CN111571489A - 一种光模块测试工装 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光模块测试工装，包括下夹块、配合连接在下夹块上端的夹块主体、配合连接在夹块主体上的上夹块以及通过锁扣组件连接在夹块主体上且用于盖合夹块主体的压盖；所述夹块主体内开设有用于放置光模块的方形槽，所述方形槽中部设置有导热块，所述导热块四周均布有高频探针；该工装结构可靠，操作性能好，使用性能高，产品测试前后装卸方便，省时省力，有效的提高测试的工作效率和测试安装精度。

Description

一种光模块测试工装

技术领域

本发明涉及光通讯系统技术领域，具体涉及一种光模块测试工装。

背景技术

随着光通讯系统运用越来越广泛，相应的光模块需求也在扩大，加上客户对产品性能提出更高的要求，所以为保障产品质量，都会对其大量的测试验证，这就迫切的需要有测试简单，工作效率高的测试工装，但目前测试夹具都是厂商自行设计，没有固定结构模型，且产品在工装中的装夹并不可靠，导致后续测试的准确性低，不能为产品质量的测试提供可靠依据。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光模块测试工装，以解决现有测试工装安装精度低、测试效率低的问题。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种光模块测试工装，包括下夹块、配合连接在下夹块上端的夹块主体、配合连接在夹块主体上的上夹块以及通过锁扣组件连接在夹块主体上且用于盖合夹块主体的压盖；

所述夹块主体内开设有用于放置光模块的方形槽，所述方形槽中部设置有导热块，所述导热块四周均布有高频探针。

采用上述技术方案的有益效果为：该工装结构可靠，操作性能好，使用性能高，产品测试前后装卸方便，省时省力，有效的提高测试的工作效率和测试安装精度；通过下夹块、夹块主体以及上夹块之间的配合连接，为被测件提供可靠的安装基础，安装可靠稳定；通过锁扣组件及压盖提高可靠的锁紧基础，提高测试过程中的稳定性，只需拉动锁扣组件即可完成测试件的安装固定或拆卸，使用方便，操作便捷。

进一步，下夹块与所述夹块主体上分别设置有相对应的中心通孔，中心通孔的四周均布有高频探针沉孔，导热块配合连接在中心通孔内，高频探针配合连接在高频探针沉孔内。

采用上述技术方案的有益效果为：通过中心通孔为导热块提供安装定位基础，高频探针沉孔为高频探针提供安装基础，安装可靠稳定。

进一步，下夹块的中心通孔直径大于夹块主体的中心通孔直径。

采用上述技术方案的有益效果为：通过对中心通孔的直径限定，形成下大上下结构，有效的对导热块起到限位作用，提高安装的稳定性。

进一步，夹块主体的四周边角处设置有下凸台，下凸台的相邻侧面上分别设置有半圆形凹槽，且两个半圆形凹槽位于同一高度，下凸台上设置有定位孔。

采用上述技术方案的有益效果为：通过四周的下凸台设置使得夹块主体形成四周高中部低的结构形状，且该结构形状结构与压盖的形状结构相适配，便于压盖可靠的配合在夹块主体上，同时通过半圆形凹槽便于锁扣组件和压板轴的可靠放置。

进一步，上夹块包括与下凸台相配合的上凸台，上凸台的相邻侧面上分别设置有与半圆形凹槽相配合的上定位槽，上凸台上设置有与下凸台上的定位孔相配合的定位柱。

采用上述技术方案的有益效果为：上凸台与下凸台配合，且上定位槽与半圆形凹槽配合形成孔状结构便于锁扣组件及压盖的配合连接，通过定位柱保证上夹块与夹块主体的可靠装配定位。

进一步，导热块为具有台阶的圆柱体结构，导热块的上端直径小于所述下端直径，导热块的上端贴合在光模块上，导热块的下端贴合在所述下夹块上。

采用上述技术方案的有益效果为：由于PLCC上的散热区域有限，通过设计成上小下大的结构，可以高效的把热量散发出去，避免损坏模具。

进一步，压盖包括盖体以及与盖体连接为一体式结构的连接板，连接板通过压板轴连接在夹块主体的两个下凸台之间，盖体两侧面分别轴向贯穿有通孔，锁扣组件插合在所述通孔内，盖体上设置有用于避让光模块的避让槽。

采用上述技术方案的有益效果为：通过压盖盖合在夹块主体上，保证被测件的可靠定位，避免测试过程中的移动，通过压板轴实现压盖与夹块主体之间的转动，便于盖合操作；通过避让槽，保证避让被测件的光缆线等部件，提高盖合的严密性，提高定位安装可靠性。

进一步，锁扣组件包括锁杆、分别连接在锁杆两端的锁扣以及垂直连接在锁杆与所述锁扣之间的把手，锁扣的端部贯穿夹块主体的半圆形凹槽并延伸至压盖的通孔内。

采用上述技术方案的有益效果为：锁杆和锁扣分别与把手之间呈现角度设置，便于光装模块后锁紧和拆卸时员工把持，同时也可以在工装打开状态时为压盖提供支撑，结构可靠，性能好。

进一步，锁扣的端部设置有倒角结构。

采用上述技术方案的有益效果为：通过倒角设置，方便与压盖锁紧的导正，提高连接性能。

进一步，压板轴的长度小于所述盖体两侧的通孔之间的间距。

采用上述技术方案的有益效果为：通过长度及间距的限定，使得在工装整体装配好后，锁扣将起到阻挡压板轴轴向滑出的作用；同时，该工装在组装压盖的时候，不需要考虑方向问题，设计均为方形和对称设计，四周方向均可安装，使用性能好。

本发明具有以下有益效果：本发明所提供的一种光模块测试工装，该工装结构可靠，操作性能好，使用性能高，产品测试前后装卸方便，省时省力，有效的提高测试的工作效率和测试安装精度，通过下夹块、夹块主体以及上夹块之间的配合连接，为被测件提供可靠的安装基础，安装可靠稳定；通过锁扣组件及压盖提高可靠的锁紧基础，提高测试过程中的稳定性，只需拉动锁扣组件即可完成测试件的安装固定或拆卸，使用方便，操作便捷。

附图说明

图1为该测试工装结构示意图；

图2为该测试工装装配截面示意图；

图3为该测试工装使用示意图；

图4为该测试工装的下夹块结构示意图；

图5为该测试工装的夹块主体结构示意图；

图6为该测试工装的上夹块结构示意图；

图7为该测试工装的压盖结构示意图；

图8为该测试工装的锁扣组件结构示意图；

图1至图8中所示附图标记分别表示为：1-下夹块，2-夹块主体，3-上夹块，100-锁扣组件，4-压盖，5-方形槽，6-导热块，7-高频探针，8-中心通孔，9-高频探针沉孔，10-下凸台，11-半圆形凹槽，12-定位孔，30-上凸台，31-定位槽，32-定位柱，40-盖体，41-连接板，42-通孔，43-压板轴，44-避让槽，101-锁杆，102-锁扣，103-把手，104-倒角结构。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。

如图1至图3所示，一种光模块测试工装，包括下夹块1、配合连接在下夹块1上端的夹块主体2、配合连接在夹块主体2上的上夹块3以及通过锁扣组件100连接在夹块主体2上且用于盖合夹块主体2的压盖4；夹块主体2内开设有用于放置光模块的方形槽5，方形槽5中部设置有导热块6，导热块6四周均布有高频探针7。高频探针7选择现有中间大两头小，一端为锥形，另一端为四周凸中心凹的齿形结构，从而保证高频探针7在PCB与光模块之间的电气连接。

该工装结构可靠，操作性能好，使用性能高，产品测试前后装卸方便，省时省力，有效的提高测试的工作效率和测试安装精度，通过下夹块1、夹块主体2以及上夹块3之间的配合连接，为被测件提供可靠的安装基础，安装可靠稳定。通过锁扣组件100及压盖4提高可靠的锁紧基础，提高测试过程中的稳定性。只需拉动锁扣组件100即可完成测试件的安装固定或拆卸，使用方便，操作便捷。在操作装配时，依次装配下夹块1、高频探针7、导热块6及夹块主体2，再将压盖4通过锁扣组件100安装到夹块主体2上，然后安装四个上夹块3，最后通过螺钉将该工装装配到测试用的PCB板上。

如图4至图5所示，下夹块1与夹块主体2上分别设置有相对应的中心通孔8，中心通孔8的四周均布有高频探针沉孔9，导热块6配合连接在中心通孔8内，高频探针7配合连接在高频探针沉孔9内。通过中心通孔8为导热块6提供安装定位基础，高频探针沉孔9为高频探针7提供安装基础，安装可靠稳定。下夹块1、夹块主体2及上夹块3均设有四个螺钉孔并配合装配后固定在测试PCB板上。

下夹块1的中心通孔8直径大于夹块主体2的中心通孔8直径。通过对中心通孔8的直径限定，形成下大上下结构，有效的对导热块6起到限位作用，提高安装的稳定性。

如图5所示，夹块主体2的四周边角处设置有下凸台10，下凸台10的相邻侧面上分别设置有半圆形凹槽11，且两个半圆形凹槽11位于同一高度，下凸台10上设置有定位孔12。下凸台10为四分之一圆形结构，通过四周的下凸台10设置使得夹块主体2形成四周高中部低的结构形状，且该形状结构与压盖4的形状结构相适配，便于压盖4可靠的配合在夹块主体2上，通过定位孔12提高压盖4配合的可靠性。同时通过半圆形凹槽便于锁扣组件和压板轴的可靠放置。

如图6所示，上夹块3包括与下凸台10相配合的上凸台30，上凸台30的相邻侧面上分别设置有与半圆形凹槽11相配合的上定位槽31，上凸台30上设置有与下凸台10上的定位孔12相配合的定位柱32。上凸台30与下凸台10的结构形状一致，均采用四分之一圆形结构。上凸台30与下凸台10配合，且上定位槽31与半圆形凹槽11配合形成孔状结构便于锁扣组件100及压盖4的配合连接，通过定位柱32保证上夹块3与夹块主体2的可靠装配定位。

导热块6为具有台阶的圆柱体结构，导热块6的上端直径小于下端直径，导热块6的上端贴合在光模块上，导热块6的下端贴合在下夹块1上。通过对导热块6形状结构的限定以及与光模块和下夹块1之间的配合，有效的增强散热能力，提高使用性能。

如图7所示，压盖4包括盖体40以及与盖体40连接为一体式结构的连接板41，连接板41通过压板轴43连接在夹块主体2的两个下凸台10之间，盖体40两侧面分别轴向贯穿有通孔42，锁扣组件100插合在通孔42内，盖体40上设置有用于避让光模块的避让槽44。通过压盖4盖合在夹块主体2上，保证被测件的可靠定位，避免测试过程中的移动，通过压板轴43实现压盖4与夹块主体2之间的转动，便于盖合操作；通过避让槽44，保证避让被测件的光缆线等部件，提高盖合的严密性，提高定位安装可靠性。

如图8所示，锁扣组件100包括锁杆101、分别连接在锁杆101两端的锁扣102以及垂直连接在锁杆101与锁扣102之间的把手103，锁扣102的端部贯穿夹块主体2的半圆形凹槽11并延伸至压盖4的通孔42内。锁扣组件100分别呈镜像位于夹块主体2两侧面。锁杆101和锁扣102分别与把手103之间呈现角度设置，便于光装模块后锁紧和拆卸时员工把持，同时也可以在工装打开状态时为压盖4提供支撑，结构可靠，性能好。

锁扣102的端部设置有倒角结构104。通过倒角设置，方便与压盖4锁紧的导正，提高连接性能。

压板轴43的长度小于盖体40两侧的通孔42之间的间距。通过长度及间距的限定，使得在工装整体装配好后，锁扣102将起到阻挡压板轴43轴向滑出的作用。同时，该工装在组装压盖的时候，不需要考虑方向问题，设计均为方形和对称设计，四周方向均可安装，使用性能好。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光模块测试工装，其特征在于，包括下夹块(1)、配合连接在所述下夹块(1)上端的夹块主体(2)、配合连接在所述夹块主体(2)上的上夹块(3)以及通过锁扣组件(100)连接在所述夹块主体(2)上且用于盖合所述夹块主体(2)的压盖(4)；

所述夹块主体(2)内开设有用于放置光模块的方形槽(5)，所述方形槽(5)中部设置有导热块(6)，所述导热块(6)四周均布有高频探针(7)。

2.根据权利要求1所述的光模块测试工装，其特征在于，所述下夹块(1)与所述夹块主体(2)上分别设置有相对应的中心通孔(8)，所述中心通孔(8)的四周均布有高频探针沉孔(9)，所述导热块(6)配合连接在所述中心通孔(8)内，所述高频探针(7)配合连接在所述高频探针沉孔(9)内。

3.根据权利要求1所述的光模块测试工装，其特征在于，所述夹块主体(2)的四周边角处设置有下凸台(10)，所述下凸台(10)的相邻侧面上分别设置有半圆形凹槽(11)，且两个所述半圆形凹槽(11)位于同一高度，所述下凸台(10)上设置有定位孔(12)。

4.根据权利要求3所述的光模块测试工装，其特征在于，所述上夹块(3)包括与所述下凸台(10)相配合的上凸台(30)，所述上凸台(30)的相邻侧面上分别设置有与所述半圆形凹槽(11)相配合的上定位槽(31)，所述上凸台(30)上设置有与所述下凸台(10)上的定位孔(12)相配合的定位柱(32)。

5.根据权利要求4所述的光模块测试工装，其特征在于，所述下夹块(1)的中心通孔(8)直径大于所述夹块主体(2)的中心通孔(8)直径。

6.根据权利要求1所述的光模块测试工装，其特征在于，所述导热块(6)为具有台阶的圆柱体结构，所述导热块(6)的上端直径小于所述导热块(6)的下端直径，所述导热块(6)的上端贴合在光模块上，所述导热块(6)的下端贴合在所述下夹块(1)上。

7.根据权利要求3至5任一项所述的光模块测试工装，其特征在于，所述压盖(4)包括盖体(40)以及与所述盖体(40)连接为一体式结构的连接板(41)，所述连接板(41)通过压板轴(43)连接在所述夹块主体(2)的两个所述下凸台(10)之间，所述盖体(40)两侧面分别轴向贯穿有通孔(42)，所述锁扣组件(100)插合在所述通孔(42)内，所述盖体(40)上设置有用于避让光模块的避让槽(44)。

8.根据权利要求7所述的光模块测试工装，其特征在于，所述锁扣组件(100)包括锁杆(101)、分别连接在所述锁杆(101)两端的锁扣(102)以及垂直连接在所述锁杆(101)与所述锁扣(102)之间的把手(103)，所述锁扣(102)的端部贯穿所述夹块主体(2)的半圆形凹槽(11)并延伸至所述压盖(4)的通孔(42)内。

9.根据权利要求8所述的光模块测试工装，其特征在于，所述锁扣(102)的端部设置有倒角结构(104)。

10.根据权利要求8所述的光模块测试工装，其特征在于，所述压板轴(43)的长度小于所述盖体(40)两侧的通孔(42)之间的间距。

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