CN113466675B - 一种测试向量生成方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种测试向量生成方法，属于电路测试技术领域。本发明基于电路仿真数据和测试仪器硬件，采用对数据逐周期提取再合并的方式生成测试向量。该方法主要由待测电路仿真、确定向量周期、逐点提取数据、合并向量数据和生成时序文件步骤组成，最终由向量数据和时序文件组成测试向量。本方法既可以实现任意数量通道上信号任意速率的向量转换，又可以省却VCD文件生成和VCD文件转换成测试向量这两个过程，提高了向量生成效率、数据测试能力和测试灵活性。

Description

一种测试向量生成方法
技术领域
本发明属于电路测试技术领域，特别是指一种测试向量生成方法。
背景技术
测试是集成电路晶圆交付和产品生产的重要阶段，通过自动测试仪器（ATE）完成集成电路各阶段的功能和性能测试，可以实现集成电路的快速批量自动测试。
ATE可对集成电路进行功能和性能测试，其一般测试流程为：对电路进行仿真、基于仿真结果产生VCD文件、将VCD文件转为测试向量、测试向量导入ATE，进而ATE基于测试向量对电路进行测试，测试向量一般包括向量数据和时序。在该流程中，测试向量的生成是从电路仿真到ATE测试的桥梁，是测试过程中的重要步骤。
随着高速通信和大数据的发展，集成电路的传输数据速率和数据量都越来越高，尤其在高速串行通信领域，大量的高速伪随机码对测试仪的测试容量和速率提出了更高的要求。
发明内容
本发明的目的是提供一种测试向量生成方法，该方法可以满足信号传输测试的需要，在大量逻辑数据或随机数据测试应用中具有显著优势，并且可以辅助实现ATE的最高测试能力。
本发明采用的技术方案为：
一种测试向量生成方法，使用数据逐周期提取再合并的方式生成测试向量和时序文件；所述测试向量为应用于集成电路自动测试仪器的逻辑数据，所述时序文件为应用于集成电路自动测试仪器的时序数据。
进一步的，所述使用数据逐周期提取再合并的方式生成测试向量和时序文件，具体包括以下步骤：
步骤1，基于待测电路模型进行功能和性能仿真，获取特定工作状态下各端口信号的电平特性和频率特性；所述待测电路模型为待测物理电路的数学模型；
步骤2，基于信号频率特性和自动测试仪器的测试特性，确定信号每个测试数据的周期和每行测试向量的周期；
步骤3，基于信号每个测试数据的周期，逐点获取信号在每个周期上的电平特性，产生数据序列；
步骤4，基于信号每个测试数据的周期和每行测试向量的周期，将数据序列合并为向量数据；
步骤5，基于每行向量的周期和自动测试仪器的测试特性生成逐点时序，进而生成时序文件。
与现有技术相比，本发明的有益效果为：
1、本发明对于转换前的信号，采用基于周期生成的逐点测试向量和时序。相比基于数据变化的VCD转换时序，本发明可减少近一半时序向量，进而在相同测试硬件下实现更多数据量和更高数据速率的测试。
2、本发明中，采用逐点数据提取生成的测试向量具有逻辑特性，可根据需要在测试过程中直接调整向量，减少重新生成向量的次数，提高调试效率。
3、本发明在合并向量数据过程中，可任意控制合并后向量中每行的数据个数。
4、本发明可利用计算机程序全自动化实现，极大地提高了向量生成的效率。
总之，本发明方法可以满足信号传输测试的需要，在测试集成电路的大量逻辑数据或随机数据的应用中具有显著优势，所生成的测试向量可用在各类ATE测试平台，并能够辅助ATE实现其最高测试能力。
附图说明
图1为本发明实施例中测试向量生成方法的流程图。
图2为本发明实施例中一种具体的测试向量生成方法的原理示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步的说明。
如图1所示，一种测试向量生成方法，其包括以下步骤：
步骤S1，待测电路仿真。待测电路仿真基于待测电路模型进行功能和性能仿真，获取待测电路在特定工作状态下各端口信号的电平特性和频率特性。其中，待测电路信号数量大于等于1。
步骤S2，确定向量周期。基于步骤S1获取的所有信号频率特性，并参考自动测试仪器的测试特性，确定所有信号每个测试数据的周期，以及所有信号每行测试向量的周期。其中，每行测试向量内包含的测试数据大于等于1。
步骤S3，逐点数据提取。基于所有信号每个测试数据的周期，逐点获取所有信号每个周期上的电平特性，从而产生所有待测端口的数据序列。其中，信号的电平特性包括高电平和低电平，可用不同的符号表示高电平和低电平。
步骤S4，合并向量数据。基于步骤S2确定的所有信号数据的周期和每行测试向量的周期，将步骤S3提取的数据序列合并为每行大于等于1个数据的向量。
步骤S5，生成时序文件。基于每行向量的周期和自动测试仪器的测试特性生成逐点时序，逐点时序可覆盖任意向量数据，进而根据向量周期和时序文件的格式要求，生成时序文件。
目前，大量逻辑数据或随机数据测试应用中，仿真生成VCD再转换为测试向量的生成方式存在向量时序数量的制约，可能会出现测试向量无法实现数据全覆盖的情况。而本方法可减少向量时序，突出向量逻辑，非常易于实现，适合应用于大数据测试领域。
图2所示为一个更具体的例子，其包括以下步骤：
1）基于待测电路模型，对待测电路进行功能和性能仿真，获取待测电路在特定工作状态下各输入端口的输入信号Sigin和输出端口的输出信号Sigout。其中，输入信号包括电平特性Levin和频率特性Frqin，输出信号包括电平特性Levout和频率特性Frqout，输入信号数量和输出信号数量由待测电路实际情况决定。
2）基于输入信号频率特性Frqin、输出信号的频率特性Frqout，以及自动测试仪器的测试硬件特性，确定输入信号每个测试数据的周期Tin和输出信号每个测试数据的周期Tout，以及输入信号每行测试向量的周期N*Tin和输出信号每行测试向量的周期M*Tout。其中，N为每行向量包含的输入数据数量，M为每行向量包含的输出数据数量，N和M的值由实际测试需求决定。
3）基于输入信号每个数据的周期Tin和输出信号每个数据的周期Tout，逐点获取输入信号每个周期信号电平特性Levin和输出信号每个周期信号电平特性Levout，从而产生各个待测输入端口的数据序列Dtin和输出端口的数据序列Dtout。其中，可选择将提取的输入高电平设定为“1”，输入低电平设定为“0”，输出高电平设定为“H”，输出低电平设定为“L”；也可根据实际需要设定为其它值。
4）基于输入信号数据的周期Tin和每行测试向量的周期N*Tin，将前面提取的数据序列Dtin合并为每行为N个数据的向量；基于输出信号数据的周期Tout和每行测试向量的周期M*Tout，将前面提取的数据序列Dtout合并为每行为M个数据的向量。
5）基于自动测试仪器的硬件特性，参考输入信号的每行向量周期N*Tin生成逐点输入信号时序，参考输出信号的每行向量周期M*Tout生成逐点输出信号时序，逐点时序可覆盖任意向量数据，进而生成满足测试仪器语法的时序文件。其中，时序命名可与向量数据相同，也可根据实际需要设定为其它值。
本发明基于电路仿真数据和测试仪器硬件，采用对数据逐周期提取再合并的方式生成测试向量，其生成的向量适用于各种ATE测试领域。该方法主要由待测电路仿真、确定向量周期、逐点提取数据、合并向量数据和生成时序文件步骤组成，最终由向量数据和时序文件组成测试向量。本方法既可以实现任意数量通道上信号任意速率的向量转换，又可以省却VCD文件生成和VCD文件转换成测试向量这两个过程，提高了向量生成效率、数据测试能力和测试灵活性。
总之，本发明基于电路仿真数据和测试仪器硬件，直接生成测试向量和相应的时序文件，实现电路设计和电路测试的数据交互。本发明省却了VCD生成和VCD转换成测试向量过程，避免了VCD转换对测试向量和时序的限制，提高了向量生成效率、数据测试能力和测试灵活性。
需要说明的是，本发明不局限于上述的具体实施方式，以上具体实施方式仅作为本方法实施的示意，而不是限制，不对此专利形成限制。本领域的技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨的情况下，还可以做出很多变形。这些变形均在于本发明的保护范围之内。

Claims (1)

1.一种测试向量生成方法，其特征在于，使用数据逐周期提取再合并的方式生成测试向量和时序文件；所述测试向量为应用于集成电路自动测试仪器的逻辑数据，所述时序文件为应用于集成电路自动测试仪器的时序数据；其中，使用数据逐周期提取再合并的方式生成测试向量和时序文件，具体包括以下步骤：
步骤1，基于待测电路模型进行功能和性能仿真，获取特定工作状态下各端口信号的电平特性和频率特性；所述待测电路模型为待测物理电路的数学模型；
步骤2，基于信号频率特性和自动测试仪器的测试特性，确定信号每个测试数据的周期和每行测试向量的周期；
步骤3，基于信号每个测试数据的周期，逐点获取信号在每个周期上的电平特性，产生数据序列；
步骤4，基于信号每个测试数据的周期和每行测试向量的周期，将数据序列合并为向量数据；
步骤5，基于每行向量的周期和自动测试仪器的测试特性生成逐点时序，进而生成时序文件。
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