CN112269484A - 一种触控显示基板及其测试方法、制造方法 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 89
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 88
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims abstract description 6
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- DNAUJKZXPLKYLD-UHFFFAOYSA-N alumane;molybdenum Chemical compound [AlH3].[Mo].[Mo] DNAUJKZXPLKYLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HKBLLJHFVVWMTK-UHFFFAOYSA-N alumane;titanium Chemical compound [AlH3].[Ti].[Ti] HKBLLJHFVVWMTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000004064 dysfunction Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/0412—Digitisers structurally integrated in a display
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2812—Checking for open circuits or shorts, e.g. solder bridges; Testing conductivity, resistivity or impedance
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
- G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
- G06F2203/04103—Manufacturing, i.e. details related to manufacturing processes specially suited for touch sensitive devices
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Human Computer Interaction (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
本发明实施例是关于一种触控显示基板及其测试方法、制造方法。该触控显示基板包括衬底基板和设置于所述衬底基板上的触控电极层，其中，所述触控电极层包括：多条触摸驱动电极，每一条所述触摸驱动电极的两端均引出一第一电极走线，各所述第一电极走线分别连接至所述触摸显示基板的绑定区；多条触摸感应电极，与所述多条触摸驱动电极交叉绝缘设置，每一条所述触摸感应电极的一端引出一第二电极走线并连接至所述触摸显示基板的绑定区，每一条所述触摸感应电极的另一端引出一第三电极走线并与测试块相连，所述测试块用于测试开路。本发明实施例既能测试触摸感应电极通道的短路，又能测试触摸感应电极通道的开路，进而提高了触控显示基板的制作良率。
Description
技术领域
本发明实施例涉及显示面板技术领域，尤其涉及一种触控显示基板及其测试方法、制造方法。
背景技术
有触摸功能的OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)显示器主要包括In cell结构和On cell结构。In cell结构是指将触控显示基板放在显示面板的上基板之下，而On cell结构则是将触控显示基板放在显示面板的上基板之上。
相关技术中，由于对OLED显示器的On Cell结构有窄边框的设计要求，触控显示基板一般采用Tx(触摸驱动电极)双通道，Rx(触摸感应电极)单通道的设计方案。关于上述技术方案，发明人发现至少存在如下一些技术问题：例如，双通道的Tx一般可以通过探针来测试Tx通道的开路和短路，而单通道的Rx则只可以用探针来测试短路，不可以测试Rx通道的开路，导致Rx通道的开路在制程中无法监测，存在出现批量性功能不良的风险。因此，有必要改善上述相关技术方案中存在的一个或者多个问题。
需要注意的是，本部分旨在为权利要求书中陈述的本发明的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种触控显示基板及其测试方法、制造方法，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的一个或者多个问题。
根据本发明实施例的第一方面，提供一种触控显示基板，包括衬底基板和设置于所述衬底基板上的触控电极层，其中，所述触控电极层包括：
多条触摸驱动电极，每一条所述触摸驱动电极的两端均引出一第一电极走线，各所述第一电极走线分别连接至所述触摸显示基板的绑定区；
多条触摸感应电极，与所述多条触摸驱动电极交叉绝缘设置，每一条所述触摸感应电极的一端引出一第二电极走线并连接至所述触摸显示基板的绑定区，每一条所述触摸感应电极的另一端引出一第三电极走线并与测试块相连，所述测试块用于测试开路。
本发明的一实施例中，所有的所述测试块均位于所述多条触摸感应电极的同一侧。
本发明的一实施例中，所述第三电极走线延伸至所述第一电极走线外侧。
本发明的一实施例中，所述第一电极走线位于所述第三电极走线上方。
本发明的一实施例中，所述第一电极走线位于所述第三电极走线下方。
本发明的一实施例中，所述第一电极走线和所述第三电极走线之间设有绝缘层。
本发明的一实施例中，所述绝缘层为有机绝缘层或无机绝缘层。
本发明的一实施例中，所述第一电极走线、所述第二电极走线以及所述第三电极走线均为金属材质，且第一电极走线和第三电极走线的金属材质不相同。
根据本发明实施例的第二方面，提供一种触控显示基板的测试方法，适用于上述任一项所述的触控显示基板，该方法包括：
移动测试设备的测试探针分别接触所述触控显示基板的绑定区内每条触摸感应电极的第二电极走线端子，以及对应的测试块；
测试设备给测试探针施加电信号，以测试每条触摸感应电极的开路和短路。
根据本发明实施例的第三方面，提供一种触控显示基板的制造方法，该方法包括：
提供一触控显示基板，所述触控显示基板包括多条触摸驱动电极，以及与所述多条触摸驱动电极交叉绝缘设置的多条触摸感应电极；其中，每一条所述触摸感应电极的一端引出一第二电极走线并连接至所述触摸显示基板的绑定区；
在所述触控显示基板上每一条所述触摸感应电极的另一端形成导电连接的第三电极走线与测试块；
在所述触控显示基板通过所述测试块完成开路和短路测试后，对所述触控显示基板与显示面板进行模组制程，并在模组制程中切掉所述测试块。
本发明的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
本发明的实施例中，通过上述触控显示基板，每一条触摸感应电极的两端均要引出电极走线，其中一端引出一第二电极走线并连接至触摸显示基板的绑定区，另一端引出一第三电极走线并与测试块相连，该测试块用于测试开路。这样，测试设备的两个测试探针可以分别接触到同一条触摸感应电极的第二电极走线端和对应的测试块端，从而实现既能测试触摸感应电极通道的短路，又能测试触摸感应电极通道的开路，进而提高了触控显示基板的制作良率。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出本发明示例性实施例中触控电极层结构示意图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本发明将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。
此外，附图仅为本发明实施例的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。附图中所示的一些方框图是功能实体，不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。
本示例实施方式中首先提供了一种触控显示基板，该触控显示基板包括衬底基板和设置于衬底基板上的触控电极层。参考图1中所示，该触控电极层可以包括多条触摸驱动电极200和多条触摸感应电极100，多条触摸驱动电极200和多条触摸感应电极100之间相互交叉绝缘设置。其中，每一条触摸驱动电极200的两端均引出一第一电极走线210，各第一电极走线210分别连接至触摸显示基板的绑定区400。每一条触摸感应电极100的一端引出一第二电极走线110并连接至触摸显示基板的绑定区400，每一条触摸感应电极100的另一端引出一第三电极走线120并与测试块300相连，该测试块300用于测试开路。
通过上述触控显示基板，每一条触摸感应电极100的两端均要引出电极走线，其中一端引出一第二电极走线110并连接至触摸显示基板的绑定区400，另一端引出一第三电极走线120并与测试块300相连，该测试块300用于测试开路。这样，测试开短路设备的两个测试探针可以分别接触到同一条触摸感应电极100的第二电极走线110端和对应的测试块300端，从而实现既能测试触摸感应电极通道的短路，又能测试触摸感应电极通道的开路，在触控显示基板的制作过程中，可及时排查出有问题的触控显示基板并加以修正，进而提高了触控显示基板的制作良率。
在一个实施例中，如图1所示，触摸显示基板的绑定区400为驱动芯片的绑定区，绑定区400中设置有多条电极走线引脚410，每一个电极走线引脚410分别与一条电极走线相连，在本示例中，与电极走线引脚410相连的是第一电极走线210和第二电极走线110。
具体的，在图1中，多条触摸驱动电极200按竖直方向排列，而多条触摸感应电极100按水平方向排列。因此，每一条触摸驱动电极200的上下两端各引出一第一电极走线210连接至绑定区400的电极走线引脚410上。每一条触摸感应电极100则可选择右端引出第二电极走线110连接至绑定区400的电极走线引脚410上，左端则引出第三电极走线120与测试块300连接，且左右端所引的电极走线可相互调换，本发明对此不做具体限制。
在一个示例中，所有的测试块300均位于多条触摸感应电极100的同一侧。例如，在图1中，所有的测试块300都位于多条触摸感应电极100的左侧，相应的为了减少走线的长度，与测试块300连接的第三电极走线120也是从触摸感应电极100的左端引出，同理可以根据实际需求，也可以将测试块300设置在触摸感应电极100的右端。为了保持OLED显示器OnCell结构的窄边框设计要求，在具体的制作过程中，当测试完触控电极层中多条触摸感应电极100的开路和短路，且所测试触控电极层完全符合测试要求，就可将所有的测试块300裁切掉，再进行下一步的制作。因此，测试块300均位于多条触摸感应电极100的同一侧可减少裁切工作，提高工作效率。
在一个实施例中，第三电极走线120延伸至第一电极走线210外侧。由于测试块300在测试结束后需要裁切掉，因此，第三电极走线120延伸至第一电极走线210外侧，可使得第一电极走线210所占空间更少，进而实现窄边框的设计效果。
在一个实施例中，第一电极走线210位于第三电极走线120上方。在另一个实施例中，第一电极走线210位于第三电极走线120的下方。因为第三电极走线120需要延伸至第一电极走线210外侧，所以第三电极走线120只能穿过或跨过旁边的第一电极走线210。
在开路和短路的测试过程中，必须使得第三电极走线120和第一电极走线210之间保持绝缘，因此，第一电极走线210和第三电极走线120之间设有绝缘层。具体的，该绝缘层为有机绝缘层或无机绝缘层。例如，有机绝缘层可以是低温有机光阻，而无机绝缘层可以是氮化硅材料或二氧化硅材料。
在一个实施例中，第一电极走线210、第二电极走线110以及所述第三电极走线120均为金属材质，且第一电极走线210和第三电极走线110的金属材质不相同。示例的，这些金属可以是铝、钼、钛铝钛以及钼铝钼，第一电极走线210、第二电极走线110以及第三电极走线120的具体金属材质可从上述四种金属中进行选择。
本示例实施方式中还提供了一种触控显示基板的测试方法，适用于上述任一项实施例中的触控显示基板，该测试方法可以包括以下步骤：
步骤S101：移动测试设备的测试探针分别接触触控显示基板的绑定区内每条触摸感应电极的第二电极走线端子，以及对应的测试块；
步骤S102：测试设备给测试探针施加电信号，以测试每条触摸感应电极的开路和短路。
在步骤S101中，测试设备即指开短路测试设备具体可参考现有技术，该设备通常包含有两个探针，测试时，使其中一个探针接触到显示基板的绑定区内待测试触摸感应电极的第二电极走线端子上，即图1中的电极走线引脚410上，使另一个探针接触到该待测试触摸感应电极对应连接的测试块300上。
在步骤S102中，测试设备给测试探针施加电信号的具体方式可参考现有技术，本公开对此不再赘述。
通过上述测试方法，即可实现既能测试触摸感应电极通道的短路，又能测试触摸感应电极通道的开路，在触控显示基板的制作过程中，可及时排查出有问题的触控显示基板并加以修正，进而提高了触控显示基板的制作良率。
本示例实施方式中还提供了一种触控显示基板的制造方法，该方法可以包括以下步骤：
步骤S201：提供一触控显示基板，该触控显示基板包括多条触摸驱动电极，以及与多条触摸驱动电极交叉绝缘设置的多条触摸感应电极；其中，每一条所述触摸感应电极的一端引出一第二电极走线并连接至所述触摸显示基板的绑定区；
步骤S202：在触控显示基板上每一条所述触摸感应电极的另一端形成导电连接的第三电极走线与测试块；
步骤S203：在触控显示基板通过所述测试块完成开路和短路测试后，对触控显示基板与显示面板进行模组制程，并在模组制程中切掉测试块。
当对触控显示基板的触控电极层进行完开路和短路测试，且所测试触控电极层完全符合测试要求，就可在接下来的模组制程中将所有的测试块裁切掉。这样既满足了OLED显示器On Cell结构的窄边框设计要求，又提高了触控显示基板的制作良率。
需要理解的是，上述描述中的术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明实施例的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明实施例的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本发明实施例中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行接合和组合。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由所附的权利要求指出。
Claims (10)
1.一种触控显示基板，其特征在于，包括衬底基板和设置于所述衬底基板上的触控电极层，其中，所述触控电极层包括：
多条触摸驱动电极，每一条所述触摸驱动电极的两端均引出一第一电极走线，各所述第一电极走线分别连接至所述触摸显示基板的绑定区；
多条触摸感应电极，与所述多条触摸驱动电极交叉绝缘设置，每一条所述触摸感应电极的一端引出一第二电极走线并连接至所述触摸显示基板的绑定区，每一条所述触摸感应电极的另一端引出一第三电极走线并与测试块相连，所述测试块用于测试开路。
2.根据权利要求1所述触控显示基板，其特征在于，所有的所述测试块均位于所述多条触摸感应电极的同一侧。
3.根据权利要求1所述触控显示基板，其特征在于，所述第三电极走线延伸至所述第一电极走线外侧。
4.根据权利要求3所述触控显示基板，其特征在于，所述第一电极走线位于所述第三电极走线上方。
5.根据权利要求3所述触控显示基板，其特征在于，所述第一电极走线位于所述第三电极走线下方。
6.根据权利要求4或5所述触控显示基板，其特征在于，所述第一电极走线和所述第三电极走线之间设有绝缘层。
7.根据权利要求6所述触控显示基板，其特征在于，所述绝缘层为有机绝缘层或无机绝缘层。
8.根据权利要求6所述触控显示基板，其特征在于，所述第一电极走线、所述第二电极走线以及所述第三电极走线均为金属材质，且第一电极走线和第三电极走线的金属材质不相同。
9.一种触控显示基板的测试方法，其特征在于，适用于权利要求1-8任一项所述的触控显示基板，该方法包括：
移动测试设备的测试探针分别接触所述触控显示基板的绑定区内每条触摸感应电极的第二电极走线端子，以及对应的测试块；
测试设备给测试探针施加电信号，以测试每条触摸感应电极的开路和短路。
10.一种触控显示基板的制造方法，其特征在于，该方法包括：
提供一触控显示基板，所述触控显示基板包括多条触摸驱动电极，以及与所述多条触摸驱动电极交叉绝缘设置的多条触摸感应电极；其中，每一条所述触摸感应电极的一端引出一第二电极走线并连接至所述触摸显示基板的绑定区；
在所述触控显示基板上每一条所述触摸感应电极的另一端形成导电连接的第三电极走线与测试块；
在所述触控显示基板通过所述测试块完成开路和短路测试后，对所述触控显示基板与显示面板进行模组制程，并在模组制程中切掉所述测试块。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910611340.0A CN112269484A (zh) | 2019-07-08 | 2019-07-08 | 一种触控显示基板及其测试方法、制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910611340.0A CN112269484A (zh) | 2019-07-08 | 2019-07-08 | 一种触控显示基板及其测试方法、制造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN112269484A true CN112269484A (zh) | 2021-01-26 |
Family
ID=74348521
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910611340.0A Pending CN112269484A (zh) | 2019-07-08 | 2019-07-08 | 一种触控显示基板及其测试方法、制造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN112269484A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114115599A (zh) * | 2021-11-24 | 2022-03-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 触控面板及其制备方法、显示装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104656292A (zh) * | 2015-03-17 | 2015-05-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及制造方法、显示面板及其测试方法、显示装置 |
| CN106370967A (zh) * | 2016-09-12 | 2017-02-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种触控结构、其测试方法、触摸屏及显示装置 |
-
2019
- 2019-07-08 CN CN201910611340.0A patent/CN112269484A/zh active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104656292A (zh) * | 2015-03-17 | 2015-05-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及制造方法、显示面板及其测试方法、显示装置 |
| CN106370967A (zh) * | 2016-09-12 | 2017-02-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种触控结构、其测试方法、触摸屏及显示装置 |
| US20190018050A1 (en) * | 2016-09-12 | 2019-01-17 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Touch structure, test method thereof, touch panel and display apparatus |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114115599A (zh) * | 2021-11-24 | 2022-03-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 触控面板及其制备方法、显示装置 |
| CN114115599B (zh) * | 2021-11-24 | 2024-04-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 触控面板及其制备方法、显示装置 |
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