CN112763935A - 执行多种测试的测试系统、传送器与接收器 - Google Patents

执行多种测试的测试系统、传送器与接收器 Download PDF

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CN112763935A CN201911002398.1A CN201911002398A CN112763935A CN 112763935 A CN112763935 A CN 112763935A CN 201911002398 A CN201911002398 A CN 201911002398A CN 112763935 A CN112763935 A CN 112763935A
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Abstract

本申请涉及执行多种测试的测试系统、传送器与接收器。测试系统包含传送器、接收器、量测电路以及控制电路。该传送器以直流耦合方式耦接该接收器，包含：信号输入电路，用来依据输入信号决定输出信号；电流源，耦接于该信号输入电路与低电源端之间，用来决定于无开短路情形下流经该信号输入电路的总电流；以及信号输出线路，用来输出该输出信号可用于性能测试。该接收器包含：阻抗电路，耦接该信号输出线路；以及耦接电路，用来将该阻抗电路耦接至高电源端。该量测电路用来量测该高电源端与该低电源端之间的目标电流/电压，以产生量测结果。该控制电路用来依据该量测结果判断待测装置是否处于该无开短路情形，该待测装置为该传送器或该接收器。

Description

执行多种测试的测试系统、传送器与接收器
技术领域
本发明是关于能够执行多种测试的测试系统、传送器与接收器，尤其是关于能够于直流耦合模式下执行多种测试的测试系统、传送器与接收器。
背景技术
高速信号传输通常基于直流耦合(DC coupling)架构或交流耦合(AC coupling)架构。直流耦合架构中，传送器与接收器直接相连；因此，在此架构下，直流信号与交流信号均可被成功传输。采用直流耦合架构的协议包含高分辨率多媒体接口(High DefinitionMultimedia Interface,HDMI)协议。
图1示出一传统测试系统用来于直流耦合架构下测试一传送器。图1的测试系统100包含一受测装置(device under test,DUT)110(亦即：传送器)、一多任务器120、一性能测试单元(亦即：接收器)130与一开短路测量单元140。当测试受测装置110的传送功能时，多任务器120电性连接受测装置110与性能测试单元130；当测试受测装置110是否有开路/短路问题时，多任务器120电性连接受测装置110与开短路测量单元140。
图2示出另一传统测试系统用来于直流耦合架构下测试一接收器。图2的测试系统200包含一受测装置210(亦即：接收器)、一多任务器220、一信号产生器(亦即：传送器)230与一开短路测量单元240。当测试受测装置210的接收功能时，多任务器220电性连接受测装置210与信号产生器230；当测试受测装置210是否有开路/短路问题时，多任务器220电性连接受测装置210与开短路测量单元240。
承上所述，传统测试系统需要多任务器以于直流耦合架构下实现不同测试(例如：传送/接收功能测试以及开路/短路测试)；然而，传统测试系统面临下列问题：
(一)随着信号传输的速度愈来愈快，合用的多任务器愈来愈难找。
(二)多任务器本身会造成额外的信号损耗或反射，从而劣化测试环境而导致产品的良率下降。
值得注意的是，若不使用多任务器，图1的测试系统100会分成两套系统以分别执行传送功能测试与开路/短路测试，图2的测试系统200会分成两套系统以分别执行接收功能测试与开路/短路测试，如此一来，测试变多且测试时间变长，从而测试成本会增加。
发明内容
本发明的目的之一在于提供能够于直流耦合模式下执行多种测试的测试系统、传送器与接收器，以避免先前技术的问题。
本发明公开了一种能够于一直流耦合模式下执行多种测试的测试系统，该测试系统的一实施例包含一传送器、一接收器、一量测电路与一控制电路。该传送器包含：一信号输入电路，用来依据一输入信号决定一输出信号；一电流源，耦接于该信号输入电路的一低电位端以及一低电源端之间，用来决定于一无开短路情形下流经该信号输入电路的一总电流；以及一信号输出线路，耦接于该信号输入电路的一高电位端以及一阻抗电路之间，用来输出该输出信号，其中该输出信号于一性能测试下是作为一待测信号。该接收器以一直流耦合方式耦接该传送器，包含：前述阻抗电路，直接地或间接地耦接至一高电源端，其中该阻抗电路的阻抗与该总电流用来于该无开短路情形下共同决定该输出信号的强度。该量测电路用来量测该高电源端与该低电源端之间的一目标电流或一目标电压，以产生一量测结果。该控制电路用来于一开短路测试下，依据该量测结果判断一待测装置是否处于该无开短路情形，其中该待测装置为该传送器与该接收器的其中之一。
本发明另公开一种能够于一直流耦合模式下执行多种测试的传送器，该传送器的一实施例包含一差动信号输入电路、一电流源与一差动信号输出线路。该差动信号输入电路包含一第一晶体管与一第二晶体管，该第一晶体管用来依据一差动输入信号之一第一输入信号决定一差动输出信号之一第二输出信号，该第二晶体管用来依据该差动输入信号之一第二输入信号决定该差动输出信号之一第一输出信号，其中于一开短路测试下，该第一输入信号的电压电平不同于该第二输入信号的电压电平。该电流源耦接于该差动信号输入电路的一低电位端以及一低电源端之间，用来决定于一无开短路情形下流经该差动信号输入电路的一总电流。该差动信号输出线路耦接该第一晶体管与该第二晶体管的高电位端，用来输出该差动输出信号，其中该差动输出信号于一性能测试下是作为一待测信号。于该开短路测试下，该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平分别相依于一第二开关的状态与一第一开关的状态，该第一开关的状态允许或不允许该总电流流经该第一晶体管，该第二开关的状态允许或不允许该总电流流经该第二晶体管，该第一开关的状态不同于该第二开关的状态。
本发明另公开一种能够于一直流耦合模式下执行多种测试的接收器，包含一阻抗电路与一开关电路。该阻抗电路包含一第一阻抗与一第二阻抗；该第一阻抗耦接一第一输出端，该第一输出端用来输出一差动输出信号的一第一输出信号，该第一输出信号相依于一差动输入信号的一第二输入信号；该第二阻抗耦接一第二输出端，该第二输出端用来输出该差动输出信号之一第二输出信号，该第二输出信号相依于该差动输入信号的一第一输入信号；该阻抗电路用来于一无开短路情形下依据一总电流决定该差动输出信号的强度，该差动输出信号于一性能测试下是作为一待测信号。该开关电路用来将该阻抗电路耦接至一高电源端，或用来将一差动信号输入端耦接至该阻抗电路；该开关电路包含一第一开关与一第二开关；该差动信号输入端包含一第一输入端与一第二输入端分别用来提供该第一输入信号与该第二输入信号；该第一开关耦接于该高电源端与该第一阻抗之间，或耦接于该第一阻抗与该第二输入端之间；该第二开关耦接于该高电源端与该第二阻抗之间或耦接于该第二阻抗与该第一输入端之间。于一开短路测试下，该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平相关于该第一开关的状态与该第二开关的状态，该第一开关的状态不同于该第二开关的状态。
有关本发明的特征、实作与功效，兹配合图式作优选实施例详细说明如下。
附图说明
图1示出一传统测试系统用来测试一传送器；
图2示出一传统测试系统用来测试一接收器；
图3示出本发明之测试系统的一实施例；
图4示出图3的测试系统的一实施例；
图5示出图4的量测电路的一实施例；
图6示出图5的待测装置的第一/第二路径短路到地或低电压端；
图7a示出图5的待测装置的第一/第二路径开路；
图7b示出图5的待测装置的第一/第二路径短路到高电压端；
图8示出图5的待测装置的第一路径与该第二路径之间有短路的情形；
图9示出图4的量测电路的另一实施例；
图10示出图4的量测电路的另一实施例；
图11示出本发明的测试系统的一实施例。
具体实施方式
本发明公开了能够于直流耦合(direct-current(DC)coupling)模式下执行多种测试的测试系统、传送器与接收器。
图3示出本发明的测试系统的一实施例。图3的测试系统300包含一传送器310(例如：高分辨率多媒体接口(HDMI)传送器)、一接收器320(例如：HDMI接收器)、一量测电路330与一控制电路340。传送器310与接收器320是以一直流耦合方式耦接在一起，且传送器310与接收器320之间没有多任务器。测试系统300适用于单端信号或差动信号。为帮助了解，后述的部分实施例(例如：图4至图10)采用差动信号；然而，本领域具有通常知识者可依本公开及本领域之通常知识得知如何让测试系统300测试单端信号。
请参阅图3。传送器310包含一信号输入电路312、一电流源314与一信号输出线路316。信号输入电路312用来依据一输入信号VI决定一输出信号VO。电流源314耦接于信号输入电路312的一低电位端以及一低电源端VL(例如：接地端)之间，用来决定于一无开短路情形下流经信号输入电路312的一总电流ITOT。信号输出线路316耦接于信号输入电路312的一高电位端以及一阻抗电路322之间，用来输出该输出信号VO，其中该输出信号VO于一性能测试下是作为一待测信号，该性能测试为一已知或自行开发的测试。接收器320包含阻抗电路322与一耦接电路324。阻抗电路322的阻抗与该总电流ITOT用来于该无开短路情形下共同决定该输出信号VO的强度。耦接电路324用来将阻抗电路322耦接至一高电源端VH(例如：3.3伏特的电源端)。量测电路330耦接该高电源端VH与该低电源端VL之间的两个节点(例如：图5)以量测该两个节点之间的一目标电流，或耦接该高电源端VH与该低电源端VL之间的一节点(例如：图9)以量测该节点的一目标电压，从而产生一量测结果SOUT，其中该目标电流相关于该总电流ITOT，该目标电压相关于该总电流ITOT与阻抗电路322的阻抗。控制电路340用来于一开短路测试下，依据该量测结果SOUT判断一待测装置是否处于该无开短路情形，其中该待测装置为传送器310与接收器320的其中之一，控制电路340依实施需求可选择性地耦接传送器310及/或接收器320(例如：图4)。值得注意的是，由于该总电流ITOT的值可被事先估算，控制电路340可依据该总电流ITOT判断该量测结果是否符合一或多个预设条件(例如：后述的表1与表2)，以得知该待测装置是否处于该无开短路情形。
图4示出测试系统300的一实施例。如图4所示，该输入信号VI为一差动输入信号VIN、VIP；该输出信号VO为一差动输出信号VON、VOP；信号输入电路312包含一第一晶体管N1与一第二晶体管N2分别用来接收该输入信号VIP与该输入信号VIN；信号输出线路316包含一第一线路与一第二线路分别用来输出该输出信号VOP与该输出信号VON；阻抗电路322包含一第一电阻ROP与一第二电阻RON分别耦接该第一线路与该第二线路。此外，耦接电路324包含一开关电路，耦接于该高电源端VH与阻抗电路322之间；开关电路包含一第一开关SWP与一第二开关SWN；该第一开关SWP用来电性连接该高电源端VH与该第二晶体管N2；该第二开关SWN用来电性连接该高电源端VH与该第一晶体管N1。该高电源端VH、该第一开关SWP、该第一电阻ROP、该第一线路、该第二晶体管N2、电流源314与该低电源端VL形成一第一路径；该高电源端VH、该第二开关SWN、该第二电阻RON、该第二线路、该第一晶体管N1、该电流源314与该低电源端VL形成一第二路径；当该第一开关导通SWP且该第二开关SWN不导通时，量测电路330量测该第一路径的该目标电流或电压；当该第二开关SWN导通且该第一开关SWP不导通时，量测电路330量测该第二路径的该目标电流或电压。值得注意的是，于前述性能测试下，该第一开关SWP与该第二开关SWN同时导通，使得一接收电路(未示出于图)接收并处理该差动输出信号VON、VOP。另值得注意的是，图4之实施例中，该第一晶体管N1与该第二晶体管N2为NMOS晶体管；然而，在实施为可能的情形下，该二晶体管可为其它类型的晶体管。
值得注意的是，若没有耦接电路324或不使用耦接电路324(亦即：开关SWP、SWN总是保持导通)，除了后述的路径间短路测试模式外，测试系统300可正常运作于其他测试模式，因此，如果该路径间短路测试模式非必要的话，耦接电路324并非必要，可选择性地被实施。
请参阅图4。控制电路340用来于该开短路测试下，控制该第一开关SWP与该第二开关SWN的状态以及决定该输入信号VIP与该输入信号VIN的电压电平。举例而言，该开短路测试包含一第一路径开短路测试模式、一第二路径开短路测试模式、一第一路径间短路测试模式与一第二路径间短路测试模式；控制电路340于该第一路径开短路测试模式下，令该第一开关SWP与该第二晶体管N2导通，并令量测电路330量测该目标电流或电压，从而得知该第一路径之开短路测试的结果是否正常(亦即：无开短路情形)；控制电路340于该第二路径开短路测试模式下，令该第二开关SWN与该第一晶体管N1导通，并令量测电路330量测该目标电流或电压，从而得知该第二路径之开短路测试的结果是否正常；控制电路340于该第一路径间短路测试模式下，令该第一开关SWP与该第一晶体管N1导通，并令量测电路330量测该目标电流或电压，以得知是否有电流从该第一路径流向该第二路径，从而得知该第一路径与该第二路径之间是否短路；以及控制电路340于该第二路径间短路测试模式下，令该第二开关SWN与该第二晶体管N2导通，并令量测电路330量测该目标电流或电压，以得知是否有电流从该第二路径流向该第一路径，从而得知该第二路径与该第一路径之间是否短路。
图5示出量测电路330的一实施例。图5的量测电路330包含一电流计510，电流计510耦接于该高电源端VH与耦接电路324之间，用来量测该目标电流IS。请参阅底下表1，于一实施例中，在前述第一/第二路径开短路测试模式(1st/2nd模式)下，当该量测结果SOUT指出该目标电流IS与该总电流ITOT之间的一电流差异小于一电流阈值时(亦即：该目标电流IS等于/近似于该总电流ITOT)，控制电路340判断该待测装置处于该第一/第二路径无开短路情形；当该量测结果SOUT指出该目标电流IS大于该总电流ITOT时(此时该电流差异不小于该电流阈值)，控制电路340判断该待测装置处于该第一/第二路径短路到地(GND)或低电压端(例如：一电压端VCC_L具有一电压小于该高电源端VH之电压)的情形，如图6所示；当该量测结果SOUT指出该目标电流IS小于该总电流ITOT时(此时该电流差异不小于该电流阈值)，控制电路340判断该待测装置处于该第一/第二路径开路(如图7a所示)的情形，或处于该第一/第二路径短路到高电压端(例如：一电压端VCC_H具有一电压大于该高电源端VH之电压)的情形(如图7b所示)。
表1
Figure BDA0002241734220000081
请再参阅表1。在前述第一/第二路径间短路测试模式(3rd/4th模式)下，当该量测结果SOUT指出该目标电流IS小于该总电流ITOT时(此时该目标电流IS与该总电流ITOT之间的一电流差异大于一电流阈值)，控制电路340判断该待测装置处于一路径间无短路情形；当该量测结果SOUT指出该目标电流IS与该总电流ITOT之间的该电流差异不大于该电流阈值时(亦即：该目标电流IS等于/近似于该总电流ITOT)，控制电路340判断该待测装置处于该第一路径与该第二路径间有短路的情形，如图8所示。
图9示出量测电路330的另一实施例。图9的量测电路330包含一电阻RS与一电压计910。电阻RS耦接于该高电源端VH与耦接电路324之间。电压计910用来量测电阻RS与耦接电路324之间的一节点的该目标电压VS，当该第一/第二路径无开短路时，该目标电压VS会等于/近似于该高电源端VH的电压V33减去ITOT×RS(VS＝V33-ITOT×RS＝VOK)。表2示出图9之实施例于各测试模式下的量测结果。由于本领域具有通常知识者可由图5的实施例来了解图9的实施例，重复及冗余的说明在此省略。
表2
Figure BDA0002241734220000091
值得注意的是，表1与表2的电流关系与电压关系可借由一比较电路来获得。该比较电路可包含于量测电路330中，此时该量测结果SOUT为比较结果；该比较电路也可包含于控制电路340中，此时该量测结果SOUT为IS/VS。由于该比较电路可为已知或自行开发的电路，其细节在此省略。
图10示出量测电路330的另一实施例。相较于图9、图10的量测电路330直接量测差动输出信号VON/VOP，量测电路330/控制电路340再比较量得的电压与一默认电压，以依据比较结果判断开短路情形。由于本领域具有通常知识者可由前述实施例来了解图10之实施例的细节与变化，重复及冗余的说明在此省略。
图11本发明的测试系统的另一实施例。相较于图3、图11的测试系统1100之耦接电路324用来将信号输入电路312耦接至阻抗电路322。图11中，耦接电路324是耦接于信号输出线路316与阻抗电路322之间；然而，耦接电路324也可耦接于信号输入电路312与信号输出线路316之间(未示出于图)；综言之，耦接电路324是耦接于一差动信号输入端(亦即：信号输出线路316或信号输入电路312)与阻抗电路322之间。由于本领域具有通常知识者可由图3至图10的实施例来了解图11之实施例的细节与变化，重复及冗余的说明在此省略。
本发明另公开了能够于直流耦合模式下执行多种测试的传送器(例如：图3之传送器310)与接收器(例如：图3之接收器320)。由于本领域具有通常知识者可借由图3至图9的实施例与实施例来了解上述传送器与接收器的实施与变化，亦即图3至图9之实施例与实施例的技术特征可合理地用于该传送器与接收器中，因此，重复与冗余的说明在此省略。
请注意，在实施为可能的前提下，本技术领域具有通常知识者可选择性地实施前述任一实施例中部分或全部技术特征，或选择性地实施前述多个实施例中部分或全部技术特征的组合，借此增加本发明实施时的弹性。
综上所述，本发明的测试系统、传送器与接收器能够不借由多任务器，于直流耦合模式下执行多种测试。相较于先前技术，本发明不仅易于实施，且具有成本效益。
虽然本发明之实施例如上所述，然而该些实施例并非用来限定本发明，本技术领域普通技术人员可依据本发明的明示或隐含的内容对本发明之技术特征施以变化，凡此种种变化均可能属于本发明所寻求的专利保护范围，换言之，本发明的专利保护范围须视本说明书的申请专利范围所界定者为准。
【符号说明】
100 测试系统
110 受测装置
120 多任务器
130 性能测试单元
140 开短路测量单元
200 测试系统
210 受测装置
220 多任务器
230 信号产生器
240 开短路测量单元
300 测试系统
310 传送器
312 信号输入电路
314 电流源
316 信号输出线路
320 接收器
322 阻抗电路
324 耦接电路
330 量测电路
340 控制电路
VI 输入信号
VO 输出信号
VL 低电源端
ITOT 总电流
VH 高电源端
SOUT 量测结果
VIP、VIN 差动输入信号
VOP、VON 差动输出信号
N1 第一晶体管
N2 第二晶体管
ROP 第一电阻
RON 第二电阻
SWP 第一开关
SWN 第二开关
510 电流计
IS 目标电流
GND 接地端
VCC_L 低电压端
VCC_H 高电压端
RS 电阻
910 电压计
VS 目标电压。

Claims (10)

1.一种能够于一直流耦合模式下执行多种测试的测试系统，包含：
一传送器，包含：
一信号输入电路，用来依据一输入信号决定一输出信号；
一电流源，耦接于该信号输入电路的一低电位端以及一低电源端之间，用来决定于一无开短路情形下流经该信号输入电路的一总电流；以及
一信号输出线路，耦接于该信号输入电路的一高电位端以及一阻抗电路之间，用来输出该输出信号，其中该输出信号于一性能测试下是作为一待测信号；
一接收器，以一直流耦合方式耦接该传送器，该接收器包含：
该阻抗电路，直接地或间接地耦接至一高电源端，其中该阻抗电路的一阻抗与该总电流用来于该无开短路情形下共同决定该输出信号的强度；
一量测电路，用来量测一高电源端与该低电源端之间的一目标电流或一目标电压，以产生一量测结果；以及
一控制电路，用来于一开短路测试下，依据该量测结果判断一待测装置是否处于该无开短路情形，其中该待测装置为该传送器与该接收器的其中之一。
2.根据权利要求1所述的测试系统，还包含：一耦接电路，用来将该阻抗电路耦接至该高电源端，或用来将该信号输入电路耦接至该阻抗电路。
3.根据权利要求2所述的测试系统，其中该输入信号为一差动输入信号，该输出信号为一差动输出信号，该信号输入电路包含一第一晶体管与一第二晶体管，该第一晶体管与该第二晶体管分别用来接收该差动输入信号的一第一输入信号与该差动输入信号的一第二输入信号，该耦接电路还包含：
一开关电路，耦接于该高电源端与该阻抗电路之间，该开关电路包含一第一开关与一第二开关，该第一开关用来电性连接该高电源端与该第二晶体管，该第二开关用来电性连接该高电源端与该第一晶体管，
其中当该量测电路量测该目标电流或该目标电压时，该第一开关与该第二开关不同时导通。
4.根据权利要求2所述的测试系统，其中该量测电路包含一电流计，该电流计耦接于该高电源端与该耦接电路之间，用来量测该目标电流。
5.根据权利要求2所述的测试系统，其中该量测电路包含一电阻与一电压计，该电阻耦接于该高电源端与该耦接电路之间，该电压计用来量测该电阻与该耦接电路之间的一节点的该目标电压。
6.一种能够于一直流耦合模式下执行多种测试的传送器，包含：
一差动信号输入电路，包含：
一第一晶体管，用来依据一差动输入信号之一第一输入信号决定一差动输出信号之一第二输出信号；以及
一第二晶体管，用来依据该差动输入信号之一第二输入信号决定该差动输出信号之一第一输出信号，其中于一开短路测试下，该第一输入信号的电压电平不同于该第二输入信号的电压电平；
一电流源，耦接于该差动信号输入电路的一低电位端以及一低电源端之间，用来决定于一无开短路情形下流经该差动信号输入电路的一总电流；以及
一差动信号输出线路，耦接该第一晶体管与该第二晶体管的高电位端，用来输出该差动输出信号，其中该差动输出信号于一性能测试下是作为一待测信号，
其中，于该开短路测试下，该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平分别相依于一第二开关的状态与一第一开关的状态，该第一开关的状态允许或不允许该总电流流经该第一晶体管，该第二开关的状态允许或不允许该总电流流经该第二晶体管，该第一开关的状态不同于该第二开关的状态。
7.根据权利要求6所述的传送器，其中该开短路测试包含下列模式的至少其中之一：
一第一路径开短路测试模式，其中该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平分别使得该第一晶体管不导通以及该第二晶体管导通，该第一开关导通且该第二开关不导通；
一第二路径开短路测试模式，其中该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平分别使得该第一晶体管导通以及该第二晶体管不导通，该第一开关不导通且该第二开关导通；
一第一路径间短路测试模式，其中该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平分别使得该第一晶体管导通以及该第二晶体管不导通，该第一开关导通且该第二开关不导通；以及
一第二路径间短路测试模式，其中该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平分别使得该第一晶体管不导通以及该第二晶体管导通，该第一开关不导通且该第二开关导通。
8.一种能够于一直流耦合模式下执行多种测试的接收器，包含：
一阻抗电路，包含：
一第一阻抗，耦接一第一输出端，该第一输出端用来输出一差动输出信号的一第一输出信号，该第一输出信号相依于一差动输入信号的一第二输入信号；以及
一第二阻抗，耦接一第二输出端，该第二输出端用来输出该差动输出信号之一第二输出信号，该第二输出信号相依于该差动输入信号的一第一输入信号，该阻抗电路用来于一无开短路情形下依据一总电流决定该差动输出信号的强度，该差动输出信号于一性能测试下是作为一待测信号；以及
一开关电路，用来将该阻抗电路耦接至一高电源端或用来将一差动信号输入端耦接至该阻抗电路，该开关电路包含一第一开关与一第二开关，该差动信号输入端包含一第一输入端与一第二输入端分别用来提供该第一输入信号与该第二输入信号，该第一开关耦接于该高电源端与该第一阻抗之间或耦接于该第一阻抗与该第二输入端之间，该第二开关耦接于该高电源端与该第二阻抗之间或耦接于该第二阻抗与该第一输入端之间，
其中，于一开短路测试下，该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平相关于该第一开关的状态与该第二开关的状态，该第一开关的状态不同于该第二开关的状态。
9.根据权利要求8所述的接收器，其中该开短路测试包含下列模式的至少其中之一：
一第一路径开短路测试模式，其中该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平分别使得该第一晶体管不导通以及该第二晶体管导通，该第一开关导通且该第二开关不导通；
一第二路径开短路测试模式，其中该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平分别使得该第一晶体管导通以及该第二晶体管不导通，该第一开关不导通且该第二开关导通；
一第一路径间短路测试模式，其中该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平分别使得该第一晶体管导通以及该第二晶体管不导通，该第一开关导通且该第二开关不导通；以及
一第二路径间短路测试模式，其中该第一输入信号的电压电平与该第二输入信号的电压电平分别使得该第一晶体管不导通以及该第二晶体管导通，该第一开关不导通且该第二开关导通。
10.根据权利要求8所述的接收器，其中于该性能测试下，该第一开关与该第二开关同时导通。
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