CN111142058A - 电阻检测装置及方法 - Google Patents

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CN111142058A CN202010000783.9A CN202010000783A CN111142058A CN 111142058 A CN111142058 A CN 111142058A CN 202010000783 A CN202010000783 A CN 202010000783A CN 111142058 A CN111142058 A CN 111142058A
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Abstract

本申请公开了一种电阻检测装置及方法。该电阻检测装置包括：电阻检测器，基于开关电容模块将参考电压转换为对比电流，并基于待测电阻将参考电压转换为测试电流，开关电容模块的等效电阻值受控于调节时钟信号的频率；振荡器，根据对比电流生成对比时钟信号，根据测试电流生成测试时钟信号；以及处理器，根据对比时钟信号的频率和测试时钟信号的频率之间的比例获得检测系数，检测系数指示待测电阻的电阻值与开关电容模块的等效电阻值的比值。该电阻检测装置采用开关电容模块作为精确电阻，降低了成本，提高了实用性，并且开关电容模块的等效电阻值易于控制，进一步提高了实用性和检测的准确度。

Description

电阻检测装置及方法
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域，更具体地，涉及一种电阻检测装置及方法。
背景技术
在芯片的制作过程中，采用集成电路制造工艺制造的芯片内(片上)电阻的阻值随工艺变化较大，通常难以直接制作出具有精确阻值的片上电阻，因此需要另外对芯片内电阻的阻值进行检测和校准。
在传统的片上电阻检测方法中，通常需要在具有片上电阻的芯片外部(片外)提供精确电阻作为参考，例如，将片上电阻与精确电阻并联，并对片上电阻的压降与外接精确电阻的压降进行比较，或将片上电阻与精确电阻串联分压，并对片上电阻的压降与外接精确电阻的压降进行比较，之后根据比较结果进行计算，并根据计算结果调节片上电阻的阻值，从而完成对片上电阻的检测和校准。
然而，传统的检测方法都是基于印刷电路板(Printed circuit board,PCB)能够提供精确电阻的基础上完成的，而外接精确电阻不利于降低成本，并且会限制应用场合。因此，亟需对现有技术的电阻检测装置进行进一步改进，以解决上述问题。
发明内容
鉴于上述问题，本发明的目的在于提供一种电阻检测装置及方法，从而降低了成本，并且提高了电路的实用性。
根据本发明的一方面，提供一种电阻检测装置，包括：电阻检测器，基于开关电容模块将参考电压转换为对比电流，并基于待测电阻将所述参考电压转换为测试电流，所述开关电容模块的等效电阻值受控于调节时钟信号的频率；振荡器，根据所述对比电流生成对比时钟信号，根据所述测试电流生成测试时钟信号；以及处理器，根据所述对比时钟信号的频率和所述测试时钟信号的频率之间的比例获得检测系数，所述检测系数指示所述待测电阻的电阻值与所述开关电容模块的等效电阻值的比值。
优选地，所述开关电容模块包括：时钟发生模块，根据所述调节时钟信号提供多个相位不同的子调节时钟信号；多个开关电容结构，分别接收所述子调节时钟信号，各个所述开关电容结构包括：串联连接的第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管的第一通路端接收所述参考电压，所述第二晶体管的第二通路端连接至参考地，所述第一晶体管的第二通路端和所述第二晶体管的第一通路端相连以提供串联节点，所述第一晶体管的控制端和所述第二晶体管的控制端相连并接收所述调节时钟信号；以及第一电容，所述第一电容的一端连接至所述串联节点，另一端连接至参考地，其中，所述开关电容模块的等效电阻值与所述调节时钟信号的频率和所述第一电容的电容值的乘积成反比。
优选地，还包括：校准器，包括多个校准电阻和分别连接至所述校准电阻的多个校准开关，所述校准器并联地耦接至所述待测电阻，并根据所述修正系数控制各个所述校准开关的导通与关断，以对所述待测电阻的电阻值进行校准。
优选地，还包括：电流电压发生器，提供所述参考电压和参考电流，所述电流电压发生器的等效电阻值为所述参考电压与所述参考电流的比值，其中，所述振荡器还适于根据所述参考电流生成参考时钟信号，所述处理器根据所述参考时钟信号的频率与所述对比时钟信号之间的比例获得调节系数，所述调节系数指示所述开关电容模块的电阻值与所述开关电容模块的等效电阻值的比值，所述处理器根据所述调节系数提供所述调节时钟信号。
优选地，所述电阻检测器还包括第一开关和第二开关，当所述第一开关导通时，所述开关电容模块经由所述第一开关接收所述参考电压以生成所述对比电流，当所述第二开关导通时，所述待测电阻经由所述第二开关接收所述参考电压以生成所述测试电流。
优选地，所述电阻检测器还包括：运算放大器，所述运算放大器的反相输入端接收所述参考电压，正相输入端连接至所述开关电容模块和所述待测电阻，输出端连接至所述正相输入端。
优选地，所述电阻检测器还包括：电流镜像电路，所述电流镜像电路的输入端分别连接至所述开关电容模块和所述待测电阻，输出端分别提供所述对比电流和所述测试电流。
根据本发明的另一方面，提供一种电阻检测方法，包括：基于开关电容模块将参考电压转换为对比电流；基于待测电阻将所述参考电压转换为测试电流；根据所述对比电流生成对比时钟信号，根据所述测试电流生成测试时钟信号；以及根据所述对比时钟信号的频率和所述测试时钟信号的频率之间的比例获得检测系数，所述检测系数指示所述待测电阻的电阻值与所述开关电容模块的等效电阻值的比值，其中，所述开关电容模块的等效电阻值受控于调节时钟信号的频率。
优选地，所述开关电容模块的等效电阻值与所述调节时钟信号的频率所述调节时钟信号的频率和所述第一电容的电容值的乘积成反比。
优选地，还包括：根据所述检测系数对所述待测电阻的电阻值进行校准。
优选地，还包括：基于电流电压发生器提供所述参考电压和参考电流；根据所述参考电流生成参考时钟信号；根据所述参考时钟信号的频率与所述对比时钟信号之间的比例获得调节系数，所述调节系数指示所述开关电容模块的电阻值与所述电流电压发生器的等效电阻值的比值；以及根据所述调节系数提供所述调节时钟信号。
本发明提供的电阻检测装置及方法，采用开关电容模块提供对比电流，再检测待测电阻的测试电流，可以获得待测电阻的阻值，由于开关电容模块的等效电阻值大小与调节时钟信号的频率和开关电容模块中电容的电容值相关，现有工艺中电容的精度高，调节时钟信号的频率精确可控，因此开关电容模块可以作为精确电阻，降低了成本。
进一步地，开关电容模块的等效电阻值可以根据调节时钟信号的频率精确调控，因此该电阻检测装置及方法可以适用多种待测电阻，即使多种待测电阻的电阻值差异很大，也可以通过调节调节时钟信号的频率来精确调节开关电容模块的等效电阻值，进一步提高了实用性。
进一步地，当对比电流和测试电流的差异较大时，可以调节调节时钟信号的频率以调节开关电容模块的等效电阻值，从而提高检测精度。
进一步地，采用校准器可以根据检测系数方便地实现对待测电阻的校准，使得待测电阻的电阻值等于或接近于预期电阻值。进一步地，振荡器通过采用电流电压发生器提供的参考电流生成参考时钟信号，通过检测参考时钟信号与对比时钟信号之间的比值(即调节系数)，可以灵活控制调节时钟信号的频率，以灵活调节开关电容模块的等效电容值，即可以灵活调节预期电阻值。
附图说明
通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
图1示出了根据本发明实施例的电阻检测装置的示意图；
图2示出了根据本发明实施例的电阻检测器的电路示意图；
图3示出了根据本发明实施例的开关电容模块的电路示意图；
图4示出了根据本发明实施例的电阻检测方法的流程图。
附图标记列表
100 电阻检测装置
110 电流电压发生器
120 电阻检测器
121 运算放大器
122 开关电容模块
1221 时钟发生模块
1222 开关电容结构
123 待测电阻
124 电流镜像电路
130 振荡器
140 处理器
150 校准器
具体实施方式
以下将参照附图更详细地描述本发明的各种实施例。在各个附图中，相同的元件采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。
应当理解，在描述电路的结构时，当一个电子元器件“连接至”另一个电子元器件时，可以指直接连接至另一个电子元器件，或者在其与另一个电子元器件之间还包含其他的电子元器件；当一个电子元器件“接收”一个信号时，可以指直接接收一个信号，或者经由其他电子元器件接收一个信号。
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。
图1示出了根据本发明实施例的电阻检测装置的示意图。
如图1所示，电阻检测装置100包括电流电压发生器110、电阻检测器120、振荡器130以及处理器140，电阻检测装置100用于检测位于待测电阻的电阻值。
电流电压发生器110用于提供参考电压VREF和参考电流IREF，其中，参考电压VREF提供电阻检测器120的工作电压，参考电流IREF提供振荡器130的工作电流。
电阻检测器120连接至电流电压发生器110的电压输出端，用于根据参考电压VREF生成对比电流IFC和测试电流IOUT。电阻检测器120包括开关电容模块、第一开关和第二开关，开关电容模块的等效电阻值受控于调节时钟信号CLK的频率。开关电容模块经由第一开关连接至参考电压VREF，当电阻检测装置100对待测电阻进行检测时，将电阻检测器120电连接至待测电阻，待测电阻经由第二开关连接至参考电压VREF。当第一开关导通时，开关电容模块经由第一开关接收参考电压VREF以生成对比电流IFC，当第二开关导通时，待测电阻经由第二开关接收参考电压VREF以生成测试电流IOUT。在检测过程中的不同阶段，通过控制第一开关和第二开关的导通与关断，以分别检测流经开关电容模块和待测电阻的对比电流IFC和测试电流IOUT。
振荡器130用于根据对比电流IFC生成对比时钟信号CLKFC，根据测试电流ITSET生成测试时钟信号CLKOUT，其中，振荡器130的输出频率与输入电流成正比关系，并且输出频率可以根据输出时钟信号获得。振荡器130的电路结构可以采用现有技术的任意一种振荡器，在此不再详细赘述其电路结构。
处理器140用于根据对比时钟信号CLKFC的频率和测试时钟信号CLKOUT的频率之间的比例获得检测系数KOUT，以检测待测电阻。在该实施例中，处理器140还接收参考时钟信号CLKREF，处理器140在参考时钟信号CLKREF的周期内分别采集振荡器130输出的对比时钟信号CLKFC的第一频率和测试时钟信号CLKOUT的第二频率，以根据第一频率和第二频率的比例计算检测系数KOUT，检测系数KOUT指示待测电阻的电阻值与开关电容模块的等效电阻值的比值，从而可以根据检测系数KOUT获得待测电阻的电阻值。
更具体地，由于振荡器130的输出频率与输入电流成正比关系，因此，对比时钟信号CLKFC的频率f1＝KICO*IFC＝KICO*VREF/R1，测试时钟信号CLKOUT的频率f2＝KICO*IOUT＝KICO*VREF/R2，因此，
Figure BDA0002353311410000061
其中，f1为第一频率，f2为第二频率，KICO为振荡器130的增益系数，R1为开关电容模块的等效电阻值，R2为待测电阻的电阻值。在该实施例中，开关电容模块的等效电阻值与调节时钟信号CLK的频率以及开关电容模块中电容的电容值相关，更具体地，开关电容模块的等效电阻值与调节时钟信号CLK的频率和开关电容模块中电容的电容值的乘积成反比。
在该实施例中，由于开关电容模块的等效电阻值与调节时钟信号CLK的频率以及开关电容模块中电容的电容值相关，先进CMOS工艺中电容的精度较高，调节时钟信号CLK的频率的精确可控，因此开关电容模块的等效电阻值也是精确可控的。因此，该电阻检测装置100可以通过调节调节时钟信号CLK的频率以适用于多种电阻值不同的待测电阻；并且当发现对比电流IFC和测试电流IOUT的差异较大时，可以调节调节时钟信号CLK的频率以提高检测精度。
在该实施例中，在电阻检测装置100对待测电阻进行检测的过程中，至少包括第一阶段和第二阶段。在第一阶段，电阻检测器120根据参考电压VREF和调节时钟信号CLK生成对比电流IFC，振荡器130根据对比电流IFC生成对比时钟信号CLKFC；在第二阶段，电阻检测器120根据参考电压VREF生成测试电流IOUT，振荡器130根据测试电流IOUT生成测试时钟信号CLKOUT，从而处理器140根据对比时钟信号CLKFC和测试时钟信号CLKOUT获得检测系数KOUT，以检测待测电阻，其中，在第一阶段，采用开关电容模块接收参考电压VREF以生成对比电流IFC。优选地，开关电容模块的等效电阻值与调节时钟信号CLK的频率成反比。优选地，根据对比时钟信号OLK1和测试时钟信号CLKOUT获得第一频率和第二频率，并根据第一频率和第二频率获得检测系数KOUT。优选地，检测系数KOUT为第一频率与第二频率的比值。
在优选的实施例中，电阻检测装置100还包括连接至处理器140的校准器150，校准器150内包括多个校准电阻和分别连接至校准电阻的多个校准开关，校准器150串联地和/或并联地连接至待测电阻，并根据检测系数控制各个校准开关的导通与关断，以对待测电阻的电阻值进行校准。在该实施例中，待测电阻的预期电阻值例如是开关电容模块的等效电阻值，则待测电阻是预期电阻值与检测系数KOUT的乘积，处理器140控制校准器150向待测电阻并联KOUT个与待测电阻相等的校准电阻即可实现预期电阻值。
在优选的实施例中，振荡器130还用于根据参考电流IREF生成参考时钟信号CLKREF，处理器140根据参考时钟信号CLKREF的频率与对比时钟信号CLKFC之间的比例获得调节系数，调节系数指示开关电容模块的电阻值与电流电压发生器110的等效电阻值的比值，处理器140根据调节系数提供调节时钟信号CLK。在该实施例中，通过检测参考时钟信号CLKREF的频率与对比时钟信号CLKFC之间的比值(即调节系数)，可以灵活控制调节时钟信号CLK的频率，以灵活调节开关电容模块的等效电容值，即可以灵活调节预期电阻值。
图2示出了根据本发明实施例的电阻检测器的电路示意图。
如图2所示，电阻检测器120包括运算放大器121和开关电容模块122，当电阻检测装置对待测电阻进行检测时，将电阻检测器120电连接至待测电阻123。
运算放大器121的反相输入端接收参考电压VREF，正相输入端分别连接至开关电容模块122和待测电阻123，输出端连接至正相输入端。运算放大器121的连接方式构成了电压跟随器，即稳压器，用于对参考电压VREF的电压值进行稳压，避免参考电压VREF的电压值波动造成的检测结果不准确的问题。在优选的实施例中，待测电阻123位于芯片内，在芯片内还包括运算放大器，采用芯片内原有的运算放大器作为电阻检测器120的运算放大器121，以降低成本和电阻检测电路占用的体积。在替代的实施例中，可以省去运算放大器121，直接采用参考电压VREF连接至开关电容模块122和待测电阻123，参考电压VREF例如为稳压器等稳定电流电压发生器提供的电压。
开关电容模块122接收参考电压VREF和调节时钟信号CLK，待测电阻123接收参考电压VREF，以分别提供对比电流IFC和测试电流IOUT。在该实施例中，开关电容模块122为开关电容模块R1，待测电阻123包括待测电阻R2和待测电阻R3，测试电流包括测试电流IOUT1和测试电流IOUT2，开关电容模块R1与参考电压VREF之间连接有第一开关S1，待测电阻R2与参考电压VREF之间连接有第二开关S2，待测电阻R3与参考电压VREF之间连接有第三开关S3。
在该实施例中，包含该电阻检测器120的电阻检测装置可以同时检测待测电阻R2和待测电阻R3的电阻值，在对待测电阻进行检测的过程中，在第一阶段，第一开关S1导通，第二开关S2和第三开关S3关断，电阻检测器120的开关电容模块R1根据参考电压VREF和调节时钟信号CLK生成对比电流IFC；在第二阶段，第二开关S2导通，第一开关S1和第三开关S3关断，电阻检测器120的待测电阻R2根据参考电压VREF生成测试电流IOUT1；在第三阶段，第三开关S3导通，第一开关S1和第二开关S2关断，电阻检测器120的待测电阻R3根据参考电压VREF生成测试电流IOUT2。在获得对比电流IFC、测试电流IOUT1和测试电流IOUT2之后，电阻检测装置的其他部分分别根据对比电流IFC、测试电流IOUT1和测试电流IOUT2生成多个时钟信号，并从多个时钟信号中提取多个频率，根据多个频率分别获得待测电阻R2和待测电阻R3的检测系数，以分别获得待测电阻R2和待测电阻R3的电阻值。
在优选的实施例中，电阻检测器120还包括电流镜像电路124，用于对电流进行复制和放大，电流镜像电路124的输入端分别连接至开关电容模块122和待测电阻123，输出端分别提供对比电流IFC和测试电流，测试电流例如包括测试电流IOUT1和测试电流IOUT2。在该实施例中，电流镜像电路124例如包括输入晶体管PM0和输出晶体管PM1，输入晶体管PM0的第一通路端和输出晶体管PM1的第一通路端共同连接至高电平电压VDD，输入晶体管PM0的控制端和输出晶体管PM1的控制端共同连接至运算放大器121的输出端以接收参考电压VREF，输入晶体管PM0的第二通路端分别连接至开关电容模块R1、待测电阻R2和待测电阻R3，以接收对比电流IFC、测试电流IOUT1和测试电流IOUT2，输出晶体管PM1的第二通路端接收并提供对比电流IFC、测试电流IOUT1和测试电流IOUT2。
图3示出了根据本发明实施例的开关电容模块的电路示意图。
如图3所示，开关电容模块122包括时钟发生模块1221和多个开关电容结构1222。时钟发生模块1221用于根据调节时钟信号CLK提供多个相位不同的子调节时钟信号，多个开关电容结构1222分别接收所述子调节时钟信号。
各个开关电容结构1222包括串联连接的第一晶体管PM2和第二晶体管NM2以及第一电容C1，第一晶体管PM2的第一通路端接收参考电压，第二晶体管NM2的第二通路端连接至参考地，第一晶体管PM2的控制端和第二晶体管NM2的控制端相连并接收调节时钟信号CK1，第一晶体管PM2的第二通路端和第二晶体管NM2的第一通路端相连以提供串联节点，第一电容C1的一端连接至串联节点，另一端连接至参考地。
在该实施例中，时钟发生模块1221根据调节时钟信号CLK生成子调节时钟信号CK1和子调节时钟信号CK2，子调节时钟信号CK1和子调节时钟信号CK2例如是互补的时钟信号，开关电容模块122包括两个开关电容结构1222，两个开关电容结构1222中的第一电容C1和第二电容C2的电容值相等。两个开关电容结构1222分别接收子调节时钟信号CK1和子调节时钟信号CK2，从而开关电容模块122可以根据参考电压VREF生成稳定的比较电流。
在该实施例中，开关电容模块122的等效电阻值与调节时钟信号CLK的频率成反比。更具体地，开关电容模块122的等效电阻值为R1＝1/(fREF*C1)，其中，R1为开关电容模块122的等效电阻值，fREF为调节时钟信号CLK的频率，C1为第一电容C1的电容值。由于调节时钟信号CLK的频率fREF可以精确控制，且先进CMOS工艺中电容的精度较高，所以可以将开关电容模块122视为较为精确电阻，与传统的电阻检测装置直接采用精确电阻检测待测电阻相比，采用开关电容模块122代替精确电阻有利于降低成本，并且扩大了电阻检测装置的适用范围，提到了电阻检测装置的实用性。
在优选的实施例中，开关电容模块122的数量为多个，多个开关电容模块122并联连接，以提高开关电容模块122提供的对比电流的准确度，并使得开关电容模块122的等效电阻值易于调控。如图3所示，开关电容模块122的数量为两个，第二个开关电容模块122包括第三晶体管PM3和第四晶体管NM3以及第二电容C2，第三晶体管PM3和第四晶体管NM3和第二电容C2与第一晶体管PM2和第二晶体管NM2和第一电容C1的连接方式相同，在此不再赘述。
图4示出了根据本发明实施例的电阻检测方法的流程图。
在步骤S10中，基于电流电压发生器提供参考电压和参考电流。
在步骤S10中，基于开关电容模块将参考电压转换为对比电流。其中，开关电容模块的等效电阻值受控于调节时钟信号的频率。具体的，开关电容模块的等效电阻值与调节时钟信号的频率调节时钟信号的频率和第一电容的电容值的乘积成反比。
在步骤S30中，基于待测电阻将参考电压转换为测试电流。在该步骤中，将电阻检测装置连接至待测电阻，待测电阻接收参考电压以生成测试电流，测试电流为参考电压与待测电阻的电阻值的比值。
在步骤S40中，根据对比电流生成对比时钟信号，根据测试电流生成测试时钟信号。在该步骤中，采用振荡器根据对比电流生成对比时钟信号，根据测试电流生成测试时钟信号，对比时钟信号的第一频率与对比电流的大小相关，测试时钟信号的第二频率与测试电流的大小相关。
在步骤S50中，根据对比时钟信号的频率和测试时钟信号的频率之间的比例获得检测系数，检测系数指示待测电阻的电阻值与开关电容模块的等效电阻值的比值。在该步骤中，处理器接收根据对比时钟信号、测试时钟信号和参考时钟信号，并在参考时钟信号的周期内分别采集对比时钟信号的第一频率和测试时钟信号的第二频率，并根据第一频率和第二频率之间的比例获得检测系数，其中，待测电阻的电阻值为开关电容模块的等效电阻值与检测系数的乘积。
优选地，在步骤S50之后，根据检测系数对待测电阻的电阻值进行校准。例如，待测电阻连接有校准器，校准器包括多个校准电阻和分别连接至校准电阻的多个校准开关，校准器根据检测系数控制各个校准开关的导通与关断，以对待测电阻的电阻值进行校准，使得待测电阻达到预期电阻值。
在优选的实施例中，在步骤S40中，还包括根据参考电流生成参考时钟信号，在步骤S50中，还包括根据参考时钟信号的频率与对比时钟信号之间的比例获得调节系数，调节系数指示开关电容模块的电阻值与电流电压发生器的等效电阻值的比值，并根据调节系数提供调节时钟信号。在该实施例中，通过检测参考时钟信号的频率与对比时钟信号之间的比值(即调节系数)，可以灵活控制调节时钟信号的频率，以灵活调节开关电容模块的等效电容值，即可以灵活调节预期电阻值。
依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (11)

1.一种电阻检测装置，其特征在于，包括：
电阻检测器，基于开关电容模块将参考电压转换为对比电流，并基于待测电阻将所述参考电压转换为测试电流，所述开关电容模块的等效电阻值受控于调节时钟信号的频率；
振荡器，根据所述对比电流生成对比时钟信号，根据所述测试电流生成测试时钟信号；以及
处理器，根据所述对比时钟信号的频率和所述测试时钟信号的频率之间的比例获得检测系数，所述检测系数指示所述待测电阻的电阻值与所述开关电容模块的等效电阻值的比值。
2.根据权利要求1所述的电阻检测装置，其特征在于，所述开关电容模块包括：
时钟发生模块，根据所述调节时钟信号提供多个相位不同的子调节时钟信号；
多个开关电容结构，分别接收所述子调节时钟信号，
各个所述开关电容结构包括：
串联连接的第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管的第一通路端接收所述参考电压，所述第二晶体管的第二通路端连接至参考地，所述第一晶体管的第二通路端和所述第二晶体管的第一通路端相连以提供串联节点，所述第一晶体管的控制端和所述第二晶体管的控制端相连并接收所述调节时钟信号；以及
第一电容，所述第一电容的一端连接至所述串联节点，另一端连接至参考地，
其中，所述开关电容模块的等效电阻值与所述调节时钟信号的频率和所述第一电容的电容值的乘积成反比。
3.根据权利要求1所述的电阻检测装置，其特征在于，还包括：校准器，包括多个校准电阻和分别连接至所述校准电阻的多个校准开关，所述校准器并联地耦接至所述待测电阻，并根据所述修正系数控制各个所述校准开关的导通与关断，以对所述待测电阻的电阻值进行校准。
4.根据权利要求1所述的电阻检测装置，其特征在于，还包括：
电流电压发生器，提供所述参考电压和参考电流，所述电流电压发生器的等效电阻值为所述参考电压与所述参考电流的比值，
其中，所述振荡器还适于根据所述参考电流生成参考时钟信号，
所述处理器根据所述参考时钟信号的频率与所述对比时钟信号之间的比例获得调节系数，所述调节系数指示所述开关电容模块的电阻值与所述电流电压发生器的等效电阻值的比值，所述处理器根据所述调节系数提供所述调节时钟信号。
5.根据权利要求1所述的电阻检测装置，其特征在于，其中，所述电阻检测器还包括第一开关和第二开关，
当所述第一开关导通时，所述开关电容模块经由所述第一开关接收所述参考电压以生成所述对比电流，
当所述第二开关导通时，所述待测电阻经由所述第二开关接收所述参考电压以生成所述测试电流。
6.根据权利要求1所述的电阻检测装置，其特征在于，所述电阻检测器还包括：运算放大器，所述运算放大器的反相输入端接收所述参考电压，正相输入端连接至所述开关电容模块和所述待测电阻，输出端连接至所述正相输入端。
7.根据权利要求1所述的电阻检测装置，其特征在于，所述电阻检测器还包括：电流镜像电路，所述电流镜像电路的输入端分别连接至所述开关电容模块和所述待测电阻，输出端分别提供所述对比电流和所述测试电流。
8.一种电阻检测方法，其特征在于，包括：
基于开关电容模块将参考电压转换为对比电流；
基于待测电阻将所述参考电压转换为测试电流；
根据所述对比电流生成对比时钟信号，根据所述测试电流生成测试时钟信号；以及
根据所述对比时钟信号的频率和所述测试时钟信号的频率之间的比例获得检测系数，所述检测系数指示所述待测电阻的电阻值与所述开关电容模块的等效电阻值的比值，
其中，所述开关电容模块的等效电阻值受控于调节时钟信号的频率。
9.根据权利要求8所述的电阻检测方法，其特征在于，所述开关电容模块的等效电阻值与所述调节时钟信号的频率所述调节时钟信号的频率和所述第一电容的电容值的乘积成反比。
10.根据权利要求8所述的电阻检测方法，其特征在于，还包括：根据所述检测系数对所述待测电阻的电阻值进行校准。
11.根据权利要求8所述的电阻检测方法，其特征在于，还包括：
基于电流电压发生器提供所述参考电压和参考电流；
根据所述参考电流生成参考时钟信号；
根据所述参考时钟信号的频率与所述对比时钟信号之间的比例获得调节系数，所述调节系数指示所述开关电容模块的电阻值与所述电流电压发生器的等效电阻值的比值；以及
根据所述调节系数提供所述调节时钟信号。
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