CN111220111A - 漆包线的被膜异常检测装置和检测方法以及漆包线的制造装置和制造方法 - Google Patents

漆包线的被膜异常检测装置和检测方法以及漆包线的制造装置和制造方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供能够提高在漆包线被膜发生的被膜异常的检测灵敏度的漆包线的被膜异常检测装置、漆包线的制造装置、漆包线的被膜异常的检测方法及漆包线的制造方法。漆包线的被膜异常的检测方法包括:使漆包线以预定速度沿一定方向呈线状移动的工序;使用接触部件与移动中的漆包线的漆包线被膜接触的工序;接触部件通过与在漆包线被膜的表面发生的被膜异常接触来根据异常的高度进行位移的工序;放大接触部件的位移的工序;将放大后的位移变换成输出电压来测定位移量的工序;以及在输出电压超过预定阈值时判定为产生了异常的工序。

Description

漆包线的被膜异常检测装置和检测方法以及漆包线的制造装 置和制造方法
技术领域
本发明涉及漆包线的被膜异常检测装置、漆包线的制造装置、漆包线的被膜异常的检测方法及漆包线的制造方法。
背景技术
近年来,提供了一种使用光源等光学式传感器来检查长条物体的外观的方法(参照专利文献1)。
专利文献1中记载有一种长条物体的外观检查方法,该方法包括以下各工序:从预定光源朝向长条物体的表面照射线状光,并且一边使光源和长条物体在长条物体的长度方向上相对移动,一边每隔预定时间地拍摄线状光照射至长条物体的外周面而成的照射线的工序;和基于拍摄数据内的照射线的位置,按照拍摄数据宽度方向的多个预定位置的每一个来求出照射线的高度方向位置数据,并按照拍摄数据的每一个来作成通过求出上述照射线的高度方向位置数据而成的照射线位置数据组的工序。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2010-197106号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在漆包线中,研究了对设置于导体的周围的被膜的高度的异常(以下,也简单地称作“被膜异常”。)进行检测。对于用于检测该被膜异常的方法(以下,也简单地称作“被膜异检测方法”。),考虑例如使用专利文献1所记载的方法。
但是,根据专利文献1所记载的方法,例如在搬运漆包线时发生了漆包线倾斜、扭曲之类的情况下,因不具有恒定大小且较小的被膜异常隐藏在漆包线的后面,有导致检测变得困难等检测灵敏度的降低的担忧。
本发明的目的在于提供能够提高漆包线的被膜异常的检测灵敏度的漆包线的被膜异常检测装置、漆包线的制造装置、漆包线的被膜异常的检测方法、以及漆包线的制造方法。
用于解决课题的方案
为了实现上述目的,本发明提供下述的[1]~[13]的漆包线的被膜异常检测装置、[14]的漆包线的制造装置、[15]的漆包线的被膜异常的检测方法、以及[16]的漆包线的制造方法。
[1]一种漆包线的被膜异常检测装置,具备:
接触部件,其与呈线状地沿一定方向移动的漆包线的漆包线被膜的表面接触,并根据在上述漆包线被膜的表面发生的被膜异常的高度来位移;和
位移计,其获取上述接触部件位移后的量。
[2]根据上述[1]所述的漆包线的被膜异常检测装置,
在将上述一定方向作为第一方向的情况下,
上述接触部件具备:
第一接触部件,其在与上述第一方向大致垂直的第二方向上位移;和
第二接触部件,其在上述第二方向上固定地保持,并配置于上述漆包线的与上述第一接触部件侧的第一面相反一侧的第二面侧。
[3]根据上述[2]所记载的漆包线的被膜异常检测装置,
上述第一接触部件被支撑为能够以支轴为支点进行旋转,上述支轴设置于比该第一接触部件靠上述第一方向的前方。
[4]根据上述[3]所记载的漆包线的被膜异常检测装置,还具备:
放大部件,其与上述第一接触部件连接,并放大该第一接触部件在上述第二方向上的位移;和
固定部件,其在与上述放大部件的上述第一方向的后方侧的前端部对置的位置固定地支撑上述位移计,
固定后的上述位移计通过测定由上述放大部件放大后的上述前端部在上述第二方向上的位移量,来获取上述接触部件位移后的量。
[5]根据上述[1]至[4]任一项中所记载的漆包线的被膜异常检测装置,
上述第一接触部件及上述第二接触部件均由具有大致呈圆柱形状的形状的旋转体构成。
[6]根据上述[5]所记载的漆包线的被膜异常检测装置,
上述第二接触部件设置于在上述第二方向上隔着上述漆包线而与上述第一接触部件对置的位置,
通过由上述第一接触部件和上述第二接触部件夹持上述漆包线被膜的一对对置的面,来检测在上述一对对置的面发生的被膜异常。
[7]根据上述[6]所记载的漆包线的被膜异常检测装置,
上述第一接触部件及上述第二接触部件均配置为中心轴与上述第一方向正交,并且配置为相互大致平行。
[8]根据上述[6]或[7]所记载的漆包线的被膜异常检测装置,
在沿厚度方向隔着上述漆包线而对置的位置,上述第一接触部件及上述第二接触部件设置为与上述漆包线被膜的上表面及下表面大致平行,
上述第一接触部件和上述第二接触部件与上述上表面及上述下表面分别接触,由此检测在上述上表面或上述下表面发生的被膜异常。
[9]根据上述[6]或[7]所记载的漆包线的被膜异常检测装置,
在沿宽度方向隔着上述漆包线而对置的位置,上述第一接触部件及上述第二接触部件设置为与上述漆包线被膜的侧面中沿上述第一方向的一对侧面大致平行,
上述第一接触部件和上述第二接触部件与上述一对侧面分别接触,由此检测在上述一对侧面的任一面发生的被膜异常。
[10]根据上述[1]至[9]中任一项所记载的漆包线的被膜异常检测装置,
上述第一接触部件由第三接触部件构成,在该第三接触部件的大致呈圆柱状的形状的侧面,形成有具有在侧视情况下大致呈V字型的形状的槽部。
[11]根据上述[10]所记载的漆包线的被膜异常检测装置,
上述第二接触部件由具有与上述第三接触部件大致相同的形状的第四接触部件及第五接触部件构成,
上述第三接触部件、上述第四接触部件以及上述第五接触部件配置为隔着上述漆包线而相互错开,
通过由上述第三接触部件、上述第四接触部件以及上述第五接触部件中的至少任一方夹持上述漆包线,来检测在上述漆包线被膜的角部发生的被膜异常。
[12]根据上述[11]所记载的漆包线的被膜异常检测装置,
上述第三接触部件、上述第四接触部件以及上述第五接触部件配置为在厚度方向上隔着上述漆包线而相互错开。
[13]根据上述[11]所记载的漆包线的被膜异常检测装置,
上述第三接触部件、上述第四接触部件以及上述第五接触部件配置为在宽度方向上隔着上述漆包线而相互错开。
[14]一种漆包线的制造装置,具备:
涂料涂覆部,其对导体涂覆漆包线涂料;
退火炉,其进行上述漆包线涂料的烘烤来形成漆包线被膜;以及
上述[1]至[10]所述的漆包线的被膜异常检测装置,其检测在所形成的上述漆包线被膜产生的被膜异常。
[15]一种漆包线的被膜异常的检测方法,包括以下各工序:
使漆包线以预定速度沿一定方向呈线状移动的工序;
使用接触部件与移动中的上述漆包线的漆包线被膜接触的工序;
通过与在上述漆包线被膜的表面发生的被膜异常接触,上述接触部件来根据上述异常的高度进行位移的工序;
放大上述接触部件的位移的工序;
将放大后的上述位移变换成输出电压来测定上述位移量的工序;以及
在上述输出电压超过预定阈值时判定为发生上述被膜异常的工序。
[16]一种漆包线的制造方法,包括以下各工序:
对导体涂覆漆包线涂料的工序;
进行上述漆包线涂料的烘烤来形成漆包线被膜的工序;以及
检测在上述漆包线被膜发生的被膜异常的上述[15]所记载的工序。
发明的效果
根据本发明的漆包线的被膜异常的检测方法、漆包线的被膜异常检测装置、漆包线的制造方法、以及漆包线的制造装置,能够提高漆包线的被膜异常的检测灵敏度。
附图说明
图1是示出本发明的实施方式的漆包线的制造装置的一例的简图。
图2是简要地示出第一实施方式的被膜异常检测装置的结构的一例的图,(a)是侧视图,(b)是(a)的A-A剖视图。
图3是示出第一接触部件的位移的一例的图。
图4是简要地示出第二实施方式的被膜异常检测装置的结构的一例的图。
图5是简要地示出第二实施方式的接触部件的一例的图。
图6是示出被膜异常的检测结果的一例的线图。
图7是简要地示出被膜异常检测装置的一个变形例的图。
图8是简要地示出被膜异常检测装置的其它变形例的图。
图9是简要地示出比较例中的被膜异常的检测的一例的图,(a)是示意性地示出被膜异常的检测方法的图,(b)是示意性地示出引起漏检测的原因的一例的图。
符号的说明
1—漆包线的制造装置,10—导体,12—漆包线,12a—漆包线被膜,12aa—上表面,12ab—下表面,12b—侧面,12r—角部,120—被膜异常,2—涂料涂覆部,3—烘烤炉,4—被膜异常检测装置,41—接触部件,41A—第一接触部件,41B—第二接触部件,41C—第三接触部件,41D—第四接触部件,41E—第五接触部件,41a、41Aa、41Ba—表面,410a—槽部,412—第一接触部,412a—第一壁面,414a—第二壁面,414—第二接触部,42—第一臂部件,42a—端面,421—突起部,43—位移计,43a—空间部,44—第二臂部件,45—台座部件,451—上臂部,452—前臂部,46—拾取部件,46a—两端部,46b—底部,461—支轴,5a、5b—旋转滑轮,6—光源,60—照射光。
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的实施方式进行说明。此外,以下说明的实施方式作为在实施本发明时的优选的具体例来示出,也有具体地示例出在技术上优选的各种事项的部分,但本发明的技术范围不限定于该具体的方式。并且,各附图所示的各构成要素的尺寸比不一定与实际的尺寸比一致。
〔漆包线的制造装置及制造方法〕
图1是示出本发明的实施方式的漆包线的制造装置的一例的简图。此外,以下,作为供漆包线12用的芯线,举例使用截面呈扁平形状的导体10的情况进行说明。并且,本实施方式中使用的导体10的材料例如能够使用铜、铜合金等。并且,为便于说明,举例将构成漆包线的制造装置1的各种设备配置为卧式的类型进行说明,但也可以是配置为立式的类型。
如图1所示,导体10导向涂料涂覆部2,在导体10的外周涂覆漆包线涂料。此外,作为漆包线涂料,若能够用于漆包线被膜12a(参照图2的(a)),则能够没有特别限定地使用。
并且,作为漆包线涂料中的溶剂,例如可以举出N-甲基-2-吡咯烷酮(NMP)、甲酚、N,N-二甲基乙酰胺(DMAc)、环己酮等。再者,作为漆包线涂料中的树脂,可以举出聚酰胺酰亚胺、聚酰亚胺、聚酯酰亚胺等。另外,导体10能够使用由退火炉(未图示)进行退火后的导体。
涂覆有漆包线涂料的导体10在烘烤炉3中前进,进行漆包线涂料的烘干(即、漆包线涂料中的溶剂的蒸发)以及漆包线涂料中的树脂的固化(即、被膜的烘烤)。此外,漆包线涂料中的溶剂的蒸发以及漆包线涂料中的树脂的固化的方法没有特别限定,能够通过由热风等加热来进行。并且,漆包线涂料中的溶剂的蒸发和漆包线涂料中的树脂的固化也可以由分别不同的装置进行。
导体10经由下游侧的旋转滑轮5b返回至上游侧的旋转滑轮5a,反复进行基于涂料涂覆部2的漆包线涂料的涂覆、以及基于烘烤炉3的漆包线涂料的烘干、烘烤直至成为所希望的厚度的漆包线被膜12a。这样,通过烘干、烘烤涂覆于外周的漆包线涂料,导体10成为在其外周具有由所希望的厚度构成的漆包线被膜12a的漆包线12。
向检测被膜异常的装置(以下也称作“被膜异常检测装置”。)引导烘干、烘烤结束后的漆包线12。被膜异常例如是指因产生如下情况而在漆包线被膜12a的表面发生的凸状的形状:浮游在向涂料涂覆部2导入的导体10的周边的固状、纤维状的尘埃(环境异物)引入涂覆于导体10的外周的漆包线涂料中;因在导体10或漆包线被膜12a的表面发生的伤痕而在漆包线被膜12a的表面产生空隙;以及在漆包线涂料中发生泡沫等。此外,漆包线被膜12a的表面为包含漆包线被膜12a的上表面12aa及下表面12ab(参照图2各图,也称作“平面”。)、侧面12b(参照图9的(b))、以及角部12r(参照图5,也称作“边缘面”。)。
被膜异常检测装置4(参照图2各图)是检测被膜异常120中的尤其向漆包线被膜12a的外侧突出并具有预定值以上的高度的被膜异常120、即具有凸状的形状的被膜异常120的装置。以下,作为被膜异常120,举例具有凸状的形状的情况进行说明。在下文中对被膜异常检测装置4的结构进行详细说明。
此外,在检测到预定高度以上的被膜异常120的情况下,例如可以使用激光制标器等的标记装置(未图示)在所检测到的被膜异常120的位置实施标记。并且,也可以预先记录被膜异常120的漆包线被膜12a上的位置信息,在检查后实施切断被膜异常120、其周围等所希望的处理。此外,被膜异常的高度是指从未发生被膜异常的漆包线被膜12a的表面至向漆包线被膜12a的外侧突出的被膜异常120的顶部为止的距离。
将漆包线被膜12a的检查结束后的漆包线12卷绕于卷绕机(未图示)。
〔被膜异常检测装置4〕
[第一实施方式]
接下来,参照图2对第一实施方式的被膜异常检测装置4进行说明。图2是简要地示出被膜异常检测装置4的结构的一例的图,(a)是侧视图,(b)是(a)的A-A剖视图。第一实施方式的被膜异常检测装置4主要检测在漆包线被膜12a的上表面12aa、下表面12ab、以及侧面12b发生的被膜异常120。
上表面12aa及下表面12ab是一对对置的面的一例。相互对置的一对侧面12b是一对对置的面的一例。并且,上表面12aa是第一面的一例。下表面12ab是第二面的一例。以下,分为(1)检测在上表面12aa、下表面12ab发生的被膜异常120的第一结构和(2)检测在侧面12b发生的被膜异常120的第二结构来分别说明。
(1)第一结构(上表面12aa、下表面12ab的被膜异常120的检测)
如图2的(a)及图2的(b)所示,被膜异常检测装置4构成为具有:一对接触部件41,其设置于在与一定方向大致垂直的方向(也简单地称作“厚度方向”。)上隔着沿一定方向(以下,也称作“行进方向”。参照箭头“B”。图2的(a)中设为右方向。)呈线状搬运的漆包线12而相互对置的位置,并与漆包线被膜12a的上表面12aa及下表面12ab分别接触;第一臂部件42,其与上述一对接触部件41中的一个接触部件(以下也称作“第一接触部件41A”。)连接,并放大第一接触部件41A在漆包线12的厚度方向上的位移;位移计43,其测定第一臂部件42在漆包线12的厚度方向上位移后的量;以及第二臂部件44,其相对于被膜异常检测装置4固定地支撑位移计43。行进方向是第一方向的一例。第一臂部件42是放大部件的一例。第二臂部件44是固定部件的一例。漆包线12的厚度方向是第二方向的一例。
(接触部件41)
第一接触部件41A及一对接触部件41中的另一个接触部件(以下也称作“第二接触部件41B”。)例如是具有大致呈圆柱或者大致呈圆筒状的形状并由以各自的中心轴O1、O2为旋转轴自转的旋转体构成的平辊。第一接触部件41A及第二接触部件41B优选具有漆包线12的宽度以上的长度。
第一接触部件41A及第二接触部件41B均配置为各自的中心轴O1、O2与漆包线12的行进方向相互正交。并且,第一接触部件41A及第二接触部件41B配置为相互平行。另外,第一接触部件41A及第二接触部件41B均配置为与漆包线被膜12a的上表面12aa及下表面12ab大致平行。
第一接触部件41A及第二接触部件41B的材料不限定于特定的材料,但第一接触部件41A及第二接触部件41B优选由不锈钢(SUS)等具有预定硬度的金属形成。并且,例如也可以利用镀硬铬等方法对接触部件41的表面41a进行涂层。
第二接触部件41B在长度方向上的两端部与固定于被膜异常检测装置4的台座部件45连结。并且,第二接触部件41B在漆包线12的厚度方向上相对于漆包线12被固定地保持。具体而言,第二接触部件41B经由台座部件45而固定地保持于被膜异常检测装置4。
台座部件45例如是大致具有L字形形状的一对基体框架,并构成为具备与第二接触部件41B连结的上臂部451和与该上臂部451正交地连续的前臂部452。台座部件45例如也可以固定于第二臂部件44。
第一接触部件41A根据漆包线被膜12a的上表面12aa及下表面12ab的凹凸形状而在漆包线12的厚度方向上可动。具体而言,第一接触部件41A根据被膜异常120的高度而在漆包线12的厚度方向上位移。
在本实施方式中,第一接触部件41A在长度方向上的两端部与相对于被膜异常检测装置4能够旋转地被支撑的拾取部件46连接。如图2的(b)所示,拾取部件46是将具有预定厚度的平板状的部件的两端向同一方向大致呈直角地折弯来构成,并具有俯视大致呈U字型的形状。
拾取部件46设置为,底部46b位于漆包线12的行进方向的后方侧,并且开口端侧位于漆包线12的行进方向的前方侧。并且,在拾取部件46的内侧连结有第一接触部件41A。
并且,在拾取部件46的内侧,且在漆包线12的行进方向上比第一接触部件41A靠前方的位置还设有支轴461,该支轴461配置为与第一接触部件41A大致平行,并贯通拾取部件46的靠开口端侧的两端部46a。
支轴461均贯通一对台座部件45中的一个台座部件45的上臂部451和另一个台座部件45的上臂部451。即、拾取部件46的开口端侧的两端部46a由支轴461而分别能够旋转地安装于一对台座部件45的内侧。此外,台座部件45与拾取部件46的位置关系不限定于上述的关系,也可以将拾取部件46安装于台座部件45的外侧。
拾取部件46被支撑为能够以支轴461的中心轴O6为支点旋转。换言之,拾取部件46被支撑为能够相对于台座部件45相对旋转。
第一接触部件41A及第二接触部件41B优选配置为,彼此的中心轴O1、O2在漆包线12的长度方向上位于大致相同的位置。换言之,第一接触部件41A及第二接触部件41B配置为,连接第一接触部件41A的中心轴O1及第二接触部件41B的中心轴O2的线段与漆包线12的长度方向大致正交。
并且,第一接触部件41A配置为,表面41Aa与漆包线12的上表面12aa接触。再者,第二接触部件41B配置为,表面41Ba与漆包线12的下表面12ab接触。为了实现这样的配置,例如可以适当地调整第一接触部件41A的半径R1、第二接触部件41B的半径R2,也可以适当地调整台座部件45的上臂部451的长度,并且也可以适当地调整将拾取部件46固定于台座部件45的支轴461在漆包线12的厚度方向上的位置。
图3是示出第一接触部件41A的位移的一例的图,示出第一接触部件41A因被膜异常120而位移后的状态。此外,图3中,为便于说明,举例凸状的被膜异常120位于第一接触部件41A的大致正下方时、即被膜异常120的重心位于连接第一接触部件41A的中心轴O1及第二接触部件41B的中心轴O2的线段上的状态进行说明。
如图3所示,若第一接触部件41A的表面41Aa与被膜异常120接触,则对第一接触部件41A施加与所接触到的被膜异常120的大小对应的位移。位移量根据被膜异常120的大小(尤其高度)来决定。此外,位移量是指第一接触部件41A的中心轴O1在漆包线12的厚度方向上移动的量,具体地是与被膜异常120的高度相当的值。
第一接触部件41A开始第一接触部件41A以支轴461的中心轴O6为支点并以与漆包线被膜12a的上表面12aa接触的点为作用点的旋转(参照图3的箭头“C”)。根据这样的结构,与在大致水平的状态下在漆包线12的厚度方向上抬起第一接触部件41A相比,能够更容易使第一接触部件41A的高度变化。
(第一臂部件42)
第一臂部件42与拾取部件46的底部46b连接。第一臂部件42例如具有棒状的形状。优选为,第一臂部件42是具有多边形的截面并由大致具有平坦状的形状的侧面包围的部件。
优选为,第一臂部件42配置为,大致平坦的一个侧面朝向位移计43侧,即大致平坦的一个侧面朝向上方。第一臂部件42的长度没有特别限定,但在加大将第一接触部件41A在漆包线12的厚度方向上的位移放大的放大率的方面优选较长。
此处,将第一接触部件41A的中心轴O1与支轴461的中心轴O6之间的距离(以下也称作“第一距离”。)设为L1,将第一接触部件41A的中心轴O1与第一臂部件42的位于漆包线12的行进方向的后方侧的端面42a之间的距离(以下也称作“第二距离”。)设为L2,此时,第一接触部件41A在漆包线12的厚度方向上的位移的放大率h能够由以下的关系式(1)表示。
h=(L1+L2)/L1……(1)
可以考虑被膜异常检测装置4的尺寸、机械部件的配置、所希望的检测灵敏度来适当地设定上述的第一距离L1及第二距离L2。例如也可以将L1:L2设为1:4。在该情况下,放大率h约为5倍。
(第二臂部件44)
如上所述,第二臂部件44固定于被膜异常检测装置4。并且,在第二臂部件44的位于漆包线12的行进方向的后方侧的前端部安装有位移计43。
(位移计43)
位移计43是将与对象物的位移相关的信息变换成电压并测定位移量的传感器。位移计43例如可以采用超声波传感器、线性非接触式传感器等公知的技术。但是,位移计43优选采用非接触式类型。作为一例,位移计43可以使用光学式传感器。
位移计43经由第二臂部件44而固定于被膜异常检测装置4。具体而言,如图2及图3所示,位移计43固定于在第二臂部件44的行进方向的后方侧的前端部并与第一臂部件42的漆包线12的行进方向的后方侧的前端部对置的位置。
位移计43通过测定第一臂部件42的行进方向的后方侧的前端部在漆包线12的厚度方向上的位移量、即放大后的第一接触部件41A的位移量,能够获取第一接触部件41A的位移量、即被膜异常120的高度信息。此处,“第一臂部件42的行进方向的后方侧的前端部在漆包线12的厚度方向上的位移量”是指第一臂部件42的行进方向的后方侧的前端部在漆包线12的厚度方向上移动的量。
(2)第二结构(侧面12b的被膜异常120的检测)
对检测侧面12b的被膜异常120的第二结构进行说明。此外,以与上述的第一结构不同点为中心进行说明,省略实际上相同的内容的详细说明。在第二结构中,将第一接触部件41A及第二接触部件41B配置为与漆包线12的侧面12b接触。在该情况下,第一接触部件41A根据在漆包线12的任一侧面12b发生的被膜异常120的大小在漆包线12的宽度方向(与行进方向及厚度方向这二者垂直的方向)上位移。
具体而言,在第二结构中,第一接触部件41A及第二接触部件41B设置于在宽度方向上隔着漆包线12而相互对置的位置,并与漆包线12的四个侧面中沿行进方向延伸的一对侧面12b分别接触。并且,第一接触部件41A及第二接触部件41B均配置为,各自的中心轴O1、O2与漆包线12的行进方向相互正交,而且与该一对侧面12b大致平行。
并且,第一接触部件41A配置为,表面41Aa与漆包线12的该一对侧面12b的一个面接触。再者,第二接触部件41B配置为,表面41Ba与同上述的侧面12b对置地成对的另一个侧面12b接触。
此外,在该情况下,需要将第一接触部件41A推压至漆包线12的机构(未图示)例如弹簧等。漆包线12的宽度方向是第二方向的一例。并且,一对侧面12b中与第一接触部件41A接触的一侧的一个面是第一面的一例。与第一接触部件41A接触的一侧的相反侧的另一个面即对置的侧面是第二面的一例。
[第二实施方式]
接下来,参照图4对第二实施方式的被膜异常检测装置4进行说明。图4是简要地示出第二实施方式的被膜异常检测装置4的结构的一例的图。第二实施方式的被膜异常检测装置4检测主要在漆包线被膜12a的四个角部12r(参照图5)发生的被膜异常。
并且,第二实施方式的被膜异常检测装置4在具备三个接触部件41的方面以及接触部件41的形状不同的方面上与第一实施方式的被膜异常检测装置4不同。以下,对具有与在第一实施方式中说明的构成要素实际上相同的功能的构成要素标注同一符号,省略其重复的说明,并以与第一实施方式不同的方面为中心进行说明。
如图4所示,第二实施方式的被膜异常检测装置4具备第三接触部件41C、第四接触部件41D、以及第五接触部件41E。与第一接触部件41A相同,第三接触部件41C被支撑为,以支轴461的中心轴O6为支点并以与漆包线被膜12a的上表面12aa的角部接触的点为作用点旋转,并与拾取部件46连接,并且第三接触部件41C根据被膜异常120的高度而沿漆包线12的厚度方向位移。
第四接触部件41D及第五接触部件41E均配置为,与第三接触部件41C接触的漆包线被膜12a的一个主面(图4所示的例子中为上表面12aa)的相反侧的面(图4所示的例子中为下表面12ab)的角部接触。一个主面是第一面的一例。相反侧的面是第二面的一例。
并且,第三接触部件41C、第四接触部件41D以及第五接触部件41E在漆包线12的长度方向上配置于相互不同的位置。即,第三接触部件41C、第四接触部件41D以及第五接触部件41E配置为依次在厚度方向上隔着漆包线12而在上下方向上相互错开。
并且,第三接触部件41C与第四接触部件41D及第五接触部件41E配置为,在侧视(参照图5)时构成要素(例如,第一接触部412的端部、第二接触部414的端部,参照图5。)的一部分靠近至相互重叠的程度。
即,将第三接触部件41C的半径设为R3,将第四接触部件41D的半径设为R4,将第五接触部件41E的半径设为R5,将从第三接触部件41C的中心轴O3至漆包线12的上表面12aa的距离(以下也称作“第三距离”。)设为L3,将从第四接触部件41D的中心轴O4至漆包线12的下表面12ab的距离(以下也称作“第四距离”。)设为L4,并将从第五接触部件41E的中心轴O5至漆包线12的下表面12ab的距离(以下也称作“第五距离”。)设为L5,此时配置为满足以下的关系式(2)、关系式(3)。
R3+R4>L3+L4……(2)
R3+R5>L3+L5……(3)
接下来,参照图5,对第三接触部件41C、第四接触部件41D以及第五接触部件41E的形状进行说明。图5是简要地示出第三接触部件41C、第四接触部件41D以及第五接触部件41E的一例的图。具体而言,图5是从图4所示的被膜异常检测装置4抽出第三接触部件41C、第四接触部件41D以及第五接触部件41E并从图4的图示左侧观察的图。
此外,图5中,为便于说明,举例以下的结构进行说明:第三接触部件41C、第四接触部件41D以及第五接触部件41E彼此具有同一形状,并且配置为朝向同一方向,而且第四接触部件41D及第五接触部件41E在漆包线12的厚度方向上配置于同一位置。并且,第五接触部件41E配置为在图5的纸面里侧与第四接触部件41D重叠,因而省略其记载。以下,作为第三至第五接触部件41C、41D、41E的代表,对第四接触部件41D进行详细说明,但只要在没有特别记载的情况下,第三接触部件41C及第五接触部件41E也相同。
如图5所示,在第四接触部件41D的侧面形成有大致具有V字形的形状的槽部410a。具体而言,槽部410a由第一壁面412a和与该第一壁面412a的第四接触部件41D的中心侧的一端连接的第二壁面414a构成。
换言之,第四接触部件41D构成为一体地具备:圆锥台状的第一接触部412,其具有朝向中心部侧缩径的外周面;和倒圆锥台状的第二接触部414,其在第四接触部件41D的长度方向的中央部与该第一接触部412连续地连接,并且具有朝向第四接触部件41D的与第一接触部412相反一侧的端部扩径的外周面。
此外,第一接触部412的外周面形成槽部410a的第一壁面412a,第二接触部414的外周面形成槽部410a的第二壁面414a。以下,在不需要特别地区别确定第一壁面412a及第二壁面414a的情况下,也统称地简单称作“壁面412a、414a”。
第三接触部件41C及第四接触部件41D配置为以各自的两个壁面412a、414a与漆包线12的角部12r接触的方式在漆包线12的厚度方向上相互靠近。同样,第三接触部件41C及第五接触部件41E配置为以各自的两个壁面412a、414a与漆包线12的角部12r接触的方式在漆包线12的厚度方向上相互接近。
根据这样的结构,在漆包线12的角部12r的任一个发生了被膜异常120的情况下,从被膜异常120在与第三接触部件41C的壁面412a、414a垂直的方向施加位移。而且,第三接触部件41C进行以支轴461的中心轴O6为支点的旋转。此外,第三接触部件41C在漆包线12的厚度方向上位移的机理与上述的第一接触部件41A相同,从而省略详细的说明。
此外,以第三接触部件41C、第四接触部件41D以及第五接触部件41E均具有同一形状的情况进行了说明,但漆包线12的挠曲量能够抑制为预定值以下即可,例如可以根据目的来分别适当调整各接触部件的半径、在漆包线12的厚度方向上的位置等。
接下来,参照图6对被膜异常120的检测灵敏度进行说明。图6的(a)是示出由上述的实施方式的被膜异常检测装置4进行的被膜异常120的检测结果的一例的线图,(b)是将图6的一部分(圆框的区域)放大的图。图6各图的横轴示出从位移计43输出的电压(V)(以下也简单地称作“输出电压”。),纵轴示出被膜异常120的高度(μm)(以下也称作“粒高”。)。此外,图6各图所示的结果是使漆包线12以每分钟约7.0m的速度行进来取得的。
如图6的(a)所示,确认了:至少在粒高为0~900μm的范围内,维持输出电压(V)与粒高(μm)之间的直线性。并且,如图6的(b)所示,确认了:在粒高为100μm以下的范围内,也在输出电压(V)与粒高(μm)之间维持恒定的直线性。即示出以下内容:在粒高为100μm以下的范围内,能够抑制被膜异常120的错过(以下也简单地称作“漏检测”。)、过度检测。
并且,通过适当地调整输出电压的阈值,能够设定针对所检测的被膜异常120的大小的所希望的阈值。例如,如图6的(b)所示,若将输出电压的阈值设为0.12V,则能够进行将与该阈值对应的粒高(20μm)作为判定不合格还是合格的基准值的被膜异常120的检测。
<变形例>
设置上述的第一臂部件42不是必需的。参照图7及图8对不具备第一臂部件42的被膜异常检测装置4的变形例进行说明。图7是简要地示出被膜异常检测装置4的一个变形例的图。图8是简要地示出第一实施方式的被膜异常检测装置4的其它变形例的图。
例如,也可以如图7所示,以将拾取部件46的底部46b配置于位移计43的位置的方式将拾取部件46在预定范围内向漆包线12的行进方向的后方侧延长。即使如图7那样构成,也能够放大第一接触部件41A的在漆包线12的厚度方向上的位移。其中,在另外设置第一臂部件42的情况下能够抑制拾取部件46的重量,并能够抑制向被膜异常120施加的载荷,从而在正确地测定、检测被膜异常120的高度的方面优选。
并且,例如,也可以如图8所示,通过缩短第二臂部件44,来构成为在漆包线12的长度方向上,在拾取部件46的底部46b的位置配置位移计43。与图7所示的结构相比,拾取部件46的尺寸较小且重量较小,因而在更正确地测定、检测被膜异常120的高度的方面优选。其中,在能够放大第一接触部件41A的在漆包线12的厚度方向上的位移的方面,更优选另外设置第一臂部件42的结构。
〔漆包线12的被膜异常检测方法〕
例如,使用上述的被膜异常检测装置4来执行本发明的被膜异常120的检测方法。本发明的被膜异常120的检测方法包括以下各工序:使漆包线12以预定速度呈线状地沿一定方向移动的工序;使接触部件41与移动过程中的漆包线12的漆包线被膜12a的上表面12aa、下表面12ab、以及四个角部12r中的至少一个接触的工序;因在漆包线被膜12a上发生的凸状的被膜异常120与接触部件41接触而接触部件41根据被膜异常120的高度相对于漆包线被膜12a位移的工序;放大位移的工序;通过将放大后的位移变换成输出电压并进行检测来测定接触部件41的位移量的工序;以及在输出电压超过预定阈值时判定为发生了被膜异常120的工序。此外,在上述实施方式的流程中,能够进行其它工序的追加、删除、变更、上述的工序的替换等。
〔本发明的实施方式的效果〕
根据本发明的实施方式,能够提高漆包线12的被膜异常120的检测灵敏度。
具体而言,通过在第二臂部件44的前端侧设置位移计43,测定第一臂部件42的前端部在厚度方向或宽度方向等上的位移量,能够放大地测定可动的接触部件(即,第一实施方式中的第一接触部件41A或者第二实施方式中的第三接触部件41C。)在厚度方向或宽度方向等上的位移。由此,能够进一步提高被膜异常120的检测灵敏度,即使是更低高度的被膜异常120,也能够进行检测。
图9是简要地示出比较例中的被膜异常120的检测的一例的图,(a)示意性地示出被膜异常120的检测方法,(b)示意性地示出引起漏检测的原因的一例。如图9的(a)所示,作为比较例,举例利用从光源6照射的照射光60来检测被膜异常120的现有的方法。在因某种原因而搬运中的漆包线12发生了倾斜、扭曲时,如图9的(b)所示,在被膜异常120不具有一定大小且较小的情况,被膜异常120在漆包线被膜12a的侧面12b的背后而照射光60照射不到被膜异常120,有无法检测被膜异常120的担忧。
并且,根据本发明的实施方式,由至少两个以上的接触部件41夹持漆包线12来搬运漆包线12,因而即使在漆包线12因某种原因而倾斜的情况、扭曲的情况下,也能够一边消除倾斜、扭曲一边进行被膜异常120的检测。因此,与图9所示的检测方法比较,能够抑制因照射光60照射不到被膜异常120而会引起的漏检测。
并且,由于两个接触部件41中的一个接触部件41沿与行进方向垂直的方向位移,所以两个接触部件41的轴间距离能够根据被膜异常120的高度而变化。由此,即使在被膜异常120的高度超过预定值的情况下,也能够避免被膜异常120与接触部件41的接触而妨碍漆包线12的搬运。
此外,本发明不限定于上述实施方式,能够实施各种变形。例如,导体10不限定于扁平线,也可以是圆线、异形线等。并且,在上述的实施方式中,举例在漆包线被膜12a的上表面12aa发生有被膜异常120的情况进行了说明,但即使在下表面12ab发生被膜异常120的情况下,也能够用相同的方法来检测。
并且,第一实施方式的结构和第二实施方式的结构可以作为分别的被膜异常检测装置4来构成,也可以设置在一个被膜异常检测装置4内。通过在一个被膜异常检测装置4内设置第一实施方式的结构和第二实施方式的结构,能够由一个被膜异常检测装置4来分别检测在漆包线被膜12a的上表面12aa、下表面12ab、以及四个角部12r发生的被膜异常120。
并且,并非一定限定于使可动的接触部件41A、41C以支轴461为支点并以与漆包线被膜12a的上表面12aa接触的点为作用点旋转而沿厚度方向或宽度方向位移的结构,例如,也可以构成为具备支撑可动的接触部件41A、41C的长度方向的两端部的支撑部(未图示),根据被膜异常120的高度来使可动的接触部件41A、41C以大致维持水平的状态向上侧位移。
并且,在第二实施方式中,不限定于使第三接触部件41C沿漆包线12的厚度方向可动的结构,也可以构成为使之沿漆包线12的宽度方向可动,即在卧式配置的情况下使之沿水平方向可动。具体而言,第三至第五接触部件41C、41D、41E也可以配置为,各中心轴O3、O4、O5成为与铅垂方向大致平行的方向,而且在宽度方向上夹持漆包线12并在俯视情况下相互错开。在该情况下,漆包线12的宽度方向是第二方向的一例。其中,在该情况下,需要将第三接触部件41C推压至漆包线12的侧面12b的机构例如弹簧等。
并且,在上述的实施方式中,在将接触部件41设置于在漆包线12的厚度方向上隔着漆包线12而对置的位置的情况下,在铅垂方向的上侧配置有第一接触部件41A及第三接触部件41C,并在铅垂方向的下侧配置有第二接触部件41B、第四接触部件41D以及第五接触部件41E,但也可以上下颠倒地配置,具体而言,也可以在下侧配置第一接触部件41A、第三接触部件41C,在上侧配置第二接触部件41B、第四接触部件41D以及第五接触部件41E。并且,同样,在将接触部件41设置于在漆包线12的宽度方向上隔着漆包线12而对置的位置的情况下,也可以左右颠倒地配置。
并且,接触部件41的个数不限定于上述的两个、三个,也可以根据所希望的检测灵敏度来适当地增加。再者,对支轴461设置于比第一接触部件41A靠漆包线12的行进方向的前方侧的位置的结构进行了说明,但也可以是支轴461设置于比第一接触部件41A靠漆包线12的行进方向的后方侧的位置的结构。

Claims (16)

1.一种漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,具备:
接触部件,其与沿一定方向呈线状移动的漆包线的漆包线被膜的表面接触,并根据在上述漆包线被膜的表面发生的被膜异常的高度来位移;和
位移计,其获取上述接触部件位移后的量。
2.根据权利要求1所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,
在将上述一定方向作为第一方向的情况下,
上述接触部件具备:
第一接触部件,其在与上述第一方向大致垂直的第二方向上位移;和
第二接触部件,其在上述第二方向上被固定地保持,并配置于上述漆包线的与上述第一接触部件侧的第一面相反一侧的第二面侧。
3.根据权利要求2所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,
上述第一接触部件被支撑为能够以支轴为支点旋转,上述支轴设置于比该第一接触部件靠上述第一方向的前方。
4.根据权利要求3所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,还具备:
放大部件,其与上述第一接触部件连接,并放大该第一接触部件在上述第二方向上的位移;和
固定部件,其在与上述放大部件的上述第一方向的后方侧的前端部对置的位置固定地支撑上述位移计,
固定后的上述位移计通过测定由上述放大部件放大后的上述前端部在上述第二方向上的位移量,来获取上述接触部件位移后的量。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,
上述第一接触部件及上述第二接触部件均由具有大致呈圆柱形状的形状的旋转体构成。
6.根据权利要求5所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,
上述第二接触部件设置于在上述第二方向上隔着上述漆包线而与上述第一接触部件对置的位置,
通过由上述第一接触部件和上述第二接触部件夹持上述漆包线被膜的一对对置的面,来检测在上述一对对置的面发生的被膜异常。
7.根据权利要求6所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,
上述第一接触部件及上述第二接触部件均配置为中心轴与上述第一方向正交,并且配置为相互大致平行。
8.根据权利要求6或7所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,
在沿厚度方向隔着上述漆包线而对置的位置,上述第一接触部件及上述第二接触部件设置为与上述漆包线被膜的上表面及下表面大致平行,
上述第一接触部件和上述第二接触部件分别接触上述上表面及上述下表面,从而检测在上述上表面或上述下表面产生的被膜异常。
9.根据权利要求6或7所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,
在沿宽度方向隔着上述漆包线而对置的位置,上述第一接触部件及上述第二接触部件设置为与上述漆包线被膜的侧面中的沿上述第一方向的一对侧面大致平行,
上述第一接触部件和上述第二接触部件与上述一对侧面分别接触,从而检测在上述一对侧面的任一面发生的被膜异常。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,
上述第一接触部件由第三接触部件构成,在该第三接触部件的大致呈圆柱状的形状的侧面,形成有具有在侧视情况下大致呈V字形形状的槽部。
11.根据权利要求10所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,
上述第二接触部件由具有与上述第三接触部件大致相同的形状的第四接触部件及第五接触部件构成,
上述第三接触部件、上述第四接触部件以及上述第五接触部件配置为隔着上述漆包线而相互错开,
通过由上述第三接触部件、上述第四接触部件以及上述第五接触部件中的至少任一方夹持上述漆包线,来检测在上述漆包线被膜的角部发生的被膜异常。
12.根据权利要求11所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,
上述第三接触部件、上述第四接触部件以及上述第五接触部件配置为在厚度方向上隔着上述漆包线而相互错开。
13.根据权利要求11所述的漆包线的被膜异常检测装置,其特征在于,
上述第三接触部件、上述第四接触部件以及上述第五接触部件配置为在宽度方向上隔着上述漆包线而相互错开。
14.一种漆包线的制造装置,其特征在于,具备:
涂料涂覆部,其对导体涂覆漆包线涂料;
退火炉,其进行上述漆包线涂料的烘烤来形成漆包线被膜;以及
权利要求1至10所述的漆包线的被膜异常检测装置,其检测在形后的上述漆包线被膜发生的被膜异常。
15.一种漆包线的被膜异常的检测方法,其特征在于,包括以下各工序:
使漆包线以预定速度沿一定方向呈线状移动的工序;
使用接触部件与移动中的上述漆包线的漆包线被膜接触的工序;
上述接触部件通过与在上述漆包线被膜的表面发生的被膜异常接触来根据上述异常的高度进行位移的工序;
放大上述接触部件的位移的工序;
将放大后的上述位移变换成输出电压来测定上述位移量的工序;以及
在上述输出电压超过预定阈值时判定为发生了上述被膜异常的工序。
16.一种漆包线的制造方法,其特征在于,包括以下各工序:
对导体涂覆漆包线涂料的工序;
进行上述漆包线涂料的烘烤来形成漆包线被膜的工序;以及
检测在上述漆包线被膜发生的被膜异常的权利要求15所述的工序。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112683181A (zh) * 2020-12-18 2021-04-20 鹰潭市恒洋线缆科技有限公司 一种简易漆包线漆膜厚度自动检测控制系统及生产设备

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112372600B (zh) * 2020-11-06 2022-09-23 中车青岛四方机车车辆股份有限公司 一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装及使用方法
CN113554854B (zh) * 2021-08-02 2022-08-05 铜陵兢强电子科技股份有限公司 漆包设备失速报警系统
CN114487362B (zh) * 2021-12-28 2023-08-15 浦谷机电科技(苏州)有限公司 一种漆包线表面油漆干燥程度检测设备
CN114988208B (zh) * 2022-04-27 2024-01-09 神宇通信科技股份公司 同轴电缆生产高度调节装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05196403A (ja) * 1992-01-22 1993-08-06 Hitachi Cable Ltd 線材・条材の寸法異常検知方法
JP2015202502A (ja) * 2014-04-11 2015-11-16 日立金属株式会社 金属導体線の伸線加工治具、該伸線加工治具を用いた金属導体線の製造方法、および該金属導体線の製造方法を利用したエナメル線の製造方法
JP2016142689A (ja) * 2015-02-04 2016-08-08 株式会社ジェイテクト 線材の送り量測定装置
CN108693199A (zh) * 2017-03-30 2018-10-23 住友化学株式会社 检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法
CN108886151A (zh) * 2016-03-17 2018-11-23 株式会社斯库林集团 涂膜检查装置、涂膜检查方法及膜-触媒层接合体的制造装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05196403A (ja) * 1992-01-22 1993-08-06 Hitachi Cable Ltd 線材・条材の寸法異常検知方法
JP2015202502A (ja) * 2014-04-11 2015-11-16 日立金属株式会社 金属導体線の伸線加工治具、該伸線加工治具を用いた金属導体線の製造方法、および該金属導体線の製造方法を利用したエナメル線の製造方法
JP2016142689A (ja) * 2015-02-04 2016-08-08 株式会社ジェイテクト 線材の送り量測定装置
CN108886151A (zh) * 2016-03-17 2018-11-23 株式会社斯库林集团 涂膜检查装置、涂膜检查方法及膜-触媒层接合体的制造装置
CN108693199A (zh) * 2017-03-30 2018-10-23 住友化学株式会社 检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112683181A (zh) * 2020-12-18 2021-04-20 鹰潭市恒洋线缆科技有限公司 一种简易漆包线漆膜厚度自动检测控制系统及生产设备

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