CN112053738A - eMMC芯片测试系统和通断电测试方法 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 235
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims description 19
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims abstract description 64
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 44
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 30
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
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Abstract
本申请提供了一种eMMC芯片测试系统和通断电测试方法，运用于存储芯片安全性测试技术领域，其由XU4平台和eMMC芯片测试平台组成eMMC测试系统，XU4平台包括数据传输电路、存储设备、XU4主控芯片、第一信号传输接口、电源模块和第一电源接口，XU4主控芯片与第一信号传输接口连接，电源模块与第一电源接口连接；eMMC芯片测试平台包括第二电源接口、第二信号传输接口、电压转换模块和测试芯片电路，第二电源接口与电压转换模块连接，电压转换模块具有第一输出端和第二输出端均接入测试芯片电路，第二信号传输接口与测试芯片电路连接；可模仿任何时候eMMC芯片的意外或故意通断电时的电源状态而达到对eMMC所有通断电状况下对数据传输影响的测试。
Description
技术领域
本申请涉及存储芯片安全性测试技术领域，特别涉及为一种eMMC芯片测试系统和通断电测试方法。
背景技术
eMMC(Embedded Multi Media Card)是MMC协会订立、主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格，属于当前最红的移动设备本体存储芯片。
现有对于eMMC的测试一般有读、写、擦除等相关测试，但对于eMMC的通断电测试仍属于行业空缺领域，在移动设备等产品时常会因为用户重启设备、设备没电而断电等情况在任一时间切断eMMC的电源，又能在任一时间恢复eMMC的电源，因此eMMC的通断电测试极其重要。
发明内容
本申请提供一种eMMC芯片测试系统和通断电测试方法，临摹任何时候eMMC芯片的意外或故意通断电时的电源状态而达到对eMMC所有通断电状况下对数据传输的影响测试，保障eMMC芯片的良品制造率。
本申请为解决技术问题采用如下技术手段：
本申请提出的一种eMMC芯片测试系统，由XU4平台和eMMC芯片测试平台组成所述eMMC测试系统对eMMC芯片进行通断电测试，其中，
所述XU4平台包括数据传输电路、存储设备、XU4主控芯片、第一信号传输接口、电源模块和第一电源接口，所述数据传输电路和电源模块均与存储设备连接，所述数据传输电路还与XU4主控芯片连接，所述存储设备与XU4主控芯片连接，所述XU4主控芯片与第一信号传输接口连接，所述电源模块与第一电源接口连接；
所述eMMC芯片测试平台包括第二电源接口、第二信号传输接口、电压转换模块和测试芯片电路，所述第二电源接口与电压转换模块连接，所述电压转换模块具有第一输出端和第二输出端均接入测试芯片电路，所述第二信号传输接口与测试芯片电路连接；
所述数据传输电路与外部的PC设备连接，所述第一电源接口与第二电源接口接通，所述第一信号传输接口与第二信号传输接口接通。
进一步地，所述XU4平台还包括烧录电路，所述烧录电路与XU4主控芯片连接。
进一步地，所述eMMC芯片测试平台还包括电源外接口，所述电源外接口与第二电源接口连接。
进一步地，所述eMMC测试平台还包括3.3V外接口和1.8V外接口，所述3.3V外接口与电压转换模块的第一输出端接入测试芯片电路的线路共线连接，所述1.8V外接口与电压转换模块的第二输出端接口测试芯片电路的线路共线连接。
进一步地，所述eMMC测试平台还包括信号外接口，所述信号外接口接入第二信号传输接口与测试芯片电路的线路上。
进一步地，所述电压转换模块包括第一电压输出电路和第二电压输出电路，所述第一电压输出电路与电压转换模块的第一输出端连接，所述第二电压输出电路与第二输出端连接；
所述第一电压输出电路内设有3.3VGPIO单元，所述第二电压输出电路内设有1.8VGPIO单元。
进一步地，所述eMMC测试系统执行通断电测试方法，所述方法包括：
S1，所述数据传输电路接收PC设备输入的测试启动指令和测试数据，并将所述测试启动指令和测试数据均发送至XU4主控芯片，所述XU4主控芯片将测试数据存入存储设备；
S2，根据所述测试启动指令，使电源模块向第一电源接口输出5V电源，所述第一电源接口输出5V电源通过第二电源接口输出至电压转换模块，所述电压转换模块对5V电源进行转换生成3.3V电源和1.8V电源，分别通过第一输出端和第二输出端将3.3V电源和1.8V电源输出至测试芯片电路，以向所述测试芯片电路中的eMMC芯片供电；
S3，所述XU4主控芯片从存储设备中调取测试数据通过第一信号传输接口输出至第二信号传输接口，所述第二信号传输接口将测试数据输出至测试芯片电路，所述测试芯片电路中的eMMC芯片进行与测试数据相关的测试后输出反馈数据，所述反馈数据通过第二信号传输接口和第一信号传输接口反馈至XU4主控芯片；
S4，所述XU4主控芯片采用预设的通断电规则对所述测试芯片电路进行通断电；
S5，判断反馈至所述XU4主控芯片的反馈数据与测试数据是否符合预设读写规则，形成测试结果；
S6，所述XU4主控芯片将测试结果通过数据传输电路输出显示于PC设备。
进一步地，所述通断电测试方法的S4中，所述预设的通断电规则为：
方式1、断电顺序为第一信号传输接口输出测试数据传输的过程中的随机时间3.3V断电后1.8V断电，接着3.3V通电后1.8V通电；
方式2、断电顺序为第一信号传输接口输出测试数据传输的过程中的随机时间3.3V断电后1.8V断电，接着1.8V通电后3.3V通电；
方式3、断电顺序为第一信号传输接口输出测试数据传输的过程中的随机时间1.8V断电后3.3V断电，接着3.3V通电后1.8V通电；
方式4、断电顺序为第一信号传输接口输出测试数据传输的过程中的随机时间1.8V断电后3.3V断电，接着1.8V通电后3.3V通电。
进一步地，所述通断电测试方法的S5中，所述预设读写规则为：
所述XU4将测试数据中携带的数据值按照eMMC芯片地址的正序或反序写入eMMC芯片的各个单元中；
按照所述eMMC芯片地址的正序或反序读取所述反馈数据携带的数据值；
判断读与写的数据值是否一致。
进一步地，根据上述的eMMC芯片测试系统执行所述通断电测试方法中S1之前的步骤，步骤包括：
所述PC设备对XU4主控芯片的功能应用进行烧录；
形成的烧录数据存储于所述存储设备中，而后断电；
重启后再接收所述PC设备的测试命令和测试数据，并从所述存储设备调取烧录数据进行自主测试，执行所述通断电测试方法。
本申请提供了eMMC芯片测试系统和通断电测试方法，具有以下有益效果：
(1)、本发明独特的通断电测试方法结合本发明包含的测试平台后可以进行四种通断电方式进行测试，可模仿任何时候eMMC芯片的意外或故意通断电时的电源状态而达到对eMMC所有通断电状况下对数据传输影响的测试。
(2)、本发明测试平台测试的测试主控可以有多种，不仅可以利用本发明所述测试平台进行测试，还可通过扩展的信号接口进行不同主控平台的测试，提高测试平台的扩展性。
(3)、本发明测试平台通过多种电源接入方式的设计增加了测试平台的对不同主控平台测试的兼容性的可能；
(4)、本发明测试平台兼容不同主控平台可进行一测试平台多主控平台测试避免芯片出现只兼容单主控平台的问题；
(5)、本发明采用了可以直接连接到XU4平台的连接座，使用XU4测试时避免了用使用外部接线的方式传输信号，提高了信号质量；
(6)、本发明的信号传输外接口、电源外接口，可直接在使用信号传输电路时利用示波器对信号的精准测量。
(7)、可以同时进行读写测试和通断电测试，极大的缩减测试流程。
附图说明
图1为本申请eMMC芯片测试系统和通断电测试方法一个实施例的测试系统示意框图；
图2为本申请eMMC芯片测试系统和通断电测试方法一个实施例的电压转换电路的电路示意图；
图3为本申请eMMC芯片测试系统和通断电测试方法一个实施例中测试方法的流程示意图。
本申请为目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
下面将结合本申请的实施例中的附图，对本申请的实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”、“包含”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。在本申请的权利要求书、说明书以及说明书附图中的术语，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体/操作/对象与另一个实体/操作/对象区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体/操作/对象之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其他实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其他实施例相结合。
参考附图1，为本申请一实施例中的eMMC芯片测试系统的结构框图；
一种eMMC芯片测试系统，由XU4平台101和eMMC芯片测试平台组成eMMC测试系统对eMMC芯片进行通断电测试，其中，
XU4平台101包括数据传输电路109、存储设备104、XU4主控芯片106、第一信号传输接口110、电源模块103和第一电源接口107，数据传输电路109和电源模块103均与存储设备104连接，数据传输电路109还与XU4主控芯片106连接，存储设备104与XU4主控芯片106连接，XU4主控芯片106与第一信号传输接口110连接，电源模块103与第一电源接口107连接；
eMMC芯片测试平台包括第二电源接口111、第二信号传输接口113、电压转换模块112和测试芯片电路116，第二电源接口111与电压转换模块112连接，电压转换模块112具有第一输出端和第二输出端均接入测试芯片电路116，第二信号传输接口113与测试芯片电路116连接；
数据传输电路109与外部的pc设备108连接，第一电源接口107与第二电源接口111接通，第一信号传输接口110与第二信号传输接口113接通。
具体的，
XU4平台101为由XU4控制卡组成的控制平台，其操作简单、成本较低。
存储设备104为存储测试数据的设备，以供XU4主控芯片106调用。
电源模块103输出5V电压的电源。
第一电源接口107通过与第二电源接口111连接，以将5V的电源输入至eMMC测试平台102。
第一信号传输接口110通过与第二信号传输接口113连接，以将调取的测试数据输入至eMMC测试平台102，且获取eMMC测试平台102输出的反馈数据。
在实施的过程中
电源模块103获取指令，向第一电源接口107输出5V的电源，进而通过第二电源接口111将5V电源输出至电压转换模块112，在电压转换模块112内具有第一电压转换电路和第二电压转换电路，第一电压转换电路获取到5V电源后将其转换为3.3V电源，第二电压转换电路获取到5V电源后将其转换为1.8V电源，且3.3V电源和1.8V电源分别对应输出至电压转换模块112的第一输出端和第二输出端上，最终同时输入至测试芯片电路116中，以对测试芯片电路116中的eMMC芯片进行供电。
XU4主控芯片106获取指令和测试数据，将测试数据存入存储设备再从存储设备调取烧录数据和刚存入的测试数据进行数据传输，通过第一信号传输接口110和第二信号传输接口113，将测试数据输出至测试芯片电路116，以进行eMMC芯片的测试。
在一个实施例中，XU4主控芯片106从存储设备104上调取的测试数据携带有用于测试写入至测试芯片的数据值，通过第一信号传输接口110和第二信号传输接口113将数据值写入测试芯片，而后从测试芯片读取数据值，所读取的数据值通过第二信号传输接口113和第一信号传输接口110被反馈数据携带反馈至XU4主控芯片106，从而实现测试芯片的读写测试过程。
在一个实施例中，电压转换模块112包括第一电压输出电路和第二电压输出电路，第一电压输出电路与电压转换模块112的第一输出端连接，第二电压输出电路与第二输出端连接；第一电压输出电路内设有3.3VGPIO单元，第二电压输出电路内设有1.8VGPIO单元；由3.3VGPIO单元和1.8VGPIO单元控制输出至测试芯片电路116的3.3V电源和1.8V电源的通断。
针对于3.3VGPIO单元和1.8VGPIO单元控制3.3V电源和1.8V电源的通断的方式为：
参考附图2，为本申请电压转换模块112包括的第一电压输出电路和第二电压输出电路的电路示意图；
预设向第一电压转换芯片U7和第二电压转换芯片U8输入高低电平序列(序列例如：1000111011101010···)，当第一电压转换芯片U7根据高低电平序列中的“1”输出高电平时，3.3VGPIO单元根据高电平导通第一输出端与测试芯片电路116的连接，使3.3V电源输出至测试芯片电路116，当第一电压转换芯片U7根据高低电平序列中的“0”输出低电平时，3.3VGPIO单元根据低电平断开第一输出端与测试芯片电路116的连接，使测试芯片电路116断电。同理，第二电压输出单路的GPIO单元控制方式一致，本说明不做赘述。
在一个实施例中，XU4平台101还包括烧录电路105，烧录电路105与存储设备104与XU4主控芯片106连接。
为了实现测试系统对eMMC芯片的自主测试过程，在XU4平台101上设置烧录电路105，首先pc设备108通过烧录电路105对XU4主控芯片106的应用功能进行烧录，而后pc设备108输出数据至存储设备104，而后断电，再重启，再接收PC设备108的测试命令和测试数据，并从存储设备104调取烧录数据进行自主测试，使XU4主控芯片106从存储设备104中调取测试数据，自主执行测试过程。
在另一个实施例中，eMMC芯片测试平台还包括电源外接口120，电源外接口120与第二电源接口111连接。
为了实现多种电源通断电测试，完善测试eMMC测试系统单一的电源供应和通断电的方法方式单一的问题，本发明提出电源外接口120，该电源外接口120与第二电源接口111，以代替上述电源模块103。
在又一个实施例中，eMMC测试平台102还包括3.3V外接口119和1.8V外接口118，3.3V外接口119与电压转换模块112的第一输出端接入测试芯片电路116的线路共线连接，1.8V外接口118与电压转换模块112的第二输出端接口测试芯片电路116的线路共线连接。
为了实现多种电源通断电测试，完善测试eMMC测试系统单一的电源供应和通断电的方法方式单一的问题，本发明提出3.3V外接口119和1.8V外接口118，该以代替上述电源模块103，即可以想到的，可以通过外部的控制设备控制3.3V电源和1.8V电源向测试芯片电路116的输出，以替代电压转化模块中GPIO的功用。
在一个实施例中，eMMC测试平台102还包括信号外接口117，信号外接口117接入第二信号传输接口113与测试芯片电路116的线路上。
基于兼容性考虑本设计的信号传输外接口还可直接输入控制信号进行芯片控制和数据传输达到测试目的，避免单一平台测试而可能产生其他平台的不兼容问题，本发明提出一信号外接口117，通过该信号外接口117与外部的其它测试终端连接，其它测试终端向测试芯片电路116输出测试数据。
参考附图3，为eMMC测试系统执行通断电测试方法的流程示意图，eMMC测试系统执行通断电测试方法，方法包括：
S1，数据传输电路109接收PC设备108输入的测试启动指令和测试数据，并将测试启动指令和测试数据均发送至XU4主控芯片106，XU4主控芯片106将测试数据存入存储设备104；
S2，根据测试启动指令，使电源模块103向第一电源接口107输出5V电源，第一电源接口107输出5V电源通过第二电源接口111输出至电压转换模块112，电压转换模块112对5V电源进行转换生成3.3V电源和1.8V电源，分别通过第一输出端和第二输出端将3.3V电源和1.8V电源输出至测试芯片电路116，以向测试芯片电路116中的eMMC芯片供电；
S3，XU4主控芯片106从存储设备104中调取测试数据通过第一信号传输接口110输出至第二信号传输接口113，第二信号传输接口113将测试数据输出至测试芯片电路116，测试芯片电路116中的eMMC芯片进行与测试数据相关的测试后输出反馈数据，反馈数据通过第二信号传输接口113和第一信号传输接口110反馈至XU4主控芯片106；
S4，XU4主控芯片106采用预设的通断电规则对测试芯片电路116进行通断电；
S5，判断反馈至XU4主控芯片106的反馈数据与测试数据是否符合预设读写规则，形成测试结果；
S6，XU4主控芯片106将测试结果通过数据传输电路109输出显示于PC设备108。
在一个实施例中，通断电测试方法的S4中，预设的通断电规则为：
方式1、断电顺序为第一信号传输接口110输出测试数据传输的过程中的随机时间3.3V断电后1.8V断电，接着3.3V通电后1.8V通电；
方式2、断电顺序为第一信号传输接口110输出测试数据传输的过程中的随机时间3.3V断电后1.8V断电，接着1.8V通电后3.3V通电；
方式3、断电顺序为第一信号传输接口110输出测试数据传输的过程中的随机时间1.8V断电后3.3V断电，接着3.3V通电后1.8V通电；
方式4、断电顺序为第一信号传输接口110输出测试数据传输的过程中的随机时间1.8V断电后3.3V断电，接着1.8V通电后3.3V通电。
在一个实施例中，通断电测试方法的S5中，预设读写规则为：
XU4将测试数据中携带的数据值按照eMMC芯片地址的正序或反序写入eMMC芯片的各个单元中；
按照eMMC芯片地址的正序或反序读取反馈数据携带的数据值；
判断读与写的数据值是否一致。
在一个实施例中，上述的eMMC芯片测试系统执行通断电测试方法中S1之前的步骤，步骤包括：
pc设备108对XU4主控芯片106的功能应用进行烧录；
形成的烧录数据存储于存储设备104中，而后断电；
重启后再接收所述PC设备的测试命令和测试数据，并从所述存储设备调取烧录数据进行自主测试，执行所述通断电测试方法。
本发明通过同时执行通断电测试和读写测试，大大的缩减的测试流程，提升eMMC良品的制造率。
尽管已经示出和描述了本申请的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本申请的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本申请的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (10)
1.一种eMMC芯片测试系统，其特征在于，由XU4平台和eMMC芯片测试平台组成所述eMMC测试系统对eMMC芯片进行通断电测试，其中，
所述XU4平台包括数据传输电路、存储设备、XU4主控芯片、第一信号传输接口、电源模块和第一电源接口，所述数据传输电路和电源模块均与存储设备连接，所述数据传输电路还与XU4主控芯片连接，所述存储设备与XU4主控芯片连接，所述XU4主控芯片与第一信号传输接口连接，所述电源模块与第一电源接口连接；
所述eMMC芯片测试平台包括第二电源接口、第二信号传输接口、电压转换模块和测试芯片电路，所述第二电源接口与电压转换模块连接，所述电压转换模块具有第一输出端和第二输出端均接入测试芯片电路，所述第二信号传输接口与测试芯片电路连接；
所述数据传输电路与外部的PC设备连接，所述第一电源接口与第二电源接口接通，所述第一信号传输接口与第二信号传输接口接通。
2.根据权利要求1所述的eMMC芯片测试系统，其特征在于，所述XU4平台还包括烧录电路，所述烧录电路与XU4主控芯片连接。
3.根据权利要求1所述的eMMC芯片测试系统，其特征在于，所述eMMC芯片测试平台还包括电源外接口，所述电源外接口与第二电源接口连接。
4.根据权利要求1所述的eMMC芯片测试系统，其特征在于，所述eMMC测试平台还包括3.3V外接口和1.8V外接口，所述3.3V外接口与电压转换模块的第一输出端接入测试芯片电路的线路共线连接，所述1.8V外接口与电压转换模块的第二输出端接口测试芯片电路的线路共线连接。
5.根据权利要求1所述的eMMC芯片测试系统，其特征在于，所述eMMC测试平台还包括信号外接口，所述信号外接口接入第二信号传输接口与测试芯片电路的线路上。
6.根据权利要求1所述的eMMC芯片测试系统，其特征在于，所述电压转换模块包括第一电压输出电路和第二电压输出电路，所述第一电压输出电路与电压转换模块的第一输出端连接，所述第二电压输出电路与第二输出端连接；
所述第一电压输出电路内设有3.3VGPIO单元，所述第二电压输出电路内设有1.8VGPIO单元。
7.根据权利要求1至6任一项所述的eMMC芯片测试系统，其特征在于，所述eMMC测试系统执行通断电测试方法，所述方法包括：
S1，所述数据传输电路接收PC设备输入的测试启动指令和测试数据，并将所述测试启动指令和测试数据均发送至XU4主控芯片，所述XU4主控芯片将测试数据存入存储设备；
S2，根据所述测试启动指令，使电源模块向第一电源接口输出5V电源，所述第一电源接口输出5V电源通过第二电源接口输出至电压转换模块，所述电压转换模块对5V电源进行转换生成3.3V电源和1.8V电源，分别通过第一输出端和第二输出端将3.3V电源和1.8V电源输出至测试芯片电路，以向所述测试芯片电路中的eMMC芯片供电；
S3，所述XU4主控芯片从存储设备中调取测试数据通过第一信号传输接口输出至第二信号传输接口，所述第二信号传输接口将测试数据输出至测试芯片电路，所述测试芯片电路中的eMMC芯片进行与测试数据相关的测试后输出反馈数据，所述反馈数据通过第二信号传输接口和第一信号传输接口反馈至XU4主控芯片；
S4，所述XU4主控芯片采用预设的通断电规则对所述测试芯片电路进行通断电；
S5，判断反馈至所述XU4主控芯片的反馈数据与测试数据是否符合预设读写规则，形成测试结果；
S6，所述XU4主控芯片将测试结果通过数据传输电路输出显示于PC设备。
8.根据权利要求7所述的eMMC芯片测试系统，其特征在于，所述通断电测试方法的S4中，所述预设的通断电规则为：
方式1、断电顺序为第一信号传输接口输出测试数据传输的过程中的随机时间3.3V断电后1.8V断电，接着3.3V通电后1.8V通电；
方式2、断电顺序为第一信号传输接口输出测试数据传输的过程中的随机时间3.3V断电后1.8V断电，接着1.8V通电后3.3V通电；
方式3、断电顺序为第一信号传输接口输出测试数据传输的过程中的随机时间1.8V断电后3.3V断电，接着3.3V通电后1.8V通电；
方式4、断电顺序为第一信号传输接口输出测试数据传输的过程中的随机时间1.8V断电后3.3V断电，接着1.8V通电后3.3V通电。
9.根据权利要求7所述的eMMC芯片测试系统，其特征在于，所述通断电测试方法的S5中，所述预设读写规则为：
所述XU4将测试数据中携带的数据值按照eMMC芯片地址的正序或反序写入eMMC芯片的各个单元中；
按照所述eMMC芯片地址的正序或反序读取所述反馈数据携带的数据值；
判断读与写的数据值是否一致。
10.根据权利要求7所述的eMMC芯片测试系统，其特征在于，根据权利要求2所述的eMMC芯片测试系统执行所述通断电测试方法中S1之前的步骤，步骤包括：
所述PC设备对XU4主控芯片的功能应用进行烧录；
形成的烧录数据存储于所述存储设备中，而后断电；
重启后再接收所述PC设备的测试命令和测试数据，并从所述存储设备调取烧录数据进行自主测试，执行所述通断电测试方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010859593.2A CN112053738A (zh) | 2020-08-24 | 2020-08-24 | eMMC芯片测试系统和通断电测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010859593.2A CN112053738A (zh) | 2020-08-24 | 2020-08-24 | eMMC芯片测试系统和通断电测试方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN112053738A true CN112053738A (zh) | 2020-12-08 |
Family
ID=73599258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202010859593.2A Pending CN112053738A (zh) | 2020-08-24 | 2020-08-24 | eMMC芯片测试系统和通断电测试方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN112053738A (zh) |
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