取装置、分类存储装置和控制器；控制器分别电联接于定位装置、检测装置和第二抓取装置，第一抓取装置用于将半导体制冷器件转运至定位装置，检测装置用于对半导体制冷器件进行电性检测。本技术方案提出的一种半导体制冷器件的分类设备，有利于解决现有采用人工检测分类方式造成的分类效率低下、误判率较高的技术问题。进而提出的一种使用上述半导体制冷器件的分类设备的分类检测方法，有利于提升半导体制冷器件的分类效率和分类准确性。

Description

一种半导体制冷器件的分类设备及分类检测方法

技术领域

本发明涉及半导体制冷器件自动生产线技术领域，尤其涉及一种半导体制冷器件的分类设备及分类检测方法。

背景技术

半导体制冷器件是利用半导体材料的珀尔帖效应制成的、可以产生制冷、或制热作用的芯片，具有体积小、结构紧凑、制冷量控制方便等特点，在小型制冷如红酒冷藏柜、汽车用冷热两用箱、电子冰淇淋机等产品中得到了广泛的应用。

半导体制冷器件包括第一基板、第二基板和设置在第一基板与第二基板之间的晶粒。半导体制冷器件在装配过程中，通常会由于晶粒制备工艺以及半导体制冷器件装配工艺的影响，造成半导体制冷器件的电性参数存在差异，即导致半导体制冷器件的实际电性参数与理论电性参数存在误差。而不同的电性参数的半导体制冷器件所适用的应用场景有所不同，若忽略半导体制冷器件的实际应用参数，则会影响半导体制冷器件的工作效率，以及缩短其使用寿命。

现有技术中，通常采用人工方式对半导体制冷器件的实际电性参数进行检测，然后再根据检测后的实际电性参数对半导体制冷器件进行等级分类。现有采用人工方式对半导体制冷器件进行检测分类的效率十分低下，难以与半导体制冷器件自动生产线的生产效率相互匹配，人工成本较高，不利于降低半导体制冷器件的总生产成本；且检测过程中存在人为因素的干扰，容易对半导体制冷器件造成误判，增大了半导体制冷器件的实际电性参数与实际应用参数的不匹配性，同时也增大了半导体制冷器件的工作效率低下、使用寿命缩短的可能。

发明内容

本发明的目的在于提出一种半导体制冷器件的分类设备，有利于提升半导体制冷器件的分类效率，解决现有采用人工方式对半导体制冷器件进行检测分类造成的分类效率低下、人工成本较高、误判率较高的技术问题，结构简单合理，自动化程度高，能有效克服现有技术中的不足之处。

本发明的另一个目的在于提出一种使用上述半导体制冷器件的分类设备的分类检测方法，有利于提升半导体制冷器件的分类效率，以及确保半导体制冷器件的准确分类，给半导体制冷器件的生产加工带来便利。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种半导体制冷器件的分类设备，包括物料存放装置、第一抓取装置、定位装置、检测装置、第二抓取装置、分类存储装置和控制器；

所述控制器分别电联接于所述定位装置、所述检测装置和所述第二抓取装置，所述第一抓取装置用于将存放于所述物料存放装置的半导体制冷器件转运至所述定位装置，所述检测装置用于对位于所述定位装置的半导体制冷器件进行电性检测，所述第二抓取装置用于根据电性检测结果将半导体制冷器件转运至所述分类存储装置，所述分类存储装置用于对半导体制冷器件根据其电性检测结果进行分类存储。

优选的，所述定位装置包括定位座、第一限位组件和第二限位组件，所述定位座设有容纳位，且所述容纳位设有相邻的第一开边和第二开边；

所述第一限位组件包括可位置移动的第一档板，所述第一档板可靠近和远离所述第一开边，所述第二限位组件包括可位置移动的第二档板，所述第二档板可靠近和远离所述第二开边，所述容纳位、所述第一档板和所述第二档板用于围成容纳半导体制冷器件的容纳腔。

优选的，所述定位装置还包括第三限位组件，所述第三限位组件包括可位置移动的第三档板，所述第三档板可靠近和远离所述容纳位的顶部，所述第三档板用于抵于半导体制冷器件的顶部，并将半导体制冷器件限位于所述容纳腔。

优选的，所述容纳位设有多个，且所述第一档板、所述第二档板、所述第三档板的数量与所述容纳位的数量相等。

优选的，所述检测装置包括检测移动组件和夹取件，所述夹取件通过所述检测移动组件可靠近和远离所述定位装置的上方，所述夹取件用于夹取位于定位装置的半导体制冷器件的导线，并对半导体制冷器件进行电性检测。

优选的，所述夹取件包括第一导线夹具和第二导线夹具，所述第一导线夹具和所述第二导线夹具可相向和相背移动，所述第一导线夹具朝向所述第二导线夹具的相对面设置有导电端或检测端，所述第二导线夹具朝向所述第一导线夹具的相对面设置有对应的检测端或导电端，所述第一导线夹具和所述第二导线夹具的相向移动用于夹取半导体制冷器件的导线，并通过导电端和检测端对半导体制冷器件进行电性检测。

优选的，所述物料存放装置包括支撑台、存放支撑板和存放组件，所述存放组件固定于所述存放支撑板的顶部，所述存放支撑板可移动地安装于所述支撑台的顶部，所述存放组件通过所述存放支撑板可移动至所述第一抓取装置的下方。

优选的，所述存放组件设有多个存放单元，所述存放单元包括存放架和分隔条，所述存放架开设有多个用于存放半导体制冷器件的存放槽，所述分隔条靠近所述存放槽的槽口设置，且所述分隔条的两侧与所述存放槽之间留有分隔间隙。

优选的，所述第一抓取装置包括第一移动组件和第一抓取件，所述第一抓取件安装于所述第一移动组件，所述第一移动组件用于驱动所述第一抓取件在所述分类设备的移动；

所述第二抓取装置包括第二移动组件和第二抓取件，所述第二抓取件安装于所述第二移动组件，所述第二移动组件用于驱动所述第二抓取件在所述分类设备的移动。

一种半导体制冷器件的分类检测方法，使用上述半导体制冷器件的分类设备，包括以下步骤：

（1）获取定位装置的半导体制冷器件放置信号；

（2）根据半导体制冷器件放置信号，判断是否向检测装置发送检测控制指令；若是，令检测装置根据检测控制指令，夹取半导体制冷器件的导线，并使检测装置与导线建立电性连接关系；

（3）向检测装置发送通电控制指令，并通过检测装置获取半导体制冷器件的电性参数检测结果；

（4）将电性参数检测结果与预存的电性参数区间范围进行比对，根据比对结果获取半导体制冷器件的分类等级信息；

（5）根据分类等级信息，生成分类控制指令，并向第二抓取装置发送分类控制指令，令第二抓取装置根据分类控制指令将半导体制冷器件转运至分类存储装置中与分类等级信息对应的存储区域，实现对半导体制冷器件的等级分类。

本申请实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

1、通过设置物料存放装置、第一抓取装置、定位装置、检测装置、第二抓取装置、分类存储装置和控制器共同组成用于对半导体制冷器件进行检测和分类的分类设备，代替现有的人工方式对半导体制冷器件进行等级分类，结构简单合理，自动化程度高，有利于提升半导体制冷器件的分类效率和分类准确性，解决现有采用人工方式对半导体制冷器件进行检测分类造成的分类效率低下、人工成本较高、误判率较高的技术问题。

2、增设了定位装置对待检测的半导体制冷器件进行固定和限位，便于对第一抓取装置转运的半导体制冷器件进行支撑定位，便于检测装置夹取半导体制冷器件的导线，并对其进行检测，同时，也便于第二抓取装置抓取位于定位装置上的半导体制冷器件转运至分类存储装置，有效降低人为因素对半导体制冷器件的电性参数检测结果的干扰。

3、定位座设有用于容纳半导体制冷器件的容纳位，且容纳位设有相邻的第一开边和第二开边,有利于使容纳位可以容纳不同规格的半导体制冷器件，从而有效提升定位装置的兼容性和通用性。

4、第一档板可靠近和远离第一开边，第二档板可靠近和远离第二开边，容纳位、第一档板和第二档板用于围成容纳半导体制冷器件的容纳腔，从而在水平方向上实现对半导体制冷器件的前、后、左、右四个方向上的固定和限位，有利于提升半导体制冷器件在定位座的安装稳定性。

5、第三档板可靠近和远离容纳位的顶部，第三档板用于抵于半导体制冷器件的顶部，并将半导体制冷器件限位于容纳腔，从而实现定位装置对半导体制冷器件在竖直方向上的固定和限位，更进一步地提升了半导体制冷器件在定位座的安装稳定性。

附图说明

图1是本发明一种半导体制冷器件的分类设备的第一视角的结构示意图。

图2是本发明一种半导体制冷器件的分类设备的第二视角的结构示意图。

图3是本发明一种半导体制冷器件的分类设备中物料存放装置的结构示意图。

图4是本发明一种半导体制冷器件的分类设备中第一抓取装置的结构示意图。

图5是本发明一种半导体制冷器件的分类设备中定位装置和检测装置的结构示意图（第三档板处于限位状态）。

图6是本发明一种半导体制冷器件的分类设备中定位装置的结构示意图（第三档板处于未限位状态）。

图7是本发明一种半导体制冷器件的分类设备中定位装置的主视图。

图8是图7中A-A方向的剖视图。

图9是本发明一种半导体制冷器件的分类设备中第二抓取装置和工作台的结构示意图。

图10是本发明一种半导体制冷器件的分类检测方法的流程示意图。

其中：物料存放装置1、支撑台11、存放支撑板12、存放组件13、存放架131、存放槽1311、分隔条132、滑动组件14、滑动导杆141、滑环142；

第一抓取装置2、第一移动组件21、第一移动机构211、取料移动机构212、抓取安装板213、第一抓取件22；

定位装置3、定位座31、容纳位311、定位条312、第一限位组件32、第一档板321、第一移动条3211、第一驱动件322、第二限位组件33、第二档板331、第二驱动件332、限位座333、支撑板334、第三限位组件34、第三档板341、第三驱动件342、转轴343、定位台35；

检测装置4、检测移动组件41、校准移动机构411、夹取移动机构412、夹取件42、第一导线夹具421、第二导线夹具422、夹取安装座423；

第二抓取装置5、第二移动组件51、第二抓取件52、前后移动机构511、左右移动机构512、上下移动机构513；

分类存储装置6、分类槽61；

半导体制冷器件7、工作台8。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征，用于区别描述特征，无顺序之分，无轻重之分。

在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

本技术方案提供了一种半导体制冷器件的分类设备，如图1-10所示，包括物料存放装置1、第一抓取装置2、定位装置3、检测装置4、第二抓取装置5、分类存储装置6和控制器；

所述控制器分别电联接于所述定位装置3、所述检测装置4和所述第二抓取装置5，所述第一抓取装置2用于将存放于所述物料存放装置1的半导体制冷器件7转运至所述定位装置3，所述检测装置4用于对位于所述定位装置3的半导体制冷器件7进行电性检测，所述第二抓取装置5用于根据电性检测结果将半导体制冷器件7转运至所述分类存储装置6，所述分类存储装置6用于对半导体制冷器件7根据其电性检测结果进行分类存储。

现有技术中，通常采用人工方式对半导体制冷器件的实际电性参数进行检测，然后再根据检测后的实际电性参数对半导体制冷器件进行等级分类。现有采用人工方式对半导体制冷器件进行检测分类的效率十分低下，难以与半导体制冷器件自动生产线的生产效率相互匹配，人工成本较高，不利于降低半导体制冷器件的总生产成本；且检测过程中存在人为因素的干扰，容易对半导体制冷器件造成误判，增大了半导体制冷器件的实际电性参数与实际应用参数的不匹配性，同时也增大了半导体制冷器件的工作效率低下、使用寿命缩短的可能。

为了提升半导体制冷器件的分类效率，解决现有采用人工方式对半导体制冷器件进行检测分类造成的分类效率低下、人工成本较高、误判率较高的技术问题，本技术方案提出了一种半导体制冷器件的分类设备，如图1-10所示，包括物料存放装置1、第一抓取装置2、定位装置3、检测装置4、第二抓取装置5、分类存储装置6和控制器（图中未显示）。具体地，控制器分别电联接于定位装置3、检测装置4和第二抓取装置5，需要说明的是，本技术方案中的电联接方式可以是各装置之间通过导线连接，也可以是各装置之间利用蓝牙、wifi等无线通讯方式进行通讯，但不限制于此。

更具体地，本技术方案的物料存放装置1用于存放待检测的半导体制冷器件7，第一抓取装置2用于将存放于物料存放装置1的半导体制冷器件7转运至定位装置3，定位装置3用于对半导体制冷器件7进行固定和限位，以便于检测装置4对半导体制冷器件7进行检测，检测装置4用于对位于定位装置3的半导体制冷器件7进行电性检测，第二抓取装置5用于根据检测装置4的电性检测结果将半导体制冷器件7转运至分类存储装置6进行存储，分类存储装置6用于对半导体制冷器件7根据其电性检测结果进行分类存储。需要说明的是，第一抓取装置2可电联接于本技术方案的控制器，通过控制器驱动第一抓取装置2执行相应的转运动作；第一抓取装置2也可电联接于外设控制装置，通过外设控制装置驱动第一抓取装置2执行相应的转运动作，在此不作限定。

本技术方案一种半导体制冷器件的分类设备包括以下工作过程：（1）控制器获取定位装置3的半导体制冷器件放置信号，以确认定位装置3是否固定有需要检测的半导体制冷器件7；需要说明的是，本技术方案的半导体制冷器件放置信号可以由定位装置3进行获取，并发送给控制器；也可以由外设传感装置进行获取，并发送给控制器，在此不作限定；（2）控制器根据半导体制冷器件放置信号，判断是否需要向检测装置4发送检测控制指令，从而控制检测装置4对位于定位装置3上的半导体制冷器件7进行检测；若需要检测装置4执行检测控制指令，则控制检测装置4夹取半导体制冷器件7的导线，并使检测装置4与导线建立电性连接关系；（3）控制器向检测装置4发送通电控制指令，并通过检测装置4获取半导体制冷器件7的电性参数检测结果；（4）控制器接收检测装置4检测到的电性参数检测结果，将电性参数检测结果与预存的电性参数区间范围进行比对，并根据比对结果获取半导体制冷器件的分类等级信息；（5）控制器根据分类等级信息，生成分类控制指令，并向第二抓取装置5发送分类控制指令，控制第二抓取装置5根据分类控制指令将半导体制冷器件7转运至分类存储装置6中与分类等级信息对应的存储区域，实现对半导体制冷器件7的等级分类。

在本技术方案的一个优选实施例中，控制器包括但不限于信号获取模块、信号检测模块、存储模块、分析模块和执行模块。其中，信号获取模块用于获取定位装置3的半导体制冷器件放置信号，信号检测模块用于获取半导体制冷器件7的电性参数检测结果，存储模块用于存储电性参数区间范围与分类等级信息的映射关系，分析模块用于将电性参数检测结果与预存的电性参数区间范围进行比对，并根据比对结果获取半导体制冷器件的分类等级信息，执行模块用于驱动检测装置4对位于定位装置3上的半导体制冷器件7进行检测，并用于驱动第二抓取装置5根据分类控制指令将半导体制冷器件7转运至分类存储装置6中与分类等级信息对应的存储区域。

本技术方案通过设置物料存放装置1、第一抓取装置2、定位装置3、检测装置4、第二抓取装置5、分类存储装置6和控制器共同组成用于对半导体制冷器件7进行检测和分类的分类设备，代替现有的人工方式对半导体制冷器件进行等级分类，结构简单合理，自动化程度高，有利于提升半导体制冷器件的分类效率和分类准确性，解决现有采用人工方式对半导体制冷器件进行检测分类造成的分类效率低下、人工成本较高、误判率较高的技术问题。

优选的，所述分类存储装置6包括多个用于存储半导体制冷器件7的分类槽61。本技术方案中的分类槽61可根据半导体制冷器件的工作参数（如电参数值）划分为不同等级，每一个等级范围对应一个或多个相应的分类槽61等。

更进一步说明，所述定位装置3包括定位座31、第一限位组件32和第二限位组件33，所述定位座31设有容纳位311，且所述容纳位311设有相邻的第一开边和第二开边；

所述第一限位组件32包括可位置移动的第一档板321，所述第一档板321可靠近和远离所述第一开边，所述第二限位组件33包括可位置移动的第二档板331，所述第二档板331可靠近和远离所述第二开边，所述容纳位311、所述第一档板321和所述第二档板331用于围成容纳半导体制冷器件7的容纳腔。

现有采用人工方式对半导体制冷器件进行检测的过程中，时常会发生由于半导体制冷器件与检测设备之间的接触不良而导致的无法检测或检测不准的情况，或存在其他人为因素的干扰而造成对半导体制冷器件的误判，若将半导体制冷器件应用于与其电性参数不匹配的应用场景中，则会影响半导体制冷器件的工作效率，以及缩短其使用寿命。

因此，为了避免上述情况的发生，有效降低人为因素对半导体制冷器件的电性参数检测结果的干扰，本技术方案增设了定位装置3对待检测的半导体制冷器件进行固定和限位，便于对第一抓取装置2转运的半导体制冷器件7进行支撑定位，便于检测装置4夹取半导体制冷器件7的导线，并对其进行检测，同时，也便于第二抓取装置5抓取位于定位装置3上的半导体制冷器件7转运至分类存储装置6。

具体地，如图5-8所示，定位装置3包括定位座31、第一限位组件32和第二限位组件33，定位座31设有用于容纳半导体制冷器件7的容纳位311，且容纳位311设有相邻的第一开边和第二开边,有利于使容纳位311可以容纳不同规格（即不同长度和不同宽度）的半导体制冷器件，从而有效提升定位装置3的兼容性和通用性；其中，第一限位组件32包括可位置移动的第一档板321，第一档板321可靠近和远离第一开边，所述第二限位组件33包括可位置移动的第二档板331，第二档板331可靠近和远离第二开边，容纳位311、第一档板321和第二档板331用于围成容纳半导体制冷器件7的容纳腔，从而在水平方向上实现对半导体制冷器件7的前、后、左、右四个方向上的固定和限位，有利于提升半导体制冷器件在定位座31的安装稳定性。

更进一步说明，所述定位装置3还包括第三限位组件34，所述第三限位组件34包括可位置移动的第三档板341，所述第三档板341可靠近和远离所述容纳位311的顶部，所述第三档板341用于抵于半导体制冷器件7的顶部，并将半导体制冷器件7限位于所述容纳腔。

进一步地，定位装置3还包括第三限位组件34，第三限位组件34包括可位置移动的第三档板341，第三档板341可靠近和远离容纳位311的顶部，第三档板341用于抵于半导体制冷器件7的顶部，并将半导体制冷器件7限位于容纳腔，从而实现定位装置3对半导体制冷器件在竖直方向上的固定和限位，更进一步地提升了半导体制冷器件在定位座31的安装稳定性。

优选的，所述第一限位组件32还包括第一驱动件322，所述第一驱动件322的输出端与所述第一档板321相连，所述第一驱动件322用于带动所述第一档板321靠近和远离所述第一开边。

在本技术方案的一个优选实施例中，第一限位组件32还包括第一驱动件322，第一驱动件322的输出端与第一档板321相连，第一驱动件322用于带动第一档板321靠近和远离第一开边，从而实现第一档板的位置移动，结构简单，性能可靠。

进一步说明的是，本技术方案中的第一驱动件322为现有的可实现第一档板321位置移动的驱动器，具体地，本技术方案中的第一驱动件322可为驱动气缸或驱动电机等，在此不作限定。

更进一步说明的是，本技术方案中的第一驱动件322可带动第一档板321水平移动，利用第一档板321的水平移动靠近和远离第一开边；本技术方案中的第一驱动件322也可通过旋转轴带动第一档板321以旋转轴为轴转动，利用第一档板321的转动靠近和远离第一开边，在此不作限定。

优选的，所述第一开边位于所述容纳位311的左侧或右侧，所述定位座31的下部前侧安装有定位条312，所述第一档板321的下部后侧连接有第一移动条3211，所述第一移动条3211安装于所述定位条312，且所述第一移动条3211通过所述第一驱动件322可沿所述定位条312左右移动。

在本技术方案的一个优选实施例中，第一开边位于容纳位311的左侧或右侧，定位座31的下部前侧安装有定位条312，第一档板321的下部后侧连接有第一移动条3211，第一移动条3211安装于定位条312，且第一移动条3211通过第一驱动件322可沿定位条312左右移动，第一档板321利用第一移动条3211在水平方向上沿定位条312的左右移动，实现对第一开边的靠近和远离，本实施例将第一限位组件32的大部分结构隐藏在定位座31的底部，在实现第一档板321限位作用的前提下，有利于减少第一限位组件32在定位装置3中的水平方向上的占用空间，结构合理紧凑。

进一步说明的是，为确保第一移动条3211在定位条312上的平稳移动，本技术方案可在第一移动条3211和定位条312的相对面增设滑动机构，从而提升第一移动条3211的移动稳定性。具体地，本实施例中的滑动机构可以是滑动槽与滑动条相互配合的滑动机构，也可以是滑动轨与滑动轮相互配合的滑动机构等，在此不作限定。

优选的，所述第二限位组件33还包括第二驱动件332，所述第二驱动件332的输出端与所述第二档板331相连，所述第二驱动件332用于带动所述第二档板331靠近和远离所述第二开边。

在本技术方案的一个优选实施例中，第二限位组件33还包括第二驱动件332，第二驱动件332的输出端与第二档板331相连，第二驱动件332用于带动第二档板331靠近和远离第二开边，从而实现第二档板的位置移动，结构简单，性能可靠。

进一步说明的是，本技术方案中的第二驱动件332为现有的可实现第二档板331位置移动的驱动器，具体地，本技术方案中的第二驱动件332可为驱动气缸或驱动电机等，在此不作限定。

更进一步说明的是，本技术方案中的第二驱动件332可带动第二档板331水平移动，利用第二档板331的水平移动靠近和远离第二开边；本技术方案中的第二驱动件332也可通过旋转轴带动第二档板331以旋转轴为轴转动，利用第二档板331的转动靠近和远离第二开边，在此不作限定。

优选的，所述第二开边位于所述容纳位311的前侧或后侧，所述第二限位组件33还包括限位座333和支撑板334；

所述支撑板334可前后移动地安装于所述限位座333的顶部，所述支撑板334用于支撑半导体制冷器件7的导线；所述第二档板331与所述支撑板334一体成型，且所述第二档板331位于所述容纳位311与所述支撑板334之间；所述第二驱动件332安装于所述支撑板334的底部，且所述第二驱动件332的输出端与所述支撑板334相连，所述第二档板331和所述支撑板334通过所述第二驱动件332可在限位座333的顶部前后移动。

在本技术方案的一个优选实施例中，第二开边位于容纳位311的前侧或后侧，第二限位组件33还包括限位座333和支撑板334；具体地，支撑板334可前后移动地安装于限位座333的顶部，支撑板334用于支撑半导体制冷器件7的导线，有利于避免半导体制冷器件的导线在自身重力下的下垂对检测装置4的检测带来不便。需要说明的是，本实施例的支撑板334可设有用于支撑半导体制冷器件7的导线的支撑面或支撑点，便于对导线起到支撑作用，在此不限定；在本技术方案的一个更优实施例中，所述支撑板334设有用于支撑半导体制冷器件7的导线的支撑面，能更有效地对导线起到支撑作用，从而更有利于检测装置4夹取半导体制冷器件7的导线进行电性检测。

具体地，第二档板331与支撑板334一体成型，有利于确保第二档板331和支撑板334之间的连接强度，且第二档板331位于容纳位311与支撑板334之间，当第二档板331靠近第二开边时，可以缩短第二档板331的移动行程，加快半导体制冷器件的定位速度；第二驱动件332安装于支撑板334的底部，且第二驱动件332的输出端与支撑板334相连，第二档板331和支撑板334通过第二驱动件332可在限位座333的顶部前后移动，可有效减少第二限位组件33在定位装置3中水平方向上的占用空间，提升定位装置3的结构紧凑性。

进一步说明的是，为确保支撑板334在限位座333上的平稳移动，本技术方案可在支撑板334和限位座333的接触面增设滑动机构，从而提升支撑板334的移动稳定性。具体地，本实施例中的滑动机构可以是滑动槽与滑动条相互配合的滑动机构，也可以是滑动轨与滑动轮相互配合的滑动机构等，在此不作限定。

优选的，所述第二限位组件33位于所述定位座31的前侧或后侧，且所述第二限位组件33和所述第三限位组件34关于所述定位座31相对设置。

在本技术方案的一个优选实施例中，第二限位组件33和第三限位组件34分别位于定位座31的前后两侧，一方面可以避免第二限位组件33和第三限位组件34对相互的限位动作产生影响，另一方面可以令第二限位组件33和第三限位组件34的限位动作同步进行，从而进一步加快定位装置3的定位速度。

优选的，所述第三限位组件34还包括第三驱动件342和转轴343，所述第三驱动件342的输出端与所述转轴343相连，所述第三档板341固定安装于所述转轴343，且所述第三档板341可通过第三驱动件342以所述转轴343为轴转动，令所述第三档板341与半导体制冷器件的顶部相抵。

在本技术方案的一个优选实施例中，第三限位组件34还包括第三驱动件342和转轴343，第三驱动件342的输出端与转轴343相连，第三档板341固定安装于转轴343，且第三档板341可通过第三驱动件342以转轴343为轴转动，令所述第三档板341与半导体制冷器件的顶部相抵。由于本实施例中的第三限位组件34用于实现定位装置3对半导体制冷器件在竖直方向上的固定和限位，相比起利用第三档板341在竖直方向上的上下移动实现半导体制冷器件在竖直方向上的固定和限位的方式，利用第三档板341的转动实现半导体制冷器件在竖直方向上的固定和限位的方式，一方面更有利于节省定位装置3在竖直方向上的占用空间，同时，也为后续检测装置4和第二抓取装置5的可活动范围预留出更多的活动空间，另一方面，由于本技术方案的容纳位311可适用于不同规格的半导体制冷器件，第三档板341的转动限位，在一定程度上也能有效缩短其限位作用时间，从而更进一步加快定位装置3的定位速度。

进一步说明的是，本技术方案中的第三驱动件342为现有的可实现第三档板341转动的驱动器，具体地，本技术方案中的第三驱动件342可为驱动气缸或驱动电机等，在此不作限定。

更进一步说明的是，本技术方案中第三档板341在转轴343上的固定方式可以有多种，第三档板341可通过其中部开设的卡孔固定套装于转轴343，或通过转轴343侧壁开设的安装槽固定插装于转轴343，或通过卡扣方式固定卡装于转轴343等，在此不作限定。

优选的，所述第三档板341的中部开设有卡孔，所述第三档板341通过所述卡孔固定套装于所述转轴343。

在本技术方案的一个优选实施例中，第三档板341的中部开设有卡孔（图中未显示），第三档板341通过卡孔固定套装于转轴343，该固定安装方式一方面不需要对转轴343进行结构改造，降低设计和生产成本，另一方面可以增大第三档板341与转轴343的接触面积，确保第三驱动件342通过转轴343可实现第三档板341的有效转动。

更进一步说明，所述容纳位311设有多个，且所述第一档板321、所述第二档板331、所述第三档板341的数量与所述容纳位311的数量相等。

在本技术方案的一个优选实施例中，容纳位311设有多个，且第一档板321、第二档板331、第三档板341的数量与容纳位311的数量相等，令定位装置3可以同时实现多个半导体制冷器件的固定和限位，有利于加快检测装置4的检测效率，从而有效加快分类设备的分类效率。

进一步说明的是，本技术方案可以设置多个驱动件，令驱动件与档板一对一对应，实现档板的单独控制和驱动，或令驱动件与档板一对多对应，实现档板的组合控制和驱动；本技术方案也可以设置单一的驱动件，令驱动件实现对与其对应的全部档板的控制和驱动，在此不作限定。

更优选的，所述定位装置3还包括定位台35，所述定位座31、所述第一限位组件32、所述第二限位组件33和所述第三限位组件34均可拆卸地安装于所述定位台35的顶部。

在本技术方案的一个更优实施例中，定位装置3还包括定位台35，定位座31、第一限位组件32、第二限位组件33和第三限位组件34均可拆卸地安装于定位台35的顶部，可通过调整定位台35的高度从而调节定位装置3在分类设备中的实际高度位置，从而更有利于提升分类设备的兼容性和通用性。

更进一步说明，所述检测装置4包括检测移动组件41和夹取件42，所述夹取件42通过所述检测移动组件41可靠近和远离所述定位装置3的上方，所述夹取件42用于夹取位于定位装置3的半导体制冷器件7的导线，并对半导体制冷器件7进行电性检测。

具体地，如图5所示，本技术方案的检测装置4包括检测移动组件41和夹取件42，夹取件42通过检测移动组件41可靠近和远离定位装置3的上方，夹取件42用于夹取位于定位装置3的半导体制冷器件7的导线，并对半导体制冷器件7进行电性检测。

进一步说明的是，本技术方案的检测移动组件41可为水平移动机构或转动机构中的任意一种，从而带动夹取件42以水平移动或转动的方式靠近和远离定位装置3的上方，在此不作限定。

更进一步说明的是，本技术方案的检测移动组件41还可以为多个水平移动机构的组合、多个转动机构的组合或多个水平移动机构与转动机构的组合，从而带动夹取件42进行多方向的水平移动、多轴转动或水平移动与转动结合进行移动的方式，以靠近和远离定位装置3的上方，在此不作限定。

优选的，所述检测移动组件41包括校准移动机构411和夹取移动机构412，所述夹取移动机构412在水平方向可移动地安装于校准移动机构411，所述夹取件42可上下移动地安装于所述夹取移动机构412。

在本技术方案的一个优选实施例中，检测移动组件41包括校准移动机构411和夹取移动机构412，夹取移动机构412在水平方向可移动地安装于校准移动机构411，需要说明的是，夹取移动机构412在水平方向的移动包括但不限于沿分类设备的左右方向往复移动、沿分类设备的前后方向往复移动或在水平方向上的往复摆动的任意一种或多种动作的结合，便于夹取件42可以准确地移动至需要夹取的半导体制冷器件的导线的正上方。进一步地，夹取件42安装于夹取移动机构412，且夹取件42通过夹取移动机构412可上下移动，便于对不同高度或不同定位高度的导线进行夹取，从而提升检测装置4的兼容性和通用性。

更优选的，所述校准移动机构411设置于所述定位装置3的左侧或右侧，所述夹取移动机构412可前后移动地安装于校准移动机构411；

所述夹取件42的数量与半导体制冷器件的导线的数量相等，且一所述夹取件42与一所述导线对应，所述夹取件42位于与其对应的所述导线的上方，所述夹取件42通过所述校准移动机构411可沿限位于所述导线的长度方向往复移动。

在本技术方案的一个更优实施例中，夹取件42可以通过校准移动机构411和夹取移动机构412实现在分类设备中的前后移动和上下移动。具体地，夹取件42的数量与半导体制冷器件的导线数量相等，且夹取件42与导线一一对应设置，有利于提升检测装置4的检测效率，夹取件42位于与其对应的导线上方，夹取件42通过校准移动机构411可沿限位于容纳位311的半导体制冷器件的导线的长度方向往复移动，有利于缩短夹取件42对导线实现夹取动作时的移动行程，从而进一步提升检测装置4的检测效率。

进一步说明的是，本技术方案中的夹取移动机构412可通过滑动机构前后移动地安装于校准移动机构411，本技术方案中的夹取件42也可通过滑动机构上下移动地安装于夹取移动机构412，从而提升夹取移动机构412和夹取件42的移动稳定性。具体地，本实施例中的滑动机构可以是滑动槽与滑动条相互配合的滑动机构，也可以是滑动轨与滑动轮相互配合的滑动机构等，在此不作限定。

更进一步说明的是，本技术方案中设置于夹取移动机构412与校准移动机构411之间的滑动机构，以及设置于夹取件42与夹取移动机构412之间的滑动机构可以通过手动或驱动器驱动的方式实现滑动动作；在本技术方案的一个更优实施例中，上述滑动机构通过驱动器实现滑动，本实施例中的驱动器为现有的可实现滑动机构之间相对滑动的驱动器，可为驱动气缸或驱动电机等，在此不作限定。

更进一步说明，所述夹取件42包括第一导线夹具421和第二导线夹具422，所述第一导线夹具421和所述第二导线夹具422可相向和相背移动，所述第一导线夹具421朝向所述第二导线夹具422的相对面设置有导电端或检测端，所述第二导线夹具422朝向所述第一导线夹具421的相对面设置有对应的检测端或导电端。所述第一导线夹具421和所述第二导线夹具422的相向移动用于夹取半导体制冷器件7的导线，并通过导电端和检测端对半导体制冷器件7进行电性检测。

具体地，本技术方案的夹取件42包括第一导线夹具421和第二导线夹具422，第一导线夹具421和第二导线夹具422可相向和相背移动，第一导线夹具421和第二导线夹具422的相对面设置有发射检测信号的导电端和接收检测信号的检测端；即第一导线夹具421朝向第二导线夹具422的相对面设置有导电端，第二导线夹具422朝向第一导线夹具421的相对面设置有对应的检测端；第一导线夹具421朝向第二导线夹具422的相对面设置有检测端，第二导线夹具422朝向第一导线夹具421的相对面设置有对应的导电端。第一导线夹具421和第二导线夹具422的相向移动用于夹取半导体制冷器件7的导线，并通过导电端和检测端对半导体制冷器件7进行电性检测，第一导线夹具421和第二导线夹具422对导线进行夹紧，有利于一定程度上避免夹取件42与导线的接触不良而导致的无法检测或检测不准的情况。

优选的，所述夹取件42还包括夹取驱动件（图中未显示），所述第一导线夹具421和所述第二导线夹具422通过所述夹取驱动件可相向和相背移动。

夹取驱动件的设置有利于提升第一导线夹具421和第二导线夹具422的移动稳定性和夹取件42的自动化程度。需要说明的是，本技术方案中的夹取驱动件为现有的可实现第一导线夹具421和第二导线夹具422的相向和相背移动的驱动器，具体地，可为驱动气缸或驱动电机等，在此不作限定。

优选的，所述夹取件42还包括夹取安装座423，所述夹取安装座423可上下移动地安装于所述夹取移动机构412，所述第一导线夹具421和所述第二导线夹具422可相向和相背移动地安装于所述夹取安装座423的底部。

在本技术方案的一个优选实施例中，夹取件42还包括夹取安装座423，夹取安装座423可上下移动地安装于夹取移动机构412，第一导线夹具421和第二导线夹具422可相向和相背移动地安装于夹取安装座423的底部。一方面，夹取安装座423的设置，可以有效分开夹取件42在夹取移动机构412的上下移动和第一导线夹具421和第二导线夹具422的相向和相背移动，避免两个移动动作的相互影响而对半导体制冷器件的检测结果带来影响，另一方面，第一导线夹具421和第二导线夹具422可相向和相背移动地安装于夹取安装座423的底部，令第一导线夹具421和第二导线夹具422向下夹取导线，可以为第一导线夹具421和第二导线夹具422的上下移动提供更多的活动空间，从而更有利于分类设备适用于不同规格的半导体制冷器件的检测，更进一步地提升分类设备的兼容性和通用性。

更进一步说明，所述物料存放装置1包括支撑台11、存放支撑板12和存放组件13，所述存放组件13固定于所述存放支撑板12的顶部，所述存放支撑板12可移动地安装于所述支撑台11的顶部，所述存放组件13通过所述存放支撑板12可移动至所述第一抓取装置2的下方。

具体地，如图3所示，本技术方案的物料存放装置1包括支撑台11、存放支撑板12和存放组件13，存放组件13固定于存放支撑板12的顶部，存放支撑板12可移动地安装于支撑台11的顶部，存放组件13通过存放支撑板12可移动至第一抓取装置2的下方，便于缩短第一抓取装置2将半导体制冷器件从物料存放装置1转动至定位装置3的移动行程，从而提升分类设备的分类效率。

进一步说明的是，本技术方案中的支撑台11可与安装第一抓取装置2、定位装置3、检测装置4、第二抓取装置5和/或分类存储装置6的工作台8一体成型，便于生产，降低成本，也可与工作台8独立设置，并安装于工作台8的顶部，有利于根据分类设备中各装置的分布调整物料存放装置1的设置位置。

更进一步说明的是，存放支撑板12的移动方式包括但不限于在水平方向上的平移或转动（类似转盘转动的移动方式），在竖直方向上的上下移动等。在本技术方案的一个优选实施例中，存放支撑板12在水平方向上可移动地安装于支撑台11的顶部，为保证存放支撑板12在支撑台11上的平稳移动，本技术方案可在支撑台11和存放支撑板12之间增设滑动机构，从而提升存放支撑板12的移动稳定性。具体地，本实施例中的滑动机构可以是滑动轨与滑动条相互配合的滑动机构，也可以是滑动槽与滑动轮相互配合的滑动机构等，在此不作限定。

优选的，所述物料存放装置1还包括滑动组件14，所述存放支撑板12通过所述滑动组件14可左右移动地安装于所述支撑台11的顶部。

在本技术方案的一个优选实施例中，存放支撑板12通过滑动组件14可左右移动地安装于支撑台11的顶部，在实现存放支撑板12移动至第一抓取装置2的下方的前提下，有利于减少物料存放装置1的占用空间。

需要说明的是，本技术方案中的滑动组件14是可带动存放支撑板12在支撑台11的顶部左右移动的滑动驱动机构，具体地，滑动驱动机构可以为驱动器与连接杆相互配合的滑动驱动机构、驱动器与导杆、滑动块相互配合的滑动驱动机构、驱动器与滑动条或滑动槽相互配合的滑动驱动机构等，在此不作限定。

更优选的，所述滑动组件14包括滑动驱动件、滑动导杆141和滑环142，所述滑动驱动件的输出端与所述滑环142相连，所述滑环142套装于所述滑动导杆141，且所述滑环142与所述存放支撑板12相连，所述滑环142通过所述滑动驱动件可沿所述滑动导杆141往复移动。

在本技术方案的一个更优实施例中，滑动组件14包括滑动驱动件（图中未显示）、滑动导杆141和滑环142，滑动驱动件的输出端与滑环142相连，滑环142套装于滑动导杆141，且滑环142与存放支撑板12相连，滑环142通过滑动驱动件可沿滑动导杆141往复移动，从而实现存放支撑板12在支撑台11上的平移，结构简单，性能可靠，有利于减少物料存放装置1的占用空间，且能有效缩短存放支撑板12的移动行程，从而有利于提升分类设备的分类效率。

进一步说明的是，本技术方案中的滑动驱动件为现有的可实现滑环142平移的驱动器，可为驱动气缸或驱动电机等，在此不作限定。

更进一步说明，所述存放组件13设有多个存放单元，所述存放单元包括存放架131和分隔条132，所述存放架131开设有多个用于存放半导体制冷器件7的存放槽1311，所述分隔条132靠近所述存放槽1311的槽口设置，且所述分隔条132的两侧与所述存放槽1311之间留有分隔间隙。优选的，所述分隔条132的数量与所述存放槽1311的数量相同，一所述分隔条132和一所述存放槽1311对应设置，更有利于避免多条导线的交错缠绕。

更进一步地，本技术方案中的存放组件13设有多个存放单元，有利于加快分类设备的上料速度，从而提升半导体制冷器件的检测和分类效率；存放单元包括存放架131和分隔条132，存放架131开设有多个用于存放半导体制冷器件7的存放槽1311，分隔条132靠近存放槽1311的槽口设置，且分隔条132的两侧与存放槽1311之间留有分隔间隙，分隔间隙可以将半导体制冷器件7的导线进行分隔，避免多条导线的交错缠绕，从而影响第一抓取装置2的对半导体制冷器件7的抓取。

更进一步说明，所述第一抓取装置2包括第一移动组件21和第一抓取件22，所述第一抓取件22安装于所述第一移动组件21，所述第一移动组件21用于驱动所述第一抓取件22在所述分类设备的移动；

所述第二抓取装置5包括第二移动组件51和第二抓取件52，所述第二抓取件52安装于所述第二移动组件51，所述第二移动组件51用于驱动所述第二抓取件52在所述分类设备的移动。

具体地，如图4所示，第一抓取装置2包括第一移动组件21和第一抓取件22，所述第一抓取件22安装于第一移动组件21，第一移动组件21用于驱动第一抓取件22在分类设备的移动。如图9所示，第二抓取装置5包括第二移动组件51和第二抓取件52，第二抓取件52安装于第二移动组件51，第二移动组件51用于驱动第二抓取件52在分类设备的移动。

需要说明的是，本技术方案中第一抓取件22通过第一移动组件21实现在分类设备的移动，以及第二抓取件52通过第二移动组件51实现在分类设备的移动，可以为水平方向上的前后平移、水平方向上的左右平移、水平方向上的转动、竖直方向上的上下平移或竖直方向上的转动中的任意一种或多种的结合；本技术方案中的第一抓取件22和第二抓取件52为可用于抓取半导体制冷器件的抓取机构，可以为抓取夹具或吸盘等，在此不限定。

进一步说明的是，本技术方案的第一移动组件21和第二移动组件51可为水平移动机构或转动机构中的任意一种，从而带动第一抓取件22和第二抓取件52以平移或转动的方式进行移动，在此不作限定。

更进一步说明的是，本技术方案的第一移动组件21和第二移动组件51还可以为多个水平移动机构的组合、多个转动机构的组合或多个水平移动机构与转动机构的组合，从而带动夹取件42进行多方向的平移、多轴转动或平移与转动结合进行移动的方式进行移动，在此不作限定。

优选的，所述第一移动组件21包括第一移动机构211和取料移动机构212，所述取料移动机构212在水平方向可移动地安装于所述第一移动机构211，所述第一抓取件22可上下移动地安装于所述取料移动机构212。

在本技术方案的一个优选实施例中，第一移动组件21包括第一移动机构211和取料移动机构212，取料移动机构212在水平方向可移动地安装于第一移动机构211，需要说明的是，取料移动机构212在水平方向的移动包括但不限于沿分类设备的左右方向往复移动、沿分类设备的前后方向往复移动或在水平方向上的往复摆动的任意一种或多种动作的结合，便于第一抓取件22可以准确地移动至物料存放装置1中需要抓取的半导体制冷器件的导线的正上方。进一步地，第一抓取件22安装于取料移动机构212，且第一抓取件22通过取料移动机构212可上下移动，便于对不同高度位置的半导体制冷器件进行抓取。

更优选的，所述第一移动机构211和所述校准移动机构411分别设置于所述定位装置3的左右两侧，所述取料移动机构212可前后移动地安装于第一移动机构211；

所述第一抓取件22的数量与所述容纳位311的数量相等，且一所述第一抓取件22与一所述容纳位311对应，所述第一抓取件22位于与其对应的所述容纳位311的上方，所述第一抓取件22通过所述第一移动机构211可沿限位于所述容纳位311的半导体制冷器件的导线的长度方向往复移动。

在本技术方案的一个更优实施例中，第一移动机构211和校准移动机构411分别设置于定位装置3的左右两侧，结构紧凑，有利于减少分类设备的占用空间；第一抓取件22可以通过第一移动机构211和取料移动机构212实现在分类设备中的前后移动和上下移动。具体地，第一抓取件22的数量与容纳位311的数量相等，且第一抓取件22与容纳位311一一对应设置，有利于提升第一抓取装置2的上料速度，第一抓取件22位于与其对应的容纳位311的上方，第一抓取件22通过第一移动机构211可沿限位于容纳位311的半导体制冷器件的导线的长度方向往复移动，有利于缩短第一抓取件22实现上料动作时的移动行程，从而进一步提升第一抓取装置2的上料速度。

进一步说明的是，本技术方案中的取料移动机构212可通过滑动机构前后移动地安装于第一移动机构211，本技术方案中的第一抓取件22也可通过滑动机构上下移动地安装于取料移动机构212，从而提升取料移动机构212和第一抓取件22的移动稳定性。具体地，本实施例中的滑动机构可以是滑动槽与滑动条相互配合的滑动机构，也可以是滑动轨与滑动轮相互配合的滑动机构等，在此不作限定。

更进一步说明的是，本技术方案中设置于取料移动机构212与第一移动机构211之间的滑动机构，以及设置于第一抓取件22与取料移动机构212之间的滑动机构可以通过手动或驱动器驱动的方式实现滑动动作；在本技术方案的一个更优实施例中，上述滑动机构通过驱动器实现滑动，本实施例中的驱动器为现有的可实现滑动机构之间相对滑动的驱动器，可为驱动气缸或驱动电机等，在此不作限定。

优选的，所述第一移动组件21还包括抓取安装板213，所述抓取安装板213可上下移动地安装于所述取料移动机构212，所述第一抓取件22安装于所述抓取安装板213的底部。

在本技术方案的一个优选实施例中，第一移动组件21还包括抓取安装板213，抓取安装板213可上下移动地安装于取料移动机构212，第一抓取件22安装于抓取安装板213的底部。一方面，抓取安装板213的设置，可以有效分开第一抓取件22在取料移动机构212的上下移动和第一抓取件22的取料动作，避免两个动作的相互影响，另一方面，第一抓取件22安装于抓取安装板213的底部，令第一抓取件22从存放槽1311的顶部取料，可以为第一抓取件22的上下移动提供更多的活动空间。

优选的，所述第二移动组件51包括前后移动机构511、左右移动机构512和上下移动机构513，所述左右移动机构512可前后移动地安装于所述前后移动机构511，所述上下移动机构513可左右移动地安装于所述左右移动机构512，所述第二抓取件52可上下移动地安装于所述上下移动机构513。

在本技术方案的一个优选实施例中，第二抓取件52通过前后移动机构511、左右移动机构512和上下移动机构513可沿分类设备的前后方向、左右方向和上下方向平移，相比起转动的移动方式，有利于加快分类效率，同时，便于第二抓取件52准确地将半导体制冷器件7放置在与其对应的分类槽61中，有利于提升分类精确度。

进一步说明的是，本技术方案中的左右移动机构512可通过滑动机构前后移动地安装于前后移动机构511，本技术方案中的上下移动机构513可通过滑动机构左右移动地安装于左右移动机构512，本技术方案中的第二抓取件52也可通过滑动机构上下移动地安装于上下移动机构513，从而提升第二移动组件51的移动稳定性。具体地，本实施例中的滑动机构可以是滑动槽与滑动条相互配合的滑动机构，也可以是滑动轨与滑动轮相互配合的滑动机构等，在此不作限定。且本技术方案中的滑动机构可以通过手动或驱动器驱动的方式实现滑动动作；在本技术方案的一个更优实施例中，上述滑动机构通过驱动器实现滑动，本实施例中的驱动器为现有的可实现滑动机构之间相对滑动的驱动器，可为驱动气缸或驱动电机等，在此不作限定。

更优选的，所述上下移动机构513和所述第二抓取件52均设置有多个，且所述上下移动机构513的数量和所述第二抓取件52的数量相等，一所述上下移动机构513对应设置有一所述第二抓取件52。

在本技术方案的一个更优实施例中，上下移动机构513和第二抓取件52均设置有多个，且上下移动机构513和第二抓取件52一一对应，有利于提升第二抓取装置5的分类效率。

进一步说明的是，本技术方案中的上下移动机构513可沿左右移动机构512同步移动或独立移动，第二抓取件52可沿上下移动机构513同步移动或独立移动。当本技术方案中的上下移动机构513和第二抓取件52均相对独立移动时，更有利于提升第二抓取装置5的分类效率。

本技术方案还提出了一种半导体制冷器件的分类检测方法，使用上述半导体制冷器件的分类设备，包括以下步骤：

（1）获取定位装置3的半导体制冷器件放置信号；

（2）根据半导体制冷器件放置信号，判断是否向检测装置4发送检测控制指令；若是，令检测装置4根据检测控制指令，夹取半导体制冷器件7的导线，并使检测装置4与导线建立电性连接关系；

（3）向检测装置4发送通电控制指令，并通过检测装置4获取半导体制冷器件的电性参数检测结果；

（4）将电性参数检测结果与预存的电性参数区间范围进行比对，根据比对结果获取半导体制冷器件的分类等级信息；

（5）根据分类等级信息，生成分类控制指令，并向第二抓取装置5发送分类控制指令，令第二抓取装置5根据分类控制指令将半导体制冷器件转运至分类存储装置6中与分类等级信息对应的存储区域，实现对半导体制冷器件7的等级分类。

本技术方案提出的一种半导体制冷器件的分类检测方法，其流程图如图10所示，有利于提升半导体制冷器件的分类效率，以及确保半导体制冷器件的准确分类，给半导体制冷器件的生产加工带来便利。需要说明的是，本技术方案中分类检测方法的步骤可以由分类设备中的控制器进行执行，还可以由外设控制装置进行执行，在此不作限定。

优选的，步骤（2）的具体步骤可以为：根据半导体制冷器件放置信号，判断是否向检测装置4发送检测控制指令；若是，令检测装置4根据检测控制指令，驱动第一导线夹具421和第二导线夹具422相向移动并夹取半导体制冷器件7的导线，并使位于第一导线夹具421和第二导线夹具422的相对面的导电端和检测端与导线建立电性连接关系。

优选的，步骤（4）的具体步骤可以为：根据半导体制冷器件的分类需求划分并存储电性参数的区间范围，将电性参数检测结果与预存的电性参数区间范围进行比对，根据比对结果，通过查表方式，获取半导体制冷器件的分类等级信息。

优选的，步骤（4）和步骤（5）之间还包括分类存储装置6的等级位置划分步骤，将分类存储装置6的存储区域进行划分，并使预存的每一分类等级信息与每一存储区域相互对应，每一存储区域的分类槽61可设有一个或多个，令将半导体制冷器件转运至分类存储装置6中与分类等级信息对应的存储区域，实现对半导体制冷器件7的等级分类。

需要说明的是，本技术方案中的分类等级信息即对应存储区域的身份信息，且分类等级信息包括但不限于半导体制冷器件的电性参数。

更优选的，本技术方案还可将分类存储装置6划分出故障存储区域，且该故障存储区域与分类等级信息均不对应，可利用故障存储区域存放电性参数检测结果没有落在预存电性参数区间范围的半导体制冷器件，以及存放因接触不良检测装置4无法检测相关电性参数的半导体制冷器件等。

以上结合具体实施例描述了本发明的技术原理。这些描述只是为了解释本发明的原理，而不能以任何方式解释为对本发明保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本发明的其它具体实施方式，这些方式都将落入本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种半导体制冷器件的分类设备，其特征在于：包括物料存放装置、第一抓取装置、定位装置、检测装置、第二抓取装置、分类存储装置和控制器；

所述控制器分别电联接于所述定位装置、所述检测装置和所述第二抓取装置，所述第一抓取装置用于将存放于所述物料存放装置的半导体制冷器件转运至所述定位装置，所述检测装置用于对位于所述定位装置的半导体制冷器件进行电性检测，所述第二抓取装置用于根据电性检测结果将半导体制冷器件转运至所述分类存储装置，所述分类存储装置用于对半导体制冷器件根据所述电性检测结果进行分类存储；

所述定位装置包括定位座、第一限位组件和第二限位组件，所述定位座设有容纳位，且所述容纳位设有相邻的第一开边和第二开边；

所述第一限位组件包括可位置移动的第一档板，所述第一档板可靠近和远离所述第一开边，所述第二限位组件包括可位置移动的第二档板，所述第二档板可靠近和远离所述第二开边，所述容纳位、所述第一档板和所述第二档板用于围成容纳半导体制冷器件的容纳腔；

所述第二限位组件还包括限位座和支撑板；所述支撑板可前后移动地安装于所述限位座的顶部，所述支撑板用于支撑半导体制冷器件的导线；所述第二档板与所述支撑板一体成型，且所述第二档板位于所述容纳位与所述支撑板之间；

所述定位装置还包括第三限位组件，所述第三限位组件包括可位置移动的第三档板，所述第三档板可靠近和远离所述容纳位的顶部，所述第三档板用于抵于半导体制冷器件的顶部，并将半导体制冷器件限位于所述容纳腔；

所述检测装置包括检测移动组件和夹取件，所述夹取件通过所述检测移动组件可靠近和远离所述定位装置的上方，所述夹取件用于夹取位于定位装置的半导体制冷器件的导线，并对半导体制冷器件进行电性检测；

所述夹取件包括第一导线夹具和第二导线夹具，所述第一导线夹具和所述第二导线夹具可相向和相背移动，所述第一导线夹具朝向所述第二导线夹具的相对面设置有导电端或检测端，所述第二导线夹具朝向所述第一导线夹具的相对面设置有对应的检测端或导电端，所述第一导线夹具和所述第二导线夹具的相向移动用于夹取半导体制冷器件的导线，并通过导电端和检测端对半导体制冷器件进行电性检测。

2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷器件的分类设备，其特征在于：所述容纳位设有多个，且所述第一档板、所述第二档板、所述第三档板的数量与所述容纳位的数量相等。

3.根据权利要求1所述的一种半导体制冷器件的分类设备，其特征在于：所述物料存放装置包括支撑台、存放支撑板和存放组件，所述存放组件固定于所述存放支撑板的顶部，所述存放支撑板可移动地安装于所述支撑台的顶部，所述存放组件通过所述存放支撑板可移动至所述第一抓取装置的下方。

4.根据权利要求3所述的一种半导体制冷器件的分类设备，其特征在于：所述存放组件设有多个存放单元，所述存放单元包括存放架和分隔条，所述存放架开设有多个用于存放半导体制冷器件的存放槽，所述分隔条靠近所述存放槽的槽口设置，且所述分隔条的两侧与所述存放槽之间留有分隔间隙。

5.根据权利要求1所述的一种半导体制冷器件的分类设备，其特征在于：所述第一抓取装置包括第一移动组件和第一抓取件，所述第一抓取件安装于所述第一移动组件，所述第一移动组件用于驱动所述第一抓取件在所述分类设备的移动；

所述第二抓取装置包括第二移动组件和第二抓取件，所述第二抓取件安装于所述第二移动组件，所述第二移动组件用于驱动所述第二抓取件在所述分类设备的移动。

6.一种半导体制冷器件的分类检测方法，其特征在于，使用权利要求1至5任意一项所述的半导体制冷器件的分类设备，包括以下步骤：

（1）获取定位装置的半导体制冷器件放置信号；

（2）根据半导体制冷器件放置信号，判断是否向检测装置发送检测控制指令；若是，令检测装置根据检测控制指令，夹取半导体制冷器件的导线，并使检测装置与导线建立电性连接关系；

（3）向检测装置发送通电控制指令，并通过检测装置获取半导体制冷器件的电性参数检测结果；

（4）将电性参数检测结果与预存的电性参数区间范围进行比对，根据比对结果获取半导体制冷器件的分类等级信息；

（5）根据分类等级信息，生成分类控制指令，并向第二抓取装置发送分类控制指令，令第二抓取装置根据分类控制指令将半导体制冷器件转运至分类存储装置中与分类等级信息对应的存储区域，以对半导体制冷器件进行等级分类。

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