CN112363089A - 一种产品外壳通断测试装置及测试方法 - Google Patents

一种产品外壳通断测试装置及测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN112363089A
CN112363089A CN202011346876.3A CN202011346876A CN112363089A CN 112363089 A CN112363089 A CN 112363089A CN 202011346876 A CN202011346876 A CN 202011346876A CN 112363089 A CN112363089 A CN 112363089A
Authority
CN
China
Prior art keywords
product
soft contact
tested
testing
soft
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202011346876.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112363089B (zh
Inventor
王学坤
刘跃
贺志增
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Goertek Techology Co Ltd
Original Assignee
Goertek Techology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Goertek Techology Co Ltd filed Critical Goertek Techology Co Ltd
Priority to CN202011346876.3A priority Critical patent/CN112363089B/zh
Priority to PCT/CN2020/136771 priority patent/WO2022110355A1/zh
Publication of CN112363089A publication Critical patent/CN112363089A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112363089B publication Critical patent/CN112363089B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/54—Testing for continuity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/20—Measuring earth resistance; Measuring contact resistance, e.g. of earth connections, e.g. plates
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/56—Testing of electric apparatus

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本申请公开了一种产品外壳通断测试装置及测试方法，产品外壳通断测试装置包括测试设备以及安装于测试设备端部的触件；触件为软质触件，软质触件具有导电性，用于在测试过程中与待测产品的测试点接触；测试设备包括固定装置和移动装置，移动装置用于带动软质触件移动，软质触件通过固定装置固定安装于移动装置；软质触件的硬度小于待测产品的硬度。在软质触件与待测产品接触的过程中，由于软质触件的硬度小于待测产品的硬度，因此即使软质触件与待测产品接触，也不会对待测产品造成划伤，可以有效保护待测产品。

Description

一种产品外壳通断测试装置及测试方法
技术领域
本申请涉及ESD通断测试技术领域，更具体地说，涉及一种产品外壳通断测试装置。此外，本申请还涉及一种应用于上述产品外壳通断测试装置的测试方法。
背景技术
现有技术中，在对耳机类产品进行ESD(Electro-Static discharge，静电释放)通断性能测试时，需要使用金属弹针，在产品的金属网布表面进行扎针测试，由于金属网布表面镀层非常薄，极易造成网布划伤、变形和工装磨损。
综上所述，如何避免ESD通断性能测试过程中划伤金属网布，是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此，本申请的目的是提供一种产品外壳通断测试装置，在测试的过程中通过软质触件与待测产品接触，并且软质触件的硬度小于待测产品的硬度，可以有效避免对待测产品造成划伤。
本申请的另一目的是提供一种应用于上述产品外壳通断测试装置的测试方法。
为了实现上述目的，本申请提供如下技术方案：
一种产品外壳通断测试装置，包括测试设备以及安装于所述测试设备端部的触件；
所述触件为软质触件，所述软质触件具有导电性，用于在测试过程中与待测产品的测试点接触；
所述测试设备包括固定装置和移动装置，所述移动装置用于带动所述软质触件移动，所述软质触件通过所述固定装置固定安装于所述移动装置；所述软质触件的硬度小于所述待测产品的硬度。
优选的，所述移动装置包括沿轴向可移动设置的滑动导电杆，所述滑动导电杆的一端沿轴向凸出设置有定位柱，所述软质触件设置有与所述定位柱过盈配合的凹槽，所述软质触件套设于所述定位柱的外周部。
优选的，所述定位柱伸入所述软质触件的长度占所述软质触件总长度的60％-70％。
优选的，所述定位柱设置有定位平面，所述凹槽设置有与所述定位平面配合、以限制所述软质触件相对于所述定位柱转动的配合面。
优选的，还包括套设于所述软质触件外周部的套环，所述套环与所述软质触件过盈配合。
优选的，所述套环与所述软质触件在轴向具有重合，且重合长度为所述软质触件总长度的20％-30％。
优选的，还包括用于使所述滑动导电杆沿轴向移动后复位的弹性部件。
优选的，所述软质触件为添加有石墨的橡胶材质。
优选的，所述软质触件的邵氏硬度为40A-50A。
一种测试方法，应用于上述任一项所述的产品外壳通断测试装置，包括：
所述产品外壳通断测试装置控制所述移动装置带动所述软质触件移动至待测产品的测试点；
所述产品外壳通断测试装置控制所述软质触件与所述待测产品电连接，以使所述产品外壳通断测试装置与所述待测产品形成闭合测试电路；
所述产品外壳通断测试装置获取所述待测产品的接地电阻。
在使用本申请提供的产品外壳通断测试装置的过程中，在对待测产品的壳体通断性能进行测试时，首先需要将软质触件通过固定装置安装于移动装置，并通过移动装置带动软质触件移动，并使软质触件与待测产品的测试点接触，使软质触件与待测产品实现电连接，以便对待测产品的壳体通断性能进行检测。
相比于现有技术，在软质触件与待测产品接触的过程中，由于软质触件的硬度小于待测产品的硬度，因此即使软质触件与待测产品接触，也不会对待测产品造成划伤，可以有效保护待测产品。
此外，本申请还提供了一种应用于上述产品外壳通断测试装置的测试方法。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请所提供的产品外壳通断测试装置的具体实施例的结构示意图；
图2为图1中产品外壳通断测试装置的俯视图；
图3为图1中产品外壳通断测试装置的剖面示意图；
图4为图1中产品外壳通断测试装置的侧视图
图5为本申请所提供的测试方法的流程示意图。
图1-5中：
1为软质触件、2为滑动导电杆、21为定位柱、3为套环、4为弹簧、5为衬套压板、6为无油衬套、7为螺钉、8为轴端挡圈、9为气缸连接块。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请的核心是提供一种产品外壳通断测试装置，在测试的过程中通过软质触件与待测产品的测试点接触，并且软质触件的硬度小于待测产品的硬度，在使用的过程中不会对待测产品造成划伤，避免损坏待测产品。本申请的另一核心是提供一种应用于上述产品外壳通断测试装置的测试方法。
请参考图1-5，图1为本申请所提供的产品外壳通断测试装置的具体实施例的结构示意图；图2为图1中产品外壳通断测试装置的俯视图；图3为图1中产品外壳通断测试装置的剖面示意图；图4为图1中产品外壳通断测试装置的侧视图图5为本申请所提供的测试方法的流程示意图。
本申请文件提供了一种产品外壳通断测试装置，在对待测产品壳体的通断性能进行测试的过程中，测试设备中的移动装置带动触件移动，且触件为软质触件1，并且软质触件1的硬度小于待测产品的硬度，在软质触件1接触待测产品的过程中，相比于现有技术中的金属弹针，不会对待测产品的表面造成划伤，尤其在对耳机类产品进行测试的过程中，软质触件1与耳机的金属网布接触，避免对网布造成划伤、变形和工装磨损，并且在使用的过程中软质触件1为导电材质，其电阻满足测试要求，保证了ESD通断功能测试的可靠性，并且还可以提高工装的使用寿命和可替换性。
本具体实施例公开了一种产品外壳通断测试装置，产品外壳通断测试主要指ESD通断性能测试，即对待测产品壳体的接地电阻进行测试；产品外壳通断测试装置一般包括测试设备和安装于测试设备端部的触件，在使用的过程中，相关电路、控制部分、移动部分均设置于测试设备，触件主要用于与待测产品的测试点接触；本具体实施例中触件为软质触件1，其软质触件1具有导电性，用于在测试过程中与待测产品的测试点接触；测试设备包括固定软质触件1的固定装置和带动软质触件1移动的移动装置，固定装置将软质触件1固定于移动装置，且软质触件1的硬度小于待测产品的硬度。
需要进行说明的是，软质触件1测试的过程中需要与待测产品电连接，因此软质触件1需要具有一定的导电性，可以将软质触件1设置为添加有石墨的橡胶材质件，石墨的具体添加量需要根据实际情况确定。
可以使软质触件1的实测阻抗小于0.3Ω/mm，测试1000次后的整体的实测阻值小于2Ω，5000次后小于2.5Ω，15000次实测值小于3.0Ω，且面接触电阻小于2Ω；当然，软质触件1的电阻还可以是其它数值，具体根据实际情况确定。
在使用本具体实施例提供的产品外壳通断测试装置的过程中，在对待测产品的壳体通断性能进行测试时，首先需要将软质触件1通过固定装置安装于移动装置，并通过移动装置带动软质触件1移动，并使软质触件1与待测产品的测试点接触，使软质触件1与待测产品实现电连接，以便对待测产品的壳体通断性能进行检测。
相比于现有技术，在软质触件1与待测产品接触的过程中，由于软质触件1的硬度小于待测产品的硬度，因此即使软质触件1与待测产品接触或相对滑动，也不会对待测产品造成划伤，可以有效保护待测产品。
软质触件1的硬度可以类比人手指皮肤的硬度，符合工装零磨损的要求。优选的，可以将软质触件1的硬度设置为邵氏硬度为40A-50A；由于待测产品的壳体一般为硬质结构，因此在测试的过程中，将软质触件1的硬度设置为邵氏硬度为40A-50A，可以避免对待测产品造成划伤。
移动装置包括沿轴向可移动设置的滑动导电杆2，滑动导电杆2的一端沿轴向凸出设置有定位柱21，软质触件1设置有与定位柱21过盈配合的凹槽，软质触件1套设于定位柱21的外周部。
在使用的过程中，只需将软质触件1套设于定位柱21，并向定位柱21的方向推软质触件1，使其安装到位即可，安装过程方便；在拆卸的过程中，沿反方向将软质触件1拔出即可。
为了限制软质触件1相对于定位柱21转动，可以在定位柱21设置定位平面，凹槽设置有与定位平面配合、以限制软质触件1相对于定位柱21转动的配合面。
在装配的过程中，软质触件1与定位柱21过盈配合是指软质触件1的凹槽的径向尺寸小于定位柱21的外周径向尺寸，在装配的过程中，可以使软质触件1与定位柱21的过盈为20％，即在凹槽的径向直径为1mm时，定位柱21的外径为1.2mm。当然，软质触件1与定位柱21之间的配合还可以是其它的过盈量，具体根据实际情况确定，在此不做赘述。
如图3所示，在使用的过程中，当软质触件1与待测产品的测试点接触时，可能会使软质触件1具有沿轴向方向的压缩，因此定位柱21不可以完全将软质触件1贯穿，需保留一定的余量，使软质触件1在轴向具有一定的形变空间，一般定位柱21伸入软质触件1的长度占软质触件1总长度的60％-70％。
定位柱21的设置，对软质触件1的安装具有一定的导向作用，可以对软质触件1进行定位，保证了软质触件1的导向性。
还包括套设于软质触件1外周部的套环3，套环3与软质触件1过盈配合。
套环3与软质触件1在轴向具有重合，且重合长度为软质触件1总长度的20％-30％。
在安装的过程中，为保证软质触件1的弹性最大化和套环3的修正效果，外部套环3与软质触件1的辅正深度比为25％左右，若软质触件1的总长度为10mm，则套环3辅正2.5mm左右，如图所示，即套环3与软质触件1在轴向的重合长度为2.5mm。
软质触件1套入定位柱21后，因为张力理论上外径会增大0.1～0.2mm，软质触件1在接触产品时会被压缩，直径会进一步增大0.2mm左右，所以套环3可起到标定辅正作用。
套环3与软质触件1之间的配合既不能太紧也不能太松，太紧会让软质触件1失去弹性，影响防产品划伤的功能，太松就起不到辅正的作用；定位柱21与软质触件1之间的配合既不能太紧也不能太松，太松会脱落，太紧会影响软质触件1的弹性；具体的配合尺寸需要根据实际情况确定。
套环3的设置使软质触件1的安装更加稳定，对软质触件1具有一定的扶正作用。
在使用上述实施例提供的产品外壳通断测试装置的过程中，当需要对软质触件1进行更换时，只需将套环3拆卸，并将软质触件1拔出，然后安装新的软质触件1，固定好套环3就可以完成更换；替换过程简单方便，实测单次替换时间小于1分钟/次，约30-50秒，远短于普通探针的单次替换时间(2-3分钟)，使替换过程更加方便，有利于提高测试效率。
并且在日常清理的过程中，只需要使用无纺布、酒精对软质触件1进行擦拭，无纺布、酒精为常用物料，每个软质触件1的均摊费用低，有利于实现批量制造和维护，日常维护成本低。
在上述实施例的基础上，还包括用于使滑动导电杆2沿轴向移动后复位的弹性部件，如图3所示，可以将弹性部件设置为弹簧4，弹簧4套设于滑动导电杆2的外周部，如图1-3所示，设置有气缸连接块9，用于安装气缸，滑动导电杆2的一端设置有定位柱21，另一端可滑动的安装于气缸连接块9，并且在安装于气缸连接块9的一端设置有无油衬套6、衬套压板5、轴端挡圈8以及用于固定的螺钉7；在接触待测产品的测试点的过程中，可能会因为震动致使软质触件1与待测产品分离，此时会对弹簧4造成挤压，在弹簧4的弹性力的作用下，会使滑动导电杆2向安装有软质触件1的一端移动，以使软质触件1与待测产品接触，并使滑动导电杆2通过软质触件1与待测产品导通，实现电连接。
在弹簧4的压缩弹力为0.05N的情况下，实际的使用寿命为10000-12000次。
除了上述产品外壳通断测试装置，本申请还提供一种应用于上述实施例公开的产品外壳通断测试装置的测试方法，该测试方法包括：
步骤S1，产品外壳通断测试装置控制移动装置带动软质触件1移动至待测产品的测试点；
在使用的过程中，首先需要将待测产品的测试壳体与产品外壳通断测试装置的负极线连接，负极线可以为接地线，以实现待测产品的壳体接地电阻的测量；然后控制移动装置移动，以带动软质触件1接触待测产品的测试点，在接触的过程中，软质触件1具有一定的轴向形变。
步骤S2，产品外壳通断测试装置控制软质触件1与待测产品电连接，以使产品外壳通断测试装置与待测产品形成闭合测试电路；
开启相关测试程序，使电流经滑动导电杆2、软质触件1至待测产品壳体，并实现导通，形成闭合测试电路，以便对待测产品的壳体的接地电阻进行测量。
步骤S3，产品外壳通断测试装置获取待测产品的接地电阻。
上述步骤S3中，产品外壳通断测试装置中的相关测试程序获取待测产品的接地电阻，并对接地电阻进行分析，得出待测产品的ESD通断性能。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。本申请所提供的所有实施例的任意组合方式均在此发明的保护范围内，在此不做赘述。
以上对本申请所提供的产品外壳通断测试装置及测试方法进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种产品外壳通断测试装置，包括测试设备以及安装于所述测试设备端部的触件；
其特征在于，所述触件为软质触件(1)，所述软质触件(1)具有导电性，用于在测试过程中与待测产品的测试点接触；
所述测试设备包括固定装置和移动装置，所述移动装置用于带动所述软质触件(1)移动，所述软质触件(1)通过所述固定装置固定安装于所述移动装置；所述软质触件(1)的硬度小于所述待测产品的硬度。
2.根据权利要求1所述的产品外壳通断测试装置，其特征在于，所述移动装置包括沿轴向可移动设置的滑动导电杆(2)，所述滑动导电杆(2)的一端沿轴向凸出设置有定位柱(21)，所述软质触件(1)设置有与所述定位柱(21)过盈配合的凹槽，所述软质触件(1)套设于所述定位柱(21)的外周部。
3.根据权利要求2所述的产品外壳通断测试装置，其特征在于，所述定位柱(21)伸入所述软质触件(1)的长度占所述软质触件(1)总长度的60％-70％。
4.根据权利要求2所述的产品外壳通断测试装置，其特征在于，所述定位柱(21)设置有定位平面，所述凹槽设置有与所述定位平面配合、以限制所述软质触件(1)相对于所述定位柱(21)转动的配合面。
5.根据权利要求2所述的产品外壳通断测试装置，其特征在于，还包括套设于所述软质触件(1)外周部的套环(3)，所述套环(3)与所述软质触件(1)过盈配合。
6.根据权利要求5所述的产品外壳通断测试装置，其特征在于，所述套环(3)与所述软质触件(1)在轴向具有重合，且重合长度为所述软质触件(1)总长度的20％-30％。
7.根据权利要求2所述的产品外壳通断测试装置，其特征在于，还包括用于使所述滑动导电杆(2)沿轴向移动后复位的弹性部件。
8.根据权利要求1-7任一项所述的产品外壳通断测试装置，其特征在于，所述软质触件(1)为添加有石墨的橡胶材质。
9.根据权利要求8所述的产品外壳通断测试装置，其特征在于，所述软质触件(1)的邵氏硬度为40A-50A。
10.一种测试方法，其特征在于，应用于权利要求1-9任一项所述的产品外壳通断测试装置，包括：
所述产品外壳通断测试装置控制所述移动装置带动所述软质触件(1)移动至待测产品的测试点；
所述产品外壳通断测试装置控制所述软质触件(1)与所述待测产品电连接，以使所述产品外壳通断测试装置与所述待测产品形成闭合测试电路；
所述产品外壳通断测试装置获取所述待测产品的接地电阻。
CN202011346876.3A 2020-11-26 2020-11-26 一种产品外壳通断测试装置及测试方法 Active CN112363089B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011346876.3A CN112363089B (zh) 2020-11-26 2020-11-26 一种产品外壳通断测试装置及测试方法
PCT/CN2020/136771 WO2022110355A1 (zh) 2020-11-26 2020-12-16 一种产品外壳通断测试装置及测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011346876.3A CN112363089B (zh) 2020-11-26 2020-11-26 一种产品外壳通断测试装置及测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112363089A true CN112363089A (zh) 2021-02-12
CN112363089B CN112363089B (zh) 2022-11-18

Family

ID=74532834

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011346876.3A Active CN112363089B (zh) 2020-11-26 2020-11-26 一种产品外壳通断测试装置及测试方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN112363089B (zh)
WO (1) WO2022110355A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115047252B (zh) * 2022-08-12 2022-11-29 山东中呈防雷科技有限公司 一种可拆卸高压线保护用防雷检测装置

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000074991A (ja) * 1998-09-01 2000-03-14 Hioki Ee Corp 半導体チップ用パッケージの良否検査方法及びその装置とこれに用いるプローブピン構造
CN2504814Y (zh) * 2001-11-01 2002-08-07 贾信山 一种智能安全电机
CN104407225A (zh) * 2014-11-29 2015-03-11 洛阳康耀电子有限公司 一种氧化铟锡膜手持式探头测试装置及其方法
CN205787004U (zh) * 2016-05-05 2016-12-07 联策科技股份有限公司 一种印刷电路板测试装置及其信号转接板与缓冲垫
CN107315099A (zh) * 2017-08-01 2017-11-03 南京协辰电子科技有限公司 探针切换装置及pcb阻抗测试机
CN108801311A (zh) * 2018-07-06 2018-11-13 Oppo（重庆）智能科技有限公司 测试夹具和测试方法
CN109239578A (zh) * 2018-09-26 2019-01-18 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 晶圆测试装置及晶圆测试方法
CN110118920A (zh) * 2019-05-30 2019-08-13 苏州天孚光通信股份有限公司 一种用于半导体芯片性能测试的装置及方法
CN110879363A (zh) * 2019-11-29 2020-03-13 浙江杭可科技股份有限公司 一种软包电池探针装置、测试系统及测试方法
CN210321557U (zh) * 2019-07-09 2020-04-14 宁波江丰电子材料股份有限公司 一种靶材溅射深度测试装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4894612A (en) * 1987-08-13 1990-01-16 Hypres, Incorporated Soft probe for providing high speed on-wafer connections to a circuit
JP2005351846A (ja) * 2004-06-14 2005-12-22 Micronics Japan Co Ltd プローブ針
CN208125882U (zh) * 2018-05-04 2018-11-20 珠海市凯诺微电子有限公司 一种银浆软板检测装置
CN210155257U (zh) * 2019-06-20 2020-03-17 江苏集萃有机光电技术研究所有限公司 一种探针测试装置
CN210452049U (zh) * 2019-07-31 2020-05-05 广东吕华集团有限公司 一种数控研磨的金属探针
CN211578700U (zh) * 2020-04-22 2020-09-25 强一半导体（苏州）有限公司 一种抗干扰异步修调封装测试用探针头及关键机构

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000074991A (ja) * 1998-09-01 2000-03-14 Hioki Ee Corp 半導体チップ用パッケージの良否検査方法及びその装置とこれに用いるプローブピン構造
CN2504814Y (zh) * 2001-11-01 2002-08-07 贾信山 一种智能安全电机
CN104407225A (zh) * 2014-11-29 2015-03-11 洛阳康耀电子有限公司 一种氧化铟锡膜手持式探头测试装置及其方法
CN205787004U (zh) * 2016-05-05 2016-12-07 联策科技股份有限公司 一种印刷电路板测试装置及其信号转接板与缓冲垫
CN107315099A (zh) * 2017-08-01 2017-11-03 南京协辰电子科技有限公司 探针切换装置及pcb阻抗测试机
CN108801311A (zh) * 2018-07-06 2018-11-13 Oppo（重庆）智能科技有限公司 测试夹具和测试方法
CN109239578A (zh) * 2018-09-26 2019-01-18 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 晶圆测试装置及晶圆测试方法
CN110118920A (zh) * 2019-05-30 2019-08-13 苏州天孚光通信股份有限公司 一种用于半导体芯片性能测试的装置及方法
CN210321557U (zh) * 2019-07-09 2020-04-14 宁波江丰电子材料股份有限公司 一种靶材溅射深度测试装置
CN110879363A (zh) * 2019-11-29 2020-03-13 浙江杭可科技股份有限公司 一种软包电池探针装置、测试系统及测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN112363089B (zh) 2022-11-18
WO2022110355A1 (zh) 2022-06-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112363089B (zh) 一种产品外壳通断测试装置及测试方法
US8576203B2 (en) Cordless type position pointer
EP0938760B1 (en) Rolling electrical contactor
JP2008507081A (ja) 電気圧力コンタクト
KR101059961B1 (ko) 도전성 접속체
TWI467858B (zh) Coaxial connector
KR20170028961A (ko) 위치 지시기 및 그 제조 방법
CN109327267B (zh) 一种smd调试器
KR101715735B1 (ko) 프로브
CN208640606U (zh) 连接件的电连接结构及手持式吸尘器
CN215070523U (zh) 一种小间距测试连接器
CN211317735U (zh) 剩余电流断路器的试验装置
JPH10255815A (ja) 電池用巻回体の巻回装置
JP5503477B2 (ja) コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置
KR100392519B1 (ko) 와이어 본더에 있어서의 스풀홀더 구조
CN205317827U (zh) 一种利于夹具工装的带凸环探针
JP6915797B2 (ja) プローブピン
CN210157304U (zh) 摄像机镜头导电结构
KR101476793B1 (ko) 테스트용 소켓
CN108717135A (zh) 探针结构和探针卡
JP2604816Y2 (ja) 導電接触ピン
JP3588173B2 (ja) 基板検査用プローブ
CN113871945A (zh) 连接器、电子设备及充电系统
JP4993187B2 (ja) コンタクトプローブ
CN109546399B (zh) 一种线束接头

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant