JPH03129949A - 回線インターフェース回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く産業上の利用分野〉 本発明は、回線インターフェース回路に関し、特に、当
該回路のテストに関連する。

〈従来の技術〉 多くの電子システムにおいて、しばしば異なる場所にあ
る２つの装置の間で、データを伝送することが要請され
る。かかるデータ伝送は、通常的には、これらの２つの
装置をつなぐ専用ケーブルにより達成される。成る場合
には、このケーブルは極めて長くなり、例えば、数百メ
ートルにも達することもある。従って、データ伝送の信
頼性を保証するためには、ケーブルの各端末において。

特殊な回線ドライバーや回線レシーバが採用される、異
なる製造業者によって製造された装置相互間の結線を容
易なものにすべく、ケーブルに乗せて送られる信号に関
し、種々の規格が採用されるに至った。かかる規格は、
回線ドライバーや回線レシーバの電気的特性を限定する
ものであり、こレラノ規格の例トシテ、ＥＩＡ−Ｒ９２
３２、ＥＩＡ−Ｒ８４２３或いはＥＩＡ−ＲＳ４２２が
ある。

回線インターフェース回路は、回線ドライバーと回線レ
シーバを含むものであるが、かかる回路はケーブル中で
の２木の導線相互間の短絡などの故障のほか、電気的な
過大なストレスに起因する回線ドライ八−や回線レシー
バに対する損傷なども受は易い傾向にある。従って１回
路の機能を保証するためには１回線インターフェース回
路をテスト可能にするということが、絶対的に必要であ
る。このテストに共通する手法は、ループバックテスト
である。このループバック　テストは、多くの場合、回
線インターフェース回路から回線への接続を取外して、
別のコネクタをそこの接続に置き換えるようにして実施
される。この場合、当該別のコネクタにより、回線イン
ターフェース回路中の単一又は複数の回線ドライバーが
、単一又は複数の関連する回線レシーバに直接的に接続
される。このテストにおいては、データが１回線ドライ
バーから送られて、これにより回線レシーバによるデー
タの正しい受領がチエツク可能となる。このテストを使
用することにより１個々の回線ドライバーと回線レシー
バとの対に関して、故障の有無が調べられたり、ときに
は、ケーブルそれ自身が抱える問題点を推論することで
、故障の有無が調べられたりする。

〈発明が解決しようとする問題点〉 このテストに関連する主要な不利点として指摘されてい
るところは、テストを実施する前に、ケーブルを回線イ
ンターフェース回路から取外して、その位置にループバ
ック　コネクタを挿入しなければならないということで
ある。より効率的なシステムにおいては、回線インター
フェース回路それ自体の内部にループバック　コネクタ
を一体的に組込むことで１回線インターフェース回路か
ら回線を物理的に取外す必要がないようになっている。

この種のテスト回路を回線インターフェース回路に付加
すべく、回線ドライバーと回線レシーバとを直接的に接
続するためのクロス接続スイッチと共に、直列接続スイ
ッチが、回線ドライバーと回線との間、或いは回線と回
線レシーバとの間に導入される。このような回路構成上
の不利点としてさらに指摘されているのは、直列接続ス
イッチの接点の信頼性が無くなる故、新たな故障の原因
になるという点であり、更に、仮りにリレーを使用する
ことによりこの回路が構成可能であるとしても、今度は
コストと寸法の観点でリレーの受は入れが不可能になる
という点である。

機械的スイッチに換えて、半導体スイッチを使用すれば
、この第２番目の不利点を克服することはできるが、信
号伝達径路に沿う付加的な直列接続スイッチの不利点が
残る。

く問題点を解決するための手段〉 本発明の目的は、上記の不利点を回避した回線インター
フェース回路をテストするための手段とその方法とを提
供することである。

本発明の１つの特徴に従って、以下の回線インターフェ
ース回路が提供される。

回線の第１の導体に出力信号を供給するための出力手段
と（但し、上記出力信号は、閾領域レベルを超える安定
レベルの部分と、閾領域レベル未満の安定レベルの部分
とを有する）、回線の第２の導体からの入力信号を受領
するための入力手段と、更に、上記出力手段からの１つ
の信号を、回線を通さずに、直接、上記入力手段に選択
的に印加するための手段とを有する回線インターフェー
ス回路において、上記出力手段は、上記出力信号の上記
安定レベルの部分の一方の上に、テスト信号を選択的に
′発生するための手段を含み（但し、上記テスト信号の
振幅に関し、上記閾領域レベルを横切らない大きさに制
限することにより、テスト時に上記出力手段を回線から
外す必要を無くす）、そして、上記入力手段は、上記テ
スト信号に応答して上記回線インターフェース回路の機
能状態を表示する手段を含むものである。

回線上（７）　信号ハ、ＥＩＡ−１？５２３２　ヤ、Ｅ
ｒＡ−Ｒ５４２３や、ＥＩＡ−Ｒ３４２２のような規格
に従っている。

出力手段は、テスト信号の振幅を制限するためのクラン
プ回路を含んでいてもよい。

テスト信号に応答する手段は、出力手段および入力手段
における特定の構成部品の故障を検出するように準備可
能である。

回線インターフェース回路を、単一の集積回路として構
成することができるし、回線インターフェース回路に、
１つ以上の出力手段と１つ以上の入力手段を包含させる
こともできる。

本発明のもう１つ別の特徴に従って、下記の方法が提供
される。

２〜レベル出出力分を回線に供給するための出力手段と
、回線から２−レベル入力信号を受領するための入力手
段とを有する回線インターフェース回路をテストする方
法であって、上記出力信号の代わりに、テスト信号を供
給し５上記出力手段を上記入力手段に直接的に接続し、
そして、上記入力手段にて、上記テスト信号を検出する
（但し、上記テスト信号は、上記２−レベル入力信号ま
たは上記２−レベル出力信号の２つのレベルの間の閾レ
ベルを横切らない信号である）という諸工程を含む方法
である。

テスト信号に関しては、出力信号の２つのレベルのうち
の一方のレベルより上の小振幅信号であってもよい。

テスト信号に関しては、出力信号をクランプすることに
より、出力信号の２つのレベルの間の閾レベルをテスト
信号が横切らないように生成可能である。

本発明の方法は１回線インターフェース回路の特定の構
成部品の故障を調べるためのテスト手法を提供する。

本発明の回線インターフェース回路およびテスト方法は
、多くの利点を有する。そのうちの１つの利点は、テス
ト信号が閾レベルを横切ることがないし、回線に接続さ
れた他のインターフェース回路により上記テスト信号が
データとして解釈される恐れがないので、テストの間１
回線から出方手段または入力手段を外す必要が全くない
ということである。従って１回線インターフェース回路
と回線との間に直列接続スイッチを設ける必要はない０
回線インターフェース回路から回線を外して、短絡プラ
グに置き換えることにより、トランスミツターをレシー
バに接続させるという手法も不必要になる。

〈実施例〉 一例として規格ＥＩＡ−Ｒ９２３２を採った場合、デー
タ　トランスミツターの出方電圧は、伝送符号上の１−
りに対応する論理「１」のマイナス５ボルトよりも更に
負方向に大なる電圧でなければならないし、伝送符号上
のスペースに対応する論理「０」のプラス５ボルトより
も更に正方向に大なる電圧でｉければならない、データ
が送られていないときには、トランスミツターの出力電
圧は、マークに対応する論理ｒｌＪの状態にあり、換言
すれば、そのときには、マイナス５ボルトよりも更に負
方向に大なる電圧になっている０本発明の一実施例によ
れば、トランスミツターの出力がマーク状態にあって、
データが送られていないときには、小振幅のテスト信号
が、トランスミツターの出力に重畳されている。この場
合、該テスト信号の振幅の大きさが、トランスミツター
の出力電圧がマイナス５ボルトよりも更に負方向に大な
る電圧には決してなることはない、小振幅のテスト信号
の振幅の大きさに関してのかかる制限によって、トラン
スミツター　ユニットで駆動されるデータ回線に接続さ
れた全てのレシーバが、回線の論理状態の変化を検出し
ないようになっている。この制限の利点として指摘され
るのは、テスト信号の発生時に、回線ユニットに接続さ
れたどのレシーバもテスト信号中からスズリアス　デー
タを読出すことがないので、回線からトランスミツター
をわざわざ外す必要がないということである。トランス
ミツター自体からテスト信号を発生して、このテスト信
号を観察することにより、トランスミツターの所定部分
の機能性をテストすることができる。

第１図は、テスト信号の波形と通常のデータの波形とを
一体的に示している０通常のデータに関しては、プラス
５ボルトよりも更に正方向に大なる正電圧ＶＨから、マ
イナス５ボルトよりも更に負方向に大なる負電圧ＶＬま
で到達している。この場合、正電圧ＶＨは、論理ｒＯＪ
すなわち信号のスペース状態を表わしており、負電圧Ｖ
Ｌは、論理「１」すなわちマーク状態を表わしている。

テスト信号の方は、負電圧ＶＬから負電圧Ｖ〒まで到達
している（ここで、負電圧ＶＴは、負電圧ＶＬに対して
は正方向に大であるが、マイナス５ボルトに対しては負
方向に大なる電圧である）、マイナス５ボルトからプラ
ス５ボルトまでの電圧の範囲内に、データ信号の論理ｒ
ｌＪ状態と論理「０」状態との間を仕切る閾領域が形成
される。

第１図に更に示されているものは、プラス電源電圧ＶＳ
◆とマイナス電源電圧ｖＳ−であり、これらの電源電圧
ｖＳ÷、ＶＳ−は、トランスミツター中の出力増幅器へ
の供給に使用される。出力増幅器の典型的な設計例では
、２個のトランジスタが、電源供給線間に直列に接続さ
れていて、これらの２個のトランジスタの接続点から延
びる回線にその出力接続端子が設けられている。論理「
１」状態を伝送するには、マイナスの電源供給線に接続
されたトランジスタが導電状態にされ、これに対しても
う一方のトランジスタが、非導電状態にされる。これと
は逆に、論理「０」状態を伝送回線に供給する際には、
プラスの電源供給線に接続された方のトランジスタが導
電状態にされ、もう一方のマイナスの電源供給線に接続
された方のトランジスタが、非導電状態にされる。

第２図は、本発明による回線インターフェース回路の一
実施例のブロック線図である０回線を通して伝送される
べきデジタル　データは、端子ｌを介して、トランスミ
ツター２に印加される。トランスミツター２の出力信号
は２導線３に現われる。この導線３は、コネクタ４を介
して回線としての導線５に接続されている０回線インタ
ーフェース回路に回線を通して入ってくるデータは、導
線６経由で受領される。この、導線６は、コネクタ４に
より、導線７を介して、レシーバ８に接続される。レシ
ーバ８は、入ってきた入力データを所望の形態で端子９
に出力する。

第２図に示される回線インターフェース回路自体ヲテス
トすべく、トランスミツター２は、付加的な導線ｔｏ、
　ｔｔを備えている。この場合、これらの導線１０．１
１は、入力線として、クロス　フィード　ユニット１２
に接続されている。このクロスフィード　ユニット１２
では、その出力導線１３がレシーバ８に接続されており
、そして、端子１４、導線１５を介して印加されるルー
プバック　モード選択信号により制御される。端子１４
は、電圧クランプ回路１６にも接続されている。一方、
電圧クランプ回路１６は、導！！ｊ１７を介して、トラ
ンスミツター２に接続されていて、これにより、ループ
バックモードが選択されている場合に、トランスミツタ
ー２からの電圧出力の振幅を制限する。

第２図の回線インターフェース回路が、通常のデータを
送受信する場合には、クロス　フィードユニット１２と
電圧クランプ回路１６は、作動に関与しない、トランス
ミツター２の入力端子に接続された回路は、これらの回
路に適合した電圧が採用されるところの１例えば、ＴＴ
Ｌ乃至０Ｍ０５回路であって、デジタル　データを出力
する。これらのデジタル　データは、第１図に示される
２つの電圧レベルＶＬ、　ＶＨを持つようなものに、ト
ランスミツター２により変換されて、導線３．４経由で
、回線の導線５に印加される０回線から導線６を通して
入ってくる入力データは、２つの電圧レベルＶＬ、　Ｖ
Ｈを持っているが、レシーバ８により、端子９に接続さ
れる外部のデジタル回路のそれに適合するような電圧レ
ベルを持つようなものに変換される。

第２図の回線インターフェース回路がテストされる際に
は、イネーブル信号が、端子１４に印加されて、ループ
バック　モードが選択さｍる。このイネーブル信号は、
電圧クランプ回路１８とクロスフィード　ユニット１２
を動作可能状態にする。

電圧クランプ１６の効用は、テスト動作時にトランスミ
ツター２の出力信号を、２つの電圧レベルＶＬ、　ＶＴ
間に制限することである。トランスミツター２の出力信
号に関しての上記制限により、回線としての導線５に接
続されたどのレシーバも。

トランスミツター２からの出力信号を論理「１」に解釈
する。なぜならば、テスト信号の電圧Ｖ丁が、マイナス
５ボルトの論理閾値よりも正方向には、存在していない
からである。トランスミツター２から出力される論理「
１」状態は、該トランスミツターのリセット状態でもあ
る。クロスフィード　ユニット１２は、トランスミツタ
ー２からのテスト信号を、２木の導線１０．１１経由で
受領するが、端子１４からのイネーブル信号で動作可能
状態になって、テスト信号を導線１３経由で、レシーバ
８に印加する。クロス　フィード　ユニット１２により
導線１３に対して、これらの電圧レベルＶＴ、　ＶＬが
印加された際に、２つの電圧レベルＶＴ、ＶＬとの間の
切換え動作の効用が、レシーバ８の入力回路に現われる
が、この場合、その効用が回線からの導線６経由で受領
される通常のデータの場合と同じようなものになって、
レシーバ８の入力回路に現われるように、該入力回路が
構成されている。このようにして、トランスミツター２
とレシーバ８の双方の機能が、回線の導線からそれらを
外すことなしに、テスト可能になる。後述されるように
、ループバック　モードでは、導線６ひいては、レシー
バ８の入カフに現われるすべてのデータが無視されて、
クロス　フィード　ユニット１２からのデータだけがレ
シーバ８に受入れられるように、該レシーバの入力回路
が設計されている。

第３図は、単純化された形で、トランスミツター２の一
実施例の回路を示している。第２図に示された導線３．
１０．１１と端子ｌが、第３図中にも付されている。端
子１は、スイッチングレギュレータ型電流源２０と、さ
らにトランジスタ２１のベースにも接続される。端子１
から電流源２０、さらにトランジスタ２１のベースまで
の接続径路を増幅器や他の回路経由のものとすることに
より、必要に応じて、電流範囲や電圧範囲が変更可能に
なる。電流源２０とトランジスタ２１のエミッタの双方
は、マイナス電源供給線２２に接続されている。トラン
ジスタ２１のコレクタは、導線３，１１に接続され、加
えて、トランジスタ２３のコレクタにも接続されている
。第３図に示される実施例において、導線３．１１は、
互いに接続されているが、トランスミツター２の全ての
形態がこのような構成を採るものであるとは限らない、
トランジスタ２３のエミッタは、導線ｌＯに接続されて
いて、抵抗器２４を介して、プラスの電源供給線２５に
も接続されている。直列に接続された２つのダイオード
２Ｂ、２７が、抵抗器２４に対して並列に接続されてい
る。トランジスタ２３は、第２コレクタを備えていて、
この第２コレクタは、直接的に、トランジスタ２３のベ
ースに接続され、これによりトランジスタ２３の第１コ
レクタを制御して電流源として働くようにしである。ト
ランジスタ２３のベースは、スイッチＳ讐ｌの接点２８
と、更に、トランジスタ２９のエミッタとに接続されて
いる。トランジスタ２９のコレクタは、マイナスの電源
供給線２２に接続され、該トランジスタ２９のベースは
、スイー、チＳｗ１の接点３０に接続されている。クラ
ンプ回路は、全体として導線３．１１からマイナスの電
源供給線２２に向けて接続されており、ダーリントン接
続のトランジスタ３４に対して直列に接続された３つの
ダイオード３１、３２．３３を含んで構成されている。

この場合、ダーリントン接続のトランジスタ３４のエミ
ッタは、マイナスの電源供給線２２に接続されてし箋る
。

一方、ダーリントン接続のトランジスタ３４のベースは
、電流源３５とスイッチＳｗ２を介して、プラスの電源
供給線２５に接続されている。スイッチ５ＩＩ１１とス
イッチ５ＩＩ１２は、連動するものであり、第３図に示
されるように、ループバック　モードに関し、非選択状
態と選択状態とのそれぞれに対応する位置Ａと位置Ｂが
設けられている。

実際には、第３図に示される回路は１通常的に構成され
る電流源を有する集積回路の一部分または全体として構
成される。電流源のスイッチング動作に関しては、電流
が必要でない場合には、該電流源で発生する電流に対し
て二者択一的な電流径路を与えることで実施される。同
様に、スイッチＳＷＩ　、　ＳＷ２は、電気的な選択信
号で制御されるよう適切に接続されたトランジスタによ
り、構成されている。

第３図の構成の動作において、導線３を通じて回線に通
常のデータが伝送される際に、端子１に印加されたデー
タ信号は、２つのトランジスタ２１．２３を交互に導電
状態にし、これにより導線３上に、電源供給線２２．２
５での電源電圧に近い出力電圧レベルが生成される。こ
れらの条件の下では、クランプ回路は、ダーリントン接
続のトランジスタ３４が非導電状態に留まっているので
、ここでの動作に関与しない。

ループバック　モードが選択されて、スイッチＳＷＩ　
、　Ｗ２が位ＮＢを占める場合には、トランジスタ２３
は、スイッチとして作用し続けるが、その作用は、電流
源２０による電流供給中に、トランジスタ２３のコレク
タから導線３と導線１１に供給される電流の大きさを約
１ミリアンペアにする作用に留まる。これに対して、通
常の動作モードでは、トランジスタ２３は、そのエミッ
タ抵抗器２４とにより設定される一層大きな電流を供給
することができる。トランジスタ２１は、端子１に印加
されるデジタル信号依存でオンオフされるが、そのコレ
クタ電圧の振幅は、トランジスタ２１がオンの場合のマ
イナスの電源供給線２２の電圧に近い電圧レベルと、ト
ランジスタ２１がオフの場合のクランプ回路中、とりわ
けその３つのダイオード３１．３２．３３とダーリント
ン接続のトランジスタ３４のコレクタエミッタ間電圧に
より付与されるダイオードの順方向導電電圧のほぼ４倍
の電圧に近い電圧レベルとの間の勤皇に制限される。な
ぜならば、この動作状態においては、電流源３５からの
電流で、ダーリントン接続のトランジスタ３４が、導電
状態に移行しているからである。典型的な実例では、マ
イナスの電源電圧は、マイナス１２ボルトであるので、
導線３、ｌｌ上に生成される最も正方向の電圧は。

約マイナス９ボルトである。

導線１０は、トランジスタ２３のエミッタ電圧をクロス
　フィード　ユニット１２まで伝達する。トランジスタ
２３が正しく作動していれば、導！１１０での電圧は、
プラスの電源供給！！Ｉ２５の電圧ＶＳ＋と、同電圧Ｖ
Ｓ＋よりも２個のダイオード２Ｂ、２７の順方向導電電
圧分だけ負方向に低下した電圧との間で変化する。トラ
ンジスタ２３が故障している場合には、導線１０での電
圧は、１２ポルトのままである。

なぜならば、電源２０により供給される電流が、この場
合には小さいからである。このような状況において、ク
ロス　フィード　ユニット１２は、導線１０上での１２
ボルトの存在を検出するように配置され、これによりト
ランジスタ２３の作動状態をモニターすることが可能に
なる。開放回路状態でのトランジスタ２３の故障により
、更に、導線３．１１の電圧が、既述の電圧レベルの間
でスイッチされる。一方、仮りに、トランジスタ２３が
短絡状態で故障した場合には、導線３．１１の電圧は、
プラスの電源電圧に近い電圧レベルに留まる。

第４図は、第２図に示されているクロスフィード　ユニ
ット１２の単純化されたブロック線図である。第４図に
おいて、導線１１は、スイッチ可能な電流源４０の入力
部を形成する。この場合、該電流源４０の出力電流は、
導線４１と抵抗器４２を介して、２つのトランジスタ４
３．４４の共通接続のエミッタに供給される。トランジ
スタ４３のベースは、直列接続された２つのダイオード
４５．４８を介して、接地される一方、抵抗器４７を介
して、該トランジスタ４３のエミッタに接続される。ト
ランジスタ４３のコレクタは、導線１３に接続されて、
その出力をレシーバ８に付与する。一方、トランジスタ
４４のコレクタは、抵抗器４３を介して、プラスの電源
供給線４８に接続される。トランジスタ４４のベースは
、抵抗器５０を介して、該トランジスタ４４のエミッタ
に接続される一方、抵抗器５１を介して、ループバック
　モード選択信号端子１４に接続されている。更に、ト
ランジスタ４４のベースは、トランジスタ５２のベース
にも接続されている。この場合、トランジスタ５２のエ
ミッターコレクタ間の径路は、導線１３と接地に対して
各別に接続されている。

スイッチ可能な電流源４０は、導線１０の電圧に応答し
て、第３図に示されるトランジスタ２３が機能している
か否かを検出する。導線１１の電圧は、約マイナス９ボ
ルトからマイナス１１．５ボルトまでの約３個のダイオ
ードの順方向導電電圧の全域にわたって変化する。電流
源４０は、電流を全く出力しないか、或いは抵抗器を介
して、約６０マイクロアンペアの電流を出力する。ルー
プバック　モードが選択されていない場合には、端子１
４に印加されたプラス電圧で、２つのトランジスタ４４
．５２が共に導電状態になる。その結果、トランジスタ
４４は、電流源４０により供給される電流をバイパスさ
せるように働き、もう一方のトランジスタ５２は、導線
１３を接地に短絡することで、レシーバ８への信号の印
加を断つ、これとは反対に、ループバック　モードが選
択されている場合には、２つのトランジスタ４４．５２
の双方が共に非導電状態となり、電流源４０から出力さ
れるスイッチ後の電流は、トランジスタ４３を介して、
導線１３から出力される。導線１３から出力されたこの
電流は、クロスフィード　ユニット１２からレシーバ８
に付与される入力信号を形成する。

第５図は、第２図のレシーバ８の入力回路であって、導
線１３．７を備えているものを示す、この場合、導線１
３により、レシーバ８の入力回路が、第４図に示された
クロス　フィード　ユニット１２に接続されている。一
方、導線７により、レシーバ８が、回線に接続されてい
る。導線７は、抵抗器Ｒを介して、レシーバ８の入力回
路に接続される。この抵抗器Ｈにより、回路の入力イン
ピーダンスが、特定の規格（この場合にはＥＩＡ−ＲＳ
２３２）での要求値に設定される。更に、抵抗器Ｒは、
電圧制限回路に接続される。この電圧制限回路は、直列
接続された２つのダイオード６０．６１に対して、第３
番目のダイオード６２を並列に接続したもので、これら
のダイオード６０．６１．６２は全て、接地への径路内
に配置されている。抵抗器Ｒは、更にもう一つの抵抗器
６３を介して、トランジスタ８４のベースにも接線され
ている。この場合。

トランジスタ６４のエミッタは、導ｉ１３に接続されて
いる。一方、トランジスタ８４のコレクタは、導線６５
を介して、レシーバ８の残りの回路に接続されると共に
、プラスの電源供給線Ｂ７に接続された電流源Ｂ６にも
延びている。導線８５は、直列接続された２つのダイオ
ード８８．６９を介して、トランジスタ７０のベースに
接続されると共に、抵抗器７１を介して接地にも接続さ
れている。一方、トランジスタ７０のエミッタも接地に
接続されている。トランジスタ７０のコレクタは、抵抗
器７２を介して、２つの抵抗器Ｒ，８３間の接合点に接
続されている。

長方形の枠７３内に示されている回路は、第４図に示さ
れたクロス　フィード　ユニット１２と等価の単純化さ
れた回路であり、ループバック　モードが選択された場
合における導線１３からのスイッチ後の出力電流であっ
て、テスト信号用パルスを伴ったものの出力のされ方を
示す。

トランジスタ６４は、レシーバ８の第１段を形成し、導
！！Ｉ７を介して回線から入力される信号に対しては共
通エミッタ増幅器として作動する一方、導線１３を介し
て電流として入力されるテスト信号に対しては共通ベー
ス増幅器として作動するものである。トランジスタ７０
は、ダイオード６８．６８と抵抗器７１．７２と共働し
て、レシーバ８の入力回路にヒステリシスを与える。

上述の回路は、下記の付加的な利点を有する。

即ち、第３図に示されるようなトランスミツター２の出
力回路の構成と、テストの期間中、自身の出力電圧の振
幅の大きさを制限するためのクランプ回路の使用と相ま
って、多くの場合、例えば、電気的な過大ストレスに起
因する出力回路の故障に際しては、通常のデータと低レ
ベルのテスト信号の双方が共に伝送され得ないことが保
証されており、これによりテスト信号の満足のいく送出
があれば、回路からは通常のデータが正しく出力されて
いることが判明するという結果になる０通常のデータの
出力には、干渉するけれども、テスト信号の出力を妨げ
ることがないような故障も生じうるが、この種の故障を
検出するためには、別の手段が必要になる。更にその上
、回線自身の多くの故障が検出可能であ０例えば、仮り
に、回線の導線５が短絡して、低いインピーダンスの電
圧源になった場合には、導線１１の電圧が、クロスフィ
ード　ユニット１２とレシーバ８によりテスト信号とし
て検出される程充分な振幅を持ち得なくなる。　　レシ
ーバ８の入力回路の設計によれば、−旦、トランジスタ
６４の正しい作動が確認された場合には、出力信号が期
待されているとおりに得られている限り、レシーバ８は
正しく機能しているということができる。第４図に示さ
れた電流源４０から出力される電流は、第５図に示され
た電流源６Ｂにより供給される電流よりも更に大きい。

ループバック　モードが選択されていない場合には、即
ち、通常モードにおいては、トランジスタ５２は、導電
状態にある。そして、導線８５はレシーバ入カフの状態
依存で、インバータのように働いて、高レベルまたは低
レベルに留まる。入カフが低レベルの場合、導線Ｂ５は
、高レベルになり、そして逆に、入カフが高レベルの場
合には、導線６５は、低レベルになる。ループバック　
モードにおいて、トランジスタ４３は、導電状態にある
。電流源６６からの電流の大きさが、電流源４０で生成
される電流の大きさよりもより小さいので、導線Ｂ５の
状態は、もっばら、電流源４０がオン状態か、又はオフ
状態かどうかということによって左右される。電流源４
０がオン状態にある場合には、導線６５は、低レベルに
ある。一方、電流源４０が、オフ状態にある場合には、
導線８５は、逆に高レベルにある。ここで留意すべきは
、トランジスタロは、通常モードにおいて使用さるので
あって、電流源４０からの電流をプラスの電源レールに
ダンプするということである。トランジスタ４３．４４
は、スイッチとして作動する。ループバック　モードに
おいて、第１図に示された導線１３は、零ボルトに近い
電圧を有する。ループバック　モードでの動作期間中、
トランジスタ８４は、そのベースへの入力に対して無感
応状態にあるので、回線からレシーバ８に入ってくる如
何なる信号をも無視する。

本発明は、規格ＥＩＡ−ＲＳ２３２に従って実施される
ような実施例を参照しつつ説明されているが、他の規格
ＥＩＡ−ＲＳ４３２或いは同ＥＩＡ−ＲＳ４２２に従っ
て実施されるような実施例も本発明に従って実施可能で
ある。

本発明を要約すれば以下のとおりである。

回線インターフェース回路は、２−レベル信号を回線に
送って１回線から２−レベル信号を受領する。この２−
レベル信号の２つのレベルは、閾領域レベルの両側にあ
る。上記回路をテストするには、トランスミツター２が
、スイッチ可能径路１０、１１．１２．１３．１４．１
５を介して、レシーバ８に接続され、さらにトランスミ
ツター２によりテスト信号が生成される。このテスト信
号は、レシーバ８により受領されて、上記回路の機能を
モニターすることを可能にする。上記テスト信号に関し
ては、これが閾領域レベルに入らないようにすべく、小
振幅の信号にされる。トランスミツター２とレシーバ８
の１回線に対する接続３．７は。

テストの間、維持される。テストの間、トランスミツタ
ー２の出力の振幅は、電圧クランプ回路１Ｂにより制限
されて、テスト信号だけが生成されるようになる。

くその他の開示事項〉 １、回線の第１の導体に出力信号を供給するための出力
手段と（但し、上記出力信号は、閾領域レベルを超える
安定レベルの部分と、閾領域レベル未満の安定レベルの
部分とを有する）、回線の第２の導体からの入力信号を
受領するための入力手段と、更に、上記出力手段からの
１つの信号を、回線を通さずに、直接、上記入力手段に
選択的に印加するための手段とを有する回線インターフ
ェース回路において、 上記出力手段は、上記出力信号の上記安定レベルの部分
の一方の上に、テスト信号を選択的に発生するための手
段を含み（但し、上記テスト信号の振幅に関し、上記閾
領域レベルを横切らない大きさに制限することにより、
テスト時に上記出力手段を回線から外す必要を無くす）
、そして、上記入力手段は、上記テスト信号に応答して
上記回線インターフェース回路の機能状態を表示する手
段とを含むんで成る回線インターフェース回路。

２．上記テスト信号が発生させられる際に作動させられ
て、上記テスト信号の電圧が、上記閾領域レベルを横切
らないように上記電圧を制限するクランプ手段を、上記
出力手段が含んだ、特許請求の範囲第１項記載の回線イ
ンターフェース回路。

３、上記出力手段は、出力回路を含み、上記出力回路は
、電圧源導体間の直列径路において接続された第１トラ
ンジスタおよび第２トランジスタを有し、回線の上記第
１導体は、上記第１トランジスタと上記第２トランジス
タの接合点に接続され、そして、上記出力信号の上記安
定レベル部分は、上記第１トランジスタと上記第２トラ
ンジスタのうちの一方を導電状態にし、残りの一方を非
導電状態にすることによって発生させられる、特許請求
の範囲＠１項または第２項記載の回線インターフェース
回路において、上記テスト信号が発生させられている間
、上記第１トランジスタの出力電流の大きさが制限され
、そして、上記出力手段が含むクランプ手段は、上記第
１トランジスタと上記第２トランジスタとの上記接合点
における電圧によって作動させられる、回線インターフ
ェース回路。

４、上記直列径路は、抵抗手段を、上記第１トランジス
タと電圧源導体との間に含み、そして、上記抵抗手段と
上記第１トランジスタとの間の接合点は、信号を上記入
力手段に選択的に印加するための手段に接続され、それ
によって、上記入力手段が、上記第１トランジスタの作
動状態をモニターすることができる、特許請求の範囲第
３項記載の回線インターフェース回路。

５、上記入力手段は、その第１ステージとして、トラン
ジスタを含み、回線の上記第２導体は、上記トランジス
タのベース（即ち、ゲート）に接続され、そして、上記
入力手段に信号を選択的に印加するための手段は、上記
トランジスタのエミッタ（即ち、電源）に接続される。

特許請求の範囲第１項乃至第４項のいずれか１項記載の
回線インターフェース回路。

６、上記入力手段に上記信号を選択的に印加するための
上記手段は、上記トランジスタの上記エミッタ（即ち、
電源）に、スイッチされた電流を特徴する特許請求の範
囲第５項記載の回線インターフェース。

７、回線に印加された上記出力信号と、回線から受領さ
れた上記入力信号とは、規格に従っている、特許請求の
範囲第１乃至第６項いずれか１項記載の回線インターフ
ェース回路。

８、上記規格は、ＥＩＡ−Ｒ９２３２か、ＥＩＡ−ＲＳ
４２３か、又はＥＩＡ−Ｒ３４２２である、特許請求の
範囲第７項記載の回線インターフェース回路。

３、明細書に実質的に記載され、且つ添付図面によって
実質的に図解された通りの回線インターフェース回路。

１０、集積回路として構成された、特許請求の範囲１項
乃至第９項のいずれか１項記載の回線インターフェース
回路。

１１．２−レベル出力信号を回線に供給するための出力
手段と、回線から２−レベル入力信号を受領するための
入力手段とを有する回線インターフェース回路をテスト
する方法であって、上記出力信号の代わりに、テスト信
号を供給し、上記出力手段を、上記入力手段に直接接続
させ、そして、上記入力手段において、上記テスト信号
を検出する（但し、上記テスト信号は、上記２−レベル
入力信号または上記２−レベル出力信号の２つのレベル
の間の閾レベルを横切らない信号である）工程を含む、
回線インターフェース回路をテストする方法。

１２、上記テスト信号は、上記出力信号の２つのレベル
のうちの一方のレベルに基づいた小振幅信号である、特
許請求の範囲第１１項記載の方法。

１３、上記テスト信号は、上記出力信号をクランプする
ことによって、それが上記閾レベルを横切ることができ
ない大きさで発生させられる、特許請求の範囲第１１項
または第１２項記載の方法。

１４、上記出力手段からの付加的信号を、上記出力手段
の出力トランジスタの機能性を表示する上記入力手段に
送る工程を更に含む、特許請求の範囲第１１項乃至第１
３項のいずれか１項記載の方法。

１５、明細書に実質的に記載され、且つ添付図面によっ
て実質的に図解された通りの、回線インターフェース回
路をテストする方法。

５．６　、、、、導線 （回線） １２、、、クロス フィード ｌｅ、、、、電圧クランプ回路 ８　、、、、レジ−／（ 二二ッ

【図面の簡単な説明】

第１図〜第５図は本発明の一実施例に関するものであり
、第１図は、１つの可能な規格に従うデータ信号と１つ
の可能な形態のテスト信号の電圧波形を示す波形図、第
２図は、回線インターフェース回路の実施例のブロック
線図、第３図は、回線インターフェース回路のトランス
ミツターの単純化された回路図、第４図は、上記回線イ
ンターフェース回路のクロス　フィード　ユニットの回
路図、第５図は、上記回線インターフェース回路のレシ
ーバの入力回路を示す回路図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 回線の第１の導体に出力信号を供給するための出力手段
   と（但し、上記出力信号は、閾領域レベルを超える安定
   レベルの部分と、閾領域レベル未満の安定レベルの部分
   とを有する）、回線の第２の導体からの入力信号を受領
   するための入力手段と、更に、上記出力手段からの１つ
   の信号を、回線を通さずに、直接、上記入力手段に選択
   的に印加するための手段とを有する回線インターフェー
   ス回路において、 上記出力手段は、上記出力信号の上記安定レベルの部分
   の一方の上に、テスト信号を選択的に発生するための手
   段を含み（但し、上記テスト信号の振幅に関し、上記閾
   領域レベルを横切らない大きさに制限することにより、
   テスト時に上記出力手段を回線から外す必要を無くす）
   、そして、上記入力手段は、上記テスト信号に応答して
   上記回線インターフェース回路の機能状態を表示する手
   段とを含んで成る回線インターフェース回路。