CN111024469A - 一种测试漆包线偏心度的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种测试漆包线偏心度的方法，包括沿漆包线周向卷绕胶带后，将卷绕胶带的部分截断，对得到的截面依次进行磨光和抛光，最后在金相显微镜下观察。该方法能够快速实现漆包线的固定，在磨光和抛光时漆包线不会弯曲变形，且待测截面完整且垂直于漆包线。相对于传统的金相镶嵌料，本发明的制样方法高效经济，制样效率提升600％以上，每个试样可节约15g金相镶嵌料。

Description

一种测试漆包线偏心度的方法
技术领域
本发明涉及漆包线质量控制技术领域，具体涉及一种测试漆包线偏心度的方法。
背景技术
漆包线是将裸线退火软化后，再经过多次涂漆、烘焙制备得到。漆包线漆膜偏心度大小会对成品漆包线的各项性能产生不同程度的影响，所以生产厂家会严格控制漆膜偏心度的大小。漆膜偏心度是垂直于漆包线某一横截面上的最大漆膜厚度与最小漆膜厚度的比值。目前，测量漆膜偏心度普遍的方法是：将漆包线垂直固定在金相镶嵌料中，然后进行磨光(包括粗磨和细磨)和抛光，最后在金相显微镜下进行观察和测量。
金相制样的好坏直接影响着检验结果准确与否，不正确的操作可能得出错误的结论，所以金相制样过程尤其重要。制样过程的关键技术是：保证漆包线测量横截面与漆包线垂直。目前制样所用的耗材为金相镶嵌料，其分为热镶嵌料和冷镶嵌料。热镶嵌料完全定型需要0.5～1小时。冷镶嵌料定型需要1～3小时。生产厂家为了生产出符合要求的漆包线，一般都需要对机台上首盘漆包线漆膜偏心度进行测量。冷热镶嵌材料定型需要的时间都较长，当测完偏心度后，产线已经生产大量可能不合格的漆包线。因此需要提供一种快速测试漆包线漆膜偏心度的方法。
鉴于此，特提出本发明。
发明内容
本发明的目的在于提供一种测试漆包线偏心度的方法。
为实现上述目的，本发明的技术方案如下：
本发明涉及一种测试漆包线偏心度的方法，包括以下步骤：
(1)沿漆包线周向卷绕胶带后，将卷绕胶带的部分截断，得到胶带包裹的漆包线截面；
(2)对所述截面依次进行磨光和抛光，最后在金相显微镜下观察。
优选地，步骤(1)中，所述漆包线的直径≥0.30mm。
优选地，步骤(1)中，先在所述漆包线表面涂覆胶层，然后在所述胶层表面卷绕胶带。
优选地，步骤(1)中，在距离所述漆包线一端1～2cm处涂覆胶层。
优选地，步骤(1)中，在所述漆包线表面包裹一层双面胶带，所述双面胶带包括隔离膜和涂覆有胶粘剂的基材，将所述隔离膜除去即得到所述胶层。
优选地，步骤(1)中，在所述漆包线表面涂覆胶层后，将所述漆包线固定在绕卷设备上，然后在所述胶层表面卷绕胶带，得到卷绕胶带层。
优选地，所述卷绕胶带层的单边厚度为0.4～0.6cm。
优选地，步骤(2)中，所述磨光包括粗磨和细磨，所述粗磨用于去除切割变形层，所述细磨用于去除粗磨产生的表面变形和细划痕。
优选地，步骤(2)中，所述抛光通过绒布抛光机实现，用于去除所述截面表面的细微划痕，使截面表面呈光亮的镜面；
优选地，步骤(2)中，用金相显微镜对抛光后的截面进行显微观察，在10倍目镜下选择5～100倍物镜，并拍摄显微照片。
本发明的有益效果：
本发明提供了一种测试漆包线偏心度的方法，包括沿漆包线周向卷绕胶带后，将卷绕胶带的部分截断，对得到的截面依次进行磨光和抛光，最后在金相显微镜下观察。该方法能够快速实现漆包线的固定，在磨光和抛光时漆包线不会弯曲变形，且待测截面完整且垂直于漆包线。相对于传统的金相镶嵌料，本发明的制样方法高效经济，制样效率提升600％以上，每个试样可节约15g金相镶嵌料。
附图说明
图1为用双面胶带将漆包线包裹的照片；
图2为将漆包线固定在绕卷设备上的照片；
图3为在漆包线表面卷绕胶带的照片；
图4为磨光和抛光后胶带包裹的漆包线截面的照片；
图5为显微镜下漆包线截面的照片。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本发明的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本发明所保护的范围。
本发明实施例涉及一种测试漆包线偏心度的方法，包括以下步骤：
(1)沿漆包线周向卷绕胶带后，将卷绕胶带的部分截断，得到胶带包裹的漆包线截面。
在本发明的一个实施例中，用于测试的漆包线直径≥0.30mm。如漆包线直径过小，漆包线过于柔软，将其固定在绕卷设备后，随着卷绕胶带圈数越多，样品重量越大，漆包线无法笔直固定在绕卷设备，也无法将胶带均匀缠绕在漆包线表面。
在本发明的一个实施例中，可先在漆包线表面涂覆胶层，然后在胶层表面卷绕胶带。由于胶层的粘接性更强，将其作为介质可以使胶带与漆包线紧密贴合。胶层可以将压敏胶直接涂覆于漆包线表面制得，也可以如图1所示，在漆包线表面包裹一层双面胶带，后一种方式更为简便。通常双面胶带是以纸、布、塑料薄膜为基材，再将弹性体型压敏胶或树脂型压敏胶均匀涂布在上述基材上制成的卷状胶粘带。双面胶带包括隔离膜和涂覆有胶粘剂的基材，将隔离膜除去即得到胶层。
在本发明的一个实施例中，在距离漆包线一端1～2cm处涂覆胶层。如涂覆胶层的位置距离漆包线端部过短，漆包线无法笔直固定在绕卷设备。该距离过长，需要绕卷设备更换更长的夹具，否则漆包线也无法笔直固定在卷绕设备。
在本发明的一个具体实施例中，在漆包线表面包裹一层双面胶带后，将隔离膜除去得到胶层。然后如图2和3所示，将漆包线固定在绕卷设备上，在胶层表面卷绕胶带。卷绕速度可以为50～60r/min，得到卷绕胶带层。采用这种方式可以将漆包线快速固定，在磨光和抛光时漆包线不会弯曲、变形。然后将卷绕胶带的部分截断。可以直接用剪刀从卷绕胶带的部分将漆包线剪断，截面部分的漆包线可稍长于卷绕胶带的部分，在磨光环节时，多余的漆包线会被磨掉。如图4所示，得到的待测截面完整且垂直于漆包线，便于后续在金相显微镜下观察。
进一步地，卷绕胶带层的单边厚度为0.4～0.6cm。卷绕胶带层的厚度过小，在磨光、抛光和截断过程中提供的缓冲不足，漆包线易发生弯曲、变形；卷绕胶带层的厚度过大，卷绕胶带层的重量过重，漆包线无法笔直固定在绕卷设备上，不利于测量的准确性；同时胶带用量和卷绕时间相应延长。
(2)得到胶带包裹的漆包线截面后，对截面依次进行磨光和抛光，最后在金相显微镜下观察，对显微图像进行分析或拍照后用图像软件分析。
在本发明的一个实施例中，磨光包括粗磨和细磨，粗磨用于去除切割变形层，然后进行细磨用于去除粗磨产生的表面变形和细划痕。抛光通过绒布抛光机实现，用于去除截面表面的细微划痕，使截面表面呈光亮的镜面。
在本发明的一个具体实施例中，可以在金相预磨机上用200#金相砂纸对胶带包裹的漆包线截面进行粗磨，将漆包线的头部磨掉1～2mm，去除切割产生的形变层，再用600#、800#、1000#至2000#号金相砂纸按顺序进行细磨，去除粗磨阶段产生的表面变形和细划痕，磨制期间需用水冲洗、冷却试样，磨制的横截面必须与漆包线试样垂直。将经细砂纸精磨过的试样，在装有绒布的抛光机上进行抛光处理，抛光机转速为300～500r/min，抛光压力为1～2N，去除截面表面经细磨留下的细微划痕，使截面成为光亮无痕的抛光镜面。
抛光完成后，可利用倒置式金相显微镜对试样截面进行拍照分析。根据不同线径的试样，在10倍的目镜下选择5～100倍放大倍数的物镜，选择放大倍数以在视场中可清晰看见金属截面和漆膜即可。可选用DT2000图象分析软件分别对截面上、下、左、右四个方向的每一漆膜厚度进行测量，记录数据。
根据显微镜像原理，以及漆包线试样不同组成物的光反射特征，即反射明暗程度不同，用显微镜在可见光范围内对这些组成物进行定量测量。如图5所示，图中白亮相为金属相，是铜导体；黑色相为非金属相，为漆膜层；灰黑色相为嵌料层。
相对于传统的采用金相镶嵌料测试漆包线漆膜偏心度的方法，本发明提供的制样方法高效、经济，可通过简易材质在3～5分钟内将漆包线笔直固定，不产生变形。该方法缩短了将漆包线镶嵌于压块(即制样)所需时间，制样效率提升600％以上，每个试样可节约15g金相镶嵌料。
实施例1
一种测试漆包线偏心度的方法，包括以下步骤：
(1)在距离漆包线一端1cm处，取长度为1cm的双面胶带紧密包裹漆包线一圈，该漆包线的直径为0.60mm。
(2)将包裹双面胶的漆包线固定在绕卷机上漆包线处于水平方向，除去双面胶带的隔离膜，保留胶层。
(3)将透明胶带的端部粘附于胶层，透明胶带的缠绕方向与漆包线长度方向垂直。启动卷绕机使透明胶带紧密的缠绕在漆包线上，卷绕速度为54r/min，得到卷绕胶带层。卷绕胶带层的单边厚度为0.5cm。
(4)将卷绕胶带的部分截断，对截面依次进行磨光和抛光，最后在金相显微镜下观察，对显微图像进行分析或拍照后用图像软件分析。
改变实施例1参数，得到实施例2～7，具体设置方式见表1。
表1
实施例2 步骤(1)未采用双面胶带包裹漆包线，直接在漆包线上缠绕透明胶带
实施例3 步骤(1)在距离漆包线一端10cm处用双面胶带包裹漆包线一圈
实施例4 步骤(3)中卷绕胶带层的单边厚度为0.1cm
实施例5 步骤(3)中卷绕胶带层的单边厚度为0.4cm
实施例6 步骤(3)中卷绕胶带层的单边厚度为0.6cm
实施例7 步骤(3)中卷绕胶带层的单边厚度为1.5cm
测定上述实施例1～7中，进行步骤(1)～(3)所需的固定时间，以及在金相显微镜下观察漆包线偏心度，结果见表2。
表2
Figure BDA0002336628750000061
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种测试漆包线偏心度的方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)沿漆包线周向卷绕胶带后，将卷绕胶带的部分截断，得到胶带包裹的漆包线截面；
(2)对所述截面依次进行磨光和抛光，最后在金相显微镜下观察。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述漆包线的直径≥0.30mm。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，先在所述漆包线表面涂覆胶层，然后在所述胶层表面卷绕胶带。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，在距离所述漆包线一端1～2cm处涂覆胶层。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，在所述漆包线表面包裹一层双面胶带，所述双面胶带包括隔离膜和涂覆有胶粘剂的基材，将所述隔离膜除去即得到所述胶层。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，步骤(1)中，在所述漆包线表面涂覆胶层后，将所述漆包线固定在绕卷设备上，然后在所述胶层表面卷绕胶带，得到卷绕胶带层。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述卷绕胶带层的单边厚度为0.4～0.6cm。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2)中，所述磨光包括粗磨和细磨。
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2)中，所述抛光通过绒布抛光机实现。
10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2)中，用金相显微镜对抛光后的截面进行显微观察，在10倍目镜下选择5～100倍物镜，并拍摄显微照片。
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