JPS6020664A - インタフエ−ス回路の診断方法 - Google Patents
インタフエ−ス回路の診断方法Info
- Publication number
- JPS6020664A JPS6020664A JP58129019A JP12901983A JPS6020664A JP S6020664 A JPS6020664 A JP S6020664A JP 58129019 A JP58129019 A JP 58129019A JP 12901983 A JP12901983 A JP 12901983A JP S6020664 A JPS6020664 A JP S6020664A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- input
- output
- cable
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
- H04L1/242—Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica
- H04L1/243—Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica at the transmitter, using a loop-back
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
不発側位インタフェース回路の診断方式に関するもので
ある。
ある。
従来、この種のインタフェース回路の診断方法として、
テスト信号を出力端子へ出力し、出力端子から入力端子
へ信号を折り返して入力し、テスト信号と入力信号を比
較検査する仁とによジインタフエース回路を診断する方
法が広く採用されている。出力端子から入力端子へ信号
を折シ返す診断方法として第１図に示すように外付けの
折シ返しケーブルＣを用意し、相手装置への接続ケーブ
ルを外して出力端子３と入力端子４へ外付は折り返しケ
ーブルＣを接続し、制御回路Ｂからの出力信号Ｓ１をド
ライバ１．外付折り返しケーブルＣ。
テスト信号を出力端子へ出力し、出力端子から入力端子
へ信号を折り返して入力し、テスト信号と入力信号を比
較検査する仁とによジインタフエース回路を診断する方
法が広く採用されている。出力端子から入力端子へ信号
を折シ返す診断方法として第１図に示すように外付けの
折シ返しケーブルＣを用意し、相手装置への接続ケーブ
ルを外して出力端子３と入力端子４へ外付は折り返しケ
ーブルＣを接続し、制御回路Ｂからの出力信号Ｓ１をド
ライバ１．外付折り返しケーブルＣ。
レシーバ２を介して入力信号Ｓ２としてル制御回路Ｂへ
入力し、出力信号８１と入力信号Ｓ２を比較することで
インタフェース回路の診断を行なう。
入力し、出力信号８１と入力信号Ｓ２を比較することで
インタフェース回路の診断を行なう。
この方法は診断用の外付は折り返しケーブルを必蚤とし
、診断の度に外付は折り返しコネクタを着脱しなけれは
ならず、畑られしい欠点があった。
、診断の度に外付は折り返しコネクタを着脱しなけれは
ならず、畑られしい欠点があった。
外付は折シ返しケーブルを不用とし、ケーブルの着脱を
行なわずに診断する回路例を第２図に示す。制御回路Ｅ
の出力信号Ｓ３はドライバ５を介して出力端子１２へ出
力される。通常動作時は制御信号Ｓ５は０＃なのでアン
ドゲート７の出力は″０″になる。また、制御信号Ｓ５
はインバータ１１を通してアンドゲート８をイネーブル
にし、入力端子１３の入力信号はレシーバ１０．アンド
ゲート８．オアゲート９を介して入力信号Ｓ４として入
力される。診断時は制御信号Ｓ５が１”になシ、出力端
子１２の信号はレシーバ６、アンドゲート７、オアゲー
ト９を介して入力信号Ｓ４として制御回路Ｅへ入力され
るので出力信号Ｓ３と入力信号Ｓ４を比較することによ
ジインタフエース回路の診断を行なうことができる。
行なわずに診断する回路例を第２図に示す。制御回路Ｅ
の出力信号Ｓ３はドライバ５を介して出力端子１２へ出
力される。通常動作時は制御信号Ｓ５は０＃なのでアン
ドゲート７の出力は″０″になる。また、制御信号Ｓ５
はインバータ１１を通してアンドゲート８をイネーブル
にし、入力端子１３の入力信号はレシーバ１０．アンド
ゲート８．オアゲート９を介して入力信号Ｓ４として入
力される。診断時は制御信号Ｓ５が１”になシ、出力端
子１２の信号はレシーバ６、アンドゲート７、オアゲー
ト９を介して入力信号Ｓ４として制御回路Ｅへ入力され
るので出力信号Ｓ３と入力信号Ｓ４を比較することによ
ジインタフエース回路の診断を行なうことができる。
この方法では第２図の点線で示す折シ返し経路を設ける
ためにレシーバ６、アンドゲート７と８゜オアゲート９
．インバータ１１と制御信号Ｓ５を必要とし、制御が複
雑になるという欠点があった。
ためにレシーバ６、アンドゲート７と８゜オアゲート９
．インバータ１１と制御信号Ｓ５を必要とし、制御が複
雑になるという欠点があった。
また、この方法では入力端子管３からレシーバ１０を経
てアンドケート８へ至る接続回路が診断できないという
欠点があった。
てアンドケート８へ至る接続回路が診断できないという
欠点があった。
本発明の目的は前記の従来方式の欠点を除去し、診断用
の外付折シ返しケーブルを不要とし、あるいは信号折シ
返し回路の制御信号削除して制御を不要とし、かつ、診
断できない回路をなくすようにしたインタフェース回路
の診断方式を提供することにある。
の外付折シ返しケーブルを不要とし、あるいは信号折シ
返し回路の制御信号削除して制御を不要とし、かつ、診
断できない回路をなくすようにしたインタフェース回路
の診断方式を提供することにある。
本発明によると回路間あるいは装置間を接続する複数の
信号線に接続される高入力インピーダンスの入力端子を
持つレシーバ回路と低出力インピーダンスの出力端子を
持つドライバ回路を備えたインタフェース回路において
、ある信号線のドライバ回路の出力端子と他の信号線の
レシーバ回路の入力端子の間を受動素子を介して接続し
、前記ドライバ回路の出力端子の信号を前記受動素子を
経て他の信号線のレシーバ回路の入力端子へ折シ返すこ
とによりインタフェース回路の動作の診断を行なうこと
を特徴とするインタフェース診断方式が得られる。
信号線に接続される高入力インピーダンスの入力端子を
持つレシーバ回路と低出力インピーダンスの出力端子を
持つドライバ回路を備えたインタフェース回路において
、ある信号線のドライバ回路の出力端子と他の信号線の
レシーバ回路の入力端子の間を受動素子を介して接続し
、前記ドライバ回路の出力端子の信号を前記受動素子を
経て他の信号線のレシーバ回路の入力端子へ折シ返すこ
とによりインタフェース回路の動作の診断を行なうこと
を特徴とするインタフェース診断方式が得られる。
次に本発明の実施例について図面を参照して詳細に説明
する。第３図は本発明のインタフェース回路の診断方式
の一実施例を示すブロック図で、論理装置Ｆは腕御回路
Ｇと、出力信号Ｓ６を出力端子１６へ出力するドライバ
１４と、入力端子１７の信号を制御回路Ｇへ入力信号Ｓ
７として供給するレシーバ１５と、出力端子１６と入力
端子１７間を接続する抵抗几と、他装置と接続する接続
ケーブルが接続される出力端子１６と入力端子１７から
なる。なお、ドライバ１４と出力端子１６、レシーバ１
５と入力端子１７を論理装置Ｆのインタフェース回路と
称する。ドライバ１４の出力は出力インピーダンス（Ｚ
ｏで示す）が低く、レシーバ１５の入力は入力インピー
ダンス（Ｚｉで示す）が高くて一定の論理閾値を圧（Ｖ
ｔで示す）を持つものとする。
する。第３図は本発明のインタフェース回路の診断方式
の一実施例を示すブロック図で、論理装置Ｆは腕御回路
Ｇと、出力信号Ｓ６を出力端子１６へ出力するドライバ
１４と、入力端子１７の信号を制御回路Ｇへ入力信号Ｓ
７として供給するレシーバ１５と、出力端子１６と入力
端子１７間を接続する抵抗几と、他装置と接続する接続
ケーブルが接続される出力端子１６と入力端子１７から
なる。なお、ドライバ１４と出力端子１６、レシーバ１
５と入力端子１７を論理装置Ｆのインタフェース回路と
称する。ドライバ１４の出力は出力インピーダンス（Ｚ
ｏで示す）が低く、レシーバ１５の入力は入力インピー
ダンス（Ｚｉで示す）が高くて一定の論理閾値を圧（Ｖ
ｔで示す）を持つものとする。
第４図は第３図の論理装置ＦをケーブルＨな介して他の
論理装置工に接続した例で、論理装置Ｉのレシーバ１８
とドライバ１９は論理装置Ｆのレシーバ１５とドライバ
１４と同一の特性を持つものとする。なお、ドライバ１
９の出力インピーダンスｚＯとケーブルＨのラインイン
ピーダンスとレシーバ１５の入力インピーダンスＺｉの
合成インピーダンスを２で示し、この合成インピーダン
ス２は入力端子１７と論理装置Ｆの共通グランド電位の
間に付加されるものとする。
論理装置工に接続した例で、論理装置Ｉのレシーバ１８
とドライバ１９は論理装置Ｆのレシーバ１５とドライバ
１４と同一の特性を持つものとする。なお、ドライバ１
９の出力インピーダンスｚＯとケーブルＨのラインイン
ピーダンスとレシーバ１５の入力インピーダンスＺｉの
合成インピーダンスを２で示し、この合成インピーダン
ス２は入力端子１７と論理装置Ｆの共通グランド電位の
間に付加されるものとする。
制御回路Ｇ内の本発明に関係する回路構成を第５図に示
す。制御回路Ｇはテスト用信号を出力信号Ｓ６として出
力する信号発生回路Ｊと、出力信号Ｓ６と入力信号Ｓ７
を比較する比較回路にと、比較結果を表示する表示回路
りから構成される。
す。制御回路Ｇはテスト用信号を出力信号Ｓ６として出
力する信号発生回路Ｊと、出力信号Ｓ６と入力信号Ｓ７
を比較する比較回路にと、比較結果を表示する表示回路
りから構成される。
以下動作の詳細を説明する。第３図において、ケーブル
が接続されない状態では、制御回路Ｇの出力信号Ｓ６は
ドライバ１４．抵抗Ｒ，レシーバ１５を介して制御回路
Ｇへ入力信号Ｓ７として折シ返される。制御回路Ｇは出
力信号Ｓ６と入力信号Ｓ７を比較し、インタフェース回
路の診断をおこなう。なお、上記のように出力信号Ｓ６
が入力信号Ｓ７として折シ返される条件として、ドライ
バ１４の論理値”１”の電圧をＶＨとすると、条件式（
１）を満足するように抵抗Ｒの値を定める必要があるＯ ｎｘＺｉ Ｒ＜ Ｖｔ Ｚｓ ・・・・−・・・・・・・・・・・
・・・・・ （１）式第４図において、論理装置工かケ
ーブルＨを介して接続された場合、出力端子１６の信号
が抵抗Ｒを通じて入力端子１７ヘクロスト一ク信号とし
て加わるため論理装置ｌのドライバ１９からケーブルＨ
を介して入力端子１７へ送られてきた信号に前記クロス
トーク信号が重畳され、レシーバ１５の出力論理値が誤
る可能性がある。このクロストーク信号による誤動作を
防ぐには条件式（２）を満足するように抵抗Ｒの値を定
める必要がある。（Ｚは前出の合成インピーダンスであ
る。） ｘ ＶＨ Ｒ＞−百二一 ”・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・ （２）式なお、第４図のように論理装
置ＩとケーブルＨで接続された場合は抵抗Ｒによ多信号
を折シ返すことによジインタフエース回路を診断するこ
とはできないが、その場合はケーブルＨを介した論理装
置Ｆと論理装置工の通信をおこなう手順の中にインタフ
ェースの診断手続きを定めて、互いに通信しあうことに
よシケーブルＨを含めたインタフェースの診断を行なわ
せるようにすればよい。
が接続されない状態では、制御回路Ｇの出力信号Ｓ６は
ドライバ１４．抵抗Ｒ，レシーバ１５を介して制御回路
Ｇへ入力信号Ｓ７として折シ返される。制御回路Ｇは出
力信号Ｓ６と入力信号Ｓ７を比較し、インタフェース回
路の診断をおこなう。なお、上記のように出力信号Ｓ６
が入力信号Ｓ７として折シ返される条件として、ドライ
バ１４の論理値”１”の電圧をＶＨとすると、条件式（
１）を満足するように抵抗Ｒの値を定める必要があるＯ ｎｘＺｉ Ｒ＜ Ｖｔ Ｚｓ ・・・・−・・・・・・・・・・・
・・・・・ （１）式第４図において、論理装置工かケ
ーブルＨを介して接続された場合、出力端子１６の信号
が抵抗Ｒを通じて入力端子１７ヘクロスト一ク信号とし
て加わるため論理装置ｌのドライバ１９からケーブルＨ
を介して入力端子１７へ送られてきた信号に前記クロス
トーク信号が重畳され、レシーバ１５の出力論理値が誤
る可能性がある。このクロストーク信号による誤動作を
防ぐには条件式（２）を満足するように抵抗Ｒの値を定
める必要がある。（Ｚは前出の合成インピーダンスであ
る。） ｘ ＶＨ Ｒ＞−百二一 ”・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・ （２）式なお、第４図のように論理装
置ＩとケーブルＨで接続された場合は抵抗Ｒによ多信号
を折シ返すことによジインタフエース回路を診断するこ
とはできないが、その場合はケーブルＨを介した論理装
置Ｆと論理装置工の通信をおこなう手順の中にインタフ
ェースの診断手続きを定めて、互いに通信しあうことに
よシケーブルＨを含めたインタフェースの診断を行なわ
せるようにすればよい。
本実施例では論理装置を取シあげたが、アナログ信号処
理装置であってもよい。また、信号を折シ返す手段とし
て抵抗を例にしたが、条件を満足するものであればコン
デンサや他の受動素子であってもよい。
理装置であってもよい。また、信号を折シ返す手段とし
て抵抗を例にしたが、条件を満足するものであればコン
デンサや他の受動素子であってもよい。
本発明は以上説明したように折返し制御信号の不要な受
動素子を介して出力端子から入力端子へ信号を折シ返し
、入力信号と出力信号を比較検査することによジインタ
フエース回路を診断できるので、診断用ハードウェア回
路を簡素化でき、あるいは診断用の外付は折シ返しコネ
クタが不要になるという効果がある。
動素子を介して出力端子から入力端子へ信号を折シ返し
、入力信号と出力信号を比較検査することによジインタ
フエース回路を診断できるので、診断用ハードウェア回
路を簡素化でき、あるいは診断用の外付は折シ返しコネ
クタが不要になるという効果がある。
第１図、第２図は従来の診断方法の例を示す装置回路図
、第３図は本発明の一実施例を示す装置回路図、第４図
は第３図に示す装置を他の装置とケーブルで接続した例
を示す回路図、第５図は第１図〜第４図に示す装置の制
御回路の内部回路の回路図である。 Ａ、Ｄ、Ｆ、Ｉ・・・・・・論理装置、Ｈ，Ｅ、Ｇ・・
・・・・制御回路、Ｃ・・・・・・外付折り返しケーブ
ル、Ｈ・・・・・・ケーブル、Ｊ・・・・・・信号発生
回路、Ｋ・・・・・・比較回路、Ｌ・・・・・・表子回
路、８１，８３．８６・・・・・・出力信号、Ｓ２゜８
４．８７・・・・・・入力信号、８５・・・・・・制御
信号、１，５゜１４．１９・・・・・・ドライバ、２，
６，１０，１５，１８・−・・・−レシーバ、３，１２
，１６・・・・・・出力端子、４，１３，１７・・・・
・・入力端子、７，８・・・・・・アンドゲート、９・
・・・・・オアゲート、１１・・・・・・インバータ。
、第３図は本発明の一実施例を示す装置回路図、第４図
は第３図に示す装置を他の装置とケーブルで接続した例
を示す回路図、第５図は第１図〜第４図に示す装置の制
御回路の内部回路の回路図である。 Ａ、Ｄ、Ｆ、Ｉ・・・・・・論理装置、Ｈ，Ｅ、Ｇ・・
・・・・制御回路、Ｃ・・・・・・外付折り返しケーブ
ル、Ｈ・・・・・・ケーブル、Ｊ・・・・・・信号発生
回路、Ｋ・・・・・・比較回路、Ｌ・・・・・・表子回
路、８１，８３．８６・・・・・・出力信号、Ｓ２゜８
４．８７・・・・・・入力信号、８５・・・・・・制御
信号、１，５゜１４．１９・・・・・・ドライバ、２，
６，１０，１５，１８・−・・・−レシーバ、３，１２
，１６・・・・・・出力端子、４，１３，１７・・・・
・・入力端子、７，８・・・・・・アンドゲート、９・
・・・・・オアゲート、１１・・・・・・インバータ。
Claims (1)
- 回路間あるいは装置間を接続する複数の信号線に接続さ
れる高入力インピーダンスの入力端子を持つレシーバ回
路と低出力インピーダンスの出力端子を持つドライバ回
路を備えたインタフェース回路において、ある信号線の
ドライバ回路の出力端子と他の信号線のレシーバ回路の
入力端子の間を受動素子を介して接続し、前記ドライバ
回路の出力端子の信号を前記受動素子を経て他の信号線
のレシーバ回路の入力端子へ折り返すことによジインタ
フエース回路の動作の診断を行なうことを特徴とするイ
ンタフェース回路の診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58129019A JPS6020664A (ja) | 1983-07-15 | 1983-07-15 | インタフエ−ス回路の診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58129019A JPS6020664A (ja) | 1983-07-15 | 1983-07-15 | インタフエ−ス回路の診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6020664A true JPS6020664A (ja) | 1985-02-01 |
Family
ID=14999142
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58129019A Pending JPS6020664A (ja) | 1983-07-15 | 1983-07-15 | インタフエ−ス回路の診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6020664A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63133740A (ja) * | 1986-11-25 | 1988-06-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 信号変換端末装置 |
| EP0403147A2 (en) * | 1989-06-16 | 1990-12-19 | Texas Instruments Incorporated | Line interface circuit and a method of testing such a circuit |
-
1983
- 1983-07-15 JP JP58129019A patent/JPS6020664A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63133740A (ja) * | 1986-11-25 | 1988-06-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 信号変換端末装置 |
| EP0403147A2 (en) * | 1989-06-16 | 1990-12-19 | Texas Instruments Incorporated | Line interface circuit and a method of testing such a circuit |
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