CN102967887A - 一种用于检测空卡匣的检测装置 - Google Patents

一种用于检测空卡匣的检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102967887A
CN102967887A CN2012104528760A CN201210452876A CN102967887A CN 102967887 A CN102967887 A CN 102967887A CN 2012104528760 A CN2012104528760 A CN 2012104528760A CN 201210452876 A CN201210452876 A CN 201210452876A CN 102967887 A CN102967887 A CN 102967887A
Authority
CN
China
Prior art keywords
casket
transducing signal
card casket
pick
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2012104528760A
Other languages
English (en)
Inventor
齐明虎
吴俊豪
林昆贤
汪永强
郭振华
杨卫兵
陈增宏
蒋运芍
舒志优
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN2012104528760A priority Critical patent/CN102967887A/zh
Priority to US13/806,902 priority patent/US8921760B2/en
Priority to PCT/CN2012/084917 priority patent/WO2014075325A1/zh
Publication of CN102967887A publication Critical patent/CN102967887A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59—Transmissivity

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Credit Cards Or The Like (AREA)

Abstract

本发明公开了一种用于检测空卡匣的检测装置，应用在可存放液晶玻璃的卡匣上，检测所述卡匣中是否存放有液晶玻璃，其特征在于，所述检测装置包括：传感信号装置，用于向卡匣内部发射传感信号，并接收来自卡匣内部的反射信号；反射器，装设在所述卡匣的内部，用以接收所述传感信号装置发出的所述传感信号，并将所述传感信号反射回所述传感信号装置；其中，根据所述传感信号装置在发送传感信号后，是否接收到来自反射器的反射信号来判断所述卡匣中是否存放有液晶玻璃。实施本发明的用于检测空卡匣的检测装置，在精确检测卡匣内是否存放有液晶玻璃的基础上，能够避免杂质进入卡匣内造成污染；提升清洁度，降低人力成本。

Description

一种用于检测空卡匣的检测装置
技术领域
本发明涉及液晶面板制造领域，尤其涉及一种应用在可存放液晶玻璃的卡匣上，检测卡匣中是否存放有液晶玻璃的检测装置。
背景技术
随着液晶显示技术的不断发展，液晶屏已成为人们日常生活中比较常见的显示屏，液晶面板是液晶屏的重要组成部分。在液晶面板的制造过程中，需要将液晶玻璃搬运至堆垛机的卡匣上进行存放。
通常，卡匣上是否存放有液晶玻璃需要使用传感信号器进行检测，而一般的发射式传感信号器无法做到精确检测，需要使用反射式传感信号器进行检测。现有技术中在卡匣上安装有反射式传感信号器的检测装置存在如下技术问题：
1、由于需要在卡匣的顶板上开设相应的开孔，以供反射式传感信号器进行检测，因此，外界空气中的灰尘、杂质等颗粒很容易从开孔处落入到卡匣内，容易对卡匣内的液晶玻璃造成污染，影响产品的良率。如图5所示，为现有技术中在卡匣顶板上设置开孔的结构示意图，其中，开孔91开设在卡匣顶板92上，图示中虚线b表示传感信号路径。
2、为避免颗粒污染液晶玻璃，需经常对卡匣进行清理，人力成本较高。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于，提供一种用于检测空卡匣的检测装置，在精确检测卡匣内是否存放有液晶玻璃的基础上，能够避免杂质进入卡匣内造成污染；提升清洁度，降低人力成本。
为了解决上述技术问题，本发明的实施例提供了一种用于检测空卡匣的检测装置，应用在可存放液晶玻璃的卡匣上，检测所述卡匣中是否存放有液晶玻璃，其特征在于，所述检测装置包括：
传感信号装置，用于向卡匣内部发射传感信号，并接收来自卡匣内部的反射信号；
反射器，装设在所述卡匣的内部，用以接收所述传感信号装置发出的所述传感信号，并将所述传感信号反射回所述传感信号装置；
其中，根据所述传感信号装置在发送传感信号后，是否接收到来自反射器的反射信号来判断所述卡匣中是否存放有液晶玻璃。
优选的，所述卡匣的顶部设有盖板，所述反射器装设在所述盖板的内壁上。
优选的，所述传感信号装置装设在所述卡匣底部的外侧。
优选的，所述传感信号经由所述卡匣的底部向所述盖板发射。
优选的，所述反射器装设在能够接收到所述传感信号的所述盖板的内壁上。
优选的， 所述反射器为反射板。
优选的，所述传感信号装置为光电传感器。
优选的，所述传感信号为光信号。
本发明所提供的用于检测空卡匣的检测装置，具有如下有益效果：由于检测装置包括：可发射光信号到卡匣内部的传感信号装置和用以接收传感信号装置发出光信号的反射板，反射板装设在卡匣盖板的内壁上。光信号无需穿透盖板便可精确检测卡匣内是否存放有液晶玻璃，能够避免在盖板上开孔导致颗粒物进入卡匣内造成污染，提升清洁度；结构设计更趋合理，使人力成本进一步降低。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例的检测装置检测空卡匣的立体结构示意图。
图2是本发明实施例的检测装置检测空卡匣的侧视结构示意图。
图3是本发明实施例的检测装置检测存放有液晶玻璃卡匣的立体结构示意图。
图4是本发明实施例的检测装置检测存放有液晶玻璃卡匣的侧视结构示意图。
图5是现有技术中在卡匣顶板上设置开孔的结构示意图。
具体实施方式
下面参考附图对本发明的优选实施例进行描述。
结合参见图1-图4所示，为本发明用于检测空卡匣的检测装置的实施例一。
本实施例中的检测装置包括：卡匣1，装设在卡匣1中的多根支架11，可存放在卡匣1支架11上的若干块液晶玻璃2以及用于检查卡匣中是否为空的检测装置。
如图1所示，为本发明实施例的检测装置检测空卡匣的立体结构示意图，其中，卡匣1是由多根框条搭接而成的立方状框架结构，其内部具有用于存放液晶玻璃2（如图3所示）的容纳空间。
液晶玻璃2可以存放在卡匣1容置空间中设有的支架11上，支架11根据需求设置为上下排列的多层。本实施例的支架11共设为三层，每一层均可对液晶玻璃2进行存放。
卡匣1的顶部设有盖板12，盖板12可以起到防尘的功用，其同时能够防止空气中的灰尘、杂质等颗粒落入卡匣1中。
检测装置包括
传感信号装置31，用于向卡匣1内部发射传感信号，并接收来自卡匣1内部的反射信号；
反射器32，装设在所述卡匣1的内部，用以接收所述传感信号装置31发出的所述传感信号，并将所述传感信号反射回所述传感信号装置31；
其中，根据所述传感信号装置31在发送传感信号后，是否接收到来自反射器32的反射信号来判断所述卡匣1中是否存放有液晶玻璃2。
传感信号装置31设为光电传感器，能够发射光信号，当其发射的光信号被反射器32接收时，说明两者之间无介质阻挡，光电传感器31发射光信号的路径由图示中虚线a表示。由于光电传感器及其发射的光信号较一般传感信号装置更为精准，且响应速度快，能够对卡匣内存放液晶玻璃2的情况给出精确反馈。
光电传感器31装设在卡匣1底部的外侧，其发射的光信号能够由卡匣1的底部射向盖板12。
反射器32设为反射板，由于板件结构较为小巧，不占用空间，不影响液晶玻璃2的摆放。反射器32装设在卡匣1盖板12的内壁上，反射器32能够接收到光电传感器31由卡匣1底部射向盖板12方向的光信号。
进一步的，反射板32在盖板12内壁上的位置与光电传感器31发射出光信号的发射点在同一直线上，利于反射板32进行反射。
将反射板32装设在卡匣1盖板12内壁上的作用是，在检测卡匣1是否存放液晶玻璃2时，光信号直接射向盖板12内壁上的反射板32，无需通过（穿透）盖板12就可以实现反射，进而达到检测的目的；完好的盖板12能够起到防止颗粒物进入卡匣的作用，避免颗粒物对液晶玻璃2造成污染。
结合参见图2，检测装置检测空卡匣的检测过程是：
位于卡匣1底部外侧的光电传感器31发射光信号由卡匣1的底部射向盖板12的方向，由于卡匣1中未存放液晶玻璃2，卡匣1处于空卡匣的状态，反射板32能够实时接收到由光电传感器31发出的传感光信号并进行反馈，检测装置能够得到卡匣1为空的状态信息。
结合参见图3和图4，检测装置检测存放有液晶玻璃卡匣的检测过程是：
位于卡匣1底部外侧的光电传感器31发射光信号由卡匣1的底部射向盖板12，由于卡匣1中存放有液晶玻璃2，液晶玻璃2对传感光信号进行阻挡，反射板32无法实时接收到由光电传感器31发出的传感光信号，检测装置得到卡匣1中存放有液晶玻璃的状态信息。
为本发明实施例的检测装置的其他实施方式中，反射器可以设为除反射板32外的其它具有反射功能的部件用以反射传感信号。例如，可以在盖板12的内壁直接喷涂反射层或使用反射材料制得盖板12，其均可以完成上述反射式传感信号器对空卡匣检测的过程。此外，反射板在盖板12内壁上装设的位置可以根据光电传感器31的位置进行调整，只要满足能够接收到光电传感器31发射出的光信号即可。
实施本发明的用于检测空卡匣的检测装置，具有如下有益效果：由于检测装置包括：可发射光信号到卡匣内部的光电传感器和用以接收光电传感器发出光信号的反射板，反射板装设在卡匣盖板的内壁上。光信号无需穿透盖板便可精确检测卡匣内是否存放有液晶玻璃，能够避免在盖板上开孔导致颗粒物进入卡匣内造成污染，提升清洁度；结构设计更趋合理，使人力成本进一步降低。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (8)

1.一种用于检测空卡匣的检测装置，应用在可存放液晶玻璃的卡匣上，检测所述卡匣中是否存放有液晶玻璃，其特征在于，所述检测装置包括：
传感信号装置，用于向卡匣内部发射传感信号，并接收来自卡匣内部的反射信号；
反射器，装设在所述卡匣的内部，用以接收所述传感信号装置发出的所述传感信号，并将所述传感信号反射回所述传感信号装置；
其中，根据所述传感信号装置在发送传感信号后，是否接收到来自反射器的反射信号来判断所述卡匣中是否存放有液晶玻璃。
2.如权利要求1所述的用于检测空卡匣的检测装置，其特征在于，所述卡匣的顶部设有盖板，所述反射器装设在所述盖板的内壁上。
3.如权利要求2所述的用于检测空卡匣的检测装置，其特征在于，所述传感信号装置装设在所述卡匣底部的外侧。
4.如权利要求3所述的用于检测空卡匣的检测装置，其特征在于，所述传感信号经由所述卡匣的底部向所述盖板发射。
5.如权利要求4所述的用于检测空卡匣的检测装置，其特征在于，所述反射器装设在能够接收到所述传感信号的所述盖板的内壁上。
6.如权利要求1-5任一项所述的用于检测空卡匣的检测装置，其特征在于， 所述反射器为反射板。
7.如权利要求1-5任一项所述的用于检测空卡匣的检测装置，其特征在于，所述传感信号装置为光电传感器。
8.如权利要求1-5任一项所述的用于检测空卡匣的检测装置，其特征在于，所述传感信号为光信号。
CN2012104528760A 2012-11-13 2012-11-13 一种用于检测空卡匣的检测装置 Pending CN102967887A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2012104528760A CN102967887A (zh) 2012-11-13 2012-11-13 一种用于检测空卡匣的检测装置
US13/806,902 US8921760B2 (en) 2012-11-13 2012-11-20 Detecting apparatus for determining liquid crystal glasses displacement in a cartridge
PCT/CN2012/084917 WO2014075325A1 (zh) 2012-11-13 2012-11-20 一种用于检测空卡匣的检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2012104528760A CN102967887A (zh) 2012-11-13 2012-11-13 一种用于检测空卡匣的检测装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102967887A true CN102967887A (zh) 2013-03-13

Family

ID=47798155

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2012104528760A Pending CN102967887A (zh) 2012-11-13 2012-11-13 一种用于检测空卡匣的检测装置

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN102967887A (zh)
WO (1) WO2014075325A1 (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015010401A1 (zh) * 2013-07-23 2015-01-29 合肥京东方光电科技有限公司 卡匣和卡匣的检测方法
CN108717207A (zh) * 2018-05-21 2018-10-30 深圳市杰普特光电股份有限公司 面板放置检测装置及面板放置检测方法
CN112660828A (zh) * 2020-12-29 2021-04-16 飞马智科信息技术股份有限公司 一种取代Map传感器的液晶面板检测控制系统及方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09115973A (ja) * 1995-10-16 1997-05-02 Nec Corp 異物検査方法
JPH10308437A (ja) * 1997-05-08 1998-11-17 Tokyo Electron Ltd キャリア及びキャリア内のウエハ検出方法
JP2004140147A (ja) * 2002-10-17 2004-05-13 Tokyo Electron Ltd 被搬送体の検出装置及び処理システム
US20060219930A1 (en) * 2005-03-31 2006-10-05 Lange Steven R All-reflective optical systems for broadband wafer inspection
CN1847944A (zh) * 2005-04-12 2006-10-18 奇菱科技股份有限公司 背光模组的盒座
KR20080008443A (ko) * 2006-07-20 2008-01-24 삼성전자주식회사 반도체 코팅설비의 웨이퍼 플랫존 정렬상태 검출장치
CN201020926Y (zh) * 2007-03-29 2008-02-13 珠海天威技术开发有限公司 墨盒
CN101131366A (zh) * 2006-08-22 2008-02-27 东京毅力科创株式会社 基板检测机构以及基板收纳容器
CN101383307A (zh) * 2007-09-04 2009-03-11 东京毅力科创株式会社 基板位置偏离检测系统
CN201514936U (zh) * 2009-09-03 2010-06-23 东莞宏威数码机械有限公司 基片盒传输载台

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101620189B (zh) * 2008-07-01 2012-01-11 拓志光机电股份有限公司 卡匣面板映射系统及其检测面板的方法
CN201608196U (zh) * 2010-01-29 2010-10-13 理想能源设备(上海)有限公司 对玻璃基板进行检测的搬运设备
CN102193505B (zh) * 2010-03-05 2012-12-19 理想能源设备(上海)有限公司 玻璃基片自动化定量管理系统及其方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09115973A (ja) * 1995-10-16 1997-05-02 Nec Corp 異物検査方法
JPH10308437A (ja) * 1997-05-08 1998-11-17 Tokyo Electron Ltd キャリア及びキャリア内のウエハ検出方法
JP2004140147A (ja) * 2002-10-17 2004-05-13 Tokyo Electron Ltd 被搬送体の検出装置及び処理システム
US20060219930A1 (en) * 2005-03-31 2006-10-05 Lange Steven R All-reflective optical systems for broadband wafer inspection
CN1847944A (zh) * 2005-04-12 2006-10-18 奇菱科技股份有限公司 背光模组的盒座
KR20080008443A (ko) * 2006-07-20 2008-01-24 삼성전자주식회사 반도체 코팅설비의 웨이퍼 플랫존 정렬상태 검출장치
CN101131366A (zh) * 2006-08-22 2008-02-27 东京毅力科创株式会社 基板检测机构以及基板收纳容器
CN201020926Y (zh) * 2007-03-29 2008-02-13 珠海天威技术开发有限公司 墨盒
CN101383307A (zh) * 2007-09-04 2009-03-11 东京毅力科创株式会社 基板位置偏离检测系统
CN201514936U (zh) * 2009-09-03 2010-06-23 东莞宏威数码机械有限公司 基片盒传输载台

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
谢望: "光电传感器技术的新发展及应用", 《仪器仪表用户》 *
贾伟等: "新型显示器玻璃技术", 《真空电子技术》 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015010401A1 (zh) * 2013-07-23 2015-01-29 合肥京东方光电科技有限公司 卡匣和卡匣的检测方法
US10386181B2 (en) 2013-07-23 2019-08-20 Boe Technology Group Co., Ltd. Cartridge and detection method for the same
CN108717207A (zh) * 2018-05-21 2018-10-30 深圳市杰普特光电股份有限公司 面板放置检测装置及面板放置检测方法
CN108717207B (zh) * 2018-05-21 2024-03-29 深圳市杰普特光电股份有限公司 面板放置检测装置及面板放置检测方法
CN112660828A (zh) * 2020-12-29 2021-04-16 飞马智科信息技术股份有限公司 一种取代Map传感器的液晶面板检测控制系统及方法
CN112660828B (zh) * 2020-12-29 2022-03-08 飞马智科信息技术股份有限公司 一种取代Map传感器的液晶面板检测控制方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2014075325A1 (zh) 2014-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106453725B (zh) 一种终端
CN206370853U (zh) 传感器组件及终端
CN101261557B (zh) 一种用于触摸屏的图像传感装置
US10623649B2 (en) Camera alignment based on an image captured by the camera that contains a reference marker
CN102037396B (zh) 区域传感器和带区域传感器的显示装置
CN104359917A (zh) 液晶屏内部灰尘检测方法及装置
CN102967887A (zh) 一种用于检测空卡匣的检测装置
CN101369202B (zh) 一种用于触摸屏的图像传感装置
CN107886926A (zh) 显示屏及电子设备
CN107422571A (zh) 显示面板、装置及其操控方法
CN109696682A (zh) 光学检测组件和终端设备
CN206442435U (zh) 传感器组件以及移动终端
CN107967025B (zh) 显示屏组件及电子设备
CN107945767A (zh) 显示屏组件及电子设备
CN107831834A (zh) 显示屏组件及电子设备
CN110312001A (zh) 滑出结构的位置检测方法、检测组件及电子装置
CN100549778C (zh) 具检测功能的偏光片贴附方法及系统
US20100321342A1 (en) Optical touchpad device
CN109348001A (zh) 盖板、显示装置、电子设备及盖板的制作方法
CN102289326B (zh) 适用于振动及潮湿环境的光学式多点触摸屏装置及方法
CN205809850U (zh) 一种便携式触控识别器
CN204010401U (zh) 红外教鞭系统
US8243193B2 (en) Camera module and portable electronic device using the module
KR101173953B1 (ko) 빛을 이용한 대상물 검사장치 및 방법, 그 검사 장치용 플래이트
CN106686215A (zh) 传感器组件以及移动终端

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20130313