CN112201188A - 一种显示装置及其源极芯片绑定的自动检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种显示装置及其源极芯片绑定的自动检测方法,包括如下步骤如下:S1:启动点灯机台,点灯机台通过辅助命令通道开启时序控制器,同时时序控制器开启源极芯片的绑定阻抗检测;S2:当时序控制器侦测到源极芯片的绑定阻抗大于预设绑定阻抗时,则源极芯片通过锁向信号输出低电压,显示面板显示黑屏;当时序控制器侦测到源极芯片的绑定阻抗不大于预设绑定阻抗时,则源极芯片通过锁向信号输出高电压,则输入至显示面板的电压为高电压,显示面板工作并进行画面检测。本发明通过电灯机台开启源极芯片的绑定检测功能且100%检测,这样在显示装置出货之前进行产品质量控制,避免显示装置在客户端因老化造成的阻抗增加导致面板误动作。
Description
技术领域
本发明属于液晶显示面板技术领域,具体涉及一种显示装置的源极芯片绑定的自动检测方法。
背景技术
COG全称为chip on glass,中文叫做玻璃上芯片技术,也就是直接通过各项异性导电胶(ACF)将芯片IC封装在玻璃上,实现芯片IC导电凸点与玻璃上的ITO透明导电焊盘互连封装在一起。
现有COG面板,其栅极驱动电路直接形成在玻璃上,源极芯片(Source IC)通过绑定(bonding)在玻璃上。COG面板在生产过程中源极芯片(Source IC)绑定(bonding)通过人工抽检的方式确认面板bonding是否符合生产要求,由于制成过程中工艺波动,以及生产过程中没有办法对源极芯片(Source IC)绑定(bonding)进行100%实时监测,出货到客户端经常会出现压接偏位以及压接粒子少或压接粒子淡等屏幕出到客户端,客户在上线或者使用过程中容易出现画异以及block不良等现象。
发明内容
本发明的目的在于提供一种在出货进行检测且达到提高绑定的检测精准度的显示装置的源极芯片绑定的自动检测方法。
本发明提供一种显示装置的源极芯片绑定的自动检测方法,显示装置包括显示面板、位于显示面板至少一侧的栅极驱动电路以及均与栅极驱动电路和源极芯片连接的时序控制器,所述源极芯片绑定在显示面板上,提供一点灯机台,采用所述点灯机台对源极芯片绑定的自动检测,时序控制器通过辅助命令通道连接至所述点灯机台,包括如下步骤如下:
S1:启动点灯机台,点灯机台通过辅助命令通道开启时序控制器,同时时序控制器开启源极芯片的绑定阻抗检测;
S2:当时序控制器侦测到源极芯片的绑定阻抗大于预设绑定阻抗时,则源极芯片通过锁向信号输出低电压,显示面板显示黑屏;当时序控制器侦测到源极芯片的绑定阻抗不大于预设绑定阻抗时,则源极芯片通过锁向信号输出高电压,则输入至显示面板的电压为高电压,显示面板工作并进行画面检测。
进一步地,源极芯片内具有流入绑定点的第一电流和第二电流,源极芯片包括阻挡选择模块,第二电流流入阻挡选择模块。
进一步地,步骤S2的具体步骤为:当第一电流流过绑定点后产生第一电压,第二电流流过阻抗选择模块后产生第二电压,当第一电压大于第二电压时,锁向信号输出低电压,此时绑定点的阻抗超出预设值,显示面板显示黑屏;当第二电压大于第一电压时,锁向信号输出高电压,则输入至显示面板的电压为高电压,显示面板工作并进行画面检测。
进一步地,源极芯片还包括比较器,比较器一端接地,比较器的正极输入端连接第一电流,比较器的负极输入端连接第二电流,比较器输出锁向信号。
进一步地,所述绑定点设置于源极芯片的四个角落。
本发明还提供一种显示装置,其包括源极芯片。
本发明通过电灯机台开启源极芯片的绑定检测功能且100%检测,这样在显示装置出货之前进行产品质量控制,避免显示装置在客户端因老化造成的阻抗增加导致面板误动作;绑定阻抗检测在源极芯片的内部能有效减少阻抗走线阻抗造成的误差提高检测的精准度,达到可以提高绑定的检测精准度,以及提高源极芯片针对不同工艺制成以及不同玻璃的兼容性。
附图说明
图1为本发明显示装置的结构示意图;
图2为本发明显示装置与点灯机台连接的示意图;
图3为本发明显示装置的源极芯片内部的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例,进一步阐明本发明,应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围,在阅读了本发明之后,本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。
为使图面简洁,各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分,它们并不代表其作为产品的实际结构。另外,以使图面简洁便于理解,在有些图中具有相同结构或功能的部件,仅示意性地绘示了其中的一个,或仅标出了其中的一个。在本文中,“一个”不仅表示“仅此一个”,也可以表示“多于一个”的情形。
本发明显示装置,如图1所示,其包括显示面板10、位于显示面板至少一侧的栅极驱动电路20、绑定在显示面板10上的源极芯片30以及均与栅极驱动电路20和源极芯片30连接的时序控制器(Tcon IC)40。
如图2所示,对于源极芯片绑定的自动检测方法,通过点灯检查,点灯检查时,时序控制器(Tcon IC)40通过辅助命令通道(Aux Command)连接至点灯机台50,具体步骤如下:
S1:启动点灯机台50,点灯机台50通过辅助命令通道(Aux Command)开启时序控制器(Tcon IC)40,同时时序控制器(Tcon IC)40开启源极芯片30的绑定阻抗检测;
S2:当时序控制器(Tcon IC)40侦测到源极芯片30的绑定阻抗大于预设绑定阻抗时,则源极芯片30通过锁向信号LOCK输出低电压,显示面板10显示黑屏;当时序控制器(Tcon IC)40侦测到源极芯片30的绑定阻抗不大于预设绑定阻抗时,则源极芯片30通过锁向信号LOCK输出高电压,则输入至显示面板10的电压为高电压,显示面板10工作并进行画面检测。
以上完成了源极芯片绑定的自动检测。
如图3所示,源极芯片30包括比较器31、阻抗选择模块32以及与显示面板10连接的多个绑定点33,源极芯片30内具有输入绑定点33的第一电流I1和输入阻挡选择模块32的第二电流I2,其中比较器31一端接地,比较器31的正极输入端通入第一电流I1,比较器31的负极输入端连接第二电流I2,第二电流I2输入至阻抗选择模块32,阻抗选择模块32另一端接地,比较器31输出锁向信号LOCK。
其中通过阻抗选择模块32可以根据不同显示面板10的尺寸,不同源极的芯片IC,不同条件进行芯片绑定的阻抗预设值选择。
对于步骤S2的具有步骤为:当源极芯片30接收到命令后开启绑定检测功能,其中I1=I2,当第一电流I1流过绑定点33后产生第一电压V1,第二电流I2流过阻抗选择模块32后产生第二电压V2,当V1大于V2时,锁向信号LOCK输出低电压,此时绑定点33的阻抗超出预设值,显示面板10显示黑屏;当V2大于V1时,锁向信号LOCK输出高电压,则输入至显示面板10的电压为高电压,显示面板10工作并进行画面检测。
其中绑定点33设置于源极芯片30的四个角落,可增加绑定检测的均一性,防止源极芯片的偏压。
本发明通过电灯机台开启源极芯片的绑定检测功能且100%检测,这样在显示装置出货之前进行产品质量控制,避免显示装置在客户端因老化造成的阻抗增加导致面板误动作;绑定阻抗检测在源极芯片的内部能有效减少阻抗走线阻抗造成的误差提高检测的精准度,达到可以提高绑定的检测精准度,以及提高源极芯片针对不同工艺制成以及不同玻璃的兼容性。
以上详细描述了本发明的优选实施方式,但是本发明并不限于上述实施方式中的具体细节,在本发明的技术构思范围内,可以对本发明的技术方案进行多种等同变换(如数量、形状、位置等),这些等同变换均属于本发明的保护范围。
Claims (6)
1.一种显示装置的源极芯片绑定的自动检测方法,显示装置包括显示面板、位于显示面板至少一侧的栅极驱动电路以及均与栅极驱动电路和源极芯片连接的时序控制器,所述源极芯片绑定在显示面板上,其特征在于,提供一点灯机台,采用所述点灯机台对源极芯片绑定的自动检测,时序控制器通过辅助命令通道连接至所述点灯机台,包括如下步骤如下:
S1:启动点灯机台,点灯机台通过辅助命令通道开启时序控制器,同时时序控制器开启源极芯片的绑定阻抗检测;
S2:当时序控制器侦测到源极芯片的绑定阻抗大于预设绑定阻抗时,则源极芯片通过锁向信号输出低电压,显示面板显示黑屏;当时序控制器侦测到源极芯片的绑定阻抗不大于预设绑定阻抗时,则源极芯片通过锁向信号输出高电压,则输入至显示面板的电压为高电压,显示面板工作并进行画面检测。
2.根据权利要求1所述的显示装置的源极芯片绑定的自动检测方法,其特征在于,源极芯片内具有流入绑定点的第一电流和第二电流,源极芯片包括阻挡选择模块,第二电流流入阻挡选择模块。
3.根据权利要求2所述的显示装置的源极芯片绑定的自动检测方法,其特征在于,步骤S2的具体步骤为:当第一电流流过绑定点后产生第一电压,第二电流流过阻抗选择模块后产生第二电压,当第一电压大于第二电压时,锁向信号输出低电压,此时绑定点的阻抗超出预设值,显示面板显示黑屏;当第二电压大于第一电压时,锁向信号输出高电压,则输入至显示面板的电压为高电压,显示面板工作并进行画面检测。
4.根据权利要求3所述的显示装置的源极芯片绑定的自动检测方法,其特征在于,源极芯片还包括比较器,比较器一端接地,比较器的正极输入端连接第一电流,比较器的负极输入端连接第二电流,比较器输出锁向信号。
5.根据权利要求3所述的显示装置的源极芯片绑定的自动检测方法,其特征在于,所述绑定点设置于源极芯片的四个角落。
6.一种显示装置,其包括权利要求1-4所述的源极芯片。
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