CN111556953A - 用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的几何偏差的方法 - Google Patents
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- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 64
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 60
- 239000012925 reference material Substances 0.000 title claims abstract description 54
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 47
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 44
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 39
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 19
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 16
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 8
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 claims description 7
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 5
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical group [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 239000000109 continuous material Substances 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000012417 linear regression Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000000135 prohibitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J17/00—Joints
- B25J17/02—Wrist joints
- B25J17/0283—Three-dimensional joints
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J9/00—Programme-controlled manipulators
- B25J9/16—Programme controls
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
- G01B21/042—Calibration or calibration artifacts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/50—Using chromatic effects to achieve wavelength-dependent depth resolution
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明涉及检验材料的中凹表面的凸起的领域，特别是检验适用于运输工具、特别是用于机动车辆工业的玻璃窗单元的中凹表面的凸起的领域。本发明的主题是一种用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的几何偏差的方法和系统。
Description
技术领域
本发明涉及检验材料的中凹表面的凸起的领域，特别是检验用于运输工具、特别是用于机动车辆工业的玻璃窗单元的中凹表面的凸起的领域。
本发明的主题是一种用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的几何偏差的方法和系统。
背景技术
材料表面尤其是中凹表面的一般凸起和弯曲在不满足其应用或使用的限制条件的情况下可能会妨碍质量标准。
例如，在玻璃工业中，用于运输工具如机动车辆领域的玻璃窗单元的制造通常包括形成矿物玻璃片以赋予它们一定的弯曲的步骤。该弯曲的曲率半径可以沿着玻璃片的整个表面变化，必须有这个弯曲，由玻璃片形成的玻璃窗单元才能够被固定到或插入到车辆框架中。这尤其有助于车辆制造商所寻求的总体美观效果、玻璃窗单元在框架中的固定和插入区域的机械、热和声学性能以及取决于玻璃窗单元是用作挡风玻璃还是侧玻璃窗单元的玻璃窗单元的光学性能。
客户，例如车辆制造商、集成商和/或改造商，因此限定了关于玻璃窗单元表面状态的可接受公差的严格规范，其与它们的凸起和/或它们的弯曲的几何形状有关。通常，为车辆上的特定应用（例如挡风玻璃）建立了物理或数字模型玻璃窗单元，并且在其上限定检查点。这些检查点可以对应于在车辆框架上的固定区域，或者甚至是驾驶员和/或乘客的视觉区域。
理想情况下，这些检查点处不应有表面凸起或几何形状缺陷，缺陷的特征最多也应在一个或多个客户可接受的公差范围内。在所有情况下，缺陷（如果存在的话）不应妨碍玻璃窗单元在车辆上的固定，或可能降低驾驶员的视觉舒适度或妨碍车辆的驾驶。同样，如果玻璃窗单元用在数字显示装置中，例如等离子屏幕或液晶屏幕，或者如果玻璃窗单元包括这样的装置，则缺陷不应当干扰显示。
已经开发了许多检验玻璃窗单元质量的方法，以便能够隔离和消除那些光学特性不适合其预期用途的玻璃窗单元。这些方法通常在制造期间或之后实施。现有技术中对这些方法有详细的描述。
例如，专利EP 0463940 B和EP 0342127 B描述了自动光学玻璃窗单元检验方法，其中玻璃窗单元的光学变形水平由阴影图像确定，然后与先前限定的阈值进行比较。专利申请WO 98/17993和GB 2152210以及专利EP 1061357 B公开了通过分析由片反射或透射的几何图案的图像来检测透明片的光学异常的方法。
然而，这些方法不允许隔离其玻璃片在表面处具有与模型玻璃窗单元表面的凸起或弯曲的几何偏差的玻璃窗单元。
还有基于接触的装置或方法，可以用于确定物品（例如玻璃片）的轮廓是否对应于模板的轮廓。例如，申请US 3733704 A描述了一种支撑件，该支撑件的外围设有多个测隙电位器，并且在该支撑件上设有物体，使得测隙电位器确定其轮廓。申请US 4221053 A描述了一种装置，该装置具有为待检查的玻璃片所寻求的形式，并且其外围设有多个测隙电位器。玻璃片设置在装置的下面，这样，通过接触玻璃片的表面，测隙电位器确定其轮廓，以检验其是否与装置的轮廓相对应。申请US 4679331 A公开了一种包括铰接臂的装置，单个测隙电位器固定在该铰接臂上。铰接臂移动到位于放置在模板上的玻璃片外围的某些点处，并使测隙电位器与玻璃片表面接触。计算玻璃表面和模板表面之间的厚度差。该差表明玻璃片的轮廓是否对应于模板的轮廓。
这些基于接触的方法和装置存在许多缺点。首先，对于每一种玻璃片形式，它们都需要经过特殊调适和设计的模板。在工业环境中，由于客户技术需求的快速变化，需要一定的灵活性和一定的响应能力，这导致了额外的延迟和成本，尤其是与每种形式的模板开发和维护相关的延迟和成本。这也导致了劣化的风险，例如划伤或刻痕，和/或玻璃片表面的污染，尤其是当模板和基于接触的表面检测装置在其自然磨损的作用下劣化时。然后，使用基于接触的表面检测装置，如测隙电位器，不适合某些物品。包含厚度通常在0.4毫米和1.5毫米之间的薄矿物玻璃的玻璃窗单元的具体情况特别有说明性。由于其厚度较小，所以薄玻璃对任何机械表面应变都很敏感。结果可能是光学变形，这对于某些应用是禁止性的。因此，要避免基于接触的表面检测装置。最后，这些基于接触的装置和方法不适于在与生产线步调一致的时间内测量表面任何点处的几何偏差。使用基于接触的装置和方法测量任何点处的几何偏差是慢的。整个表面的探查需要很长时间，因此无法有效地整合到连续、高速的生产线上。
发明内容
本发明解决了这些问题。其主题是一种用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的凸起或弯曲的几何偏差的自动化方法，所述方法包括以下步骤：
（a）使用非接触式检测装置在沿着限定轨迹的选定测量点处测量参考材料的中凹表面的凸起高度轮廓或弯曲轮廓，所述非接触式检测装置设置在自动位移装置上，该自动位移装置与非接触式检测装置对凸起高度或弯曲的测量同步地沿着所述轨迹行进；
（b）与步骤（a）期间，在沿着相同轨迹的相同选定测量点处，在自动位移装置沿着所述轨迹行进的相同条件下，且根据在与参考材料的中凹表面相同的测量点处的非接触式检测装置的相同采集角度，测量每个待评估材料的中凹表面的凸起高度轮廓或弯曲轮廓；
（c）由计算机在选定点处实现计算在步骤（b）中获得的每个待评估材料的中凹表面的凸起高度轮廓或弯曲轮廓与在步骤（a）中获得的参考材料的中凹表面的凸起高度轮廓或弯曲轮廓之间的差。
本发明的主题还有一种能用于实现本发明的方法的系统。该系统是一种自动系统，用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的凸起或弯曲的几何偏差，所述系统包括由以下装置形成的组件：
- 至少一个自动位移装置，其适于沿着沿中凹表面限定的至少一条轨迹行进，以及
- 至少一个非接触式检测装置，其适于测量表面的凸起高度或弯曲，设置在自动位移装置上，并与所述自动位移装置的运动同步；
所述系统被配置成：
- 在沿着限定轨迹的选定测量点处，测量材料的中凹表面的相对于测量点处所述中凹表面的法线的凸起高度轮廓或弯曲轮廓，以及
- 在沿着相同轨迹的相同选定测量点处，在自动位移装置沿着所述轨迹行进的相同条件下，且根据非接触式检测装置在与参考材料的中凹表面相同的测量点处的相同采集角度，测量每个待评估材料的中凹表面的凸起高度轮廓或弯曲轮廓。
附图说明
图1是根据本发明的方法和系统的实施例的示意图。
图2是根据本发明的方法为光学偏差测量限定的轨迹的示例的曲线图。
图3是结合了根据本发明的方法和系统的制造线的示意图。
图4是根据本发明的方法的第二实施例的示意图。
图5是根据本发明的方法的第三实施例的示意图。
具体实施方式
在下文中，参考在其不同视图中的附图元件。
图1示出了根据本发明的方法的实施例。
根据本发明的方法是用于测量多个待评估材料1001的中凹表面1001a和参考材料1001（未示出）的中凹表面1001a之间的凸起或弯曲的几何偏差的自动化方法1000。为了简化附图，待评估材料和参考材料在附图中由同一个元件1001表示。
该方法包括以下步骤：
（a）使用非接触式检测装置1002，在沿着限定轨迹1001b的选定测量点处，测量参考材料1001的中凹表面1001a的凸起高度轮廓或弯曲轮廓，所述非接触式检测装置1002设置在自动位移装置1003上，该自动位移装置与非接触式检测装置1002对凸起高度或弯曲的测量同步地沿着所述轨迹1001b行进；
（b）与步骤（a）期间，在沿着相同轨迹1001b的相同选定测量点处，在自动位移装置1003沿着所述轨迹1001b行进的相同条件下，且根据在与参考材料的中凹表面1001a相同的测量点处的非接触式检测装置1002的相同采集角度，测量每个待评估材料1001的中凹表面1001a的凸起高度轮廓或弯曲轮廓；
（c）由计算机（未示出）在选定点处实现计算在步骤（b）中获得的每个评估材料1001的中凹表面1001a的凸起高度轮廓或弯曲轮廓与在步骤（a）中获得的参考材料1001的中凹表面1001a的凸起高度轮廓或弯曲轮廓之间的差。
相对于测量点处的所述中凹表面的法线，非接触式检测装置1002的采集轴线的角度可以有利地在0°和40°之间，优选地在0°和20°之间。这种角度可以使得例如能避免当中凹表面的过大区域是非接触式检测装置1002的测量对象时可能出现的测量伪像。
自动位移装置可以设置在固定支撑件1005上，该固定支撑件1005被适配和定位成允许其到达待评估材料和参考材料的中凹表面的所有或一些点。该支撑件也可以是移动支撑件。同样，待评估材料和参考材料可以设置在固定支撑件1004上。支撑件1004也可以是可移动的。例如，传送所述材料的输送机就是这种情况，根据本发明的方法，该输送机在测量几何偏差所用的时间中是暂时地不移动的。
在一些应用中，关于材料的中凹表面的凸起或弯曲所需的特性或可接受的公差可以变化。例如，在用于运输车辆上的应用的玻璃窗单元的情况下，关于要固定到车辆框架上的玻璃窗单元区域中的凸起或弯曲的可接受的公差可以不同于要用作车辆驾驶员的视觉区域的公差。
在这个意义上，在根据本发明的方法的一个实施例中，在步骤（c）之后，所述方法还可以包括步骤（d），步骤（d）用于在选定测量点处，将步骤（c）中计算的差值与先前在每个所述点限定的公差值进行比较。选定测量点同样也可以是沿着轨迹的几个点，这组点形成轨迹，并且可以包括所述轨迹之外的测量点。
作为示例，图2在顶视图中示出了参考材料或待评估材料1001的中凹表面1001a。在该表面上，示出了轨迹2001的示例，根据本发明的方法使得可以配置和行进以测量中凹表面1001a的凸起高度轮廓或弯曲轮廓。测量点2002、2003可以在轨迹2001之上或之外选择。该图示出了本发明方法的灵活性，因为它使得可以根据材料的类型及其用途来调适轨迹1001b和测量点，并且将凸起和/或弯曲值与为这些点中的每一个限定的公差值进行比较。
如今，大多数自动位移装置1003和非接触式检测装置1002都是使用计算机系统来控制和连接的，该计算机系统包括能够处理指令来操作它们的计算装置。当使用这种系统时，可以有利地使用参考中凹表面的数字模型来限定轨迹1001b，沿着该轨迹测量中凹表面1001a的凸起轮廓或弯曲轮廓。例如，这种模型可以使用计算机辅助设计软件产生。
根据本发明的方法包括使用轨迹1001b的点的空间坐标，沿着该轨迹进行凸起高度或弯曲的测量。这些坐标可以根据位于可能沿着材料的中凹表面1001a行进的轨迹1001b的空间中的参考坐标系或者在自动位移装置和非接触式检测装置形成的组件的参考坐标系内限定。自动位移装置1003和非接触式检测装置1002形成的组件的参考坐标系通常是自动位移装置1003的参考坐标系。
通常，自动位移装置1003使用一个或多个控制装置来控制，指令被传送到这些控制装置，以便使这些自动装置沿着限定的轨迹1001b位移。然后，该轨迹1001b的空间坐标通常在自动位移装置1003特有的参考坐标系中限定。然而，在实践中，特别是在生产现场，轨迹1001b的空间坐标是在另一个外部参考坐标系中，例如生产现场的参考坐标系或者制造方法或装置的参考坐标系中限定的，其中沿着该轨迹1001b执行中凹表面1001a的凸起高度或弯曲的测量。因此，在这些特定情况下，在外部参考坐标系中校准自动位移装置1003和非接触式检测装置1002形成的组件的位移是有利的，以便确保所述组件沿着正确的轨迹1001b行进，并且该行进是可再现的。
在这个意义上，对于本发明的方法来说，有利的是，在步骤（a）之前，还包括步骤（a’），步骤（a’）用于校准自动位移装置1003和非接触式检测装置1002形成的组件在可能在步骤（a）中经行进的轨迹空间中的空间定位的再现性，所述步骤（a’）包括以下子步骤：
（a’1）限定在包括可能在步骤（a）中经行进的轨迹1001b的空间中的第一参考坐标系中的已知空间坐标的多个校准点；
（a’2）由自动位移装置1003和非接触式检测装置1002形成的组件采集在自动位移装置1003和非接触式检测装置1002形成的所述组件的参考坐标系中的所述校准点的空间坐标；
（a'3）由计算机实现的计算在步骤（a'1）中获得的空间坐标和在步骤（a'2）中获得的空间坐标之间的统计学相关函数；
（a’4）在用于控制自动位移装置和非接触式检测装置形成的所述组件的运动的装置中实施统计学相关函数。
统计学相关函数可以是线性或多线性回归函数。也可以使用统计学学习算法来计算该函数。特别是，使用最小二乘回归方法来执行统计学相关函数的计算。
根据本发明的方法可以结合到连续材料制造方法中。然后，该方法的步骤（b）和（c）可以在材料的中凹表面上依次并且连续地执行。图3示出了结合了本发明的方法的制造线的示例。制造线3000包括输送机3001，在输送机3001上输送源自制造方法（未示出）的玻璃片3002。具有中凹表面的玻璃片3002被位移到具有夹紧装置的第一自动装置3003，以便将玻璃片3002a转移到固定支撑件3004上。包括自动位移装置的系统3005实现本发明的方法，非接触式检测装置固定在该自动位移装置上。先前已经在沿着限定轨迹的选定测量点处测量了参考玻璃片的中凹表面的凸起高度轮廓或弯曲轮廓。
如果玻璃片3002a的中凹表面和参考玻璃片的中凹表面之间的凸起或弯曲的几何偏差不满足所寻求的标准，则玻璃片在为此目的提供的支撑件3006上被降级或报废。如果这些偏差满足要求，则玻璃片3002a被保持并堆叠在为此目的而提供的支撑件（未示出）上，例如准备将其运送给客户。由输送机3001带来的每个玻璃片3002都依次被如此处理。
在根据本发明的方法中，待评估材料和参考材料以及因此它们各自的中凹表面被水平地或以一定的倾斜度设置。图4是本发明方法的示意图，其中玻璃窗单元1001是倾斜的。
特别是，待评估材料1001和参考材料1001的中凹表面1001b可以根据对应于在它们使用期间可能预设的倾斜角来空间定向。例如，这种设置可以使考虑材料及其中凹表面的机械变形成为可能，这种机械变形可能在其使用条件下形成。
例如，矿物玻璃的层压玻璃窗单元，例如运输车辆挡风玻璃，通常不是水平地设置在车辆上，而是相对于竖直方向具有一定的倾斜度。此外，这种玻璃窗单元通常通过其外围固定到车辆的框架上。这种构造很可能会使其表面的弯曲发生变形，尤其是如果它的尺寸很大而且相当薄的话。在几何偏差的测量中，本发明的方法可以通过根据与其用途相对应的倾斜角根据空间取向设置玻璃窗来考虑弯曲的这种变形。也可以将它设置在支撑件上，模拟这些在车辆框架上的固定条件。
非接触式检测装置1002可以是彩色共焦传感器。彩色共焦传感器的操作依赖于根据相对于电磁光束的输出物镜的距离，将所述光束分成不同的波长。它们使得以高横向分辨率测量表面凸起的高度成为可能。使用彩色共焦传感器，特别是数字彩色共焦传感器是有利的，因为这种类型的传感器允许以一定的采集频率和与可能具有高位移速度的自动位移装置兼容的分辨率进行非接触式测量。这种类型的传感器也特别适用于透明材料，例如矿物玻璃片，对于这种材料，需要反射或不透明表面来操作的光学传感器不是令人满意的。
自动位移装置1003可以是具有六个自由度的自动铰接臂。使用这种臂的优点是确保了沿着中凹表面的轨迹行进的再现性，并且限制了检测装置相对于中凹表面的高度变化，特别是在高弯曲区域。
本发明的方法特别适用于测量多种待评估的透明材料1001的中凹表面1001a和参考透明材料1001的中凹表面1001a之间的凸起或弯曲的偏差。更具体地说，它适于生产后或例如通过弯曲成型后的玻璃片的中凹表面的品质检验。在这个意义上，参考材料和评估材料可以分别是参考玻璃片和评估玻璃片。此外，参考玻璃片和评估玻璃片可能分别构成用于运输工具的参考玻璃窗单元和用于相同运输工具的评估玻璃窗单元的玻璃片。
在一个实施例中，如图5所示，本发明的方法包括第二组件，该第二组件包括第二自动位移装置5001，第二非接触式检测装置（未示出）固定在其上。在执行本发明方法的步骤（a）和（b）时，该第二组件可以与包括第一自动位移装置1003和第一非接触式检测装置1002的第一组件同时操作。第一个优点是更快地执行本发明的方法。第二个优点是，可以测量中凹表面1001a上的大尺寸凸起或弯曲的几何偏差，对于这些几何偏差，不适合使用单个自动位移装置。第三个优点是，第一和第二组件可以具有减小的空间体积，因此适用于空间很小的场所。
本发明的主题还有一种用于实现根据本发明的方法的系统。该系统是用于测量多种待评估的材料1001的中凹表面1001a和参考材料1001的中凹表面1001a之间的凸起和弯曲的几何偏差的自动系统，所述系统包括由以下装置形成的组件：
- 至少一个自动位移装置1003，其适于沿着沿中凹表面1001a限定的至少一条轨迹1001b行进，以及
- 至少一个非接触式检测装置1002，其适于测量中凹表面1001a的凸起高度或弯曲，设置在自动位移装置1003上，并与所述自动位移装置1003的运动同步；
所述系统被配置成：
- 在沿着限定轨迹1001b的选定测量点处，测量参考材料1001的中凹表面1001a的凸起高度轮廓或弯曲轮廓，以及
- 在沿着相同轨迹1001b的相同选定测量点处，在自动位移装置1003沿着所述轨迹1001b的行进的相同条件下，且根据非接触式检测装置1002在与参考材料1001的中凹表面1001a相同的测量点处的相同采集角度，测量每个待评估材料1001的中凹表面1001a的凸起高度轮廓或弯曲轮廓。
根据本发明的系统还可以包括计算单元，该计算单元被配置为在选定点处计算每个评估材料1001的中凹表面1001a的凸起高度轮廓或弯曲轮廓与参考材料1001的中凹表面1001a的凸起高度轮廓或弯曲轮廓之间的差。
借助于固定装置将非接触式检测装置1002固定在自动位移装置2003上。可以使用任何合适的固定装置。优选地，固定装置可以具有导热性，使得能够排出与非接触式传感器的加热相关的热量。这种加热确实有可能因为电子噪声的出现而干扰其操作（电子噪声会干扰其信号），特别是当它是电子检测装置时。这种加热可以例如因为非接触式检测装置的长期使用而引起。固定装置可以有利地具有大于100 W.K-1.m-1，优选大于200 W.K-1.m-1的导热率。用于固定装置的合适材料的示例是铝。
自动位移装置1003可以是具有六个自由度的自动铰接臂。这种铰接臂的使用是有利的，因为它具有足够的柔性以适应中凹表面的任何类型和任何弯曲度。非接触式检测装置相对于中凹表面的定位被简化。
如前所述，非接触式检测装置可以有利地是彩色共焦传感器。
为了允许中凹表面根据对应于在其使用期间可能预设的倾斜角的倾斜角空间定向，该系统可以有利地还包括用于评估材料和参考材料的支撑件，使得评估材料和参考材料的中凹表面根据对应于在其使用期间可能预设的倾斜角的倾斜角空间定向。
根据本发明的方法和系统提供了以下优点：
- 它们可用于检验对任何表面机械应变敏感的材料的中凹表面的凸起或弯曲的质量；
- 它们可以整合到连续制造、设计或装配线中；
- 多个待评估材料的中凹表面的凸起或弯曲的品质检验是自动化的，并且可以沿着整个轨迹或在该轨迹的某些限定点上执行；
- 可以根据材料的类型及其用途调整检验凸起或弯曲的品质时所沿着的轨迹；
- 不需要例如现有技术中描述的模板来检验凸起或弯曲的品质；
- 消除了中凹表面劣化和/或污染的风险。
Claims (17)
1.一种用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面之间的弯曲的几何偏差的自动化方法（1000），所述方法包括以下步骤：
（a）使用非接触式检测装置（1002）在沿着限定轨迹（1001b）的选定测量点处测量所述参考材料（1001）的中凹表面（1001a）的弯曲轮廓，所述非接触式检测装置（1002）设置在自动位移装置（1003）上，该自动位移装置与所述非接触式检测装置（1002）对凸起高度的测量同步地沿着所述轨迹行进；
（b）与所述步骤（a）期间，在沿着相同轨迹（1001b）的相同选定测量点处，在所述自动位移装置（1003）沿着所述轨迹（1001b）行进的相同条件下，并根据在与所述参考材料（1001）的中凹表面（1001a）相同的测量点处的所述非接触式检测装置（1002）的相同采集角度，测量每个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）的弯曲轮廓；
（c）由计算机在选定点计算在所述步骤（b）中获得的每个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）的弯曲轮廓与在所述步骤（a）中获得的参考材料（1001）的中凹表面（1001a）的凸起高度轮廓或弯曲轮廓之间的差。
2.根据权利要求1所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动化方法，使得其在所述步骤（c）之后还包括步骤（d），步骤（d）用于在选定测量点处，将所述步骤（c）期间计算的差值与预先在每个所述点处限定的公差值进行比较。
3.根据权利要求1和2中任一项所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动化方法，使得在所述步骤（a）之前，还包括步骤（a’），步骤（a’）用于校准所述自动位移装置（1003）和所述非接触式检测装置（1002）形成的组件在可能在所述步骤（a）中经行进的轨迹（1001a）的空间中的空间定位的再现性，所述步骤（a’）包括以下子步骤：
（a’1）限定在包括可能在所述步骤（a）中经行进的轨迹（1001a）的空间中的第一参考坐标系中的已知空间坐标的多个校准点；
（a’2）由所述自动位移装置（1003）和所述非接触式检测装置（1002）形成的组件采集在所述自动位移装置（1003）和所述非接触式检测装置（1002）形成的所述组件的所述参考坐标系中的所述校准点的空间坐标；
（a'3）由计算机实现在所述步骤（a'1）中获得的所述空间坐标和在所述步骤（a'2）中获得的所述空间坐标之间的统计学相关函数的计算；
（a’4）在用于控制所述自动位移装置（1003）和所述非接触式检测装置（1002）形成的所述组件的运动的装置中实施所述统计学相关函数。
4.根据权利要求3所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动化方法，使得使用最小二乘回归方法来执行统计学相关函数的计算。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的凸起或弯曲的几何偏差的自动化方法，使得在材料的中凹表面上依次地并且连续地执行所述步骤（b）和（c）。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动化方法，使得使用参考中凹表面的数字模型来限定所述轨迹（1001b）。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动化方法，使得评估材料（1001）和所述参考材料（1001）的中凹表面（1001a）根据对应于在它们使用期间可能预设的倾斜角的倾斜角而空间定向。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动化方法，使得所述非接触式检测装置（1002）是彩色共焦传感器。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动化方法，使得所述自动位移装置（1003）是具有六个自由度的自动铰接臂。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动化方法，使得所述参考材料（1001）和评估材料（1001）分别是参考玻璃片和评估玻璃片。
11.根据权利要求10所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动化方法，使得所述参考玻璃片和所述评估玻璃片可能分别形成用于运输工具的参考玻璃窗单元的玻璃片和用于相同运输工具的评估玻璃窗的玻璃片。
12. 一种用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动系统，所述系统包括由以下装置形成的组件：
- 至少一个自动位移装置（1003），其适于沿着沿所述中凹表面（1001a）限定的至少一条轨迹（1001b）行进，以及
- 至少一个非接触式检测装置（1002），其适于测量所述中凹表面（1001a）的凸起高度或弯曲，设置在所述自动位移装置（1003）上并与所述自动位移装置（1003）的运动同步；
所述系统被配置成：
- 在沿着限定轨迹（1001b）的选定测量点处，测量所述参考材料的中凹表面（1001）的凸起高度轮廓或弯曲轮廓，以及
- 在沿着相同轨迹（1001b）的相同选定测量点处，在所述自动位移装置（1003）沿着所述轨迹（1001b）行进的相同条件下，且根据所述非接触式检测装置（1002）在与所述参考材料（1001）的中凹表面（1001a）相同的测量点处的相同采集角度，测量每个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）的凸起高度轮廓或弯曲轮廓。
13.根据权利要求12所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动系统，使得其还包括计算单元，该计算单元被配置为在所述选定点处计算每个评估材料（1001）的中凹表面（1001a）的凸起高度轮廓或弯曲轮廓与所述参考材料的中凹表面（1001a）的凸起高度轮廓或弯曲轮廓之间的差。
14. 根据权利要求12和13中任一项所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动系统，使得所述非接触式检测装置（1002）借助于具有大于100 W.K-1.m-1、优选大于200 W.K-1.m-1的导热率的固定装置设置在所述自动位移装置（1003）上。
15.根据权利要求12至14中任一项所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动系统，使得所述自动位移装置（1003）是具有六个自由度的自动铰接臂。
16.根据权利要求12至15中任一项所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的弯曲的几何偏差的自动系统，使得所述非接触式检测装置（1002）是彩色共焦传感器。
17.根据权利要求12至16中任一项所述的用于测量多个待评估材料（1001）的中凹表面（1001a）和参考材料（1001）的中凹表面（1001a）之间的凸起或弯曲的几何偏差的自动系统，使得其还包括用于评估材料（1001）和所述参考材料（1001）的支撑件，使得评估材料（1001）和所述参考材料（1001）的中凹表面（1001a）根据对应于在它们使用期间可能预设的倾斜角的倾斜角而空间定向。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR1872770A FR3090088B1 (fr) | 2018-12-12 | 2018-12-12 | Procédé de mesure des écarts géométriques entre les surfaces incurvées d'une pluralité de matériaux à évaluer et une surface incurvée d’un matériau de référence |
| FR1872770 | 2018-12-12 | ||
| PCT/EP2019/083920 WO2020120294A1 (fr) | 2018-12-12 | 2019-12-06 | Procede de mesure des ecarts geometriques entre les surfaces incurvees d'une pluralite de matériaux à évaluer et une surface incurvee d'un materiau de reference |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN111556953A true CN111556953A (zh) | 2020-08-18 |
| CN111556953B CN111556953B (zh) | 2023-02-28 |
Family
ID=66166238
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201980005609.9A Active CN111556953B (zh) | 2018-12-12 | 2019-12-06 | 用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的几何偏差的方法 |
Country Status (12)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11933601B2 (zh) |
| EP (1) | EP3894784A1 (zh) |
| JP (1) | JP2022512488A (zh) |
| KR (1) | KR20210098467A (zh) |
| CN (1) | CN111556953B (zh) |
| BR (1) | BR112021006667A2 (zh) |
| FR (1) | FR3090088B1 (zh) |
| MX (1) | MX2021006491A (zh) |
| PE (1) | PE20211325A1 (zh) |
| RU (1) | RU2769373C1 (zh) |
| WO (1) | WO2020120294A1 (zh) |
| ZA (1) | ZA202102420B (zh) |
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- 2019-12-06 KR KR1020217017609A patent/KR20210098467A/ko unknown
- 2019-12-06 PE PE2021000846A patent/PE20211325A1/es unknown
- 2019-12-06 CN CN201980005609.9A patent/CN111556953B/zh active Active
- 2019-12-06 US US17/296,436 patent/US11933601B2/en active Active
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2022512488A (ja) | 2022-02-04 |
| KR20210098467A (ko) | 2021-08-10 |
| EP3894784A1 (fr) | 2021-10-20 |
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| WO2020120294A1 (fr) | 2020-06-18 |
| ZA202102420B (en) | 2022-08-31 |
| MX2021006491A (es) | 2021-07-06 |
| PE20211325A1 (es) | 2021-07-22 |
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| FR3090088A1 (fr) | 2020-06-19 |
| US11933601B2 (en) | 2024-03-19 |
| FR3090088B1 (fr) | 2021-06-18 |
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