CN111679460B - 一种显示面板不良的解析方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种显示面板不良的解析方法及装置，本发明实施例中方法包括：确定显示面板存在异常；选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域；从第一不良区域由上至下进行分段镭射，在第一不良区域中进一步锁定显示面板上更小的第二不良区域。本发明实施例可以更加快速的解析显示面板上的不良区域，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板不良的解析方法及装置。
背景技术
随着光电与半导体技术的演进，也带动了平板显示器(Flat Panel Display，FPD)的蓬勃发展，而在诸多平板显示器中，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)因具有高空间利用效率、低消耗功率、无辐射以及低电磁干扰等诸多优越特性，已成为市场的主流。
现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其主要包括液晶显示面板和背光源。液晶显示面板包括具有彩色滤光片基板(Color Filter，CF)、薄膜晶体管阵列基板以及设置在两个基板之间的液晶层。通常，在彩色滤光片基板上会涂布有黑色矩阵、RGB彩色滤光片和导电氧化物电极(通常为氧化铟锡(Indium Tin Oxide，ITO))，在薄膜晶体管阵列基板上会形成提供扫描信号的扫描线、提供数据信号的数据线以及像素电极。液晶显示器通过对导电氧化物电极和像素电极施加电压而在液晶层中产生电场，通过产生的电场确定液晶层的液晶分子的取向，并且控制入射光的偏振以显示图像。在现有的生产制备中，在彩色滤光片基板上形成彩色滤光片的CF制程以及液晶成盒的cell制程期间会有一些金属等的异物掉落。当异物掉落到液晶显示器的显示区中时，会导致彩色滤光片基板与薄膜晶体管基板的电路或像素短路，从而会造成显示不良的线和点。
针对此不良需要进行分析确认，目前对于不良的解析只能通过万用表量测显示面板电压/阻值，无法准确找到异常点，为找到异常点只能在显示面板上从头到尾(显示面板末端)逐次排查，一是浪费时间，效率低下，二是无法准确确认异常位置。
发明内容
本发明实施例提供一种显示面板不良的解析方法及装置，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。
为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：
确定显示面板存在异常；
选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；
从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域，所述第二不良区域小于所述第一不良区域。
进一步的，所述确定显示面板存在异常的步骤包括：
点亮显示面板，若无法点亮显示面板或者观察到具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，确定显示面板存在显示异常。
在本申请一些实施方案中，所述选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域的步骤包括：
在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点；
在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别确定与所述第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点，所述第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块从上到下依次排布；
根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域。
在本申请一些实施方案中，所述第一测试点为一个测试点，所述根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域，包括：
测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压及阻值；
若测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压依次升高，阻值无异常，则将PCB板上的第一测试点与所述第三COF测试点导线连接，若显示面板画面恢复正常，则确定所述显示面板的第一不良区域在所述第二COF测试点和第三COF测试点之间。
在本申请一些实施方案中，所述从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域的步骤，包括：
从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至目标信号电压恢复正常为止，标示目标信号电压恢复后的第一位置和上一次镭射的第二位置；
确定所述显示面板的第二不良区域为所述第一位置和所述第二位置之间的区域。
在本申请一些实施方案中，所述第一测试点包括两个测试点，所述在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点包括：
分别测量所述PCB板各预设测试点之间是否短路；
若短路，确定所述PCB板上之间短路的两个测试点；
所述在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别选择与所述第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点，包括：
分别在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上，找到与所述第一测试点中两个测试点对应的两个测试点，确定第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点。
在本申请一些实施方案中，所述根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域，包括：
分别测量第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点中两个测试点之间的阻值，在阻值存在异常时，确定两个测试点之间阻值最小的两个测试点对应的目标COF模块；
确定所述显示面板的第一不良区域在所述目标COF模块与所述目标COF模块之上的COF模块之间。
在本申请一些实施方案中，所述从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域的步骤，包括：
检查所述目标COF模块内是否有短路；
若没有短路，从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至所述目标COF模块上两个测试点之间的阻值正常为止，标示目标信号电压恢复后的第三位置和上一次镭射的第四位置；
确定所述显示面板的第二不良区域为所述第三位置和所述第四位置之间的区域。
在本申请一些实施方案中，所述方法还包括：
在显微镜下观察之后对所述第二不良区域进行切片处理，进一步确定所述显示面板的不良区域。
另外，本申请中还提供一种显示面板不良的解析装置，所述装置包括：
异常检测模块，用于确定显示面板存在异常；
第一确定模块，用于选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；
第二确定模块，用于从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域，所述第二不良区域小于所述第一不良区域。
在本申请一些实施方案中，所述异常检测模块具体用于：
点亮显示面板，若无法点亮显示面板或者观察到具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，确定显示面板存在显示异常。
在本申请一些实施方案中，所述第一确定模块具体用于：
在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点；
在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别确定与所述第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点，所述第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块从上到下依次排布；
根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域。
在本申请一些实施方案中，所述第一测试点为一个测试点，所述第一确定模块具体用于：
测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压及阻值；
若测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压依次升高，阻值无异常，则将PCB板上的第一测试点与所述第三COF测试点导线连接，若显示面板画面恢复正常，则确定所述显示面板的第一不良区域在所述第二COF测试点和第三COF测试点之间。
在本申请一些实施方案中，所述第二确定模块具体用于：
从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至目标信号电压恢复正常为止，标示目标信号电压恢复后的第一位置和上一次镭射的第二位置；
确定所述显示面板的第二不良区域为所述第一位置和所述第二位置之间的区域。
在本申请一些实施方案中，所述第一测试点包括两个测试点，所述第一确定模块具体用于：
分别测量所述PCB板各预设测试点之间是否短路；
若短路，确定所述PCB板上之间短路的两个测试点；
分别在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上，找到与所述第一测试点中两个测试点对应的两个测试点，确定第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点。
在本申请一些实施方案中，所述第一确定模块具体用于：
分别测量第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点中两个测试点之间的阻值，在阻值存在异常时，确定两个测试点之间阻值最小的两个测试点对应的目标COF模块；
确定所述显示面板的第一不良区域在所述目标COF模块与所述目标COF模块之上的COF模块之间。
在本申请一些实施方案中，所述所述第二确定模块具体用于：：
检查所述目标COF模块内是否有短路；
若没有短路，从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至所述目标COF模块上两个测试点之间的阻值正常为止，标示目标信号电压恢复后的第三位置和上一次镭射的第四位置；
确定所述显示面板的第二不良区域为所述第三位置和所述第四位置之间的区域。
在本申请一些实施方案中，所述装置还包括第三确定模块，所述第三确定模块具体用于：
在显微镜下观察之后，对所述第二不良区域进行切片处理，进一步在所述第二不良区域切片中确定显示面板的不良区域。
本发明实施例方法通过确定显示面板存在异常；选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域；从第一不良区域由上至下进行分段镭射，在第一不良区域中进一步锁定显示面板上更小的第二不良区域。本发明实施例可以更加快速的解析显示面板上的不良区域，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供一种显示面板不良的解析方法的一个实施例流程示意图；
图2是本发明实施例提供一种显示面板不良的解析方法的另一个实施例流程示意图；
图3是本发明实施例提供一种电压法解析的一个实施例示意图；
图4是本发明实施例提供一种电压法解析中镭射的一个实施例示意图；
图5是本发明实施例提供一种阻值法解析的一个实施例示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1所示，为本发明实施例中显示面板不良的解析方法的一个实施例示意图，该方法包括：
S101、确定显示面板存在异常。
具体的，该确定显示面板存在异常的步骤包括：点亮显示面板，若无法点亮显示面板或者观察到具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，确定显示面板存在显示异常。一方面，点亮显示面板，若观察到显示面板具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，则可以确定显示面板异常，此时显示面板还可以显示。另一方面，当点亮显示面板后，由于显示面板内部短路等原因，使得显示面板启动点灯自我保护的机制，显示面板不亮。
S102、选择显示面板和/或与显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域。
COF(Chip On Film,常称覆晶薄膜)，指将驱动IC固定于柔性线路板上晶粒软膜构装技术，是运用软质附加电路板作封装芯片载体将芯片与软性基板电路接合的技术。本发明实施例中COF模块指的是液晶显示器中连接印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)和显示面板的模块。
S103、从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域。
其中，该第二不良区域小于第一不良区域。
本发明实施例方法通过确定显示面板存在异常；选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域；从第一不良区域由上至下进行分段镭射，在第一不良区域中进一步锁定显示面板上更小的第二不良区域。本发明实施例可以更加快速的解析显示面板上的不良区域，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。
如图2所示，为本发明实施例中显示面板不良的解析方法的另一个实施例示意图，在该实施例中，该选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域的步骤包括：在与显示面板连接的PCB板上确定第一测试点；在与显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别确定与所述第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点，所述第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块从上到下依次排布；根据第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域。具体的，该实施例中方法包括：
S201、确定显示面板存在异常。
S202、在与显示面板连接的PCB板上确定第一测试点。
本发明实施例中，有多种方式实现显示面板不亮的解析方法，一种是电压法测量，一种是阻值法测量。当电压法解析时，该第一测试点为一个测试点，可以通过随机确定的方式在PCB板上随机确定第一测试点，当为阻值法解析时，该第一测试点包括两个测试点。此时，在与显示面板连接的PCB板上确定第一测试点的步骤包括：分别测量PCB板各预设测试点之间是否短路；若短路，确定与显示面板连接的PCB板上之间短路的两个测试点。
S203、在与显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别确定与第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点。
其中，所述第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块从上到下依次排布。当电压法解析时，可以直接在与显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别确定与第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点。每个COF模块上一般只有一个与第一测试点对应的测试点。当阻值法解析时，所述在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别选择与所述第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的步骤包括：分别在与显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上，找到与第一测试点中两个测试点对应的两个测试点，确定第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点。
S204、根据第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域。
当电压法解析时，第一测试点为一个测试点，所述根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域的步骤包括：测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压及阻值；若测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压依次升高，阻值无异常，则将PCB板上的第一测试点与所述第三COF测试点导线连接，若显示面板画面恢复正常，则确定所述显示面板的第一不良区域在所述第二COF测试点和第三COF测试点之间。
当阻值法解析时，根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域的步骤包括：分别测量第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点中两个测试点之间的阻值，在阻值存在异常时，确定两个测试点之间阻值最小的两个测试点对应的目标COF模块；确定显示面板的第一不良区域在所述目标COF模块与目标COF模块之上的COF模块之间。
S205、从第一不良区域由上至下进行分段镭射，在第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域。
其中，第二不良区域小于第一不良区域。当电压法解析时，从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域的步骤包括：从第一不良区域由上至下进行分段镭射(具体可以采用镭射逼近法从第一不良区域开始从上至下分段镭射)，直至目标信号电压恢复正常为止，标示目标信号电压恢复后的第一位置和上一次镭射的第二位置；确定显示面板的第二不良区域为第一位置和第二位置之间的区域。
当阻值法解析时，从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域的步骤，包括：检查目标COF模块内是否有短路；若没有短路，从第一不良区域由上至下进行分段镭射(具体可以采用镭射逼近法从第一不良区域开始从上至下分段镭射)，直至目标COF模块上两个测试点之间的阻值正常为止，标示目标信号电压恢复后的第三位置和上一次镭射的第四位置；确定显示面板的第二不良区域为第三位置和所述第四位置之间的区域。
进一步的，所述方法还包括：在显微镜下观察之后对所述第二不良区域进行切片处理，进一步确定所述显示面板的不良区域。
如图3所示，为本发明实施例中采用电压法解析显示面板不良区域的示例图。具体显示面板不良的解析方法步骤如下：通过点亮显示面板确认显示面板异常时，在PCB板上选择测试点a，测试点a在3个COF模块上分别对应G-COF1、G-COF2和G-COF3三个测试点，用万用表量测某一目标电压信号K(例如VGH、VGL、VGH、VCOM等)，电压从PCB板上测试点到COF模块上测试点依次升高(即电压值a<b<c<d)，在各测试点量测阻值无异常；然后将PCB板上a测试点用导线连接到G-COF3对应测试点d，画面恢复正常，圈定第一不良区域位于G-COF2与G-COF3之间(c/d之间)；如图4所示，利用镭射逼近法对G-COF2与G-COF3之间由上至下进行分段镭射，直到目标电压信号K恢复正常，用mark笔标示目标电压信号K恢复后的位置f和上一个镭射位置e(进一步锁定了第二不良区域)，最后还可以剖片后显微镜下做进一步确认。
如图5所示，为本发明实施例中采用阻值法解析显示面板不良区域的示例图。具体显示面板不良的解析方法步骤如下：通过点亮显示面板确认显示面板异常时，在PCB板上选择预设数量的测试点，分别测量PCB板各预设测试点之间是否短路；若短路，确定PCB板上之间短路的两个测试点，如图5上所示的，测试点a和测试点b，分别在与所述显示面板连接的三个COF模块(G-COF1、G-COF2和G-COF3)上，找到与测试点a和测试点b对应的两个测试点，分别为测试点c、d(G-COF1上)、测试点e、f(G-COF2上)和测试点k、i(G-COF3上)，其中ab＝k1，cd＝k2，gh＝k3，ki＝k4。分别测量测试点cd之间、测试点ef之间和测试点ki之间的阻值，在阻值存在异常时(k1、k2、k3、k4的阻值不是依次递减的)，确定两个测试点之间阻值最小的两个测试点对应的目标COF模块，确定显示面板的第一不良区域在目标COF模块与目标COF模块之上的COF模块之间。假设用万用表量测PCB板和COF模块傻瓜2个信测试点之间的阻值关系依次为：k1>k2>k3，k3<k4，则锁定第一不良区域为G-COF2和G-COF1之间(k2与K3之间)。进一步的，可以检查目标COF模块内是否有短路，具体可以查看G-COF2焊接处位置和G-COF2Lead是否有短路，如两者均没有，从第一不良区域(k2与K3之间)由上至下进行分段镭射，直至目标COF模块上两个测试点之间的阻值正常为止(阻值关系依次为：k1>k2>k3＞k4)，标示目标信号电压恢复后的第三位置m和上一次镭射的第四位置n；确定显示面板的第二不良区域为m、n之间的区域。最后还可以剖片后显微镜下做进一步确认。
本申请中还提供一种显示面板不良的解析装置，所述装置包括：
异常检测模块，用于确定显示面板存在异常；
第一确定模块，用于选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；
第二确定模块，用于从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域，所述第二不良区域小于所述第一不良区域。
在本申请一些实施方案中，所述异常检测模块具体用于：
点亮显示面板，若无法点亮显示面板或者观察到具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，确定显示面板存在显示异常。
在本申请一些实施方案中，所述第一确定模块具体用于：
在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点；
在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别确定与所述第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点，所述第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块从上到下依次排布；
根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域。
在本申请一些实施方案中，所述第一测试点为一个测试点，所述第一确定模块具体用于：
测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压及阻值；
若测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压依次升高，阻值无异常，则将PCB板上的第一测试点与所述第三COF测试点导线连接，若显示面板画面恢复正常，则确定所述显示面板的第一不良区域在所述第二COF测试点和第三COF测试点之间。
在本申请一些实施方案中，所述第二确定模块具体用于：
从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至目标信号电压恢复正常为止，标示目标信号电压恢复后的第一位置和上一次镭射的第二位置；
确定所述显示面板的第二不良区域为所述第一位置和所述第二位置之间的区域。
在本申请一些实施方案中，所述第一测试点包括两个测试点，所述第一确定模块具体用于：
分别测量所述PCB板各预设测试点之间是否短路；
若短路，确定所述PCB板上之间短路的两个测试点；
分别在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上，找到与所述第一测试点中两个测试点对应的两个测试点，确定第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点。
在本申请一些实施方案中，所述第一确定模块具体用于：
分别测量第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点中两个测试点之间的阻值，在阻值存在异常时，确定两个测试点之间阻值最小的两个测试点对应的目标COF模块；
确定所述显示面板的第一不良区域在所述目标COF模块与所述目标COF模块之上的COF模块之间。
在本申请一些实施方案中，所述所述第二确定模块具体用于：：
检查所述目标COF模块内是否有短路；
若没有短路，从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至所述目标COF模块上两个测试点之间的阻值正常为止，标示目标信号电压恢复后的第三位置和上一次镭射的第四位置；
确定所述显示面板的第二不良区域为所述第三位置和所述第四位置之间的区域。
在本申请一些实施方案中，所述装置还包括第三确定模块，所述第三确定模块具体用于：在显微镜下观察之后，对所述第二不良区域进行切片处理，进一步在所述第二不良区域切片中确定显示面板的不良区域。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见上文针对其他实施例的详细描述，此处不再赘述。
具体实施时，以上各个单元或结构可以作为独立的实体来实现，也可以进行任意组合，作为同一或若干个实体来实现，以上各个单元或结构的具体实施可参见前面的方法实施例，在此不再赘述。
以上对本发明实施例所提供的一种显示面板不良的解析方法及装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (9)
1.一种显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述方法包括：
确定显示面板存在异常；
选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；
所述选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域的步骤包括：
在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点；
在与所述显示面板连接第一覆晶薄膜模块、第二覆晶薄膜模块和第三覆晶薄膜模块上分别确定与所述第一测试点对应的第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点，所述第一覆晶薄膜模块、第二覆晶薄膜模块和第三覆晶薄膜模块从上到下依次排布；
根据所述第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；
所述目标测量值包括第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点的目标信号电压及阻值；
从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域，所述第二不良区域小于所述第一不良区域。
2.根据权利要求1所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述确定显示面板存在异常的步骤包括：
点亮显示面板，若无法点亮显示面板或者观察到具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，确定显示面板存在显示异常。
3.根据权利要求2所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述第一测试点为一个测试点，所述根据所述第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域，包括：
测量第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点的目标信号电压及阻值；
若测量第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点的目标信号电压依次升高，阻值无异常，则将PCB板上的第一测试点与所述第三覆晶薄膜测试点导线连接，若显示面板画面恢复正常，则确定所述显示面板的第一不良区域在所述第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点之间。
4.根据权利要求3所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域的步骤，包括：
从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至目标信号电压恢复正常为止，标示目标信号电压恢复后的第一位置和上一次镭射的第二位置；
确定所述显示面板的第二不良区域为所述第一位置和所述第二位置之间的区域。
5.根据权利要求2所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述第一测试点包括两个测试点，所述在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点包括：
分别测量所述PCB板各预设测试点之间是否短路；
若短路，确定所述PCB板上之间短路的两个测试点；
所述在与所述显示面板连接第一覆晶薄膜模块、第二覆晶薄膜模块和第三覆晶薄膜模块上分别选择与所述第一测试点对应的第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点，包括：
分别在与所述显示面板连接第一覆晶薄膜模块、第二覆晶薄膜模块和第三覆晶薄膜模块上，找到与所述第一测试点中两个测试点对应的两个测试点，确定第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点。
6.根据权利要求5所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述根据所述第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域，包括：
所述目标测量值包括第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点中的其中两个测试点之间的阻值；
分别测量第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点中两个测试点之间的阻值，在阻值存在异常时，确定两个测试点之间阻值最小的两个测试点对应的目标覆晶薄膜模块；
确定所述显示面板的第一不良区域在所述目标覆晶薄膜模块与所述目标覆晶薄膜模块之上的覆晶薄膜模块之间。
7.根据权利要求6所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域的步骤，包括：
检查所述目标覆晶薄膜模块内是否有短路；
若没有短路，从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至所述目标覆晶薄膜模块上两个测试点之间的阻值正常为止，标示目标信号电压恢复后的第三位置和上一次镭射的第四位置；
确定所述显示面板的第二不良区域为所述第三位置和所述第四位置之间的区域。
8.一种显示面板不良的解析装置，其特征在于，所述装置包括：
异常检测模块，用于确定显示面板存在异常；
第一确定模块，用于选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；
所述第一确定模块具体用于：
在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点；
在与所述显示面板连接第一覆晶薄膜模块、第二覆晶薄膜模块和第三覆晶薄膜模块上分别确定与所述第一测试点对应的第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点，所述第一覆晶薄膜模块、第二覆晶薄膜模块和第三覆晶薄膜模块从上到下依次排布；
根据所述第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；
所述第一测试点为一个测试点，所述第一确定模块具体用于：
测量第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点的目标信号电压及阻值；
第二确定模块，用于从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域，所述第二不良区域小于所述第一不良区域。
9.根据权利要求8所述的显示面板不良的解析装置，其中，所述异常检测模块具体用于：
点亮显示面板，若无法点亮显示面板或者观察到具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，确定显示面板存在显示异常。
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Denomination of invention: A Method and Device for Analyzing Poor Display Panel Effective date of registration: 20231113 Granted publication date: 20220201 Pledgee: Industrial and Commercial Bank of China Limited Shenzhen Guangming Sub branch Pledgor: TCL Huaxing Photoelectric Technology Co.,Ltd. Registration number: Y2023980065368 |