CN113311071B - 一种降低损伤的轴承圈检测平台 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及轴承圈检测技术领域,具体地说,涉及一种降低损伤的轴承圈检测平台。其包括支架和设置在支架顶部的检测台,所述支架的一侧设有控制柜,所述支架顶部两侧分别设有上料传送带和下料传送带,检测台位于上料传送带和下料传送带之间。本发明中通过定位底座内侧的转动辊对待探测工件的转动进行辅助支撑,而该转动辊为被动转动的状态,进而减少主动转动的转动辊数量,以降低转动辊对待探测工件的磨损,在转动的过程中探头对待探测工件进行探测,另外,转动辊锥形的设计降低与待探测工件的接触面积,以降低接触带来的磨损。

Description

一种降低损伤的轴承圈检测平台
技术领域
本发明涉及轴承圈检测技术领域,具体地说,涉及一种降低损伤的轴承圈检测平台。
背景技术
轴承圈是具有一个或几个滚道的向心滚动轴承的环形零件,在制造的过程中包括锻造、热处理和磨削工序的监控这三个步骤,另外,在制造的过程中需要对轴承圈的损伤进行探测,以保证轴承圈生产的质量,防止后期在使用过程中因制造中的损伤导致发生意外断裂;
现有的检测通常需要探头对轴承圈内进行检测,探头在检测过程中需要驱动轴承圈进行转动,一般的辊进行驱动都是与轴承圈外壁完全贴合,这样导致接触面非常大,虽然保证了轴承圈转的稳定性,但是对其外壁磨损也是非常大的。
发明内容
本发明的目的在于提供一种降低损伤的轴承圈检测平台,以解决上述背景技术中提出的对轴承圈外壁磨损非常大的问题。
为实现上述目的,提供了一种降低损伤的轴承圈检测平台,包括支架和设置在支架顶部的检测台,所述支架的一侧设有控制柜,所述支架顶部两侧分别设有上料传送带和下料传送带,检测台位于上料传送带和下料传送带之间,所述检测台至少包括:
升降液浸组件,所述升降液浸组件包括液浸箱,液浸箱的内部安装有超声波探伤器,超声波探伤器的顶部设有探伤板,探伤板的外部设有横移装置,所述横移装置用于将探伤板上放置的待探测工件横移至下料传送带上,同时将上料传送带上的待探测工件横移至探伤板上;
旋转驱动装置,所述旋转驱动装置设置在升降液浸组件外部,旋转驱动装置包括驱动底座和定位底座,驱动底座和定位底座的内侧均安装有转动辊,驱动底座内侧转动辊的顶部设有驱动组件,用于驱动转动辊转动,具体的:
所述转动辊为顶部半径大底部半径小的锥形结构;
探测装置,所述探测装置包括探头,探测时,探头设置在待探测工件内,探头的顶部设有探测滑架,探测滑架的一侧滑动连接有导向架,并通过驱动组件进行驱动,探测滑架的顶部还设有探测架,探测架上滑动连接有滑块,并通过驱动组件进行驱动,滑块与导向架之间通过安装板固定连接。
作为本技术方案的进一步改进,所述横移装置包括上料横移组件和下料横移组件,所述上料横移组件设置在靠近上料传送带的一侧,所述下料横移组件设置在靠近下料传送带的一侧,其中:
所述上料横移组件包括上料横移架,上料横移架的顶部设有上料滑板,上料滑板位于上料的一侧设有上料爪,上料爪靠近上料滑板的一侧设有上料纵向板,上料纵向板与上料滑板之间设有上料横向板,上料横向板与上料纵向板之间设有液压杆,上料横向板与上料滑板滑动连接,并通过驱动组件进行驱动;
所述下料横移组件包括下料横移架,下料横移架的顶部设有下料滑板,下料滑板位于下料的一侧设有下料爪,下料爪靠近下料滑板的一侧设有下料纵向板,下料纵向板与下料滑板之间设有下料横向板,下料横向板与下料纵向板之间设有液压杆,下料横向板与下料滑板滑动连接,并通过驱动组件进行驱动。
作为本技术方案的进一步改进,所述上料横移架的顶部位于上料传送带传送的一端设有限位板,限位板与上料横移架滑动连接,并通过驱动组件进行驱动。
作为本技术方案的进一步改进,所述下料传送带的下料端设有回收架,回收架与下料横移架固定连接。
作为本技术方案的进一步改进,所述回收架的顶部设有多个回收辊,回收辊与回收架内壁转动连接,且多个回收辊逐渐向下倾斜。
作为本技术方案的进一步改进,所述上料传送带和下料传送带均为非金属网带结构。
作为本技术方案的进一步改进,所述驱动底座的顶部设有驱动滑板,驱动滑板与驱动底座滑动连接,并通过驱动组件进行驱动,驱动滑板与对应的转动辊转动连接,定位底座的顶部设有定位滑板,定位滑板与定位底座滑动连接,并通过驱动组件进行驱动,定位滑板与其对应的转动辊转动连接。
作为本技术方案的进一步改进,所述驱动底座设置有两个,定位底座设置有一个,两个驱动底座与一个定位底座围成一个三角形结构。
作为本技术方案的进一步改进,所述定位滑板的底部位于转动辊的两侧均设有辅助架,辅助架的外端转动连接有辅助轮。
作为本技术方案的进一步改进,所述液浸箱的底部设有升降支架,升降支架为“U”形结构,“U”形结构的两侧滑动连接有升降板,并通过驱动组件驱动,升降板与其对应侧的驱动底座和定位底座固定连接,且探伤板的四个拐角处设有固定架,固定架与其对应侧的驱动底座和定位底座固定连接。
与现有技术相比,本发明的有益效果:
1、该降低损伤的轴承圈检测平台中,通过定位底座内侧的转动辊对待探测工件的转动进行辅助支撑,而该转动辊为被动转动的状态,进而减少主动转动的转动辊数量,以降低转动辊对待探测工件的磨损,在转动的过程中探头对待探测工件进行探测,另外,转动辊锥形的设计降低与待探测工件的接触面积,以降低接触带来的磨损。
2、该降低损伤的轴承圈检测平台中,通过上料爪将待探测工件横移至探伤板上,然后探测完成后下料爪以相同的原理将探伤板上的待探测工件移至下料线,若在横移之前探伤板上有工件,则下料爪与上料爪同步工作,从而保证横移的自动化程度,提高工作效率。
3、该降低损伤的轴承圈检测平台中,上料传送带和下料传送带均为非金属网带结构,以降低上料传送带和下料传送带在传送过程中对待检测工件的磨损。
4、该降低损伤的轴承圈检测平台中,升降板带动探伤板以及驱动底座和定位底座形成的整体平台降低高度,直至探伤板上的待检测工件完全浸入液浸箱内,从而实现了探伤板上的待检测工件自动浸入,进一步提高整个检测平台的自动化程度。
附图说明
图1为本发明实施例1的整体结构示意图;
图2为本发明实施例2的上料传送带结构示意图;
图3为本发明实施例2的下料传送带结构示意图;
图4为本发明实施例1的检测台结构示意图;
图5为本发明实施例1的旋转驱动装置结构示意图;
图6为本发明实施例5的驱动底座结构示意图;
图7为本发明实施例5的定位底座结构示意图;
图8为本发明实施例1的转动辊结构示意图;
图9为本发明实施例6的升降液浸组件结构示意图;
图10为本发明实施例1的探测装置结构示意图。
图中各个标号意义为:
100、支架;110、控制柜;120、上料传送带;130、下料传送带;
200、横移装置;
210、上料横移组件;211、上料横移架;212、上料滑板;2121、上料横向板;213、上料爪;2131、上料纵向板;214、限位板;
220、下料横移组件;221、下料横移架;222、下料滑板;2221、下料横向板;223、下料爪;2231、下料纵向板;224、回收架;2241、回收辊;
300、检测台;
310、升降液浸组件;311、液浸箱;3111、超声波探伤器;3112、探伤板;312、升降支架;313、升降板;314、固定架;
320、旋转驱动装置;321、驱动底座;3211、驱动滑板;322、定位底座;3221、定位滑板;323、转动辊;324、辅助架;3241、辅助轮;
330、探测装置;331、探测架;332、滑块;3321、安装板;333、探测滑架;334、探头;335、导向架
400、驱动组件。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
此外,在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
实施例1
请参阅图1示,本实施例目的在于,提供了一种降低损伤的轴承圈检测平台,包括支架100和设置在支架100顶部的检测台300,支架100的一侧设有控制柜110,支架100顶部两侧分别设有上料传送带120和下料传送带130,检测台300位于上料传送带120和下料传送带130之间,请参阅图4和图5所示,检测台300至少包括:
升降液浸组件310,升降液浸组件310包括液浸箱311,液浸箱311内注入有耦合剂,其要求如下:
采用蒸馏水或者油,硬度:75mg/l;PH值:6-9;纯净度:不可溶解杂质的最大含量50mg/l;单个杂质直径20µm;另外,可添加防锈剂,但是必须满足上述的颗粒度要求;必须添加消泡剂,消泡剂颗粒度必须满足上述要求;液浸箱311的内部安装有超声波探伤器3111,超声波探伤器3111的顶部设有探伤板3112,探伤板3112的外部设有横移装置200,横移装置200用于将探伤板3112上放置的待探测工件横移至下料传送带130上,同时将上料传送带120上的待探测工件横移至探伤板3112上;
旋转驱动装置320,旋转驱动装置320设置在升降液浸组件310外部,旋转驱动装置320包括驱动底座321和定位底座322,驱动底座321和定位底座322的内侧均安装有转动辊323,驱动底座321内侧转动辊323的顶部设有驱动组件400,用于驱动转动辊323转动,驱动组件400包括电机和传动齿轮,通过电机驱动传动齿轮转动,再利用传动齿轮带动转动辊323转动,具体的:
转动辊323为顶部半径大底部半径小的锥形结构,请参阅图8所示,从而降低与待探测工件的接触面积,以降低接触带来的磨损;
探测装置330,探测装置330包括探头334,探测时,探头334设置在待探测工件内。
本实施例在具体工作时,首先上料传送带120和下料传送带130工作,然后将待探测工件放置在上料传送带120上,当待探测工件传送到探伤板3112的一侧(指定位置)时,再将待探测工件横移至探伤板3112上,而后使待探测工件浸泡在液浸箱311内,此时超声波探伤器3111发出的超声波,超声波与待探测工件接触后,利用其反射会的能量对待探测工件进行损伤探测;
另外,在超声波探测的过程中,驱动底座321内侧的转动辊323转动,转动辊323转动带动与其接触的待探测工件以及定位底座322内侧的转动辊323转动,从而通过定位底座322内侧的转动辊323对待探测工件的转动进行辅助支撑,而该转动辊323为被动转动的状态,进而减少主动转动的转动辊323数量,以降低转动辊323对待探测工件的磨损,在转动的过程中探头334对待探测工件进行探测;
探头334和超声波探测过程中,如果发现待探测工件有缺陷自动发出声、光报警,直至检测结束后,工件停止旋转,超声评判系统判断是否合格并输出分选信号,然后将待探测工件横移至下料传送带130上。
值得说明的是,探头334包括独立摄像头和三个组合摄像头,独立摄像头和三个组合摄像头可同时对一个待探测工件进行检测,探头334采用偏心布置,请参阅图10所示,探头334的顶部设有探测滑架333,探测滑架333的一侧滑动连接有导向架335,并通过驱动组件400进行驱动,探测滑架333的顶部还设有探测架331,探测架331上滑动连接有滑块332,并通过驱动组件400进行驱动,滑块332与导向架335之间通过安装板3321固定连接,从而通过自动调整的方式,保证不同尺寸的待探测工件近表面盲区的良好检测。
本实施例待探测工件以轴承圈进行举例:
检测尺寸直径50-100轴承圈时,需要更换固定工装,更换工装时间为30分钟,根据轴承圈外形尺寸,分为以下几种:
轴承圈尺寸直径50-100:采用型号为STS 6 PB 4-20 P30的独立摄像头,独立摄像头检测三次(内圈内侧入射,外圈外侧入射);
轴承圈尺寸直径100-370:采用型号STS 12 WB 6、STS 12 PB 10 P 75和STS 10PB 10 L 75的三个组合摄像头,型号为STS 12 WB 6的探头安装在中间、其余两个安装在其左侧或者右侧,且三个组合摄像头同时检测。
具体的,轴承圈尺寸直径100-370:
外圈外径:150.00mm-370.00mm、外圈壁厚:6mm–21.5mm、外圈高度:20-250mm、内圈内径:100.00mm-250.00mm、内圈壁厚:7.7mm–27.5mm、内圈高度:20-170mm
轴承圈尺寸直径50-100:
小轴承圈外圈外径:59.5mm-150mm、小轴承圈外圈壁厚:≥4mm、小轴承圈外圈高度:≥12mm、小轴承圈内圈内径:50.00mm-100mm、小轴承圈内圈壁厚:≥4mm、小轴承圈内圈高度:≥12mm。
实施例2
为了便于快速的对待探测工件进行横移,本实施例与实施例1不同的是,请参阅图2和图3所示,横移装置200包括上料横移组件210和下料横移组件220,上料横移组件210设置在靠近上料传送带120的一侧,下料横移组件220设置在靠近下料传送带130的一侧,其中:
上料横移组件210包括上料横移架211,上料横移架211的顶部设有上料滑板212,上料滑板212位于上料的一侧设有上料爪213,上料爪213靠近上料滑板212的一侧设有上料纵向板2131,上料纵向板2131与上料滑板212之间设有上料横向板2121,上料横向板2121与上料纵向板2131之间设有液压杆,上料横向板2121与上料滑板212滑动连接,并通过驱动组件400进行驱动;
下料横移组件220包括下料横移架221,下料横移架221的顶部设有下料滑板222,下料滑板222位于下料的一侧设有下料爪223,下料爪223靠近下料滑板222的一侧设有下料纵向板2231,下料纵向板2231与下料滑板222之间设有下料横向板2221,下料横向板2221与下料纵向板2231之间设有液压杆,下料横向板2221与下料滑板222滑动连接,并通过驱动组件400进行驱动。
本实施例在工作时,当待探测工件上料到指定位置后,上料横向板2121受驱动组件400的电机和丝杆驱动向指定位置移动,移动到指定位置时,上料纵向板2131受到液压作用下移使上料爪213进入待探测工件内,而后通过上料爪213将待探测工件横移至探伤板3112上,然后探测完成后下料爪223以相同的原理将探伤板3112上的待探测工件移至下料线,若在横移之前探伤板3112上有工件,则下料爪223与上料爪213同步工作,从而保证横移的自动化程度,提高工作效率。
实施例3
为了对指定位置进行限位,以防待探测工件偏离指定位置,本实施例在实施例2的基础上进行改进,具体的:上料横移架211的顶部位于上料传送带120传送的一端设有限位板214,从而通过限位板214对指定位置进行限位,另外,限位板214与上料横移架211滑动连接,并通过驱动组件400进行驱动,进而利用驱动组件400的电机和丝杆配合驱动限位板214进行移动,以实现限位位置的调整,提高限位板214的实用性。
实施例4
为了对下料后的工件进行收集,本实施例在实施例2的基础上进行改进,具体的,下料传送带130的下料端设有回收架224,回收架224与下料横移架221固定连接,从而通过回收架224对下料后的工件进行收集,以便于后期整理。
此外,回收架224的顶部设有多个回收辊2241,回收辊2241与回收架224内壁转动连接,从而通过回收辊2241的滚动降低对工件的磨损,且多个回收辊2241逐渐向下倾斜,使工件受重力作用依次移到回收架224外侧,以对空间进行利用,提高回收架224的收集工件的个数。
除此之外,上料传送带120和下料传送带130均为非金属网带结构,以降低上料传送带120和下料传送带130在传送过程中对待检测工件的磨损。
实施例5
为了提高适应驱动不同大小的待检测工件转动,本实施例与实施例1不同的是,请参阅图6和图7所示,驱动底座321的顶部设有驱动滑板3211,驱动滑板3211与驱动底座321滑动连接,并通过驱动组件400进行驱动,驱动滑板3211与对应的转动辊323转动连接,定位底座322的顶部设有定位滑板3221,定位滑板3221与定位底座322滑动连接,并通过驱动组件400进行驱动,定位滑板3221与其对应的转动辊323转动连接。
本实施例在使用时,驱动组件400的电机和丝杆驱动驱动滑板3211和定位滑板3221进行滑动,以实现驱动半径的调整,从而适应驱动不同大小的待检测工件转动。
再进一步的,驱动底座321设置有两个,定位底座322设置有一个,两个驱动底座321与一个定位底座322围成一个三角形结构,通过三点支撑提高待检测工件转动的稳定性。
此外,定位滑板3221的底部位于转动辊323的两侧均设有辅助架324,辅助架324的外端转动连接有辅助轮3241,进一步以提高待检测工件转动的稳定性。
实施例6
为了提高液浸箱311的自动化程度,本实施例与实施例1不同的是,请参阅图9所示,液浸箱311的底部设有升降支架312,升降支架312为“U”形结构,“U”形结构的两侧滑动连接有升降板313,并通过驱动组件400驱动,升降板313与其对应侧的驱动底座321和定位底座322固定连接,且探伤板3112的四个拐角处设有固定架314,固定架314与其对应侧的驱动底座321和定位底座322固定连接。
本实施例在具体使用时,首先将待检测工件横移至探伤板3112上,然后驱动组件400的电机和丝杆配合驱动升降板313下降,此时升降板313带动探伤板3112以及驱动底座321和定位底座322形成的整体平台降低高度,直至探伤板3112上的待检测工件完全浸入液浸箱311内,从而实现了探伤板3112上的待检测工件自动浸入,进一步提高整个检测平台的自动化程度。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的仅为本发明的优选例,并不用来限制本发明,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (7)

1.一种降低损伤的轴承圈检测平台,包括支架(100)和设置在支架(100)顶部的检测台(300),所述支架(100)的一侧设有控制柜(110),其特征在于:所述支架(100)顶部两侧分别设有上料传送带(120)和下料传送带(130),检测台(300)位于上料传送带(120)和下料传送带(130)之间,所述检测台(300)至少包括:
升降液浸组件(310),所述升降液浸组件(310)包括液浸箱(311),液浸箱(311)的内部安装有超声波探伤器(3111),超声波探伤器(3111)的顶部设有探伤板(3112),探伤板(3112)的外部设有横移装置(200),所述横移装置(200)用于将探伤板(3112)上放置的待探测工件横移至下料传送带(130)上,同时将上料传送带(120)上的待探测工件横移至探伤板(3112)上;
旋转驱动装置(320),所述旋转驱动装置(320)设置在升降液浸组件(310)外部,旋转驱动装置(320)包括驱动底座(321)和定位底座(322),驱动底座(321)和定位底座(322)的内侧均安装有转动辊(323),驱动底座(321)内侧转动辊(323)的顶部设有驱动组件(400),用于驱动转动辊(323)转动,具体的:
所述转动辊(323)为顶部半径大底部半径小的锥形结构;
探测装置(330),所述探测装置(330)包括探头(334),探测时,探头(334)设置在待探测工件内;
所述驱动底座(321)的顶部设有驱动滑板(3211),驱动滑板(3211)与驱动底座(321)滑动连接,并通过驱动组件(400)进行驱动,驱动滑板(3211)与对应的转动辊(323)转动连接,定位底座(322)的顶部设有定位滑板(3221),定位滑板(3221)与定位底座(322)滑动连接,并通过驱动组件(400)进行驱动,定位滑板(3221)与其对应的转动辊(323)转动连接;
所述驱动底座(321)设置有两个,定位底座(322)设置有一个,两个驱动底座(321)与一个定位底座(322)围成一个三角形结构;
所述定位滑板(3221)的底部位于转动辊(323)的两侧均设有辅助架(324),辅助架(324)的外端转动连接有辅助轮(3241)。
2.根据权利要求1所述的降低损伤的轴承圈检测平台,其特征在于:所述横移装置(200)包括上料横移组件(210)和下料横移组件(220),所述上料横移组件(210)设置在靠近上料传送带(120)的一侧,所述下料横移组件(220)设置在靠近下料传送带(130)的一侧,其中:
所述上料横移组件(210)包括上料横移架(211),上料横移架(211)的顶部设有上料滑板(212),上料滑板(212)位于上料的一侧设有上料爪(213),上料爪(213)靠近上料滑板(212)的一侧设有上料纵向板(2131),上料纵向板(2131)与上料滑板(212)之间设有上料横向板(2121),上料横向板(2121)与上料纵向板(2131)之间设有液压杆,上料横向板(2121)与上料滑板(212)滑动连接,并通过驱动组件(400)进行驱动;
所述下料横移组件(220)包括下料横移架(221),下料横移架(221)的顶部设有下料滑板(222),下料滑板(222)位于下料的一侧设有下料爪(223),下料爪(223)靠近下料滑板(222)的一侧设有下料纵向板(2231),下料纵向板(2231)与下料滑板(222)之间设有下料横向板(2221),下料横向板(2221)与下料纵向板(2231)之间设有液压杆,下料横向板(2221)与下料滑板(222)滑动连接,并通过驱动组件(400)进行驱动。
3.根据权利要求2所述的降低损伤的轴承圈检测平台,其特征在于:所述上料横移架(211)的顶部位于上料传送带(120)传送的一端设有限位板(214),限位板(214)与上料横移架(211)滑动连接,并通过驱动组件(400)进行驱动。
4.根据权利要求2所述的降低损伤的轴承圈检测平台,其特征在于:所述下料传送带(130)的下料端设有回收架(224),回收架(224)与下料横移架(221)固定连接。
5.根据权利要求4所述的降低损伤的轴承圈检测平台,其特征在于:所述回收架(224)的顶部设有多个回收辊(2241),回收辊(2241)与回收架(224)内壁转动连接,且多个回收辊(2241)逐渐向下倾斜。
6.根据权利要求1所述的降低损伤的轴承圈检测平台,其特征在于:所述上料传送带(120)和下料传送带(130)均为非金属网带结构。
7.根据权利要求1所述的降低损伤的轴承圈检测平台,其特征在于:所述液浸箱(311)的底部设有升降支架(312),升降支架(312)为“U”形结构,“U”形结构的两侧滑动连接有升降板(313),并通过驱动组件(400)驱动,升降板(313)与其对应侧的驱动底座(321)和定位底座(322)固定连接,且探伤板(3112)的四个拐角处设有固定架(314),固定架(314)与其对应侧的驱动底座(321)和定位底座(322)固定连接。
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