CN112660828B - 一种取代Map传感器的液晶面板检测控制方法 - Google Patents
一种取代Map传感器的液晶面板检测控制方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种取代Map传感器的液晶面板检测控制方法，属于电气控制技术领域。本发明中框架在工作位就位后，面板状态初始化为满载、过程计算机下载面板生产信息数据；对工作位的框架取放面板，放片slot定义来自给机械手的直接slot信息，取片slot定义为机械手逐层上报当前slot信息，直到取到片结束，同时返回初始指定的slot信息；PLC控制系统根据机械手的反馈信息，在放片时置位slot状态，取片时复位已经过的slot状态并清除信息数据，取到时将信息数据传递到机械手手臂上。本发明能够实现对液晶面板在无Map传感器情况下安全、可靠的搬运控制，同时节省了Map传感器的采购成本。
Description
技术领域
本发明涉及电气控制技术领域，尤其涉及一种取代Map传感器的液晶面板检测控制系统及方法。
背景技术
随着科学技术的发展，液晶显示屏幕已经成为电视、电脑、手机等电子产品的主流显示设备。液晶显示屏幕是以液晶面板为原材料，经过切割等一系列复杂的工艺生产而成。随着市场需求的增长，液晶面板的尺寸越来越大，目前都是全自动无人值守的智能化生产线，采用机械手对液晶面板进行抓取和转运。
Map传感器作为液晶面板在框架中状态的关键传感器检测设备，在液晶面板行业中应用十分广泛，要求相当严格，同时具备快速响应以及可靠性要求。传感器的工作质量直接影响液晶面板生产效率。在实际应用中，模组段的框架通常slot数都在60以上，甚至超过200个，由于slot间距很窄，设计相应Map传感器必然成本很高。另外，在连续生产中，由于机械手手臂取放时的出入动作，有时偶尔会造成传感器信号残留，造成停机事故，严重的甚至会在放片时由于slot信息错误造成叠片、碎片情况的发生，而碎片会同时损伤slot下的其他面板。因此，急需一种安全、可靠的液晶面板自动检测的控制方法来有效的避免上述问题与事故。
经检索，专利申请号201711379569.3，专利名称：一种液晶面板精准抓取及放置转移系统；该申请案公开的系统包括顶部框架以及用于支撑顶部框架四周的立柱，所述顶部框架包括一组横梁架和一组连接架，两根横梁架的两端分别通过连接架固定连接，横梁架上设置有直线电机定子导轨，直线电机定子导轨上配合设置有直线电机动子滑座，两个直线电机动子滑座之间通过桁架固定连接，顶部框架下方左端设置有运送小车进料对准机构；顶部框架下方右端设置有出料装载平台对准机构。该申请案通过实现运送小车精准抬升、定位和横向转移，有效避免液晶面板在抓取、转移过程中产生碎裂，但该申请案是通过设计复杂的机械结构实现目的的，方案成本较高。
发明内容
1.发明要解决的技术问题
为了解决现有技术中，使用Map传感器检测液晶面板在框架中状态，会因传感器信号传输错误，导致叠片、碎片事故的问题，本发明提供了一种取代Map传感器的液晶面板检测控制系统及方法；本发明能够实现对液晶面板在无Map传感器情况下安全、可靠的搬运控制，同时节省了Map传感器的采购成本。
2.技术方案
为达到上述目的，本发明提供的技术方案为：
本发明的一种液晶面板检测控制系统，包括框架、固定座、底座、夹片和光电检测传感器，所述的固定座设置于底座上，框架通过该固定座实现固定，框架内有横向设置的多个夹片，液晶面板置于相邻两夹片之间，该光电检测传感器设置于底座上，位于框架下方。
更进一步地，还包括PLC控制系统和机械手，光电检测传感器传输信号给PLC控制系统，PLC控制系统控制机械手动作。
更进一步地，还包括离子发生器，所述离子发生器设置于框架两侧。
更进一步地，还包括过程计算机，所述过程计算机下载面板生产信息数据，并接收机械手上报的slot信息。
本发明的一种液晶面板检测控制方法，其步骤为：
S10、框架在工作位就位后，面板状态初始化为满载、过程计算机下载面板生产信息数据；
S11、对工作位的框架取放面板，放片slot定义来自给机械手的直接slot信息，取片slot定义为机械手逐层上报当前slot信息，直到取到片结束，同时返回初始指定的slot信息；
S12、PLC控制系统根据机械手的反馈信息，在放片时置位slot状态，取片时复位已经过的slot状态并清除信息数据，取到时将信息数据传递到机械手手臂上。
更进一步地，对于取片，从指定的slot开始，机械手取片，如果未取到，则自动上移，取下一个slot，直到取到面板结束，在取片过程中，返回当前经过的slot数值，取到片时，返回当前的slot值。
更进一步地，在取片过程中，把未取到的slot状态复位，同时清除该slot中的液晶面板承载信息并上报给过程计算机，当取到实际的面板时，读取该面板信息传输给机械手，向机械手下一步的目标设备单元传递该信息。
更进一步地，对于放片，按照指定的slot结果，对该Slot状态置位，上报过程计算机数据为当前的slot指定结果。
更进一步地，框架在工作位上固定进入允许工作状态，过程计算机根据当前卡夹面板信息及MES计划下达生产计划信息到每块液晶面板上。
3.有益效果
采用本发明提供的技术方案，与已有的公知技术相比，具有如下有益效果：
(1)本发明的一种液晶面板检测控制方法，框架工作位取片时，通过机械手取片修正的方法对框架内面板的当前卡夹面板信息做自动修正，因此，将机械手取片始终作为修正取片方式来动作，从而达到避免空取产生机械手吸附故障或检测不到面板的情况。
(2)本发明的一种液晶面板检测控制方法，如果框架内光电传感器未检测到有面板，对于取片动作也不会执行，同时发出报错信息。对于放片，向空的slot上存放，如果slot上记录有面板，放片动作不会执行，同时发出报错信息；能够实现对液晶面板在无Map传感器情况下安全、可靠的搬运控制，避免因Map传感器失误造成的液晶面板机械手搬运中出现的停机或叠片的生产问题，同时对于slot过多的框架来说，节省了Map传感器的采购成本。
附图说明
图1为本发明的检测控制流程图。
图2为传统液晶面板取放框架的结构示意图。
图3为传统液晶面板取放框架的另一视角结构示意图。
示意图中的标号说明：
1、框架；2、离子发生器；3、固定座；4、底座；5、Map传感器；6、夹片。
具体实施方式
为进一步了解本发明的内容，结合附图和实施例对本发明作详细描述。
结合图2和图3，传统的液晶面板取放框架包括框架1、固定座3、底座4、夹片6，所述的固定座3设置于底座4上，框架1通过该固定座3实现固定，框架1内有横向设置的多个夹片6，液晶面板置于相邻两夹片6之间，也可以理解为相邻两夹片6之间形成一个slot，传统都是通过在框架1两侧设置Map传感器5来检测液晶面板在框架中状态，在实际应用中，模组段的框架通常slot数都在60以上，甚至超过200个，由于slot间距很窄，在连续生产中，由于机械手手臂取放时的出入动作，有时会造成传感器信号残留，造成停机事故，严重的甚至会在放片时由于slot信息错误造成叠片、碎片情况的发生，而碎片会同时损伤slot下的其他面板。另外，Map传感器5通常都是从韩国或者日本进口，采购成本也是一笔不小的开支。
本实施例的一种取代Map传感器的液晶面板检测方案，首先将Map传感器5替换为使用光电检测传感器，该光电检测传感器设置于底座4上，位于框架1下方。该光电检测传感器主要用于检测工作位框架中是否存在液晶面板。同时，本实施例还在框架1两侧设置了离子发生器2，离子发生器2主要用于清除液晶面板表面的灰尘等物质，防止对信号产生干扰。本实施例的检测控制系统还包括PLC控制系统和机械手，光电检测传感器传输信号给PLC控制系统，PLC控制系统控制机械手动作。
下面将具体阐述本实施例取代Map传感器的液晶面板检测控制过程，参看图1。
框架通过自动搬运放置到工作位上，工作位光电检测传感器检测到面板。
载入新框架的时刻开始，初始化面板数量为框架满片，所述框架满片指仿真Map传感器检测当前框架内面板的数量分布状态，实际生产要求框架上工作位置时默认满载，即每个Slot都有面板。过程计算机下载面板生产信息数据。所述面板生产信息数据包括机械手动作控制指令和框架内每块面板生产所需信息，例如处理配方、质量定义、面板生产顺序号、尺寸信息等等。
初始化结束后，正常工作状态，面板在框架内状态根据机械手取放的结果变化。
机械手在框架工作位取放片时，对于取片，从指定的slot开始，机械手在取片动作时逐层上报，机械手动作中包含自动取功能，即根据指令取当前slot中的面板，机械手取片，如果未取到，则自动上移，取下一个slot，直到取到面板结束，在取片过程中，返回当前经过的slot数值，取到片时，返回当前的slot值。针对此控制，把未取到的slot状态复位，同时清除该slot中的液晶面板承载信息并上报给过程计算机，当取到实际的面板时，读取该面板信息到机械手手臂上，向机械手下一步的目标设备单元传递该信息。对于放片，按照指定的slot结果，PLC控制系统根据机械手的反馈信息，对该slot状态置位，画面及上报过程计算机数据为当前的slot指定结果。
机械手手臂信息的传递是基于生产过程跟踪的要求，即将过程计算机下达的面板生产信息通过机械手的取片从框架工作位传递放片到处理设备中，从处理设备取片传递放片到工作位的框架中。
面板工作信息数据的处理：
框架在工作位上固定进入允许工作状态，过程计算机根据当前卡夹面板信息及MES计划下达生产计划信息到每块液晶面板上；
根据前述，框架工作位取片时，通过机械手取片修正的方法对框架内面板的当前卡夹面板信息做自动修正，因此，将机械手取片始终作为修正取片方式来动作，从而达到避免空取产生机械手吸附故障或检测不到面板的情况，当然，如果框架内光电传感器未检测到有面板，对于取片动作也不会执行，同时发出报错信息。对于放片，向空的slot上存放，如果slot上记录有面板，放片动作不会执行，同时发出报错信息。
本实施例能够实现对液晶面板在无Map传感器情况下安全、可靠的搬运控制，避免因Map传感器失误造成的液晶面板机械手搬运中出现的停机或叠片的生产问题，同时对于slot过多的框架来说，节省了Map传感器的采购成本。
以上示意性的对本发明及其实施方式进行了描述，该描述没有限制性，附图中所示的也只是本发明的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。所以，如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本发明创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种液晶面板检测控制方法，其特征在于，其步骤为：
S10、框架在工作位就位后，面板在框架的状态初始化为满载、过程计算机下载面板生产信息数据；
S11、对工作位的框架取放面板，放片slot定义来自给机械手的直接slot信息，取片slot定义为机械手逐层上报当前slot信息，直到取到片结束，同时返回初始指定的slot信息；
S12、PLC控制系统根据机械手的反馈信息，在放片时置位slot状态，取片时复位已经处理过的slot状态并清除信息数据，取到时将信息数据传递到机械手手臂上。
2.根据权利要求1所述的一种液晶面板检测控制方法，其特征在于：对于取片，从指定的slot开始，机械手取片，如果未取到，则自动上移，取下一个slot，直到取到面板结束，在取片过程中，返回当前经过的slot数值，取到片时，返回当前的slot值。
3.根据权利要求2所述的一种液晶面板检测控制方法，其特征在于：在取片过程中，把未取到的slot状态复位，同时清除该slot中的液晶面板承载信息并上报给过程计算机，当取到实际的面板时，读取该面板信息传输给机械手，向机械手下一步的目标设备单元传递该信息。
4.根据权利要求3所述的一种液晶面板检测控制方法，其特征在于：对于放片，按照指定的slot结果，对该Slot状态置位，上报过程计算机数据为当前的slot指定结果。
5.根据权利要求4所述的一种液晶面板检测控制方法，其特征在于：框架在工作位上固定进入允许工作状态，过程计算机根据当前卡夹面板信息及MES计划下达生产计划信息到每块液晶面板上。
6.根据权利要求5所述的一种液晶面板检测控制方法，其特征在于：利用液晶面板检测控制系统进行控制，该系统包括框架(1)、固定座(3)、底座(4)和夹片(6)，所述的固定座(3)设置于底座(4)上，框架(1)通过该固定座(3)实现固定，框架(1)内有横向设置的多个夹片(6)，液晶面板置于相邻两夹片(6)之间；还包括光电检测传感器，该光电检测传感器设置于底座(4)上，位于框架(1)下方。
7.根据权利要求6所述的一种液晶面板检测控制方法，其特征在于：还包括PLC控制系统和机械手，光电检测传感器传输信号给PLC控制系统，PLC控制系统控制机械手动作。
8.根据权利要求7所述的一种液晶面板检测控制方法，其特征在于：还包括离子发生器(2)，所述离子发生器(2)设置于框架(1)两侧。
9.根据权利要求8所述的一种液晶面板检测控制方法，其特征在于：还包括过程计算机，所述过程计算机下载面板生产信息数据，并接收机械手上报的slot信息。
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