CN113064012A - 电子锁测试方法、测试系统、测试装置、设备和介质 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种电子锁测试方法、测试系统、测试装置、设备和介质；测试方法包括：获取测试参数，测试参数包括控制参数和固件参数，测试参数为依据电子锁产品规格的设计参数所生成；根据控制参数生成控制测试固件，并根据固件参数生成电子锁固件；将控制测试固件编译下载至测试设备中，并将电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使测试设备对待测电子锁施加预设的控制信号；根据是否接收到测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定控制参数和固件参数是否符合设计参数；其中，控制测试开锁信号为，测试设备确定待测电子锁验证控制信号通过后才反馈。本发明的测试方法以产品规格的设计参数作为指导，可缩短电子锁的开发周期，并提高电子锁的质量。
Description
技术领域
本发明涉及电子锁测试的技术领域，尤其涉及一种电子锁测试方法、测试系统、测试装置、计算机设备和可读存储介质。
背景技术
当前的电子锁行业，电子锁产品的质量普遍存在问题，例如电子锁的指纹匹配时间长、效率低，电子锁电池的实际耗电大于预期等等。发明人发现，电子锁产品的质量往往与前期的研发设计、以及试产过程中的关联测试密不可分。在目前的电子锁行业中，发明人还发现，从电子锁的研发阶段，试产阶段甚至到大规模的量产阶段，针对电子锁的测试手段不一。而市场上，针对设备供应商提供的测试设备，大部分也仅是实现将既定的测试程序重复执行，例如对电子锁进行预定的寿命测试等。
上述出现的问题与电子锁的设计行为基本毫不相关，以至于试产期间电子锁存在的问题未能及时发现，从而导致后期量产出售时的电子锁具有较大的潜在风险。
发明内容
本发明所要解决的问题是，针对现有开发阶段的电子锁测试往往与设计行为毫不相关，而导致电子锁存在较大潜在风险的问题，提出一种电子锁测试方法、测试系统、测试装置、计算机设备和可读存储介质，以降低电子锁开发的潜在风险，提高电子锁的质量。
本发明第一方面提供一种电子锁测试方法，其中，所述测试方法包括：
获取测试参数，所述测试参数包括控制参数和固件参数，所述测试参数为依据电子锁产品规格的设计参数所生成；
根据所述控制参数生成控制测试固件，并根据所述固件参数生成电子锁固件；
将所述控制测试固件编译下载至测试设备中，并将所述电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁施加预设的控制信号；
根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述控制参数和所述固件参数是否符合所述设计参数；
其中，所述控制测试开锁信号为，所述测试设备确定所述待测电子锁验证所述控制信号通过后才反馈。
可选地，所述根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述控制参数和所述固件参数是否符合所述设计参数，包括：
若接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，则确定所述控制参数和所述固件参数为符合所述设计参数。
可选地，若未接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，则确定所述控制参数和所述固件参数为不符合所述设计参数，所述测试方法还包括：
a.根据所述设计参数和所述测试参数生成新一组测试参数；所述新一组测试参数包括新一组控制参数和新一组固件参数；
b.根据所述新一组控制参数生成新一版本的控制测试固件，以及根据新一组固件参数生成新一版本的电子锁固件；
c.将所述新一版本的控制测试固件编译下载至所述测试设备中，并将所述新一版本的电子锁固件编译下载至所述待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁施加与所述新一版本的控制测试固件对应的控制信号；
d.根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述新一组激励控制参数和所述新一组固件参数是否符合所述设计参数；
e.若所述新一组激励控制参数和所述新一组固件参数不符合所述设计参数，则重复执行步骤a-d，直至所述新一组激励控制参数和所述新一组固件参数符合所述设计参数。
可选地，所述控制参数包括激励控制参数。
可选地，所述控制参数包括电压控制参数。
可选地，所述控制参数包括关锁控制参数，所述根据所述控制参数生成控制测试固件，并根据所述固件参数生成电子锁固件；将所述控制测试固件编译下载至测试设备中，并将所述电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁施加预设的控制信号，包括：
根据所述关锁控制参数生成关锁测试固件，并根据所述固件参数生成电子锁固件；
将所述关锁测试固件编译下载至所述测试设备中，并将所述电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁进行上锁。
本发明第二方面提供一种测试系统，所述测试系统包括控制器和测试设备，其中：
所述控制器用于实现上述第一方面任一项所述的测试方法。
本发明第三方面提供一种测试装置，所述测试装置包括：
获取模块，用于获取测试参数，所述测试参数包括控制参数和固件参数，所述测试参数为依据电子锁产品规格的设计参数所生成；
固件生成模块，用于根据所述控制参数生成控制测试固件，并根据所述固件参数生成电子锁固件；
编译下载模块，用于将所述控制测试固件编译下载至测试设备中，并将所述电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁施加预设的控制信号；
设计参数验证模块，用于根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述控制参数和所述固件参数是否符合所述设计参数；
其中，所述控制测试开锁信号为，所述测试设备确定所述待测电子锁验证所述控制测试开锁信号通过后才反馈。
本发明第四方面提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其中，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面任一项所述的测试方法。
本发明第五方面提供一种可读存储介质，所述可读存储介质存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面任一项所述的测试方法。
本发明提供的电子锁测试方法，根据电子锁的设计参数获取测试参数，以使得根据测试参数生成控制测试固件以及电子锁固件，从而实现将控制测试固件编译下载至测设备中，并将电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使测试设备对待测电子锁施加预设的控制信号，待测电子锁根据电子锁固件版本响应该控制信号，以确定是否开锁，并使得当待测电子锁开锁时测试设备将控制测试开锁信号发送控制器，从而实现控制器根据是否接收到控制测试开锁信号，而确定控制参数和固件参数是否符合设计参数，进一步可使得当控制参数和固件参数为不符合设计参数时，控制器继续调整测试参数，直至测试参数符合产品规格的设计参数，从而实现电子锁测试方法以电子锁产品规格的设计参数作为指导，以将符合设计参数的测试参数进行固化应用，提高电子锁的质量。并且，还可以使得电子锁的测试验证以及量产阶段时处于同一开发测数平台，提高研发部门、质量部门以及生产等部门共同开发的效率，降低电子锁的开发周期。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例1提供的提供的电子锁产品研发的一流程图；
图2是本发明实施例1提供的测试系统的一架构示意图；
图3是本发明实施例1提供的测试设备的一立体图；
图4是本发明实施例1提供的测试设备的另一立体图；
图5是本发明实施例1提供的测试设备的一正视图；
图6是本发明实施例1提供的测试设备的一俯视图；
图7是本发明实施例1提供的测试设备中图5的局部放大图；
图8是本发明实施例2提供的测试方法的一流程示意图；
图9是本发明实施例3提供的测试装置的一架构示意图流程示意图；
图10是本发明实施例5提供的计算机设备的一架构示意图。
其中，说明书中的附图标记如下：
1-底座；
2-固定座；
3-第一气缸；
4-第二气缸；
5-感测单元；
6-安全栅；61-第一安全栅；62-第二安全栅；
7-锁扣导块；
A-待测电子锁；A1-锁扣。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
进一步地，以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统、方法等的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的系统、电路、单元以及方法等的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为了说明本发明的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
本发明所述的待测电子锁，在一个应用场景中，待测电子锁可为电子挂锁，电子挂锁包括锁体和锁扣；示例性地，电子锁可以为指纹电子锁，指纹电子锁的锁体上设置有指纹验证模块，可以通过验证指纹的方式控制该指纹电子锁进行开锁；或者，电子锁也可以为密码电子锁，密码电子锁上设置有用于输入密码的开锁键盘，可以通过在开锁键盘上输入密码的方式控制该密码电子锁进行开锁。具体地，在控制对待测电子锁施加预设的指纹验证或者预设的开锁密码后，且待测电子锁验证开锁密码通过后，待测电子锁即可控制锁体内的驱动电机进行转动，以控制电子锁的锁扣进行弹出，从而完成开锁的动作。同时还可以通过控制驱动装置(例如实施例1中的第二气缸)而控制按压电子锁的锁扣，以使推动待测电子锁进行关锁。
需要说明的是，上述的待测电子锁还可以为如Wi-Fi或者蓝牙等方式开锁的电子锁等，并不限定，为避免累赘，此处便不展开描述。下面统一以指纹电子锁进行说明。
实施例1
本发明第一方面提供一种测试系统，该测试系统包括控制器和测试设备。其中，测试设备可以用于对待测电子锁A施加预设的激励信号；和/或，用于对待测电子锁A输出预设的供电电压；和/或，用于检测待测电子锁A是否开锁；和/或，用于控制待测电子锁A进行上锁等。
具体地，测试设备包括开锁激励单元、供电单元和感测单元5；如图2所示，控制器分别与开锁激励单元、供电单元和感测单元5连接，控制器用于根据电子锁产品规格的设计参数生成测试参数，并用于根据测试参数生成控制测试固件以及电子锁固件，以及用于将控制测试固件编译下载至测试设备中，并用于将电子锁固件编译下载至待测电子锁A中，以使得开锁激励单元用于根据控制测试固件而对待测电子锁A施加预设的激励信号，并使供电单元用于根据控制测试固件而对待测电子锁A输出预设的供电电压，待测电子锁根据电子锁固件和对应的激励信号(或者对应的供电电压)而控制开锁，感测单元5用于将检测待测电子锁A开锁后生成的开锁信号发送控制器，以使得控制器根据是否接收到感测器单元发送的开锁信号，而判断当前的测试参数是否符合设计参数；具体地，控制器用于实现下述实施例2中任一实施例的电子锁测试方法。
在一个实施例中，如图3-图7所示，测试设备具体还包括底座1、用于固定待测电子锁A的固定座2、第一气缸3和第二气缸4；本发明实施例的激励信号以人工指纹进行举例，开锁激励单元可以通过设置人工指纹的方式实现，该人工指纹只需令指纹模块的电容值测量产生变化，或者输出一致的辨析图像即可。具体可以通过导电性材质实现，以使得该导电性材质触碰待测电子锁A上的指纹模块时能改变其电容值，从而实现开锁激励的目的，其中，导电性材质可以为导电胶或者铝箔纸等，并不限定，可根据实际场景进行选择。具体地，固定座2、第一气缸3、第二气缸4和感测单元5均设于底座1上；测试指纹设于第一气缸3的推动杆的底部，以使第一气缸3推动该推动杆活动时，测试指纹触压待测电子锁A上的指纹模块；在待测电子锁A处于开锁状态，待测电子锁A的锁扣A1弹出时，第二气缸4用于推动待测电子锁A的锁扣A1进行上锁。其中，第一气缸3可以为旋转气缸或者垂直设置的伸缩气缸等，第二气缸4可以为水平设置的伸缩气缸等。
需要说明的是，上述实施例中除了所列举的设置人工指纹，还可以根据实际的电子锁类型，对应设置例如键盘按键，或者BLE(低功耗蓝牙)或者NFC或者Wi-Fi等无线信号进行信号激励。为避免累赘，此处便不展开描述。
在一个实施例中，如图3-图7所示，测试设备还包括安全防护装置，该安全防护装置可以为安全栅6，其中：安全栅6设于底座1上，安全栅6用于检测使用者是否通过安全栅6的区间，以使当待测电子锁A被测试时检测到测试者进入时控制停止检测。具体地，该安全栅6包括第一安全栅61和第二安全栅62，该第一安全栅61和第二安全栅62分别设于底座1的两侧上，可以设置如激光传感器等方式实现，以使得测试设备正常工作时当出现使用者的手臂进入安全栅6的区域时，可以使得测试设备进行自动启停，以提高测试设备应用的安全性。
在一个实施例中，感测单元5包括红外传感器和/或激光传感器等，其中：红外传感器用于，检测待测电子锁A的锁扣A1是否弹出，以使检测待测电子锁A的锁扣A1弹出时，红外传感器将开锁信号发送控制器；和/或，激光传感器用于，检测待测电子锁A的锁扣A1是否弹出，以使检测待测电子锁A的锁扣A1弹出时，激光传感器将开锁信号发送控制器。
在一个实施例中，如图2所示，固定座2旁还设有与锁扣A1匹配的锁扣A1锁扣导块7；锁扣A1锁扣导块7用于导向锁扣A1，以使锁扣A1在锁扣A1锁扣导块7上活动。
上述实施例中的测试系统，通过控制器和测试设备，可以使得控制器根据测试固件而驱动测试设备控制各个单元分别对待测电子锁进行测试，以使得待测电子锁根据激励信号或者供电电压而控制开锁，控制器根据是否到接收测试设备发送的开锁激励信号，而判断当前的测试参数是否符合设计参数，以缩短电子锁的开发周期，并提高电子锁的质量。
实施例2
涉及到对电子锁的研发测试，在一个应用场景中，如图1所示，电子锁的研发包括几个重要环节：定义产品规格，该产品规格具体包括机械，电子与软件等产品规格；实践设计方案，并对设计方案进行产品功能和性能的验证，若验证失败，接着修改设计，并重复上述过程。这中间主要以产品规格作为指导，以不断进行实践设计，从而使得待测电子锁符合产品规格，以将待测电子锁进行量产。其中，实践设计可细分为两个阶段：结构设计以及参数调整。机械设计涉及参数可以为如各部件间作用力，或者个别部件的硬度等。电子的结构设计可以为如电子电路的拓扑结构等，电子设计涉及参数可以为电子元件的数值等。
一般而言，结构设计与参数调整在实践设计过程中耗费的时间可以为二、八比。百分之八十的时间主要消耗在参数调整，以使得所设计产品表现出产品规格所说的。当然是经过设计验证这一环节来进行确认，可见，测试参数的调整占了电子锁产品开发的大部分时间，以通过不断调整测试参数，从而使得电子锁表现出如产品规格所说的功能。
在一个实施例中，测试参数可包括控制参数和固件参数。其中，控制参数可以理解为测试设备对待测电子锁的参数控制，以使得控制器将根据控制参数生成的控制测试固件下载至测试设备时，测试设备根据不同版本的控制测试固件而对应输出例如预设的激励信号或者预设的供电电压(或者供电电流)等，以对待测电子锁进行对应测试。示例性地，以电子锁供电电压的控制参数进行说明，例如电子锁设计规格的供电电压为1.8V-3.6V，可以用0.1V作步距的等差数列来进行参数控制，也即可分别设置1.8V、1.9V...3.5V和3.6V的控制参数，以使得测试设备根据对应版本的控制测试固件而对待测电子锁分别输出1.8V、1.9V...3.5V和3.6V的供电电压，并检测在不同供电电压情况下待测电子锁的开锁情况，以使得将满足电子锁设计规格的供电电压作为目标电压控制参数。控制参数还可以为如电子锁激励信号的激励控制参数，示例性地，例如电子锁设计规格的开锁时间为0.8S-2.0S，则可以根据开锁时间的设计规格而转换成对待测电子锁的激励控制，也即可以对待测电子锁的指纹模块进行预设时间的按压，以验证指纹模块验证的停留或者等待时间，该激励控制参数除了可以检测指纹模块的有效反应时间外，也可以验证电子锁进入指纹注册，指纹增加或者指纹删除模式等。具体地，基于电子锁设计规格的开锁时间为0.8秒-2.0秒，此时可以使用0.1秒作步距的等差数列进行参数控制，例如可设置0.8秒、0.9秒...1.9秒和2.0秒的激励控制参数进行参数验证，并检测在不同时间激励情况下电子锁的开锁情况，以使得将满足电子锁设计规格的激励信号作为目标激励控制参数。
具体地，固件参数可以理解为控制电子锁硬件的驱动参数，以使得控制器将根据固件参数生成的电子锁固件下载至待测电子锁时，待测电子锁的控制芯片可根据不同版本的电子锁固件而控制硬件表现预设的动作或者性能，固件参数可以为例如低电检测的电压参考值，或者为驱动电机转速的占控比(占控比可以理解为驱动电机极限速度的占比)，以使得通过控制不同的占控比而控制驱动电机以不同速度和扭力进行转动，具体可以通过改变供电电压而改变驱动电机转速的占控比。
基于上述的说明，下面对本发明的测试方法展开描述，在一个实施例中，如图8所示，测试方法可以应用于上述实施例1的控制器中，其中，控制器根据产品规格的设计参数生成测试参数，并根据具体的检测情况而不断调整测试参数，以使将符合设计参数的验证参数进行固化，以将固化的测试参数应用到后续开发阶段或者量产阶段中。为避免累赘，下面实施例的描述对控制器进行了省略，测试方法包括：
S10：获取测试参数，测试参数包括控制参数和固件参数，测试参数为依据电子锁产品规格的设计参数所生成。
具体地，在进行电子锁的测试时，可预先根据电子锁产品规格的设计参数生成多组测试参数，其中，测试参数包括控制参数和固件参数，测试参数可以理解为测试设备对待测试锁体所进行的参数控制，例如开锁激励的参数控制或者供电电压的参数控制等，固件参数为待测电子锁硬件的参数，可以理解，电子锁的固件通常包括驱动电机和指纹模块等相关固件，待测电子锁涉及到指纹模块的固件参数和驱动电机的固件参数等。
S20：根据控制参数生成控制测试固件，并根据固件参数生成电子锁固件。
S30：将控制测试固件编译下载至测试设备中，并将电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使测试设备对待测电子锁施加预设的控制信号。
具体地，基于步骤S10获取的控制参数和固件参数，步骤S20-S30中，可以根据控制参数生成控制测试固件，以及根据固件参数生成电子锁固件，并将对应的控制参数下载编译至测试设备中，以及将电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使测试设备对待测电子锁施加预设的控制信号，待测电子锁根据电子锁固件而响应测试设备的控制信号，以使待测电子锁验证控制信号是否开锁。
具体地，步骤S20-S30对固件进行编译下载的过程，具体可以通过包括但不局限于例如：OTA(Over-the-Air)空中升级、JTAG(Joint Test Action Group)联合测试，SWD(Serial Wire Debug)串口调试等多种方式实现，为避免累赘，此处便不展开描述。
在一个实施例中，测试参数包括激励控制参数，示例性地，其中一组激励控制参数的激励时间为2.0S，在将激励控制参数生成激励测试固件，以及将激励测试固件下载至测试设备后，可使测试设备对待测电子锁施加预设的激励信号，也即可使测试设备根据具体版本的激励测试固件，而控制如实施例1的第一气缸对待测电子锁施加对应的激励信号，也即，控制对待测电子锁的指纹模块进行2.0S的人工指纹激励，以通过该人工指纹的激励而检测该待测电子锁指纹模块的反应时间等。
在另一个实施例中，测试参数包括电压控制参数，示例性地，其中一组电压控制参数的供电电压为2.6V，在将电压控制参数生成电压测试固件，以及将电压测试固件下载至测试设备后，可使测试设备对待测电子锁施加预设的供电电压，也即根据具体版本的电压测试固件，而控制如实施例1的供电单元对待测电子锁施加对应的供电电压，也即，控制对待测电子锁施加2.6V的供电电压，以通过该供电电压验证是否可正常驱动待测电子锁的驱动电机进行对应的转动，从而确定该组电压控制参数是否能驱动电子锁进行开锁。
在另一个实施例中，测试参数包括关锁控制参数，示例性地，其中一组关锁控制参数为关锁推力20N，在将关锁控制参数生成关锁测试固件，以及将关锁测试固件下载至测试设备后，可使测试设备对待测电子锁施加预设的推力，以驱动电子锁进行上锁，也即根据具体版本的关锁测试固件，而控制如实施例1中的第二气缸对待测电子锁施加对应的推力，也即，控制对待测电子锁的锁扣施加20N的推力，以通过该推力去检测是否能驱动电子锁上锁。
S40：根据是否接收到测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定控制参数和固件参数是否符合设计参数；其中，控制测试开锁信号为测试设备确定待测电子锁验证控制测试开锁信号通过后才反馈。
具体地，当测试设备对待测电子锁施加预设的控制信号，待测电子锁根据该预设的控制信号进行开锁时，测试设备的感测单元可以感应待测电子锁的锁扣进行弹出，也即可以通过感测单元检测待测电子锁是否成功开锁，若感测单元检测电子锁成功开锁，测试设备则向控制器反馈控制测试开锁信号，以使得控制器根据是否接收到测试设备反馈的控制测试开锁信号，而确定当前的控制参数和固件参数是否符合设计参数。
在一个实施例中，步骤S40中，根据是否接收到测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定控制参数和固件参数是否符合设计参数，具体包括：
S401：若接收到测试设备反馈的控制测试开锁信号，则确定控制参数和固件参数为符合设计参数。
基于上述实施例1的测试设备，若接收到测试设备反馈的控制测试开锁信号，也即当待测试锁体控制驱动电机开锁时，测试设备的红外传感器(或者激光传感器)可以感知待测试锁体的锁扣进行弹出，从而将感测信号发送至测试设备，以使测试设备将生成的控制测试开锁信号发送至控制器，以使得控制器接收到该控制测试开锁信号后，可以得知当前待测电子锁为成功开锁，从而可以确定当前的测试参数和固件参数为符合待测电子锁的设计参数。上述实施例中，若接收到测试设备反馈的控制测试开锁信号，则说明当前的控制参数和固件参数相匹配，也即当前的测试参数符合设计规格，则可以确定当前的控制参数和固件参数符合设计参数，结合上述实施例1的测试设备，当确定符合设计参数时，具体还可以通过设置指示灯的方式进行提示，例如当符合时则控制绿灯提示或者声音提示等。
基于测试参数包括激励控制参数，在控制器根据激励控制参数生成激励测试固件并下载至测试设备中，测试设备根据激励测试固件而对待测电子锁施加预设的激励信号，此时待测电子锁根据该预设的激励信号进行开锁时，测试设备的感测单元可以感应待测电子锁的锁扣进行弹出，也即待测电子锁成功开锁，测试设备则向控制器反馈激励测试开锁信号，以使得控制器根据接收到测试设备反馈的激励测试开锁信号，而确定当前的激励控制参数和固件参数为符合设计参数。
并基于测试参数包括电压控制参数，在控制器根据电压控制参数生成电压测试固件并下载至测试设备中，测试设备根据电压测试固件而对待测电子锁施加预设的电压信号，此时待测电子锁根据该预设的电压信号进行开锁时，测试设备的感测单元可以感应待测电子锁的锁扣进行弹出，也即待测电子锁成功开锁，测试设备则向控制器反馈电压测试开锁信号，以使得控制器根据接收到测试设备反馈的电压测试开锁信号，而确定当前的电压控制参数和固件参数为符合设计参数。
并基于测试参数包括关锁控制参数，在控制器根据关锁控制参数生成电压测试固件并下载至测试设备中，测试设备根据电压测试固件而对待测电子锁施加预设的推力，此时通过预设的推力对待测电子锁进行上锁，若待测电子锁成功上锁时，则测试设备的感测单元未感应待测电子锁的锁扣进行弹出，此时则说明待测电子锁成功上锁，若未成功上锁，则测试设备向控制器反馈开锁检测信号，以使得控制器根据接收到测试设备反馈的开锁检测信号，而确定当前的关锁控制参数和固件参数为不符合设计参数。
上述的实施例中，首先根据电子锁的设计参数获取测试参数，以使得控制器根据测试参数生成控制测试固件以及电子锁固件，从而实现将控制测试固件编译下载至测设备中，并将电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使测试设备对待测电子锁施加预设的控制信号，待测电子锁根据电子锁固件版本响应该控制信号，以确定是否开锁，并使得当待测电子锁开锁时测试设备将控制测试开锁信号发送控制器，从而实现控制器根据是否接收到控制测试开锁信号，而确定控制参数和固件参数是否符合设计参数，以使当控制参数和固件参数为不符合设计参数时，控制器继续调整测试参数，直至测试参数符合产品规格的设计参数，从而实现电子锁测试方法以电子锁产品规格的设计参数作为指导，以将符合设计参数的测试参数进行固化应用，提高电子锁的质量。并且，还可以使得电子锁的测试验证以及量产阶段时处于同一开发平台，并提高研发部门、质量部门以及生产等部门的共同开发的效率，降低电子锁的开发周期。
在一个实施例中，若未接收到测试设备反馈的控制测试开锁信号，则确定控制参数和固件参数为不符合设计参数，测试方法还包括：
a.根据设计参数和测试参数生成新一组测试参数；新一组测试参数包括新一组控制参数和新一组固件参数。
基于实际的产品规格，若首次验证的控制参数和固件参数为不符合设计参数，则还可以根据设计参数进行测试参数调整，以使得生成其他的测试参数，具体可以通过设置矩阵的方式进行实现。示例性地，针对供电电压的控制参数，以及针对驱动电机占控比的固件参数，例如电子锁设计参数的供电电压范围为1.8V-2.2V，可以0.1V为等差数据分别设置电压测试控制参数和固件参数，也即可分别设置1.8V、1.9V、2.0V、2.1V和2.2V的电压测试控制参数，对应地，可分别设置例如60％、70％、80％和90％的固件参数，针对1.8V电压测试控制参数，可以分别对应60％、70％、80％和90％的固件参数，并针对1.9V电压测试控制参数，可以分别对应60％、70％、80％和90％的固件参数......2.2V电压测试控制参数，可以分别对应60％、70％、80％和90％的固件参数，以使得生成多组测试参数。
b.根据新一组控制参数生成新一版本的控制测试固件，以及根据新一组固件参数生成新一版本的电子锁固件。
在生成新一组测试参数以及新一组固件参数后，可以对应生成新一版本的控制测试固件以及新一版本的电子锁固件。
c.将新一版本的控制测试固件编译下载至测试设备中，并将新一版本的电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使测试设备对待测电子锁施加与新一版本的控制测试固件对应的控制信号。
d.根据是否接收到测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定新一组激励控制参数和新一组固件参数是否符合设计参数；
e.若新一组激励控制参数和新一组固件参数不符合设计参数，则重复执行步骤a-d，直至新一组控制参数和新一组固件参数符合设计参数。
需要说明的是，上述实施例中所述的参数仅用于举例说明，并不限定，具体可根据实际场景进行选择。
基于步骤S10-S40确认的测试参数为不符合设计参数时，通过上述步骤中a-d，可以使得不断对测试参数进行调整，直至控制参数和固件参数符合设计参数，示例性地，例如在上述步骤S10-S40测试中，控制参数的电压控制参数为1.8V，驱动电机的占控比为50％，具体测试时，发现此版本的固件未能成功驱动待测电子锁进行开锁，则此时可以调整对应调整电压控制参数和/或驱动电机的占控比，以使得在下一次测试时可再次验证重新调整的参数，直至可以确定新一组控制参数和固件参数符合设计参数。从而可将符合设计参数的控制参数以及固件参数进行固化，以实现将固化的参数应用至电子锁的量产阶段中，提高识别电子锁研发过程的问题点以及风险点，从而使得不仅可以缩短电子锁的开发过程，还可以提高电子锁量产的稳定性。需要说明的是，上述实施例中a-e的过程具体还包括激励控制参数、电压控制参数和关锁控制测试的调整，为避免累赘，此处便不展开描述。
本发明的测试方法，通过结合实施例1的测试设备，测试方法流程和测试设备结合成为一测试平台，以使得电子锁在研发阶段中，从设计验证阶段直至量产阶段均采用该一测试平台。如此可以实现研发部门、质量部门以及生产等部门均以此测试平台作为沟通以及联动的桥梁，从而可以缩短电子锁产品的开发周期，以使得加快电子锁的上市时间。同时，基于在同一测试平台中对电子锁设计方案进行实施、验证以及参数优化，且把电子锁的固件、激励控制、供电控制以及机械部分一并考虑，可以使得将失效模式的覆盖面达到最大化，以识别电子锁产品潜在风险，一定程度上可以提高产品的可靠性和稳定性。
实施例3
本发明的实施例3提供一种测试装置，该测试装置实现的功能可以与上述实施例2中测试方法的步骤一一对应。具体地，如图9所示，该测试装置可以包括获取模块10、固件生成模块20、编译下载模块30和设计参数验证模块40，其中：
获取模块10，用于获取测试参数，所述测试参数包括控制参数和固件参数，所述测试参数为依据电子锁产品规格的设计参数所生成；
固件生成模块20，用于根据所述控制参数生成控制测试固件，并根据所述固件参数生成电子锁固件；
编译下载模块30，用于将所述控制测试固件编译下载至测试设备中，并将所述电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁施加预设的控制信号；
设计参数验证模块40，用于根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述控制参数和所述固件参数是否符合所述设计参数；
其中，所述控制测试开锁信号为所述测试设备确定所述待测电子锁验证所述控制测试开锁信号通过后才反馈。
关于测试装置的具体限定可以参见上文中对于测试方法的限定，在此不再赘述。上述测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述的各个模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
实施例4
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述实施例测试方法中的步骤，或者，该计算机程序被处理器执行时实现上述实施例测试装置中各模块的功能，为避免重复，这里不再赘述。可以理解地，所述计算机可读存储介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号和电信信号等。
实施例5
在一个实施例中，如图10所示，提供一种计算机设备。具体地，该实施例的计算机设备60包括：处理器61、存储器62以及存储在存储器62中并可在处理器61上运行的计算机程序63。处理器61执行计算机程序63时实现上述实施例测试方法中的步骤，或者，处理器61执行计算机程序63时实现上述实施例测试装置中各模块的功能，为避免重复，这里不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(SynchlinK)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块、子模块和单元完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种电子锁测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：
获取测试参数，所述测试参数包括控制参数和固件参数，所述测试参数为依据电子锁产品规格的设计参数所生成；
根据所述控制参数生成控制测试固件，并根据所述固件参数生成电子锁固件；
将所述控制测试固件编译下载至测试设备中，并将所述电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁施加预设的控制信号；
根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述控制参数和所述固件参数是否符合所述设计参数；
其中，所述控制测试开锁信号为，所述测试设备确定所述待测电子锁验证所述控制信号通过后才反馈。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述控制参数和所述固件参数是否符合所述设计参数，包括：
若接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，则确定所述控制参数和所述固件参数为符合所述设计参数。
3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，若未接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，则确定所述控制参数和所述固件参数为不符合所述设计参数，所述测试方法还包括：
a.根据所述设计参数和所述测试参数生成新一组测试参数；所述新一组测试参数包括新一组控制参数和新一组固件参数；
b.根据所述新一组控制参数生成新一版本的控制测试固件，以及根据新一组固件参数生成新一版本的电子锁固件；
c.将所述新一版本的控制测试固件编译下载至所述测试设备中，并将所述新一版本的电子锁固件编译下载至所述待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁施加与所述新一版本的控制测试固件对应的控制信号；
d.根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述新一组激励控制参数和所述新一组固件参数是否符合所述设计参数；
e.若所述新一组激励控制参数和所述新一组固件参数不符合所述设计参数，则重复执行步骤a-d，直至所述新一组激励控制参数和所述新一组固件参数符合所述设计参数。
4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述控制参数包括激励控制参数。
5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述控制参数包括电压控制参数。
6.根据权利要求4或5所述的测试方法，其特征在于，所述控制参数包括关锁控制参数，所述根据所述控制参数生成控制测试固件，并根据所述固件参数生成电子锁固件；将所述控制测试固件编译下载至测试设备中，并将所述电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁施加预设的控制信号，包括：
根据所述关锁控制参数生成关锁测试固件，并根据所述固件参数生成电子锁固件；
将所述关锁测试固件编译下载至所述测试设备中，并将所述电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁进行上锁。
7.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括控制器和测试设备，其中：
所述控制器用于实现如权利要求1-6任一项所述的测试方法。
8.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：
获取模块，用于获取测试参数，所述测试参数包括控制参数和固件参数，所述测试参数为依据电子锁产品规格的设计参数所生成；
固件生成模块，用于根据所述控制参数生成控制测试固件，并根据所述固件参数生成电子锁固件；
编译下载模块，用于将所述控制测试固件编译下载至测试设备中，并将所述电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁施加预设的控制信号；
设计参数验证模块，用于根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述控制参数和所述固件参数是否符合所述设计参数；
其中，所述控制测试开锁信号为所述测试设备确定所述待测电子锁验证所述控制测试开锁信号通过后才反馈。
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-6任一项所述的测试方法。
10.一种可读存储介质，所述可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的测试方法。
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