CN113078237B - 一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法,包括以下步骤,对待氧化的硅片进行切割,将硅片一分为二,形成半片硅片;采用直插式,将半片硅片进行插片;对半片硅片进行氧化。本发明的有益效果是用于大尺寸硅片进行氧化,将硅片切割成半片硅片,并采用直插式插片,进行硅片氧化,降低改造成本,满足硅片氧化需求。

Description

一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法
技术领域
本发明属于太阳能电池技术领域,尤其是涉及一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法。
背景技术
随着太阳能光伏发电市场对高功率太阳能光伏组件的需求激增,叠瓦、半片太阳能光伏组件已成为高功率组件的主流产品。大尺寸硅片(如M6166x166mm,M9 190x190mm,M10 200x200mm,M12 210x210mm)可结合叠瓦、半片组件技术实现更高功率的组件生产。因大尺寸整片硅片(如M9190x190mm,M10 200x200mm,M12 210x210mm)已超出现有氧化炉管管径极限范围,不能满足氧化需求,且改造氧化炉成本高。
发明内容
鉴于上述问题,本发明要解决的问题是提供一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法,尤其适合大尺寸硅片进行氧化,将硅片切割成半片硅片,并采用直插式插片,进行硅片氧化,降低改造成本,满足硅片氧化需求。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法,包括以下步骤,
对待氧化的硅片进行切割,将硅片一分为二,形成半片硅片;
采用直插式,将半片硅片进行插片;
对半片硅片进行氧化。
进一步的,半片硅片直插式插片为半片硅片与石英舟端面平行设置,且半片硅片的两个短边与石英舟侧壁平行设置。
进一步的,半片硅片进行氧化时,包括以下步骤:
在氧化炉待机时,设定炉口至炉尾的待机温度;
进舟后,进行升温;
进行稳定温度,便于硅片氧化;
进行硅片氧化,形成氧化层;
降温出炉。
进一步的,设定炉口至炉尾的待机温度步骤中,设定炉口至炉尾的各个温区间的温度,各个温区间包括沿着从炉口至炉尾依次设置的第一温区间、第二温区间、第三温区间、第四温区间和第五温区间。
进一步的,第一温区间设定的温度为790-810℃,第二温区间设定的温度为770-790℃,第三温区间设定的温度为740-760℃,第四温区间设定的温度为710-730℃,第五温区间设定的温度为690-710℃。
进一步的,进行升温步骤中,将氧化炉温度升温至氧化温度,并通入氮气,设定升温时间。
进一步的,进行升温步骤中,氧化温度为700-740℃,升温时间为8-12min,氮气流量为8-12slm。
进一步的,进行稳定温度步骤中,按照氧化温度维持氧化炉温度,并通入氮气,设定维持时间,氮气流量为8-12slm,维持时间为1-3min。
进一步的,进行硅片氧化步骤中,按照氧化温度维持氧化炉温度,并通入氮气和氧气,设定氧化时间,氮气流量为7-9slm,氧气流量为1-3slm,氧化时间为10-15min。
进一步的,降温出炉步骤中,将氧化炉温度降低至出炉温度,进行出舟,出炉温度为680-720℃。
由于采用上述技术方案,在进行大尺寸硅片氧化时,将硅片切割成半片硅片,并采用直插式方式进行插片,使得装载硅片的石英舟能够进入氧化炉内,不会受到氧化炉炉管直径的限制,不需要对氧化炉进行改造,降低大尺寸硅片氧化时氧化炉改造成本,且硅片氧化时制膜均匀性好,钝化效果,且不会对电池片支撑产生影响。
附图说明
图1是本发明的一实施例的结构示意图。
图中:
1、半片硅片 2、石英舟
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步的说明。
图1示出了本发明的一实施例的插片结构示意图,具体示出了本实施例的插片方式,本实施例涉及一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法,用于大尺寸硅片进行氧化时使用,在大尺寸硅片进行氧化时,将硅片进行切割,切割成半片硅片,并采用直插式进行插片,使得装载在石英舟上的半片硅片能够进入氧化炉,不会受到氧化炉炉管管径的限制,降低改造成本,使得大尺寸硅片满足氧化需求,保证硅片的氧化均匀性。这里,大尺寸硅片指的是M9 190x190mm,M10 200x200mm,M12 210x210mm及以上。
一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法,包括以下步骤,
对待氧化的硅片进行切割,将硅片一分为二,形成半片硅片:硅片在切割时,采用激光方式进行切割,将硅片切割成对称的半片硅片1,则该半片硅片1的形状为长方形,其长度与切割前的硅片的长度相同,其宽度为切割前的硅片的宽度的一半。
采用直插式,将半片硅片1进行插片:如图1所示,半片硅片1直插式插片为半片硅片1与石英舟2端面平行设置,且半片硅片1的两个短边与石英舟2侧壁平行设置,也就是,半片硅片1进行插片时,半片硅片1与石英舟2的端面平行设置,且半片硅片1的两个短边与石英舟2的侧壁平行设置,半片硅片1的两个长边与石英舟2的宽度方向平行设置,半片硅片1的两个短边分别与石英舟2的两个侧壁上的卡槽接触插接,半片硅片1的一个长边与石英舟2底部的卡槽接触插接,进行直插式插片。
对半片硅片进行氧化:包括以下步骤,
在氧化炉待机时,设定炉口至炉尾的待机温度:在该设定炉口至炉尾的待机温度步骤中,设定炉口至炉尾的各个温区间的温度,由于氧化炉炉门的打开与关闭导致炉口的温度降温较快,为减少整个氧化炉炉管各个温区间的温度差异,减少半片硅片1中心与边缘的温差,设定炉口至炉尾的各个温区间的温度,该各个温区间包括沿着从炉口至炉尾依次设置的第一温区间、第二温区间、第三温区间、第四温区间和第五温区间,其中,第一温区间设定的温度为790-810℃,第二温区间设定的温度为770-790℃,第三温区间设定的温度为740-760℃,第四温区间设定的温度为710-730℃,第五温区间设定的温度为690-710℃,根据实际需求进行选择,这里不做具体要求。
进出舟:当氧化炉各个温区间的温度达到设定温度后,打开氧化炉炉门,碳化硅桨将装载半片硅片的石英舟2放入氧化炉中,放置完毕后,关闭氧化炉炉门。
进舟后,进行升温:在该进行升温步骤中,将氧化炉温度升温至氧化温度,并通入氮气,设定升温时间,由于在待机时设定了氧化炉炉管内各个温区间的温度,氧化炉的炉管在待机时具有温度,进行升温时,可以快速将氧化炉温度升至氧化温度,各个温区间的温差小,升温时间缩短,降低了能耗。氮气的通入,将氧化炉中的空气排出,便于对硅片进行氧化。
在该进行升温步骤中,氧化温度为700-740℃,升温时间为8-12min,氮气流量为8-12slm,根据实际需求进行选择,这里不做具体要求。
进行稳定温度,便于硅片氧化:进行稳定温度步骤中,按照氧化温度维持氧化炉温度,并通入氮气,设定维持时间,为后续氧化提供稳定的氛围。氮气的通入,将氧化炉中的空气排出,便于对半片硅片进行氧化。
在该稳定温度步骤中,氮气流量为8-12slm,维持时间为1-3min,根据实际需求进行选择,这里不做具体要求。
进行硅片氧化,形成氧化层:在该进行硅片氧化步骤中,按照氧化温度维持氧化炉温度,并通入氮气和氧气,设定氧化时间,进行硅片的氧化,在硅片表面形成氧化膜层,进行表面钝化及抗PID。
在该进行硅片氧化步骤中,氮气流量为7-9slm,氧气流量为1-3slm,氧化时间为10-15min,根据实际需求进行选择,这里不做具体要求。
降温出炉:在该降温出炉步骤中,将氧化炉温度降低至出炉温度,进行出舟,完成硅片氧化,该出炉温度为680-720℃,根据实际需求进行选择,这里不做具体要求。
将半片硅片1装载在石英舟2上,并通过碳化硅桨放置到氧化炉,送入时,炉管炉门为打开状态,故第一温区间zone1急速降温,呈一个递减趋势在降温。在现有技术中,氧化炉的各个温区间的温度全部设定为720℃,则进出舟时各温区间温度如下表:
温区间 第一温区间 第二温区间 第三温区间 第四温区间 第五温区间
温度 606℃ 628℃ 668℃ 705℃ 718℃
由上表可以知道,第一温区间zone1与第五温区间zone5差异将近100℃,硅片片间温度差异大,硅片在氧化均匀性不好。
采用上述热氧工艺,设定待机温度炉口到炉尾的待机温度,设定第一温区间的温度为800℃,第二温区间的温度为780℃,第三温区间的温度为750℃,第四温区间的温度为720℃,第五温区间的温度为700℃,则在进出舟时各温区间的温度如下表:
温区间 第一温区间 第二温区间 第三温区间 第四温区间 第五温区间
温度 686℃ 683℃ 695℃ 703℃ 705℃
温度差缩小至20℃,后续氧化时硅片片间温度差得到改善,制膜均匀性好,提升了整个钝化效果。
下面以三个实施例进行具体说明。
实施例一
以210x210mm硅片为例进行说明。
一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法,包括以下步骤,
对待氧化的硅片进行切割,将硅片一分为二,形成半片硅片:采用激光进行切割,将210x210mm切割成210x105mm,形成半片硅片1;
采用直插式进行插片,将半片硅片1插接在石英舟2上;
进行半片硅片氧化:在氧化炉待机时,设定炉口至炉尾的待机温度,沿着氧化炉的炉口至炉尾,依次设定第一温区间、第二温区间、第三温区间、第四温区间和第五温区间的温度,设定第一温区间的温度为790℃,设定第二温区间的温度为770℃,设定第三温区间的温度为750℃,设定第四温区间的温度为710℃,设定第五温区间的温度为690℃,进行氧化炉加热,将氧化炉的由炉口至炉尾各个温区间的温度达到设定的待机温度。
进出舟:当氧化炉各个温区间的温度达到设定温度后,打开氧化炉炉门,碳化硅桨将装载半片硅片1的石英舟2放入氧化炉中,放置完毕后,关闭氧化炉炉门。
进舟后,进行升温,将氧化炉的温度升至氧化温度,该氧化温度为700℃,并通入氮气,该氮气的流量为8slm,升温时间为8min,使得氧化炉温度达到氧化温度,为后续氧化做准备。
进行稳定温度,便于硅片氧化,按照氧化温度进行氧化炉温度的维持,同时通入氮气,氮气的流量为8slm,维持时间为1min,为后续氧化提供稳定的范围。
进行硅片氧化,形成氧化层,将扩散炉的温度维持在氧化温度,并通入氮气和氧气,氮气的流量为7slm,氧气的流量为1slm,并进行维持,设定氧化时间,进行氧化,氧化时间为10min。
降温出炉,硅片氧化后,进行氧化炉降温,将氧化炉的温度下降至680℃,出舟,将硅片从氧化炉中取出,完成氧化。
实施例二
以210x210mm硅片为例进行说明。
一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法,包括以下步骤,
对待氧化的硅片进行切割,将硅片一分为二,形成半片硅片:采用激光进行切割,将210x210mm切割成210x105mm,形成半片硅片2;
采用直插式进行插片,将半片硅片插接在石英舟3上;
进行半片硅片氧化:在氧化炉待机时,设定炉口至炉尾的待机温度,沿着氧化炉的炉口至炉尾,依次设定第一温区间、第二温区间、第三温区间、第四温区间和第五温区间的温度,设定第一温区间的温度为810℃,设定第二温区间的温度为790℃,设定第三温区间的温度为760℃,设定第四温区间的温度为730℃,设定第五温区间的温度为710℃,进行氧化炉加热,将氧化炉的由炉口至炉尾各个温区间的温度达到设定的待机温度。
进出舟:当氧化炉各个温区间的温度达到设定温度后,打开氧化炉炉门,碳化硅桨将装载半片硅片1的石英舟2放入氧化炉中,放置完毕后,关闭氧化炉炉门。
进舟后,进行升温,将氧化炉的温度升至氧化温度,该氧化温度为740℃,并通入氮气,该氮气的流量为12slm,升温时间为12min,使得氧化炉温度达到氧化温度,为后续氧化做准备。
进行稳定温度,便于硅片氧化,按照氧化温度进行氧化炉温度的维持,同时通入氮气,氮气的流量为12slm,维持时间为3min,为后续氧化提供稳定的范围。
进行硅片氧化,形成氧化层,将扩散炉的温度维持在氧化温度,并通入氮气和氧气,氮气的流量为9slm,氧气的流量为3slm,并进行维持,设定氧化时间,进行氧化,氧化时间为15min。
降温出炉,硅片氧化后,进行氧化炉降温,将氧化炉的温度下降至720℃,出舟,将硅片从氧化炉中取出,完成氧化。
实施例三
以210x210mm硅片为例进行说明。
一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法,包括以下步骤,
对待氧化的硅片进行切割,将硅片一分为二,形成半片硅片:采用激光进行切割,将210x210mm切割成210x105mm,形成半片硅片1;
采用直插式进行插片,将半片硅片1插接在石英舟2上;
进行半片硅片氧化:在氧化炉待机时,设定炉口至炉尾的待机温度,沿着氧化炉的炉口至炉尾,依次设定第一温区间、第二温区间、第三温区间、第四温区间和第五温区间的温度,设定第一温区间的温度为800℃,设定第二温区间的温度为780℃,设定第三温区间的温度为750℃,设定第四温区间的温度为720℃,设定第五温区间的温度为700℃,进行氧化炉加热,将氧化炉的由炉口至炉尾各个温区间的温度达到设定的待机温度。
进出舟:当氧化炉各个温区间的温度达到设定温度后,打开氧化炉炉门,碳化硅桨将装载半片硅片1的石英舟2放入氧化炉中,放置完毕后,关闭氧化炉炉门。
进舟后,进行升温,将氧化炉的温度升至氧化温度,该氧化温度为720℃,并通入氮气,该氮气的流量为10slm,升温时间为10min,使得氧化炉温度达到氧化温度,为后续氧化做准备。
进行稳定温度,便于硅片氧化,按照氧化温度进行氧化炉温度的维持,同时通入氮气,氮气的流量为10slm,维持时间为2min,为后续氧化提供稳定的范围。
进行硅片氧化,形成氧化层,将扩散炉的温度维持在氧化温度,并通入氮气和氧气,氮气的流量为8slm,氧气的流量为2slm,并进行维持,设定氧化时间,进行氧化,氧化时间为13min。
降温出炉,硅片氧化后,进行氧化炉降温,将氧化炉的温度下降至700℃,出舟,将硅片从氧化炉中取出,完成氧化。
由于采用上述技术方案,在进行大尺寸硅片氧化时,将硅片切割成半片硅片,并采用直插式方式进行插片,使得装载硅片的石英舟能够进入氧化炉内,不会受到氧化炉炉管直径的限制,不需要对氧化炉进行改造,降低大尺寸硅片氧化时氧化炉改造成本,且硅片氧化时制膜均匀性好,钝化效果,且不会对电池片支撑产生影响。
以上对本发明的实施例进行了详细说明,但所述内容仅为本发明的较佳实施例,不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的均等变化与改进等,均应仍归属于本发明的专利涵盖范围之内。

Claims (1)

1.一种用于叠瓦、半片大尺寸硅片电池生产的氧化方法,其特征在于:包括以下步骤,
对待氧化的硅片进行切割,将所述硅片一分为二,形成半片硅片;
采用直插式,将半片硅片进行插片:将所述半片硅片与石英舟端面平行设置,且所述半片硅片的两个短边与所述石英舟侧壁平行设置;
对半片硅片进行氧化,包括以下步骤:
在氧化炉待机时,设定炉口至炉尾的待机温度:设定炉口至炉尾的各个温区间的温度,所述各个温区间包括沿着从炉口至炉尾依次设置的第一温区间、第二温区间、第三温区间、第四温区间和第五温区间;所述第一温区间设定的温度为790-810℃,所述第二温区间设定的温度为770-790℃,所述第三温区间设定的温度为740-760℃,所述第四温区间设定的温度为710-730℃,所述第五温区间设定的温度为690-710℃,以减少半片硅片中心与边缘的温差;
进舟后,进行升温,将氧化炉温度升温至氧化温度,并通入氮气,设定升温时间,所述氧化温度为700-740℃,所述升温时间为8-12min,所述氮气流量为8-12slm;
进行稳定温度,便于硅片氧化:按照所述氧化温度维持所述氧化炉温度,并通入氮气,设定维持时间,所述氮气流量为8-12slm,所述维持时间为1-3min;
进行硅片氧化,形成氧化层:按照所述氧化温度维持所述氧化炉温度,并通入氮气和氧气,设定氧化时间,所述氮气流量为7-9slm,所述氧气流量为1-3slm,所述氧化时间为10-15min;
降温出炉:将所述氧化炉温度降低至出炉温度,进行出舟,所述出炉温度为680-720℃。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6235651B1 (en) * 1999-09-14 2001-05-22 Infineon Technologies North America Process for improving the thickness uniformity of a thin layer in semiconductor wafer fabrication
CN101447529A (zh) * 2008-12-22 2009-06-03 上海晶澳太阳能光伏科技有限公司 一种选择性发射极太阳电池制造过程中的氧化硅生成工艺
JP2011222682A (ja) * 2010-04-08 2011-11-04 Shin Etsu Chem Co Ltd シリコン酸化膜の形成方法及び太陽電池の製造方法
CN105624795A (zh) * 2016-03-09 2016-06-01 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种n型硅片热处理方法
CN109545886A (zh) * 2018-10-22 2019-03-29 浙江光隆能源科技股份有限公司 一种半片多晶太阳电池的制备方法
CN110071178A (zh) * 2019-04-12 2019-07-30 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种切片电池的制备方法及切片电池及光伏组件
CN110137284A (zh) * 2019-05-30 2019-08-16 晶澳(扬州)太阳能科技有限公司 硅片、电池片、电池半片、电池串、以及光伏组件
CN110211872A (zh) * 2019-05-30 2019-09-06 通威太阳能(合肥)有限公司 一种可改善低压扩散炉超温现象的扩散工艺调试方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110180122A1 (en) * 2010-01-26 2011-07-28 Applied Materials, Inc. Floating grid module design for thin film silicon solar cells

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6235651B1 (en) * 1999-09-14 2001-05-22 Infineon Technologies North America Process for improving the thickness uniformity of a thin layer in semiconductor wafer fabrication
CN101447529A (zh) * 2008-12-22 2009-06-03 上海晶澳太阳能光伏科技有限公司 一种选择性发射极太阳电池制造过程中的氧化硅生成工艺
JP2011222682A (ja) * 2010-04-08 2011-11-04 Shin Etsu Chem Co Ltd シリコン酸化膜の形成方法及び太陽電池の製造方法
CN105624795A (zh) * 2016-03-09 2016-06-01 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种n型硅片热处理方法
CN109545886A (zh) * 2018-10-22 2019-03-29 浙江光隆能源科技股份有限公司 一种半片多晶太阳电池的制备方法
CN110071178A (zh) * 2019-04-12 2019-07-30 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种切片电池的制备方法及切片电池及光伏组件
CN110137284A (zh) * 2019-05-30 2019-08-16 晶澳(扬州)太阳能科技有限公司 硅片、电池片、电池半片、电池串、以及光伏组件
CN110211872A (zh) * 2019-05-30 2019-09-06 通威太阳能(合肥)有限公司 一种可改善低压扩散炉超温现象的扩散工艺调试方法

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