CN204731001U - 一种连接器探针测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种连接器探针测试夹具，包括：上盖，与上盖一端通过转轴连接的底座，上盖与底座另一端可分离连接；设于上盖内表面上的浮动压板、产品压头；设于底座内表面上的用于固定产品头部的产品限位框，以及用于固定产品尾部的浮动针盘；设于底座内表面上的针盘薄片，与针盘薄片相连接且位于其上方的固定针盘，垂直设于固定针盘上的探针，浮动针盘位于固定针盘上方且二者相连接；实现待测产品与测试电路的转接，无需人工插拔，提高了工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及手机摄像模组(Camera Module)的生产工装，尤其涉及一种带有连接器的模组的测试夹具。
背景技术
目前手机摄像模组在制造过程中，需要对每一个产品进行测试。测试时需要将产品的接口即Connector(公座/母座)通过连接器转接到产品驱动电路板上，以实现对产品的测试功能。因产品接口信号引脚多，间距小，目前业内大多使用一一对应扣合的连接器进行转接测试。存在的问题是：产品与连接器本身体积相对较小，插拔依靠手工操作，测试过程中经常造成插接件损坏，连接器的引脚尤其容易损坏，因此需要专业的技术维修人员将损坏的连接器焊接更换，如此维修次数多了，容易导致产品的导通性能变差和测试的不稳定，造成更多的损失。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种便于固定待测试产品、将产品的接口准确的转接到驱动电路板上进行测试的测试夹具。
为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：一种连接器探针测试夹具，包括：上盖，与上盖一端通过转轴连接的底座，上盖与底座另一端可分离连接；设于上盖内表面上的浮动压板、产品压头；设于底座内表面上的用于固定产品头部的产品限位框，以及用于固定产品尾部的浮动针盘；设于 底座内表面上的针盘薄片，与针盘薄片相连接且位于其上方的固定针盘，垂直设于固定针盘上的探针，浮动针盘位于固定针盘上方且二者相连接；针盘薄片、浮动针盘上设有探针孔，探针孔的位置与探针相对应，探针上端穿过浮动针盘后与产品相接触；上盖与底座相结合时，产品压头位于浮动针盘内用于压紧产品尾部，浮动压板位于产品限位框上方用于压紧产品头部；浮动压板与上盖的内表面之间通过弹簧连接。
进一步，所述转轴上套设有卡簧，卡簧一端的爪与上盖相抵靠，另一端的爪与底座相抵靠。
上盖的另一端设有凹入部，凹入部的底部设有弧形槽；底座的另一端设有卡钩部，所述卡钩部与底座通过第一转轴相连接；当上盖和底座的设置卡钩部的端部相结合时，设于卡钩部前端的卡钩与弧形槽相结合；底座的该端部端面设有三个弹簧孔，每个弹簧孔固定一根复位弹簧的一端部，复位弹簧的另一端则与卡钩部内表面相抵靠，抵靠位置位于卡钩部与第一转轴结合部的下方。
优选地，所述浮动针盘呈U型，产品的尾部位于浮动针盘内。
进一步，所述上盖的内表面上还设有短路导电块。
还进一步包括一测试板，底座设于测试板上；测试板上还设有用于与产品电连接的第一PIN脚，与外接电路电连接的第二PIN脚。
底座上设有与短路导电块可分离电连接的短路针座，针座内设有两根短路探针，短路探针两端可上下活动，一端与上盖短路导电块接触，另一端与测试板接触。
本实用新型的有益技术效果：设置采用转轴连接的上盖、底座，且二者另一端可分离连接，便于打开上盖，在底座内表面设置产品限位框及浮 动针盘，分别用于放置待测产品的头部及尾部，并对产品进行限位，浮动针盘与产品限位框设于同一直线上且该直线与底座侧边平行，浮动针盘下方的固定针盘上设有探针，探针的上端穿过浮动针盘与待测产品尾部电连接，探针下端穿过针盘薄片及底座与测试板上的第一PIN脚电连接，实现待测产品与测试电路的转接，无需人工插拔，提高了工作效率。
附图说明
图1为本实用新型闭合状态的立体视图；
图2为本实用新型打开状态的立体视图；
图3为本实用新型爆炸状态的立体视图；
图4为本实用新型测试板的立体视图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。
如图1-3所示，一种连接器探针测试夹具，包括：上盖1，与上盖一端通过转轴连接的底座2，上盖与底座另一端可分离连接；设于上盖内表面上的浮动压板3、产品压头4；设于底座内表面上的用于固定产品头部的产品限位框5，以及用于固定产品尾部的浮动针盘6；设于底座内表面上的针盘薄片7，与针盘薄片7相连接且位于其上方的固定针盘8，垂直设于固定针盘上的探针(未图示)，探针为双头浮动,浮动针盘位于固定针盘上方且二者相连接。
针盘薄片7、浮动针盘6上设有探针孔701、601，探针孔的位置与探针相对应，探针上端穿过浮动针盘6后与产品相接触。
上盖一端通过转轴10与底座2连接，所述转轴上套设有卡簧11，卡簧一端的爪与上盖1相抵靠，另一端的爪与底座2相抵靠，便于自动弹开上盖1。
上盖的另一端，即可打开的自由端设有凹入部101，凹入部的底部设有弧形槽；底座的另一端，即与上盖自由端相结合端设有卡钩部12，所述卡钩部12与底座通过第一转轴13相连接；当上盖1和底座2的设置卡钩部的端部相结合时，设于卡钩部前端的卡钩1201与弧形槽相结合；底座的该端部端面设有三个弹簧孔201，每个弹簧孔固定一根复位弹簧14的一端部，复位弹簧14的另一端则与卡钩部内表面相抵靠，抵靠位置位于卡钩部12与第一转轴13结合部的下方，采用此结构，复位弹簧推动卡钩部下端部使卡钩1201扣于上盖的凹入部上，放置上盖和底座分离，而且，需要将上盖和底座从该端部分离时，扳开卡钩即可，上盖在卡簧的11作用下自动弹回。
所述浮动针盘6呈U型，产品的尾部位于浮动针盘的U型空间内。
上盖1与底座2相结合时，产品压头4位于浮动针盘6内用于压紧产品尾部，浮动压板3位于产品限位框5上方用于压紧产品头部；浮动压板3与上盖的内表面之间通过弹簧连接，一般采用四根弹簧。
为适用不同型号产品，产品限位框5可更换，上盖上的浮动压板3采用浮动结构，根据浮动量来弥补不同款产品间高度公差，所述浮动压板3内四周四根弹簧用以保证将产品压平整，并根据浮动量来保证对产品表面的压力。
所述上盖的内表面上还设有短路导电块15。
如图4所示，为了测试产品，还进一步包括测试板16，底座2设于测试板16上；测试板上还设有用于与产品电连接的第一PIN脚1601，与外接 电路电连接的第二PIN脚1602，
底座2上设有与短路导电块15可分离电连接的短路针座17，针座内设有两根短路探针9，短路探针两端可上下活动，一端与上盖短路导电块15接触，另一端与测试板17接触。
上盖1压下闭合时，与短路针座7内短路探针9接触，所述短路探针9另一端接触测试板上的第一PIN脚1601与外部电路导通，导通后外部测试载体正常运行；如在测试过程错误操作将上盖1打开，短路导电块15与短路针座17分离，则电路为开路，继而外部测试载体停止运转。这样避免连接器探针测试夹具在上盖1打开状态旋转运行，从而撞坏测试夹具和外部测试载体。
使用时，1.先将测试板16与外部测试电路连接，不同的产品连接器连接端各脚信号不同，位置不同，需要根据不同产品固定与之对应的测试板；2.摁下卡钩部12，打开上盖1，将产品18头部放入产品限位框5中，尾部放入浮动针盘6中；3.待产品18完全放入后，摁下上盖1，卡钩1201自动将上盖1扣住，此时上盖上压头将产品Conn处与探针9压紧，产品通过探针9和测试板转接与外部电路导通；4.测试产品功能；5.测试完成后摁下卡钩1201，上盖1自动翻开，取出完成测试的产品，即手机摄像模组(Camera Module)。
虽然通过实施例描绘了本发明创造，本领域普通技术人员知道，本实用新型有许多变形和变化而不脱离本实用新型的精神，希望所附的权利要求包括这些变形和变化而不脱离本实用新型的精神。
Claims (7)
1.一种连接器探针测试夹具，其特征在于，包括：上盖，与上盖一端通过转轴连接的底座，上盖与底座另一端可分离连接；设于上盖内表面上的浮动压板、产品压头；设于底座内表面上的用于固定产品头部的产品限位框，以及用于固定产品尾部的浮动针盘；设于底座内表面上的针盘薄片，与针盘薄片相连接且位于其上方的固定针盘，垂直设于固定针盘上的探针，浮动针盘位于固定针盘上方且二者相连接；针盘薄片、浮动针盘上设有探针孔，探针孔的位置与探针相对应，探针上端穿过浮动针盘后与产品相接触；上盖与底座相结合时，产品压头位于浮动针盘内用于压紧产品尾部，浮动压板位于产品限位框上方用于压紧产品头部；浮动压板与上盖的内表面之间通过弹簧连接。
2.如权利要求1所述的一种连接器探针测试夹具，其特征在于，所述转轴上套设有卡簧，卡簧一端的爪与上盖相抵靠，另一端的爪与底座相抵靠。
3.如权利要求1所述的一种连接器探针测试夹具，其特征在于，上盖的另一端设有凹入部，凹入部的底部设有弧形槽；底座的另一端设有卡钩部，所述卡钩部与底座通过第一转轴相连接；当上盖和底座的设置卡钩部的端部相结合时，设于卡钩部前端的卡钩与弧形槽相结合；底座的该端部端面设有三个弹簧孔，每个弹簧孔固定一根复位弹簧的一端部，复位弹簧的另一端则与卡钩部内表面相抵靠，抵靠位置位于卡钩部与第一转轴结合部的下方。
4.如权利要求1所述的一种连接器探针测试夹具，其特征在于，所述浮动针盘内呈U型，产品的尾部位于浮动针盘内。
5.如权利要求1所述的一种连接器探针测试夹具，其特征在于，所述 上盖的内表面上还设有短路导电块。
6.如权利要求1所述的一种连接器探针测试夹具，其特征在于，还进一步包括一测试板，底座设于测试板上；测试板上还设有用于与产品电连接的第一PIN脚，与外接电路电连接的第二PIN脚。
7.如权利要求5或6所述的一种连接器探针测试夹具，其特征在于，底座上设有与短路导电块可分离电连接的短路针座，针座内设有两根短路探针，短路探针两端可上下活动，一端与上盖短路导电块接触，另一端与测试板接触。
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