CN112384996B - 绝缘电线 - Google Patents
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Abstract
一种绝缘电线,其特征在于,残留于绝缘层的沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物和准挥发性有机化合物的残留量合计设为1500ppm以下。特别是,在绝缘层含有有机聚硅氧烷的情况下,使D4~D10的低分子量环状硅氧烷降低。另外,在导体的周围包覆有包含第一绝缘层和第二绝缘层的至少2个绝缘层的绝缘电线的情况下,其特征在于,残留于所有的绝缘层的沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物和准挥发性有机化合物的残留量合计为1500ppm以下。
Description
技术领域
本发明涉及一种绝缘电线,特别是适于汽车所使用的高电压电力电缆的绝缘电线。
背景技术
用于汽车等车辆的绝缘电线要求机械特性、阻燃性、耐热性、耐寒性等各种特性,在所要求的特性之一有冒烟(发烟)特性。
近年来,出现了利用由电驱动的电动机驱动的电动汽车、并用电动机驱动和现有的汽油发动机驱动的混合动力汽车。使用这种电动机驱动的汽车为了进行电动机驱动,需要供给高电压、大电流。
供给高电压、大电流的绝缘电线容易成为高温,通常,高温环境下的绝缘电线的冒烟特性降低。
作为改善冒烟特性的方法之一,有增加绝缘电线的导体截面积,降低通电时的发热的方法,但供给高电压、大电流的绝缘电线本来大多被设计为导体截面积大,导体截面积的进一步增大导致绝缘电线的肥大化,存在难以确保绝缘电线的配设空间,重量的增加导致的燃料消耗变差之类的问题。
作为降低燃烧时的冒烟量的方法,已知在用于绝缘电线的绝缘材料中不使用卤的方法(专利文献1)、使用含有包含使四氟乙烯和碳原子数2~4的α烯烃聚合而得到的四氟乙烯-α烯烃共重合体的基础聚合物的含氟弹性体组合物的方法(专利文献2)等。
但是,这些方法是意图降低绝缘电线燃烧时这一紧急事态下的冒烟量的方法,未必有助于作为直到燃烧前的安全指标的含义强的冒烟特性的提高。
例如,如图2所示,在具有多个绝缘层的情况下,与绝缘层仅为一层的绝缘电线相比,具有冒烟特性变差的趋势。
在面向汽车的高电压电力电缆的一部分中,如图4所示,采用在第一绝缘层的外周设置屏蔽层,进而设置第二绝缘层的方式的高电压电力电缆,这种方式的高电压电力电缆还要求冒烟特性的提高。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2000-191845号公报
专利文献2:日本特开2017-33784号公报
发明内容
发明所要解决的问题
本发明的课题在于,提供一种不增加导体截面积而能改善冒烟特性的绝缘电线。还提供一种即使为具有多种绝缘层的方式,也具有优异的冒烟特性的绝缘电线。
用于解决问题的技术方案
本发明人对绝缘电线的冒烟机理进行了详细分析,其结果是,通过降低绝缘层中所含的挥发性成分,另外还关注挥发性有机化合物类的降低处理时的挥发性有机化合物类的举动,抑制再吸附于内周侧的绝缘层的现象,从而直至解决现有的问题。
本发明提供一种绝缘电线,在导体的周围包覆有绝缘层,其特征在于,残留于绝缘层的沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物和准挥发性有机化合物的残留量合计为1500ppm以下。
另外,本发明提供一种绝缘电线,在导体的周围包覆有包含第一绝缘层和第二绝缘层的至少两个绝缘层,其特征在于,残留于所有的绝缘层的沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物和准挥发性有机化合物的残留量合计为1500ppm以下。
发明效果
根据本发明,能够不增大导体截面积而改善冒烟特性,另外,即使为具有多个绝缘层的绝缘电线,也能够得到良好的冒烟特性。
附图说明
图1是表示本发明的绝缘电线的基本的结构的图。
图2是本发明的绝缘电线的一例,是表示具有多个绝缘层的方式的图。
图3是本发明的绝缘电线的一例,是表示具有透过抑制层的方式的图。
图4是本发明的绝缘电线的一例,是表示具有屏蔽层的方式的图。
图5是本发明的绝缘电线的一例,是表示具有透过抑制层和屏蔽层的方式的图。
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的基本的结构进行说明。图1中,1为本发明的绝缘电线,10为导体,12为绝缘层。此外,本发明的结构不限定于图1,在本发明的思想的范围内能够进行变更。
本发明的特征在于,残留于绝缘层12的沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物和准挥发性有机化合物的残留量合计为1500ppm以下。
挥发性有机化合物(VOC)为在大气中以气体存在的有机化合物中沸点为50~260℃左右的有机化合物的总称,准挥发性有机加工物(SVOC)为在大气中以气体存在的有机化合物中沸点为260~400℃左右的有机加工物的总称。
以下,除非另有说明,使用“VOC”作为表示发性有机化合物和准挥发性有机化合物的两者的术语。
绝缘电线1的冒烟特性通过汽车标准JASO D609中记载的试验来测定。具体而言,准备一定长度的绝缘电线1作为试样,在设定为试验温度的环境下水平地维持。改变电流值,使几种直流电流流经试样,测定直到确认冒烟为止的时间。设定几种试验温度,并针对每种试验温度求出电流值和冒烟开始时间的关系,将其结果作为绝缘电线1的冒烟特性来处理。
冒烟特性试验中的冒烟通过如下产生:在放置于高温环境下的绝缘电线1中流过电流,由于高温和通电引起的发热而绝缘层12劣化,劣化的绝缘层12的材料作为可目视的烟进行蒸发、飞散。
但是,在绝缘层12中残留有VOC的情况下,在到达绝缘层12的耐热温度或绝缘电线1的短时间容许温度之前,开始VOC的蒸发、飞散,飞散的VOC成为可目视的烟,因此,存在即使绝缘电线1及绝缘层12具有高的耐热性,冒烟特性也会变差的场面。
因此,通过降低残留于绝缘层12的VOC,降低源自VOC的冒烟,因此,能够得到与绝缘层12本来具有的耐热性对应的冒烟特性,作为结果,绝缘电线1的冒烟特性提高。
通常,要求冒烟特性的绝缘电线1大多还要求耐热性,具有150~200℃左右的耐热温度的电线的冒烟特性(冒烟温度)大多要求比耐热温度足够高的温度。因此,通过降低具有150℃以上的沸点的VOC,能够有效地提高绝缘电线1的冒烟特性。
具体而言,通过将沸点处于150℃~60℃的范围的VOC的残留量设为1500ppm以下,成为在冒烟特性试验中产生的烟的原因的VOC的大半部分被除去,因此,冒烟特性提高。
随着VOC的残留量的降低,冒烟特性处于提高的趋势,因此,更优选将沸点处于150℃~360℃的范围的VOC的残留量设为1000ppm以下。
本发明在构成绝缘层12的材料含有有机聚硅氧烷时,能够特别适合利用。
作为含有有机聚硅氧烷的绝缘材料的代表例,已知柔软性、绝缘性、耐热性、耐寒性等优异的硅橡胶。通常,硅橡胶通过将硫化剂、颜料等与硅橡胶复合物配合、混炼,并将其在规定的条件下加热、硫化并固化来使用。
硅橡胶复合物将使环状二甲基硅氧烷四聚物(D4)开环聚合而得到的二甲基聚硅氧烷设为主成分,但该开环聚合反应为可逆的反应,因此,在硅橡胶复合物中残留所谓的低分子量环状硅氧烷。
即,在构成绝缘层12的材料含有有机聚硅氧烷的情况下,在绝缘层12中残留低分子量环状硅氧烷。低分子量环状硅氧烷为VOC的一种,成为降低绝缘电线1的冒烟特性的要因之一。
通常,环状二甲基硅氧烷三聚物(D3)~环状二甲基硅氧烷十聚物(D10)被作为低分子量环状硅氧烷进行处理。在环状二甲基硅氧烷中,D3的沸点在大气压下为134℃,D4的沸点在大气压下为175℃,随着D5、D6······的分子量增加,沸点增加,推测D10的沸点在大气压下为360℃左右。由于D3的沸点较小,因此,在绝缘电线1的制造过程中,大半蒸发,且残留量少,但D4~D10与D3比较,残留量多。
此外,作为降低绝缘电线1的冒烟特性的要因之一的低分子量环状硅氧烷不限定于环状二甲基硅氧烷。与硅氧烷键的硅原子键合的有机取代基团不仅可举出甲基,还可举出乙基、乙烯基、苯基等,这些组合也可以是任意的。
另外,降低绝缘电线1的冒烟特性的要因除低分子量环状硅氧烷外,可举出苯甲酸或苯甲酸的衍生物等升华性物质。
因此,在使用了含有有机聚硅氧烷的绝缘层12的绝缘电线1中,沸点处于150℃~360℃的范围的VOC即D4~D10的低分子量环状硅氧烷的残留量合计为1500ppm以下,由此,能够提高绝缘电线1的冒烟特性。
作为含有有机聚硅氧烷的绝缘层12的材料,能够使用各种硅橡胶、及硅橡胶和其它材料的混合物等。
在将绝缘层12设为硅橡胶和其它材料的混合物时,随着硅橡胶的混合比例增加,低分子量环状硅氧烷的残留量也增加,冒烟特性处于变差的趋势,但即使硅橡胶的混合比例高,通过将沸点处于150℃~360℃的范围的低分子量环状硅氧烷的残留量合计设为1500ppm以下,也能够提高冒烟特性。
本来,即使为由低分子量环状硅氧烷残留特别多的硅橡胶单体构成的绝缘层12,通过将沸点处于150℃~360℃的范围的低分子量环状硅氧烷的残留量合计设为1500ppm以下,也能够提高冒烟特性,因此,在绝缘层12为硅橡胶单体的情况下,效果特别高。
在使用含有有机聚硅氧烷的绝缘层12构成绝缘电线1的情况下,优选将残留于绝缘层12的D4~D6的低分子量环状硅氧烷中至少一个的残留量设为1000ppm以下。
D4~D6的低分子量环状硅氧烷属于挥发性有机化合物,与高沸点无关,蒸气压大,因此,具有即使在室温下也较容易挥发,并且,占残留于绝缘层12的VOC的大半的趋势。通过将具有这种性质的D4~D6的低分子量环状硅氧烷中至少一个的残留量设为1000ppm以下,能改善冒烟特性。
通过将D4~D6的低分子量环状硅氧烷中至少一个的残留量设为1000ppm,得到冒烟特性的改善效果,但从将低分子量环状硅氧烷的残留量合计设为1500ppm以下的观点考虑,优选将D6的残留量设为100ppm以下。期望更优选将D4~D6的低分子量环状硅氧烷的残留量的合计设为100ppm以下。
D4~D6的低分子量环状硅氧烷中的D6具有较多地残留于绝缘层12的趋势,因此,通过使D6的残留量集中地降低,能够有效地改善冒烟特性。另外,随着D6的残留量的降低,D4、D5的残留量也处于降低的趋势,通过将D4~D6的低分子量环状硅氧烷的残留量的合计设为100ppm以下,能进一步改善冒烟特性。
在使用含有有机聚硅氧烷的绝缘层12构成绝缘电线1的情况下,将D4~D8的低分子量环状硅氧烷的残留量合计设为500ppm以下适于鉴于实用的范围的设计的情况。
除D4~D6的低分子量环状硅氧烷外,还是在D7、D8冒烟特性试验中特别容易成为可目视的烟的VOC,因此,使D8的残留量集中地降低,随此,D7的残留量也降低,由此,能够更有效地提高绝缘电线1的冒烟特性。
期望优选将D8的低分子量环状硅氧烷的残留量设为300ppm以下。
在使用含有有机聚硅氧烷的绝缘层12构成绝缘电线1的情况下,进一步优选将D4~D10的低分子量环状硅氧烷的残留量合计设为400ppm以下。
D9、D10的低分子量环状硅氧烷容易在以JCS(日本电线工业会)标准168号定义的通常的硅橡胶包覆绝缘电线的短期容许温度即300℃附近蒸发,影响高温域中的冒烟特性。也考虑D9、D10的残留量,将D10的低分子量环状硅氧烷的残留量合计设为200ppm以下,随此,D9的残留量也降低,由此,能够使绝缘电线1的冒烟温度接近硅橡胶包覆绝缘电线的短期容许温度,能够使冒烟特性进一步提高。
期望优选将D9、D10的低分子量环状硅氧烷的残留量的合计设为300ppm以下。
作为降低残留于绝缘层12的VOC的残留量的方法,可举出以下的方法。
(方法1)将绝缘电线1以规定的温度、时间进行加热,使绝缘层12中的VOC强制蒸发。
(方法2)使绝缘电线1浸渍于溶剂中,使绝缘层12中的VOC溶出到溶剂中。
(方法3)将低VOC类型的绝缘材料用于绝缘层12。
(方法4)将使以有机聚硅氧烷为主的材料和低VOC类型的绝缘材料混合而形成的材料用于绝缘层12。
在以上描述的方法中,方法1能够最优选地使用。方法1是无论绝缘材料的种类如何都能够使用的方法,并且,能够使用在工业上容易处理的加热炉等加热单元来进行。
另外,本发明的绝缘电线1中,除VOC以外,还存在含有具有因温度上升而蒸发、飞散的性质的物质的情况,因此,为了提高冒烟特性,优选VOC以外的物质的残留量也降低。
除VOC以外,作为具有因温度上升而蒸发、飞散的性质的物质,可举出升华性的物质。升华性的物质随着温度上升,从固体直接变化成气体状态,因此,容易蒸发、飞散,成为与VOC同样可目视的烟的原因。
在本发明的绝缘电线1中,作为在绝缘层12中含有的可能性高的升华性的物质,可举出苯甲酸(沸点:约249℃)和其衍生物。
在使用交联速度优异的过氧化物硫化形成硅橡胶制的绝缘层12时,苯甲酸和其衍生物作为用作反应引发剂的有机过氧化物的分解生成物而产生,且包含在绝缘层12中。作为主要的衍生物,可举出2,4-二氯苯甲酸(沸点:约200℃)、4-甲基苯甲酸(沸点:约274℃)。
苯甲酸和其衍生物具有与VOC同等的沸点,并且,在低于沸点的温度下开始升华,因此,包含于在冒烟特性试验中产生的烟中,并在使冒烟特性变差的方向上起作用。
与VOC同样,通过降低残留于绝缘层12的升华性物质,降低源自升华性物质的冒烟,因此,能够得到与绝缘层12本来具有的耐热性对应的冒烟特性,作为结果,绝缘电线1的冒烟特性提高。
通常,残留于绝缘层12的升华性物质的残留量比VOC的残留量少,如果残留于绝缘层12的沸点处于150℃~360℃的范围的VOC的残留量合计和残留于绝缘层12的升华性物质的残留量合计之和为1500ppm以下,则能够得到良好的冒烟特性。
更优选的是,优选将残留于绝缘层12的升华性物质的残留量合计设为300ppm以下。
作为降低残留于绝缘层12的升华性物质的残留量的方法,可举出以下的方法。
(方法1)将绝缘电线1以规定的温度、时间加热,使绝缘层12中的升华性物质强制地蒸发。
(方法2)使绝缘电线1浸渍于溶剂中,并使绝缘层12中的升华性物质溶出到溶剂中。
(方法3)在将绝缘层12设为硅橡胶制的情况下,使用未使用有机过氧化物的硫化方法(附加硫化等),形成硅橡胶制的绝缘层12。
另外,参照附图对本发明中具有多个绝缘层的方式进行说明。在图2~5中,2~5为本发明的绝缘电线,20为导体,22为绝缘层。绝缘层22中位于绝缘电线2~5的内周侧的23为第一绝缘层,位于比第一绝缘层23更外周侧的24为第二绝缘层。此外,本发明的结构不限定于图2~5,在本发明的思想的范围内可进行变更。图2~5中至少示出了第一绝缘层23、第二绝缘层24作为两个绝缘层22,但还可以进一步设置绝缘层。
第一绝缘层23和第二绝缘层24分别可以为在各层内具有均匀的物理性能的绝缘层,也可以为在壁厚方向和/或绝缘电线的长度方向上物理性能变化的绝缘层。
本发明的特征在于,绝缘电线2~5在导体20的周围包覆有包含第一绝缘层23和第二绝缘层24的至少两个绝缘层22,在包含第一绝缘层23和第二绝缘层24,进而包含绝缘层的情况下,加上这些绝缘层的所有的绝缘层22中残留的、沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物和准挥发性有机化合物的残留量合计为1500ppm以下。即,残留于第一绝缘层23的沸点处于150℃~360℃的范围的VOC的残留量合计、残留于第二绝缘层24的沸点处于150℃~360℃的范围的VOC的残留量合计、进而在包含第三绝缘层、第四绝缘层的情况下残留于这些绝缘层的沸点处于150℃~360℃的范围的VOC各自的残留量合计之和为1500ppm以下。
通过将残留于第一绝缘层23和第二绝缘层24各自中的沸点处于150℃~360℃的范围的VOC的残留量之和设为1500ppm以下,成为冒烟特性试验中产生的烟的原因的VOC的大半部分被除去,因此,冒烟特性提高。
随着VOC的残留量的降低,冒烟特性处于提高的趋势,因此,更优选将残留于第一绝缘层23和第二绝缘层24各自中的沸点处于150℃~360℃的范围的VOC的残留量之和设为1000ppm以下。
另外,在本发明中,如图3所示,优选在第一绝缘层23和第二绝缘层24之间设置相对于沸点处于150℃~360℃的范围的VOC显示低透过性的透过抑制层26。
在对于存在两层绝缘层的绝缘电线2,使用上述方法1及方法2降低VOC的情况下,虽然作为最外层的第二绝缘层24中所含的VOC降低,但第二绝缘层24的存在成为障碍,充分降低位于内侧的第一绝缘层23中所含的VOC需要时间。
在对第一绝缘层23预先实施了VOC的降低处理后,通过设置第二绝缘层24,能够与上述课题对应,但该情况下,在对第二绝缘层24实施VOC的降低处理时,产生从第二绝缘层24脱离的VOC的一部分再吸附于第一绝缘层23的现象,存在绝缘电线2中所含的VOC的总量不能大幅降低的情况。
如图3所示,通过在第一绝缘层23和第二绝缘层24之间设置相对于VOC显示低透过性的透过抑制层26,抑制第二绝缘层24中所含的VOC再吸附于第一绝缘层23的现象,有助于绝缘电线3中所含的VOC的总量的降低。
透过抑制层26从相对于绝缘层中所含的VOC具有低透过性,并且也尽量抑制了VOC的吸附的材料中选定,能够适当地利用各种金属材料、聚乙烯、PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)、氟等。
在抑制VOC的透过的观点上,特别优选相对于气体具有高的阻隔性的结晶性的材料,在分子结构上,特别优选容易形成大量结晶质的区域的PET、及形成金属结晶的金属材料,在金属材料中,优选形成相对于气体具有阻隔性的致密的氧化被膜的铜及铝。
作为设置透过抑制层26的方法的一例,可举出将金属箔带、树脂带、金属蒸镀树脂带之类的带状的部件卷绕于第一绝缘层23的方式。卷绕方式只要适当选择横卷或竖接等在卷绕带的方式的电线、电缆类中使用的卷绕方式即可。
在将带状的部件卷绕于第一绝缘层23,并设置透过抑制层26的情况下,优选以重叠1/6以上搭接的方式卷绕。通过重叠1/6以上卷绕,抑制搭接部的间隙的产生,相对于VOC的透过抑制功能提高。更优选以重叠1/4以上搭接。
在使用带状的部件作为透过抑制层26时,从确保相对于VOC的低透过性的观点考虑,优选使用由充填材料构成的部件,但在能够维持相对于VOC的低透过性的范围,也可以使用多孔质材料。
在使用带状的部件作为透过抑制层26时,部件的厚度没有特别限定。在确保相对于VOC的低透过性的观点上,优选厚的一方,但在通过材料选定来确保低透过性的情况下,也可以为薄的部件,在抑制绝缘电线3的外径的观点上,优选薄的部件。
用作透过抑制层26的部件、方式不限定于上述,在本发明的技术的思想的范围内可以选定各种部件、材料、方式来使用。
例如,可举出在第一绝缘层23的外周设置金属蒸镀等设置相对于VOC显示低透过性的涂层的方式;由相对于VOC显示低透过性的材料填充存在于后述的图5的屏蔽层28的间隙,兼备透过抑制层26和屏蔽层28的方式。
本发明意图面向汽车的高电压电力电缆用途,但本用途的绝缘电线也存在具有如图4所示的屏蔽层28的方式的电线,该方式的绝缘电线4通常存在第一绝缘层23和第二绝缘层24。
本发明能够特别适用于图4所示的具有屏蔽层28的绝缘电线4的冒烟特性的提高。
在一起设置透过抑制层26和屏蔽层28而构成本发明的绝缘电线5的情况下,可以适当选择在屏蔽层28和第二绝缘层24之间设置透过抑制层26的方式(图5)、或在第一绝缘层和屏蔽层之间设置透过抑制层的方式(图示省略)来使用。
另外,本发明的绝缘电线2~5构成在第一绝缘层23、第二绝缘层24中至少一方的材料含有有机聚硅氧烷时,能够特别适合使用。
在使用了含有有机聚硅氧烷的绝缘层的绝缘电线2~5中,通过将残留于第一绝缘层23和第二绝缘层24各自中的、沸点处于150℃~360℃的范围的VOC即D4~D10的低分子量环状硅氧烷的残留量之和设为1500ppm以下,能够提高绝缘电线2~5的冒烟特性。
在将绝缘层22设为硅橡胶和其它材料的混合物时,随着硅橡胶的混合比例增加,低分子量环状硅氧烷的残留量也增加,冒烟特性处于变差的趋势,但即使硅橡胶的混合比例高,通过将残留于第一绝缘层23和第二绝缘层24各自的沸点处于150℃~360℃的范围的低分子量环状硅氧烷的残留量之和设为1500ppm以下,也能够提高冒烟特性。
本来,即使为由低分子量环状硅氧烷残留特别多的硅橡胶单体构成的绝缘层,通过将残留于第一绝缘层23和第二绝缘层24各自的沸点处于150℃~360℃的范围的低分子量环状硅氧烷的残留量之和设为1500ppm以下,也能够提高冒烟特性,因此,在绝缘层22为硅橡胶单体的情况下,效果特别高。
在使用含有有机聚硅氧烷的绝缘层构成绝缘电线2~5的情况下,优选将残留于绝缘层的D4~D6的低分子量环状硅氧烷的残留量合计设为100ppm以下。
D4~D6的低分子量环状硅氧烷属于挥发性有机化合物,与高沸点无关,蒸气压大,因此,即使在室温下,也具有较容易挥发的性质。通过将具有这种性质的D4~D6的低分子量环状硅氧烷的残留量合计设为100ppm以下,改善冒烟特性。
在使用含有有机聚硅氧烷的绝缘层构成绝缘电线2~5的情况下,将D4~D8的低分子量环状硅氧烷的残留量合计设为500ppm以下适于鉴于实用的范围的设计的情况。
D4~D8的低分子量环状硅氧烷为在冒烟特性试验中特别容易成为可目视的烟的VOC,因此,通过使这些VOC的残留量集中地降低,能够更有效地提高绝缘电线2~5的冒烟特性。
在使用含有有机聚硅氧烷的绝缘层构成绝缘电线2~5的情况下,更优选将D4~D10的低分子量环状硅氧烷的残留量合计设为1000ppm以下。
D9、D10的低分子量环状硅氧烷在以JCS(日本电线工业会)标准168号定义的通常的硅橡胶包覆绝缘电线的短期容许温度即300℃附近容易蒸发,影响高温域下的冒烟特性。也考虑D9、D10的残留量,将D4~D10的低分子量环状硅氧烷的残留量合计设为1000ppm以下,由此能够使绝缘电线2~5的冒烟温度接近硅橡胶包覆绝缘电线的短期容许温度,能够更进一步提高冒烟特性。
以上描述的低分子量环状硅氧烷的优选的残留量在含有有机聚硅氧烷的绝缘层仅为一层的情况下,只要该绝缘层满足优选的残留量即可。
在存在多个含有有机聚硅氧烷的绝缘层的情况下,优选残留于各层的低分子量环状硅氧烷的残留量合计之和、即残留于绝缘电线整体的低分子量环状硅氧烷的总量为优选的残留量。
另外,省略详细部分,但即使在存在多层绝缘层的情况下(绝缘电线2~5),也期望降低除VOC以外的物质、例如苯甲酸和其衍生物即升华性物质的残留量的效果。
以上描述的本发明的绝缘电线1~5如后述与现有的绝缘电线相比,具有高的冒烟特性。
实施例
以下,表示本发明的实施例。
[实施例1]
制作具有图1所示的单层的绝缘层12的绝缘电线1。
具体而言,首先,准备绞合了9根直径0.32mm的软铜线的子绞导体,并将19根该子绞导体以同心绞合结构绞合,形成相当于截面积15mm2、φ5.1的导体10。
接着,使用挤出成型机,在导体10的外周以壁厚1.0mm包覆了成为绝缘层12的硅橡胶后,进行热处理,使硅橡胶交联,得到外径7.1mm的绝缘电线1。
接着,将绝缘电线1切割成长度2000mm,按90℃×11小时、150℃×11小时的顺序使用加热炉进行加热,使绝缘层12中的VOC蒸发,得到实施例1的绝缘电线1-1。通过后述的方法测定残留于绝缘层12的VOC的量,其结果,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为987ppm,其中,D4~D6的合计量为42ppm,D7、D8的合计量为324ppm,D9、D10为合计量为621ppm。
[实施例2]
与实施例1相同,将绝缘电线1切割成长度2000mm,在室温下浸渍于丙酮中3小时后,在室温下充分干燥后,在与实施例1相同的条件下进行加热,得到实施例2的绝缘电线1-2。就残留于绝缘层12的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为359ppm,其中,D4~D6的合计量为25ppm,D7、D8的合计量为138ppm,D9、D10的合计量为196ppm。
[实施例3]
通过预选进行90℃×5小时的加热处理,使用降低了VOC的硅橡胶制作与实施例1同样的绝缘电线1,实施与实施例2同样的VOC降低处理,得到实施例3的绝缘电线1-3。就残留于绝缘层12的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为198ppm,其中,D4~D6的合计量为31ppm,D7、D8的合计量为33ppm,D9、D10的合计量为134ppm。
[比较例1]
除不进行VOC的降低处理外,与实施例1相同,将绝缘电线制成比较例1的绝缘电线1’-1。就残留于绝缘层12的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为10098ppm,其中,D4~D6的合计量为7430ppm,D7、D8的合计量为1909ppm,D9、D10的合计量为759ppm。
[实施例4]
准备绞合了23根直径0.32mm的软铜线的子绞导体,并将19根该子绞导体绞合成同心绞合结构,形成相当于截面积35mm2、φ8.1的导体10。
接着,使用挤出成型机,在导体10的外周以壁厚1.3mm包覆了的成为绝缘层12的硅橡胶后,进行热处理,使硅橡胶交联,得到外径10.7mm的绝缘电线1。
接着,将绝缘电线1在与实施例1相同的条件下加热,使绝缘层12中的VOC蒸发,得到实施例4的绝缘电线1-4。就残留于绝缘层12的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为951ppm,其中,D4~D6的合计量为19ppm,D7、D8的合计量为318ppm,D9、D10的合计量为614ppm,为与实施例1同等的残留量。
[实施例5]
与实施例4相同,将绝缘电线1在与实施例2相同的条件下浸渍于丙酮中,进行加热,得到实施例5的绝缘电线1-5。就残留于绝缘层12的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为361ppm,其中,D4~D6的合计量为30ppm,D7、D8的合计量为94ppm,D9、D10的合计量为237ppm,为与实施例2同等的残留量。
[实施例6]
通过预选进行90℃×5小时的加热处理,使用降低了VOC的硅橡胶制作与实施例4同样的绝缘电线1,实施与实施例3同样的VOC降低处理,得到实施例6的绝缘电线1-6。就残留于绝缘层12的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为201ppm,其中,D4~D6的合计量为35ppm,D7、D8的合计量为31ppm,D9、D10的合计量为135ppm,为与实施例3同等的残留量。
[比较例2]
除不进行VOC的降低处理外,与实施例3相同,将绝缘电线制成比较例2的绝缘电线1’-2。就残留于绝缘层12的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为10142ppm,其中,D4~D6的合计量为7563ppm,D7、D8的合计量为1843ppm,D9、D10的合计量为736ppm,为与比较例1同等的残留量。
[VOC残留量测定方法]
各实施例、比较例的残留于绝缘电线的绝缘层12的VOC(低分子量环状硅氧烷)的量通过基于丙酮萃取的气相色谱仪法来测定。具体的方法如下所示。
切断从绝缘电线采取的绝缘层12后,称量0.5mg放入10ml的样品瓶中。
以浸渍切断的绝缘层12的方式在样品瓶中放入丙酮5ml,进行30分钟超声波处理,使VOC溶出到丙酮。
采取1μl的VOC溶出的丙酮,将其导入到气相色谱仪进行加热,与预先使用浓度已知的标准样品制作的校正曲线比较,测定D4~D10的低分子量环状硅氧烷的量。
就气相色谱法的加热条件而言,保持1分钟40℃→以升温速度10℃/分钟加热至80℃→以升温速度20℃/分钟加热至120℃→以升温速度7℃/分钟加热至310℃,保持10分钟。
[升华性物质残留量测定方法]
对于实施例4、比较例2的绝缘电线,通过加热解吸式气相色谱仪法测定残留于绝缘层12的升华性物质(苯甲酸和其衍生物)的量。以下示出具体的方法。
从绝缘电线采取绝缘层12,称量15mg放入加热解吸装置的试样管中。
在表1所示的条件下使加热解吸装置工作,从试样中产生气体。
[表1]
试样加热温度 | 200℃ |
试样加热时间 | 试样温度到达300℃后20分钟 |
阱温度 | 5℃ |
阱加热温度 | 300℃ |
阱加热时间 | 3分钟 |
传输线温度 | 200℃ |
注入方法 | 分裂法(SV2=120ml/min) |
将产生的气体导入到气相色谱仪中,与预先使用浓度已知的标准样品制作的校正曲线比较,测定苯甲酸和其衍生物的量。
就气相色谱法的加热条件而言,保持7分钟40℃→以升温速度10℃/分钟加热至120℃→以升温速度20℃/分钟加热至270℃,保持30分钟。
[冒烟特性试验]
以汽车标准JASO D609为参考,进行冒烟特性的确认。本来整理了各种温度下的电流值和冒烟开始时间的关系的内容被作为冒烟特性处理,但在本申请中,使用在室温下在绝缘电线1中流过电流,使电流值阶梯性地上升而产生冒烟时的绝缘电线1的温度和电流值的大小作为冒烟特性的指标。
具体的试验方法如下。
(1.试样的标准)
将绝缘电线1切割成长度1000mm,将除去了长度20mm的两端的绝缘层12的绝缘电线作为试样。
在从试样的中心起左侧50mm的位置设置基于热电偶的绝缘层12的表面温度测定部,在从试样的中心起右侧50mm的位置设置基于热电偶的导体温度测定部。
(2.测定环境)
在室温(27±5℃)下测定。
(3.电流施加和冒烟温度的记录)
在设置于绝缘电线1的两端的绝缘层12的除去部连接恒压、恒流直流电源装置,并通电根据导体截面积设定的规定的初期电流,放置至导体温度成为恒定。
在导体温度成为恒定后,使电流值每5分钟上升10A。随着电流值的上升,导体温度和绝缘层表面温度也上升,将确认来自绝缘层12的冒烟时的导体温度记录为冒烟温度。
将各实施例、比较例的结果示于表2。
[表2]
表2中的“<5”表示为检测界限以下,不包含在残留量的合计值中。
未进行VOC的降低处理的比较例1的绝缘电线1’-1在220A、210℃下冒烟,与此相对,进行VOC的降低处理,VOC的残留量合计为1500ppm以下,特别是,D4~D6的残留量合计为100ppm以下,D7、D8的残留量合计成为500ppm以下的实施例1的绝缘电线1-1在250A、260℃下冒烟,能够确认VOC的降低导致的冒烟特性的提高。
追加VOC的降低处理工序,将D9、D10的残留量合计设为300ppm以下的实施例2的绝缘电线1-2在270A、300℃下冒烟,能够确认冒烟特性的进一步的提高。
进一步追加VOC的降低处理工序,将D4~D10的残留量合计设为200ppm左右的实施例3的绝缘电线1-3在270A、300℃下冒烟,为与实施例2同等的冒烟特性。
根据以上的结果,可以说只要以将D9、D10的残留量合计设为300ppm以下的方式降低低分子量环状硅氧烷,就能够得到必要充分的冒烟特性。
不进行VOC的降低处理,导体截面积比比较例1的绝缘电线1’-1大的比较例2的绝缘电线1’-2在380A、200℃下冒烟。
导体截面积与比较例1相比增加,因此,施加了相同电流时的温度上升比比较例1缓慢,其结果是,认为直至冒烟为止的可通电的电流值增加。
另一方面,比较例2的绝缘电线1’-2的冒烟特性成为比比较例1的绝缘电线1’-1变差这一结果。
在通常的绝缘电线中,随着导体10的截面积的增加,绝缘层12所需的壁厚也增加。
另外,即使在将绝缘层12的壁厚设计为相同的情况下。随着导体10的截面积的增加。绝缘层12的外径也变大,因此,绝缘层12的量增加。在比较例2的绝缘电线1’-2的情况下,与比较例1的绝缘电线1’-1相比,每单位长度的绝缘层12的量约为2倍。
将以目视确认到冒烟时的导体温度设为冒烟温度,因此,残留于试样的VOC的绝对量越多,冒烟越容易目视,具有在冒烟特性试验不利的趋势。即使绝缘层12的每单位重量中残留的VOC的量相同,残留于绝缘层12的VOC的绝对量也与绝缘层12的量成比例,因此,认为残留于比较例2的绝缘电线1’-2的VOC的绝对量成为比较例1的绝缘电线1’-1的残留量的2倍左右。其结果,认为比较例2的绝缘电线1’-2在测定上,在低温下开始冒烟。
通过对比较例2的绝缘电线1’-2进行VOC的降低处理,将VOC的残留量合计设为1500ppm以下,特别是将D4~D6的残留量合计设为100ppm以下,将D7、D8的残留量合计设为500ppm以下的方式的实施例4的绝缘电线1-4在440A、250℃下冒烟,能够确认到VOC的降低带来的冒烟特性的提高。
而且,实施例4的残留于绝缘电线1-4的苯甲酸和其衍生物的量与比较例2的绝缘电线1’-2相比大幅地降低,与D4~D10的残留量合计之和为1500ppm以下。另外,苯甲酸和其衍生物的残留量合计为300ppm以下。认为实施例4的绝缘电线1-4在VOC的降低处理时,作为升华性物质的苯甲酸和其衍生物也降低,有助于冒烟特性的提高。
追加VOC的降低处理工序,将D9、D10的残留量合计设为300ppm以下的实施例5的绝缘电线1-5在520A、300℃下冒烟,能够确认冒烟特性的进一步的提高。
进一步追加VOC的降低处理工序,将D4~D10的残留量设为200ppm左右的实施例6的绝缘电线1-6在520A、300℃下冒烟,为与实施例5的绝缘电线1-5同等的冒烟特性。
根据以上的结果,可以说即使随着导体10的截面积的增加,绝缘层12的量增加,只要以将D9、D10的残留量设为300ppm以下的方式降低低分子量环状硅氧烷,就能得到必要充分的冒烟特性。
虽然存在导体10的截面积的不同导致的直到冒烟为止的可通电的电流值的差,但实施例2的绝缘电线1-2和实施例5的绝缘电线1-5的冒烟温度相同。
实施例5的绝缘电线1-5与实施例2的绝缘电线1-2相比,无论绝缘层12的量增加与否,冒烟温度均同等,因此,认为通过将D9、D10的残留量合计设为300ppm以下,不能达到在VOC挥发到空气中进行飞散时能够目视为冒烟的浓度,而得到不依赖绝缘电线1本来具有的VOC的残留量的冒烟温度。
将比较例1和实施例1~3进行比较,确认到约24~43%的冒烟特性的提高。这是指可以不使导体10的截面积增加而提高相对于绝缘电线1的发热的安全性,通过本发明能够提供可靠性高的绝缘电线1。
另外,实施例1具有比比较例2高的冒烟温度,因此,也可以为不降低基于冒烟特性的安全性而减少导体10的截面积的方法,通过本发明能够使绝缘电线1的冒烟特性和细径化这两者并存。
本发明的绝缘电线1根据用途及使用部位,分别变更导体10的结构及截面积、绝缘层12的壁厚及外径来提供。
以下表示具有两个绝缘层23、24的本发明的实施例。
[实施例7]
准备绞合了19根直径0.32mm的软铜线的子绞导体,将53根该子绞导体绞合成同心绞合结构,形成相当于截面积95mm2,φ14的导体20。
接着,使用挤出成型机,在导体20的外周包覆了壁厚1.2mm的成为第一绝缘层23的硅橡胶后,进行热处理,使硅橡胶交联,得到外径16.4mm的第一绝缘层23。
将由第一绝缘层23包覆导体20而成的部件在室温下浸渍于丙酮中3小时,在室温下充分干燥后,按90℃×11小时,150℃×11小时使用加热炉进行加热,使第一绝缘层23中的VOC蒸发。
接着,在第一绝缘层23的外周设置屏蔽层28。屏蔽层28为编织结构,屏蔽线使用外径0.2mm的镀锡软铜线。
接着,在屏蔽层28的外周卷绕铝蒸镀PET带,制成透过抑制层26。
接着,使用挤出成型机在透过抑制层26的外周包覆了壁厚1.5mm的成为第二绝缘层24的硅橡胶后,进行热处理,使硅橡胶交联,制成第二绝缘层24,由此,形成绝缘电线5的方式。绝缘电线5的外径最终为20mm。
最后,对设置至第二绝缘层24的绝缘电线5实施与第一绝缘层23相同的VOC降低处理,降低第二绝缘层24中的VOC,完成图5所示的本发明的绝缘电线5。
通过后述的方法测定残留于第一绝缘层23的VOC的量,结果是,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为316ppm,其中,D4~D8的合计量为124ppm,D4~D6的合计量为39ppm。
同样地,测定残留于第二绝缘层24的VOC的量,结果是,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为402ppm,其中,D4~D8的合计量为166ppm,D4~D6的合计量为47ppm。
即,就残留于绝缘电线5的VOC的总量而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为718ppm,其中,D4~D8的合计量为290ppm,D4~D6的合计量为86ppm。
[参考实施例]
在实施例7的绝缘电线5中,将省略相对于第二绝缘层24的VOC降低处理的绝缘电线作为参考实施例的绝缘电线。
测定参考实施例的绝缘电线的残留于第二绝缘层24的VOC的量,结果是,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为2185ppm,其中,D4~D8的合计量为1420ppm,D4~D6的合计量为347ppm。
[比较例3]
除未设置透过抑制层26外,将以与实施例7相同的材料、工序制作的绝缘电线制成比较例3的绝缘电线。
就比较例3的绝缘电线的残留于第一绝缘层23的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为1403ppm,其中,D4~D8的合计量为847ppm,D4~D6的合计量为221ppm,就残留于第二绝缘层24的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为1300ppm,其中,D4~D8的合计量为715ppm,D4~D6的合计量为211ppm。
[参考比较例]
在比较例3的绝缘电线中,将省略相对于第二绝缘层24的VOC降低处理的绝缘电线制成参考比较例的绝缘电线。
就参考比较例的绝缘电线的残留于第一绝缘层23的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为2277ppm,其中,D4~D8的合计量为1561ppm,D4~D6的合计量为499ppm,就残留于第二绝缘层24的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为2434ppm,其中,D4~D8的合计量为1660ppm,D4~D6的合计量为507ppm。
[参考例1]
在实施例7的绝缘电线5中,将通过直到第一绝缘层23的VOC降低处理结束工序的绝缘电线制成参考例1的绝缘电线。
就参考例1的绝缘电线的残留于第一绝缘层23的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为359ppm,其中,D4~D8的合计量为163ppm,D4~D6的合计量为25ppm。
[参考例2]
在实施例7的绝缘电线5中,将通过直至第一绝缘层23的形成结束工序的绝缘电线、即从参考例1省略了VOC降低处理的绝缘电线制成参考例2的绝缘电线。
就参考例2的绝缘电线的残留于第一绝缘层23的VOC而言,D4~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的合计量为2616ppm,其中,D4~D8的合计量为1732ppm,D4~D6的合计量为244ppm。
[VOC残留量测定方法]
各实施例、比较例、参考例的绝缘电线的残留于绝缘层22(第一绝缘层23、或第二绝缘层24)的VOC(低分子量环状硅氧烷)的量通过基于丙酮萃取的气相色谱仪法测定D3~D10的低分子环状二甲基硅氧烷的量。具体的方法与上述实施例1~6、比较例1、2的测定方法相同。
[冒烟特性试验]
以汽车标准JASO D609为参考,进行冒烟特性的确认。本来整理了各种温度下的电流值和冒烟开始时间的关系的内容被作为冒烟特性处理,但在本申请中,在室温下在绝缘电线5中流过一定值的电流,使用产生冒烟时的绝缘电线5的导体温度的大小作为冒烟特性的指标。具体的试验方法如下。
(1.准备试样)
将绝缘电线5切割成长度1000mm,将除去长度20mm两端的绝缘层22的绝缘电线制成试样。
在试样的中心设置基于热电偶的导体温度测定部。
(2.测定环境)
在室温(27±5℃)下测定。
(3.电流施加和冒烟温度的记录)
在设置于绝缘电线5的两端的绝缘层22的除去部连接恒压、恒流直流电源装置,并流通900A的电流。将确认到来自绝缘层22的冒烟时的导体温度记录为冒烟温度。
将各实施例、比较例、参考例的结果示于表3。
[表3]
表3中的“<5”表示检测界限以下,不包含在残留量的合计值中。
实施例7的绝缘电线5的残留于第一绝缘层23、第二绝缘层24的VOC均与参考例1同程度,冒烟温度也成为与具有1层实施了VOC的降低处理的绝缘层22的绝缘电线即参考例1同等以上的结果。
此外,实施例7的绝缘电线5在280℃的时刻没有确认到冒烟,如果提高280℃以上的温度,则接近作为短期容许温度的300℃,产生绝缘层本身的热分解引起的冒烟,由于不能与源自VOC的冒烟明确地区分,所以将冒烟温度设为280℃以上。
另外,比较参考实施例和实施例7的VOC残留量,在VOC相对于第二绝缘层24的降低处理的前后,残留于第一绝缘层23的VOC的量没有变化,仅残留于第二绝缘层24的VOC的量减少。从该结果能够确认到,通过透过抑制层26的存在,在VOC相对于第二绝缘层24的降低处理时,抑制从第二绝缘层24脱离的VOC的一部分再吸附于第一绝缘层23的现象,有助于绝缘电线中所含的VOC的总量的降低。
另一方面,比较例3的绝缘电线的残留于第一绝缘层23、第二绝缘层24的VOC均超过1000ppm,虽然残留于第一绝缘层23、第二绝缘层24各自中的VOC比参考例2少,但残留于第一绝缘层23和第二绝缘层24的VOC的总量为与参考例2同程度。如果冒烟温度为220℃,则与具有1层未实施VOC的降低处理的绝缘层22的绝缘电线即参考例2没有大的差别。
另外,如果观察参考比较例的结果,则即使预先对第一绝缘层23实施VOC的降低处理,在设置第二绝缘层24的阶段,残留于第一绝缘层23的VOC的量也与第二绝缘层24为同程度。
因此,参考比较例的绝缘电线在第一绝缘层23和第二绝缘层24之间没有透过抑制层26,因此,认为在第二绝缘层24的包覆~交联的过程中,从第二绝缘层24脱离的VOC会向第一绝缘层23转移,并且,残留于第一绝缘层23的VOC的量会增加。
比较参考比较例和比较例3的VOC残留量,能够确认因VOC相对于参考比较例的绝缘电线的降低处理,比较例的绝缘电线的VOC的残留量降低,但为对冒烟特性的改善中没有大地帮助的程度的降低。
因此,参考比较例的绝缘电线在第一绝缘层23和第二绝缘层24之间没有透过抑制层26,因此,认为在为了制成比较例的绝缘电线而对第二绝缘层24实施VOC的降低处理时,产生从第二绝缘层24脱离的VOC的一部分再吸附于第一绝缘层23的现象,绝缘电线中所含的VOC的总量的降低效果有限定。
本发明的绝缘电线根据用途及使用部位,分别变更导体20的结构及截面积、第一绝缘层23、第二绝缘层24的壁厚及外径、及透过抑制层26、屏蔽层28的方式而提供。
本申请基于在2018年8月9日申请的日本专利申请特愿2018-150855号、及2018年12月28日申请的日本专利申请特许2018-247461号。将日本国专利申请特愿2018-150855号、及日本国专利申请特愿2018-247461号的说明书、请求项的范围、附图整体作为参照而编入本明说明中。
产业上的可利用性
以上的例只不过是本发明的一例,只要在本发明的思想的范围内,就能够进行各种变更及应用,当然可以适当变更来提供。
本发明是特别适于用于汽车、电气电子设备等的高电压电力电缆的发明,但利用用途不限定于这些,在要求冒烟特性的场面下,也可以在低电压的电缆、绝缘电线等中应用本发明。
符号说明
1、2、3、4、5:绝缘电线
10、20:导体
12、22:绝缘层
23:第一绝缘层
24:第二绝缘层
26:透过抑制层
28:屏蔽层
Claims (17)
1.一种绝缘电线,在导体的周围包覆有含有有机聚硅氧烷的绝缘层,其特征在于,
残留于该绝缘层的沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物和准挥发性有机化合物的残留量合计为1500ppm以下,
该沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物和准挥发性有机化合物为D4~D10的低分子量环状硅氧烷。
2.如权利要求1所述的绝缘电线,其特征在于,
残留于该绝缘层的D4~D6的低分子量环状硅氧烷中的至少一个的残留量为1000ppm以下。
3.如权利要求1所述的绝缘电线,其特征在于,
残留于该绝缘层的D4~D8的低分子量环状硅氧烷的残留量合计为500ppm以下。
4.如权利要求1~3中任一项所述的绝缘电线,其特征在于,
残留于该绝缘层的D4~D10的低分子量环状硅氧烷的残留量合计为400ppm以下。
5.如权利要求1~3中任一项所述的绝缘电线,其特征在于,
残留于该绝缘层的D6的低分子量环状硅氧烷的残留量为100ppm以下。
6.如权利要求1~3中任一项所述的绝缘电线,其特征在于,
残留于该绝缘层的D8的低分子量环状硅氧烷的残留量为300ppm以下。
7.如权利要求1~3中任一项所述的绝缘电线,其特征在于,
残留于该绝缘层的D10的低分子量环状硅氧烷的残留量为200ppm以下。
8.如权利要求1~3中任一项所述的绝缘电线,其特征在于,
残留于该绝缘层的沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物混和准挥发性有机化合物的残留量合计与残留于该绝缘层的升华性物质的残留量合计之和为1500ppm以下。
9.如权利要求8所述的绝缘电线,其特征在于,
残留于该绝缘层的该升华性物质的残留量合计为300ppm以下。
10.如权利要求8所述的绝缘电线,其特征在于,
该升华性物质为苯甲酸、或苯甲酸的衍生物。
11.一种绝缘电线,在导体的周围包覆有包含第一绝缘层和第二绝缘层的至少两个绝缘层,其特征在于,
该第一绝缘层和该第二绝缘层的至少一方含有有机聚硅氧烷,
残留于所有的该绝缘层的沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物和准挥发性有机化合物的残留量合计为1500ppm以下,
该沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物和准挥发性有机化合物为D4~D10的低分子量环状硅氧烷。
12.如权利要求11所述的绝缘电线,其特征在于,
残留于含有该有机聚硅氧烷的该绝缘层的D4~D6的低分子量环状硅氧烷的残留量合计为100ppm以下。
13.如权利要求11所述的绝缘电线,其特征在于,
残留于含有该有机聚硅氧烷的该绝缘层的D4~D8的低分子量环状硅氧烷的残留量合计为500ppm以下。
14.如权利要求11所述的绝缘电线,其特征在于,
残留于含有该有机聚硅氧烷的该绝缘层的D4~D10的低分子量环状硅氧烷的残留量合计为1000ppm以下。
15.如权利要求11~14中任一项所述的绝缘电线,其特征在于,
在该第一绝缘层与该第二绝缘层之间,设置有相对于该沸点处于150℃~360℃的范围的挥发性有机化合物和准挥发性有机化合物显示低透过性的透过抑制层。
16.如权利要求11~14中任一项所述的绝缘电线,其特征在于,
在该第一绝缘层与该第二绝缘层之间设置有屏蔽层。
17.如权利要求15所述的绝缘电线,其特征在于,
在该第一绝缘层与该第二绝缘层之间设置有屏蔽层。
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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