CN112329273B - 一种提升芯片验证效率的方法、装置、存储介质和终端 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种提升芯片验证效率的方法、装置、存储介质和终端，通过给仿真验证设定循环特征值，系统根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证，相比于传统每次都需要人工手动启动仿真的方式，仿真效率得到极大提高；而且每次循环验证完毕，只需要查看一个包含全部仿真次数的验证信息的仿真日志，无需逐一查看每次仿真生成的仿真日志，使仿真验证的效率进一步提升；可以通过系统自动从仿真日志中获取仿真验证结果，代替人工查看仿真日志，操作简单方便，验证效率高。
Description
技术领域
本发明涉及芯片验证技术领域，尤其涉及的是一种提升芯片验证效率的方法、装置、存储介质和终端。
背景技术
传统数字验证方法通过构建不同验证用例，随机发送激励给待测设计和验证参考模型，通过比对结果判断验证的正确性，然而，有限的随机次数难以覆盖或较慢覆盖验证空间，使验证效率降低，甚至忽视隐藏的设计问题，带来不挽回的损失。而且因为发送激励的随机性，所以如果需要对某一激励进行100次验证，现有方法中只有通过验证人员手动发送100次所述激励进行验证，每验证一次会产生一个仿真日志，验证人员需要手动逐一打开每个仿真日志查看仿真结果，操作繁琐，验证效率低。
因此，现有的技术还有待于改进和发展。
发明内容
本发明的目的在于提供一种提升芯片验证效率的方法、装置、存储介质和终端，旨在解决现有数字验证只能通过人工手动发送激励的方式进行激励循环验证，对于每次验证产生的仿真日志需要人工手动逐一打开查看，操作繁琐，验证效率降低的问题。
本发明的技术方案如下：一种提升芯片验证效率的方法，其中，具体包括以下步骤：
S1：设定仿真验证的循环特征值；
S2：根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证；
S4：判断仿真验证的次数是否达到循环特征值，是则跳转至S5，否则跳转至S2；
S5：结束仿真验证并生成仿真日志，根据仿真日志得出仿真验证结果。
所述的提升芯片验证效率的方法，其中，所述仿真日志内包含全部仿真次数中每次仿真后生成的验证信息，所述验证信息包括验证波形、日志、随机种子。
所述的提升芯片验证效率的方法，其中，所述S5中，具体包括以下步骤：
s51：结束仿真验证并生成仿真日志；
s52：读取仿真日志中的验证信息；
s53：根据验证信息查看仿真验证的覆盖率是否达到预设值；
s54：通过查找验证信息中的关键字得出仿真验证失败的随机种子；
s54：根据随机种子得到对应的验证激励。
所述的提升芯片验证效率的方法，其中，所述随机种子与验证激励一一对应，根据随机种子通过映射关系得到对应的验证激励。
所述的提升芯片验证效率的方法，其中，所述s52中，通过程序脚本读取仿真日志中的验证信息。
所述的提升芯片验证效率的方法，其中，所述S2和S4之间还包括以下步骤：
S3：判断仿真验证的覆盖率是否达到预设值，是则跳转至S5；否则跳转至S4。
一种提升芯片验证效率的装置，其中，包括：
循环特征值设置模块，设定仿真验证的循环特征值；
仿真验证模块，根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证；
判断模块，判断仿真验证的次数是否达到循环特征值；
仿真验证结果模块，结束仿真验证并生成仿真日志，根据仿真日志得出仿真验证结果。
所述的提升芯片验证效率的装置，其中，所述仿真验证结果模块包括：
仿真日志生成模块，结束仿真验证并生成仿真日志；
验证信息读取模块，读取仿真日志中的验证信息；
覆盖率查看模块，根据验证信息查看仿真验证的覆盖率是否达到预设值；
失败随机种子查找模块，通过查找验证信息中的关键字得出仿真验证失败的随机种子；
验证激励模块，根据随机种子得到对应的验证激励。
一种存储介质，其中，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行上述任一项所述的方法。
一种终端，其中，包括处理器和存储器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序，用于执行上述任一项所述的方法。
本发明的有益效果：本发明通过提供一种提升芯片验证效率的方法、装置、存储介质和终端，通过给仿真验证设定循环特征值，系统根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证，相比于传统每次都需要人工手动启动仿真的方式，仿真效率得到极大提高；而且每次循环验证完毕，只需要查看一个包含全部仿真次数的验证信息的仿真日志，无需逐一查看每次仿真生成的仿真日志，使仿真验证的效率进一步提升；可以通过系统自动从仿真日志中获取仿真验证结果，代替人工查看仿真日志，操作简单方便，验证效率高。
附图说明
图1是本发明中提升芯片验证效率的方法的步骤流程图。
图2是本发明中提升芯片验证效率的装置的示意图。
图3是本发明中终端的示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
如图1所示，一种提升芯片验证效率的方法，具体包括以下步骤：
S1：设定仿真验证的循环特征值；
S2：根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证；
S3：判断仿真验证的覆盖率是否达到预设值，是则跳转至S5；否则跳转至S4；
S4：判断仿真验证的次数是否达到循环特征值，是则跳转至S5，否则跳转至S2；
S5：结束仿真验证并生成仿真日志，根据仿真日志得出仿真验证结果。
在某些具体实施例中，所述仿真日志内包含全部仿真次数中每次仿真后生成的验证波形、日志、随机种子等验证信息。
在某些具体实施例中，所述S5具体包括以下步骤：
s51：结束仿真验证并生成仿真日志；
s52：读取仿真日志中的验证信息；
s53：根据验证信息查看仿真验证的覆盖率是否达到预设值；
s54：通过查找验证信息中的关键字得出仿真验证失败的随机种子；
s54：根据随机种子得到对应的验证激励。
其中，所述随机种子与验证激励是一一对应的关系。
在某些具体实施例中，所述s52中，通过程序脚本读取仿真日志中的验证信息。
本技术方案中，通过给仿真验证设定循环特征值，系统根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证，相比于传统每次都需要人工手动启动仿真的方式，仿真效率得到极大提高；而且每次循环验证完毕，只需要查看一个包含全部仿真次数的验证信息的仿真日志，无需逐一查看每次仿真生成的仿真日志，使仿真验证的效率进一步提升；可以通过系统自动从仿真日志中获取仿真验证结果，代替人工查看仿真日志，操作简单方便，验证效率高。
如图2所示，一种提升芯片验证效率的装置，包括：
循环特征值设置模块101，设定仿真验证的循环特征值；
仿真验证模块102，根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证；
判断模块103，判断仿真验证的次数是否达到循环特征值；
仿真验证结果模块104，结束仿真验证并生成仿真日志，根据仿真日志得出仿真验证结果。
请参照图3，本发明实施例还提供一种终端。如示，终端300包括处理器301和存储器302。其中，处理器301与存储器302电性连接。处理器301是终端300的控制中心，利用各种接口和线路连接整个终端的各个部分，通过运行或调用存储在存储器302内的计算机程序，以及调用存储在存储器302内的数据，执行终端的各种功能和处理数据，从而对终端300进行整体监控。
在本实施例中，终端300中的处理器301会按照如下的步骤，将一个或一个以上的计算机程序的进程对应的指令加载到存储器302中，并由处理器301来运行存储在存储器302中的计算机程序，从而实现各种功能：S1：设定仿真验证的循环特征值；S2：根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证；S4：判断仿真验证的次数是否达到循环特征值，是则跳转至S5，否则跳转至S2；S5：结束仿真验证并生成仿真日志，根据仿真日志得出仿真验证结果。
存储器302可用于存储计算机程序和数据。存储器302存储的计算机程序中包含有可在处理器中执行的指令。计算机程序可以组成各种功能模块。处理器301通过调用存储在存储器302的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理。
本申请实施例提供一种存储介质，所述计算机程序被处理器执行时，执行上述实施例的任一可选的实现方式中的方法，以实现以下功能：S1：设定仿真验证的循环特征值；S2：根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证；S4：判断仿真验证的次数是否达到循环特征值，是则跳转至S5，否则跳转至S2；S5：结束仿真验证并生成仿真日志，根据仿真日志得出仿真验证结果。其中，存储介质可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器（Static Random Access Memory, 简称SRAM），电可擦除可编程只读存储器（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory, 简称EEPROM），可擦除可编程只读存储器（Erasable Programmable Read Only Memory, 简称EPROM），可编程只读存储器（Programmable Red-Only Memory, 简称PROM），只读存储器（Read-Only Memory, 简称ROM），磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。
在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种提升芯片验证效率的方法，其特征在于，具体包括以下步骤：
S1：设定仿真验证的循环特征值；
S2：根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证；
S4：判断仿真验证的次数是否达到循环特征值，是则跳转至S5，否则跳转至S2；
S5：结束仿真验证并生成仿真日志，根据仿真日志得出仿真验证结果，所述仿真日志内包含全部仿真次数中每次仿真后生成的验证信息，所述验证信息包括验证波形、日志、随机种子；
所述S5中，具体包括以下步骤：
s51：结束仿真验证并生成仿真日志；
s52：读取仿真日志中的验证信息；
s53：根据验证信息查看仿真验证的覆盖率是否达到预设值；
s54：通过查找验证信息中的关键字得出仿真验证失败的随机种子；
s54：根据随机种子得到对应的验证激励。
2.根据权利要求1所述的提升芯片验证效率的方法，其特征在于，所述随机种子与验证激励一一对应，根据随机种子通过映射关系得到对应的验证激励。
3.根据权利要求1所述的提升芯片验证效率的方法，其特征在于，所述s52中，通过程序脚本读取仿真日志中的验证信息。
4.根据权利要求1所述的提升芯片验证效率的方法，其特征在于，所述S2和S4之间还包括以下步骤：
S3：判断仿真验证的覆盖率是否达到预设值，是则跳转至S5；否则跳转至S4。
5.一种提升芯片验证效率的装置，其特征在于，包括：
循环特征值设置模块，设定仿真验证的循环特征值；
仿真验证模块，根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证；
判断模块，判断仿真验证的次数是否达到循环特征值；
仿真验证结果模块，结束仿真验证并生成仿真日志，根据仿真日志得出仿真验证结果；
所述仿真验证结果模块包括：
仿真日志生成模块，结束仿真验证并生成仿真日志；
验证信息读取模块，读取仿真日志中的验证信息，所述仿真日志内包含全部仿真次数中每次仿真后生成的验证信息，所述验证信息包括验证波形、日志、随机种子；
覆盖率查看模块，根据验证信息查看仿真验证的覆盖率是否达到预设值；
失败随机种子查找模块，通过查找验证信息中的关键字得出仿真验证失败的随机种子；
验证激励模块，根据随机种子得到对应的验证激励。
6.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行权利要求1至4任一项所述的方法。
7.一种终端，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序，用于执行权利要求1至4任一项所述的方法。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 518000 Room 101, building 10, Dayun software Town, 8288 Longgang Avenue, he'ao community, Yuanshan street, Longgang District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant after: XTX Technology Inc. Address before: 518000 1st floor, building 10, Dayun software Town, 8288 Longgang Avenue, Henggang street, Longgang District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant before: Paragon Technology (Shenzhen) Ltd. |
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| CB02 | Change of applicant information | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |