CN113484589A - 一种带有磁滞功能的掉电检测电路及控制系统 - Google Patents
一种带有磁滞功能的掉电检测电路及控制系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113484589A CN113484589A CN202110739161.2A CN202110739161A CN113484589A CN 113484589 A CN113484589 A CN 113484589A CN 202110739161 A CN202110739161 A CN 202110739161A CN 113484589 A CN113484589 A CN 113484589A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- circuit
- voltage
- resistor
- hysteresis
- reference voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 63
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000004146 energy storage Methods 0.000 description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 4
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 235000019800 disodium phosphate Nutrition 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
本发明涉及掉电检测技术,公开了一种带有磁滞功能的掉电检测电路及控制系统,其包括分压电路、磁滞控制电路、基准电压电路和比较电路;分压电路用于设置掉电检测电压和磁滞电压;基准电压电路用于产生基准电压;比较电路用于比较分压电路的采样电压与基准电压电路的基准电压,并将比较的结果传送至磁滞控制电路,磁滞控制电路依据检测的电压进行控制。本发明通过在掉电检测电压阀值附近引入磁滞反馈,避免掉电检测信号在掉电检测电压值附近抖动,保证控制系统能够正确的检测到掉电信号,以保证掉电流程的顺利执行,提高系统的可靠性;通过调整电阻R1、R2、R3的阻值,灵活的设置掉电检测电压和磁滞电压,以适应不同系统、不同环境的应用。
Description
技术领域
本发明涉及掉电检测技术,尤其涉及了一种带有磁滞功能的掉电检测电路及控制系统。
背景技术
随着消费者对电子产品的性能、智能化的要求越来越高,电子产品的集成度也越来越复杂,CPU、MPU、FPGA、DSP被大量的应用于电子产品中,这些复杂的集成电路通常对系统的上下电时序有严格的要求,如果上电时序不对,系统有可能无法启动,所以大多数工程师都能做到正确的上电时序,下电时序通常被大多数工程师忽略,但是下电时序不对,严重的有损坏芯片的风险。
要正确控制下电时序,首先要提前检测到系统掉电信号,在系统停止工作前完成下电操作。
如果掉电检测信号出现抖动,控制系统就会误判状态,导致在真正掉电事件发生时,系统功耗没有得到有效控制,储能电路的能量被系统快速消耗,待掉电电路稳定输出有效信号时,储能电路里剩余的能量就不足以完成剩下的操作,就会造成关键数据丢失、下电时序失控,严重时有可能损坏芯片。
例如专利名称,一种处理器掉电时序控制系统及方法;专利申请号:CN201610647629.4;申请日为:2016-08-09;专利中记载了通过掉电检测电路实时检测处理器的供电电压,当供电电压低于预设阈值时,产生掉电触发信号;掉电控制电路与掉电检测电路相连,接收掉电触发信号后,经预设逻辑处理,将处理器控制在固定功耗的预设状态,以控制处理器内核电压的掉电速度。
现有技术中当供电电源电压跌落到小于检测电压VDET时,输出低电平的掉电信号,但是实际掉电信号是有干扰存在的,同时因为负载的不同,掉电波形也是多种多样的,造成的结果就是掉电检测信号在检测电压VDET附近会出现抖动。
发明内容
本发明针对现有技术掉电检测电路中,当供电电源电压跌落到小于检测电压VDET时,输出低电平的掉电信号,但是实际掉电信号是有干扰存在的,同时因为负载的不同,掉电波形也是多种多样的,造成的结果就是掉电检测信号在检测电压VDET附近会出现抖动,缺点,提供了一种带有磁滞功能的掉电检测电路及控制系统。
为了解决上述技术问题,本发明通过下述技术方案得以解决:
一种带有磁滞功能的掉电检测电路,包括分压电路、磁滞控制电路、基准电压电路和比较电路;
分压电路用于设置掉电检测电压和磁滞电压;基准电压电路用于产生基准电压;比较电路用于比较分压电路的采样电压与基准电压电路的基准电压,并将比较的结果传送至磁滞控制电路,磁滞控制电路依据检测的电压进行控制。
通过设有磁滞控制电路,从而磁滞电压根据设计需求和应用环境灵活调整,使得输出的掉电检测信号是真实有效且无抖动的,以保证每次的掉电处理流程都能准确执行。
作为优选,还包括输出电路,比较电路输出的比较结果传送至输出电路。
作为优选,分压电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3,电阻R1一端与VIN连接,另一端与电阻R2连接,电阻R2的另一端与电阻R3连接,电阻R3的另外一端接GND;
磁滞控制电路包括电阻R3和MOS管Q2,电阻R3的一端与MOS管Q2的漏极连接,MOS管Q2源极接地,MOS管Q2的栅极与比较器U1的输出脚相连;
基准电压电路包括电阻R4和并联基准电压源U2,电阻R4的一端与电源相连,电阻R4的另外一端与基准电压芯片U2的基准电压端相连,基准电压芯片U2的另外一端接GND;
比较电路包括电压比较器U1和电容C2;电压比较器U1输入端正极与基准电压源U2的基准电压端连接,电压比较器U1输入端负极与电阻R1的非电源端连接;
电容C2一端接地,另一端与电压比较器U1的电源端连接;电压比较器U1的接地端接地;电压比较器U1的输出端与MOS管Q2的栅极连接。
作为优选,输出电路包括电阻R5、电阻R6和MOS管Q1;电阻R5一端接地,另一端与MOS管Q1的栅极连接;电阻R6一端连接电源,另一端与MOS管Q1的漏极连接;MOS管Q1的源极接地。通过改变输出电路电阻R6上端的供电电压,用以适配不同的控制系统。
作为优选,还包括储能电路和供电电源,储能电路与供电电源并联;储能电路包括电容C1。储能电路用于存储能量,电源掉瞬间保证能量供给。
作为优选,并联基准电压源U2包括AD1580。通过采用AD1580基准电压源芯片,其基准优化性能更好。
一种带有磁滞功能的掉电检测的控制系统,包括带有磁滞功能的掉电检测电路。
本发明由于采用了以上技术方案,具有显著的技术效果:
通过设有磁滞控制电路,从而磁滞电压根据设计需求和应用环境灵活调整,使得输出的掉电检测信号是真实有效且无抖动的,以保证每次的掉电处理流程都能准确执行。
在掉电检测电路中引入磁滞电压的方式,解决了常规掉电检测电路在掉电电压阀值点抖动的问题,使得控制系统能够准确的执行掉电处理流程,提高系统的可靠性、稳定性,降低系统维护成本。另外掉电检测电压和磁滞电压可根据分压电阻灵活设置,极大的提高了发明的应用范围。
附图说明
图1是本发明的系统图。
图2是本发明的电路原理图。
图3是本发明的电路特性波形图。
图4是本发明的电路仿真图。
图5是本发明的电路仿真结果图。
具体实施方式
下面结合附图与实施例对本发明作进一步详细描述。
实施例1
一种带有磁滞功能的掉电检测电路,包括分压电路、磁滞控制电路、基准电压电路和比较电路;
分压电路用于设置掉电检测电压和磁滞电压;基准电压电路用于产生基准电压;比较电路用于比较分压电路的采样电压与基准电压电路的基准电压,并将比较的结果传送至磁滞控制电路,磁滞控制电路依据检测的电压进行控制。
通过设有磁滞控制电路,从而磁滞电压根据设计需求和应用环境灵活调整,使得输出的掉电检测信号是真实有效且无抖动的,以保证每次的掉电处理流程都能准确执行。
分压电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3,电阻R1一端与VIN连接,另一端与电阻R2连接,电阻R2的另一端与电阻R3连接,电阻R3的另外一端接GND;
磁滞控制电路包括电阻R3和MOS管Q2,电阻R3的一端与MOS管Q2的漏极连接,MOS管Q2源极接地,MOS管Q2的栅极与比较器U1的输出脚相连;
基准电压电路包括电阻R4和并联基准电压源U2,电阻R4的一端与电源相连,电阻R4的另外一端与基准电压芯片U2的基准电压端相连,基准电压芯片U2的另外一端接GND;
比较电路包括电压比较器U1和电容C2;电压比较器U1输入端正极与基准电压源U2的基准电压端连接,电压比较器U1输入端负极与电阻R1的非电源端连接;
电容C2一端接地,另一端与电压比较器U1的电源端连接;电压比较器U1的接地端接地;电压比较器U1的输出端与MOS管Q2的栅极连接。
实施例2
在实施例1基础上,本实施例还包括输出电路,比较电路输出的比较结果传送至输出电路。还包括储能电路和供电电源,储能电路与供电电源并联;储能电路包括电容C1。储能电路用于存储能量,电源掉瞬间保证能量供给。
并联基准电压源U2为AD1580。通过采用AD1580基准电压源芯片,其基准优化性能更好。
输出电路包括电阻R5、电阻R6和MOS管Q1;电阻R5一端接地,另一端与MOS管Q1的栅极连接;电阻R6一端连接电源,另一端与MOS管Q1的漏极连接;MOS管Q1的源极接地。通过改变输出电路电阻R6上端的供电电压,用以适配不同的控制系统。
实施例3
在上述实施例基础上,本实施例在供电电源刚开始上电的瞬间,电压比较器U1的1脚电压大于3脚电压,比较器的4脚输出高电平,输出MOS管Q1导通,输出信号VEN为低电平,同时磁滞控制MOS管Q2导通,电阻R3被短接,电阻R2与R1分压后的电压被送至电压比较器U1的3脚,因此上电过程中的检测电压VDET_ON的计算公式如下;
公式中,VDET_ON为上电时的检测电压;VREF为基准芯片U2的基准电压;R1,R2为设置掉电检测电压的分压电阻。
在电源开始掉电以前,电压比较器U1的1脚电压小于电压比较器U1的3脚电压,电压比较器U1的4脚输出低电平,输出MOS管Q1关闭,输出信号VEN为高电平,同时磁滞控制MOS管Q2关闭,电阻R2、R3与R1分压后的电压被送至比较器U1的3脚,因此下电过程中的检测电压VDET_OFF的计算公式如下:
公式中,VDET_OFF为下电时的检测电压;VREF为基准芯片U2的基准电压;R1,R2、R3为设置掉电检测电压的分压电阻;掉电检测电路的磁滞电压ΔVDET计算公式为:
ΔVDET=VDET_ON-VDET_OFF
其电路特性如附图3,上电过程中,当电源电压上升到VDET_ON时,掉电检测电路的输出信号VEN由VOL变为VOH;下电过程中,当电源电压下降到VDET_OFF时,掉电检测电路的输出信号VEN由VOH变为VOL;VDET_ON和VDET_OFF之间的差值为磁滞电压ΔVDET,根据应用环境合理的设置掉电检测电压和阀值电压,避免掉电检测信号在掉电电压附近抖动,实现掉电检测信号可靠的输出,保证掉电流程的顺利执行。
实施例4
在上述实施例基础上,本实施例供电电源为12V;
系统供电电压:VDC=12.0V;掉电检测电压:VDET_OFF=6.0V;磁滞电压:ΔVDET=0.5V
由磁滞电压公式计算出:VDET_ON=6.5V。由VDET_ON和VDET_OFF的计算公式整理出分压电阻R1、R2、R3的关系如下:
基准电压芯片选择ADI公司的AD1580,基准电压VREF等于1.225V,电阻R1取20KΩ,由上面公式计算R2、R3的值:R2=4.6445KΩ;R3=486.34,R2、R3取最接近的实际电阻值:R2=4.7KΩ;R3=470Ω。
将R1、R2、R3的电阻值重新代入上电检测电压、下电检测电压、磁滞电压的计算公式中,可以计算出:VDET_ON=6.438V;VDET_OFF=5.964V;ΔVDET=0.474V,满足预设的设计目标。
根据以上的计算结果,建立电路仿真文件,如附图4所示;电路仿真结果VDET_ON=6.437V;VDET_ON=5.958V,与设计结果基本一致,如附图5所示。
实施例5
一种带有磁滞功能的掉电检测的控制系统,包括上述实施例的带有磁滞功能的掉电检测电路。
Claims (7)
1.一种带有磁滞功能的掉电检测电路,其特征在于,包括分压电路、磁滞控制电路、基准电压电路和比较电路;
分压电路用于设置掉电检测电压和磁滞电压;基准电压电路用于产生基准电压;比较电路用于比较分压电路的采样电压与基准电压电路的基准电压,并将比较的结果传送至磁滞控制电路,磁滞控制电路依据检测的电压进行控制。
2.根据权利要求1所述的一种带有磁滞功能的掉电检测电路,其特征在于,还包括输出电路,比较电路输出的比较结果传送至输出电路。
3.根据权利要求1所述的一种带有磁滞功能的掉电检测电路,其特征在于,分压电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3,电阻R1一端与VIN连接,另一端与电阻R2连接,电阻R2的另一端与电阻R3连接,电阻R3的另外一端接GND;
磁滞控制电路包括电阻R3和MOS管Q2,电阻R3的一端与MOS管Q2的漏极连接,MOS管Q2源极接地,MOS管Q2的栅极与比较器U1的输出脚相连;
基准电压电路包括电阻R4和并联基准电压源U2,电阻R4的一端与电源相连,电阻R4的另外一端与基准电压芯片U2的基准电压端相连,基准电压芯片U2的另外一端接GND;
比较电路包括电压比较器U1和电容C2;电压比较器U1输入端正极与基准电压源U2的基准电压端连接,电压比较器U1输入端负极与电阻R1的非电源端连接;
电容C2一端接地,另一端与电压比较器U1的电源端连接;电压比较器U1的接地端接地;电压比较器U1的输出端与MOS管Q2的栅极连接。
4.根据权利要求2所述的一种带有磁滞功能的掉电检测电路,其特征在于,输出电路包括电阻R5、电阻R6和MOS管Q1;电阻R5一端接地,另一端与MOS管Q1的栅极连接;电阻R6一端连接电源,另一端与MOS管Q1的漏极连接;MOS管Q1的源极接地。
5.根据权利要求1所述的一种带有磁滞功能的掉电检测电路,其特征在于,还包括储能电路和供电电源,储能电路与供电电源并联;储能电路包括电容C1。
6.根据权利要求3所述的一种带有磁滞功能的掉电检测电路,其特征在于,并联基准电压源U2包括AD1580。
7.一种带有磁滞功能的掉电检测的控制系统,其特征在于,包括权利要求1-6任一所述的带有磁滞功能的掉电检测电路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110739161.2A CN113484589A (zh) | 2021-06-30 | 2021-06-30 | 一种带有磁滞功能的掉电检测电路及控制系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110739161.2A CN113484589A (zh) | 2021-06-30 | 2021-06-30 | 一种带有磁滞功能的掉电检测电路及控制系统 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113484589A true CN113484589A (zh) | 2021-10-08 |
Family
ID=77937098
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110739161.2A Pending CN113484589A (zh) | 2021-06-30 | 2021-06-30 | 一种带有磁滞功能的掉电检测电路及控制系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113484589A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115561671A (zh) * | 2022-04-29 | 2023-01-03 | 荣耀终端有限公司 | 掉电检测电路和显示设备 |
Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63238566A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-04 | Fuji Elelctrochem Co Ltd | 交流入力電圧検出方法 |
JPH10197572A (ja) * | 1997-01-07 | 1998-07-31 | Nissan Motor Co Ltd | ヒステリシスコンパレータ |
JPH10209823A (ja) * | 1997-01-16 | 1998-08-07 | Nec Eng Ltd | ヒステリシスコンパレータ |
JP2003215176A (ja) * | 2002-01-22 | 2003-07-30 | Osaki Electric Co Ltd | 停復電検出装置 |
JP2007097251A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Mitsumi Electric Co Ltd | チャージポンプ式ledドライバおよびチャージポンプ回路の制御方法 |
CN101197563A (zh) * | 2006-12-08 | 2008-06-11 | 英业达股份有限公司 | 应用于比较器的磁滞电路及其放大器电路 |
CN101218735A (zh) * | 2005-07-11 | 2008-07-09 | 罗姆股份有限公司 | 降压型开关调节器及其控制电路、使用了它的电子设备 |
JP2009134983A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Seiko Epson Corp | 放電灯点灯装置及びプロジェクタ |
CN101871963A (zh) * | 2010-05-28 | 2010-10-27 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 电源电压检测电路 |
CN103138716A (zh) * | 2013-01-31 | 2013-06-05 | 深圳威迈斯电源有限公司 | 一种掉电触发的单稳态保护电路 |
CN205015387U (zh) * | 2015-09-29 | 2016-02-03 | 龙威国际有限公司 | 一种抗干扰低电压检测芯片 |
CN105445529A (zh) * | 2014-07-28 | 2016-03-30 | 无锡华润上华半导体有限公司 | 具有时序控制功能的掉电检测电路 |
CN205594056U (zh) * | 2016-02-26 | 2016-09-21 | 上海太矽电子科技有限公司 | 抗干扰低电压检测装置 |
CN206074715U (zh) * | 2016-01-09 | 2017-04-05 | 惠州市物联微电子有限公司 | 一种直流掉电检测电路 |
CN206331020U (zh) * | 2016-08-12 | 2017-07-14 | 上海太矽电子科技有限公司 | 抗干扰延时可控的低电压检测装置 |
WO2017201658A1 (zh) * | 2016-05-23 | 2017-11-30 | 深圳市锐明技术股份有限公司 | 一种设备掉电保护电路 |
CN206948673U (zh) * | 2017-07-26 | 2018-01-30 | 无锡麟力科技有限公司 | 一种防止下电回闪的buck 型led 驱动电路 |
CN110868199A (zh) * | 2019-11-04 | 2020-03-06 | 宁波大学 | 一种上电长延时保护电路 |
CN211928411U (zh) * | 2020-04-24 | 2020-11-13 | 中国电子科技集团公司第四十三研究所 | 一种多路电源上电掉电时序控制电路 |
-
2021
- 2021-06-30 CN CN202110739161.2A patent/CN113484589A/zh active Pending
Patent Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63238566A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-04 | Fuji Elelctrochem Co Ltd | 交流入力電圧検出方法 |
JPH10197572A (ja) * | 1997-01-07 | 1998-07-31 | Nissan Motor Co Ltd | ヒステリシスコンパレータ |
JPH10209823A (ja) * | 1997-01-16 | 1998-08-07 | Nec Eng Ltd | ヒステリシスコンパレータ |
JP2003215176A (ja) * | 2002-01-22 | 2003-07-30 | Osaki Electric Co Ltd | 停復電検出装置 |
CN101218735A (zh) * | 2005-07-11 | 2008-07-09 | 罗姆股份有限公司 | 降压型开关调节器及其控制电路、使用了它的电子设备 |
JP2007097251A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Mitsumi Electric Co Ltd | チャージポンプ式ledドライバおよびチャージポンプ回路の制御方法 |
CN101197563A (zh) * | 2006-12-08 | 2008-06-11 | 英业达股份有限公司 | 应用于比较器的磁滞电路及其放大器电路 |
JP2009134983A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Seiko Epson Corp | 放電灯点灯装置及びプロジェクタ |
CN101871963A (zh) * | 2010-05-28 | 2010-10-27 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 电源电压检测电路 |
CN103138716A (zh) * | 2013-01-31 | 2013-06-05 | 深圳威迈斯电源有限公司 | 一种掉电触发的单稳态保护电路 |
CN105445529A (zh) * | 2014-07-28 | 2016-03-30 | 无锡华润上华半导体有限公司 | 具有时序控制功能的掉电检测电路 |
CN205015387U (zh) * | 2015-09-29 | 2016-02-03 | 龙威国际有限公司 | 一种抗干扰低电压检测芯片 |
CN206074715U (zh) * | 2016-01-09 | 2017-04-05 | 惠州市物联微电子有限公司 | 一种直流掉电检测电路 |
CN205594056U (zh) * | 2016-02-26 | 2016-09-21 | 上海太矽电子科技有限公司 | 抗干扰低电压检测装置 |
WO2017201658A1 (zh) * | 2016-05-23 | 2017-11-30 | 深圳市锐明技术股份有限公司 | 一种设备掉电保护电路 |
CN206331020U (zh) * | 2016-08-12 | 2017-07-14 | 上海太矽电子科技有限公司 | 抗干扰延时可控的低电压检测装置 |
CN206948673U (zh) * | 2017-07-26 | 2018-01-30 | 无锡麟力科技有限公司 | 一种防止下电回闪的buck 型led 驱动电路 |
CN110868199A (zh) * | 2019-11-04 | 2020-03-06 | 宁波大学 | 一种上电长延时保护电路 |
CN211928411U (zh) * | 2020-04-24 | 2020-11-13 | 中国电子科技集团公司第四十三研究所 | 一种多路电源上电掉电时序控制电路 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
LEI ZHANG等: "Research of permanent magnets failure for high power-density interior PM synchronous motor used in electric vehicles", 《2010 INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRICAL MACHINES AND SYSTEMS》 * |
崇华明等: "TMDS接口掉电检测电路的设计", 《微处理机》, no. 1 * |
徐一等: "一种应用开关电容分压的电源电压检测电路", 《电子器件》, vol. 41, no. 4 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115561671A (zh) * | 2022-04-29 | 2023-01-03 | 荣耀终端有限公司 | 掉电检测电路和显示设备 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103677043B (zh) | 低压降稳压器 | |
EP1856593B1 (en) | Systems and methods for controlling use of power in a computer system | |
CN211086970U (zh) | 一种多电源上下电控制电路 | |
US6871289B2 (en) | Slew rate limited reference for a buck converter | |
EP2082244B1 (en) | Current limit detector | |
US9515552B2 (en) | Voltage regulator and voltage regulating method and chip using the same | |
KR20080011088A (ko) | 정전압 전원 회로 | |
US10209730B2 (en) | Serial bus apparatus with controller circuit and related uses | |
US20150170716A1 (en) | Dynamic Brownout Adjustment in a Storage Device | |
CN116057498A (zh) | 针对通用串行总线电力传输控制器的控制逻辑性能优化 | |
CN113484589A (zh) | 一种带有磁滞功能的掉电检测电路及控制系统 | |
US9601987B2 (en) | Power supply apparatus | |
US7602210B2 (en) | Two-wire transmitter | |
CN217469914U (zh) | 上电复位电路 | |
US8830706B2 (en) | Soft-start circuit | |
US10756621B2 (en) | Voltage regulators with controlled output voltage and the method thereof | |
JP2020195233A (ja) | 電源回路、パワーマネージメント回路、データ記憶装置 | |
TWI629492B (zh) | 參考電壓電路之測試系統及方法 | |
US20200089264A1 (en) | Managing linear regulator transient voltages upon sleep transitions | |
JP2023107757A (ja) | コンピュータシステムの動作状態を制御する方法及び対応するコンピュータシステム | |
CN112180798B (zh) | 时序控制电路、电源控制电路和变频器 | |
CN116225115A (zh) | 欠压保护电路 | |
US20160072488A1 (en) | Voltage-driver circuit with dynamic slew rate control | |
US10216253B2 (en) | Universal serial bus hub and control method thereof | |
JP6818240B2 (ja) | 電源装置および画像形成装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |