CN110737559A - 一种soe功能自动化测试系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种SOE功能自动化测试系统及方法，上位机可以将SOE事件设置信息对应的序列数组发送至SOE信号发生器中的PXI6251板卡，PXI6251板卡基于序列数组生成第一SOE事件发送至转接端子板，转接端子板将第一SOE事件转换为符合待测DCS系统采样条件的第二SOE事件，上位机读取待测DCS系统通过解析第二SOE事件所记录的SOE事件信息、并与SOE事件设置信息对比得到待测DCS系统的SOE功能测试结果。基于本发明可以实现SOE事件发生、事件记录读取和测试结果输出的全流程自动化操作，实现了SOE功能自动化测试。
Description
技术领域
本发明涉及硬件测试技术领域，更具体地说，涉及一种SOE功能自动化测试系统及方法。
背景技术
在工业应用现场，随着生产规模的扩大，DCS(Distributed Control System，集散控制系统)应用日益规模化、复杂化。DCS的SOE(Sequence Of Events，事件记录)功能以毫秒级的分辨率获取并记录现场设备开关量状态的变化信息，为现场设备和仪表事故分析提供有效的线索和证据，对现代企业自动化生产过程运行状态的检测、记录以及发生事故后的技术分析起着重要作用。
因此，设计一种满足行业标准要求的用于检测DCS的SOE功能的自动化测试方案，是本领域技术人员亟需解决的问题。
发明内容
有鉴于此，为解决上述问题，本发明提供一种SOE功能自动化测试系统及方法。技术方案如下：
一种SOE功能自动化测试系统，所述系统包括：上位机、SOE信号发生器、转接端子板和待测DCS系统，SOE信号发生器中包含PXI6251板卡；
所述上位机的输出端与所述PXI6251板卡的输入端连接，所述PXI6251板卡的输出端与所述转接端子板的输入端连接，所述转接端子板的输出端与所述待测DCS系统的输入端连接，所述待测DCS系统的输出端与所述上位机的输入端连接；
所述上位机，用于获取SOE事件设置信息，并将所述SOE事件设置信息对应的序列数组发送至所述PXI6251板卡；
所述PXI6251板卡，用于基于所述序列数组生成第一SOE事件，并将所述第一SOE事件发送至所述转接端子板；
所述转接端子板，用于将所述第一SOE事件转换为符合所述待测DCS系统的采样条件的第二SOE事件，并将所述第二SOE事件发送至所述待测DCS系统；
所述上位机，还用于读取所述待测DCS系统中记录的SOE事件信息，所述SOE事件信息是所述待测DCS系统解析所述第二SOE事件的结果；对比所述SOE事件信息和所述SOE事件设置信息得到所述待测DCS系统的SOE功能测试结果。
优选的，所述上位机，还用于：
基于所述SOE功能测试结果输出测试报告。
优选的，所述上位机，还用于：
输出所述待测DCS系统的测试过程信息。
优选的，所述转接端子板，还用于：
增加所述第二SOE事件的通道数量。
优选的，用于基于所述序列数组生成第一SOE事件的所述PXI6251板卡，具体用于：
基于所述序列数组生成事件类型为同步和/或异步的第一SOE事件。
优选的，事件类型为同步的第一SOE事件包括：SOE雪崩事件。
优选的，所述第一SOE事件包括：多个连续的单个SOE事件构成的脉冲群。
一种SOE功能自动化测试方法，所述方法应用于上位机，所述方法包括：
获取SOE事件设置信息，并将所述SOE事件设置信息对应的序列数组发送至PXI6251板卡，以使所述PXI6251板卡基于所述序列数组生成第一SOE事件，所述第一SOE事件是所述转接端子板转换得到符合待测DCS系统的采样条件的第二SOE事件的基础，所述PXI6251板卡位于SOE信号发生器中；
读取所述待测DCS系统中记录的SOE事件信息，所述SOE事件信息是所述待测DCS系统解析所述第二SOE事件的结果；
对比所述SOE事件信息和所述SOE事件设置信息得到所述待测DCS系统的SOE功能测试结果。
优选的，所述方法还包括：
基于所述SOE功能测试结果输出测试报告。
优选的，所述方法还包括：
输出所述待测DCS系统的测试过程信息。
以上本发明提供的SOE功能自动化测试系统及方法，上位机可以将SOE事件设置信息对应的序列数组发送至SOE信号发生器中的PXI6251板卡，PXI6251板卡基于序列数组生成第一SOE事件发送至转接端子板，转接端子板将第一SOE事件转换为符合待测DCS系统采样条件的第二SOE事件，上位机读取待测DCS系统通过解析第二SOE事件所记录的SOE事件信息、并与SOE事件设置信息对比得到待测DCS系统的SOE功能测试结果。基于本发明可以实现SOE事件发生、事件记录读取和测试结果输出的全流程自动化操作，实现了SOE功能自动化测试。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的SOE功能自动化测试系统的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的脉冲群参数设置界面示例；
图3为本发明实施例提供的测试报告示例；
图4为本发明实施例提供的测试过程界面示例；
图5为本发明实施例提供的SOE功能自动化测试方法的方法流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供了一种SOE功能自动化测试系统，该系统的结构示意图如图1所示，包括：上位机10、SOE信号发生器20、转接端子板30和待测DCS系统40，SOE信号发生器20中包含PXI6251板卡201。
上位机10的输出端与PXI6251板卡201的输入端连接，PXI6251板卡201的输出端与转接端子板30的输入端连接，转接端子板30的输出端与待测DCS系统40的输入端连接，待测DCS系统40的输出端与上位机10的输入端连接。
SOE事件的产生是本系统设计的关键，系统要求能产生自定义的同步或异步SOE事件供待测DCS系统40采样测试。为保障SOE事件信号的精度满足SOE测试要求，本实施例中采用PXI6251板卡201产生SOE事件。PXI6251板卡201为高性能混合IO模块，DO最大支持24通道，支持最大10M采样时钟(0.0001ms)，完全满足SOE事件信号精度要求。实际设计中，选择8路DO通道输出SOE事件信号，采用AI硬件定时时钟，最大1.25M采样频率，事件精度达到0.001ms，性能指标完全满足要求。
上位机10，用于获取SOE事件设置信息，并将SOE事件设置信息对应的序列数组发送至PXI6251板卡201。
本实施例中，上位机10可以满足可满足TCS-900、ECS-700、ECS-100等多套主流系统SOE功能测试，操作界面友好，测试人员可根据实际情况选择测试操作。同步或异步的模式选择、SOE事件的周期、数量、模式(同步或异步)、异步事件时间间隔、等SOE事件设置信息可通过设置界面供用户输入。
此外，本实施例中还可以采用脉冲群的方式实现连续的SOE事件输出，也就是说，多个连续的单个SOE事件可以构成一个脉冲群。参见图2所示的脉冲群参数设置界面示例，脉冲周期T1(ms)、脉冲占空T2(ms)、异步时间T3(ms)、单次脉冲群事件数量N、脉冲群间隔时间T4(s)、脉冲群个数、SOE事件时间单位(ms)、异步事件精度误差(ms)、待测DCS系统地址、测试通道数量、事件类型(同步和/或异步)、通道输出类型等都可以设置。通过以上设置，还可以产生SOE雪崩事件。这就可以方便为待测DCS系统40提供多路可调、高精度的SOE事件信号，有效的规范试验环境，确保测试程序的正确性，大幅的提高测试效率，提升产品的测试质量。
以下对同步事件、异步事件和SOE雪崩事件进行介绍：
同步事件：多个通道、产生时间相同的SOE事件。
异步事件：产生时间存在先后顺序的、有时间间隔的SOE事件。可以是一个通道，还可以是多个通道。
SOE雪崩事件：同一时间产生的大量的达到DCS系统信号采样能力上限的SOE事件。
PXI6251板卡201，用于基于序列数组生成第一SOE事件，并将第一SOE事件发送至转接端子板30。
转接端子板30，用于将第一SOE事件转换为符合待测DCS系统40的采样条件的第二SOE事件，并将第二SOE事件发送至待测DCS系统40。
本实施例中，转接端子板30可以将第一SOE事件的信号电压(一般为0～5V)转换为符合待测DCS系统40的采样要求(一般为0～24V)的信号电压。比如，PXI6251板卡201输出的高电平信号的电压为0～5V，而由于DCS系统行业标准中高电平信号的电压要高于18V，因此将PXI6251板卡201输出的高电平信号的电压提升至18V以上。
此外，转接端子板30，还用于增加第二SOE事件的通道数量。具体的，转接端子板30通过电压转换电路在将电压升高的同时将一路信号转换为多路信号。
实际测试中，PXI6251板卡201支持8路SOE事件信号同时输出，通过转接端子板30可以实现32路SOE事件信号同时输出，可以满足待测DCS系统40多路通道同时采样的需求。
上位机10，还用于读取待测DCS系统40中记录的SOE事件信息，SOE事件信息是待测DCS系统40解析第二SOE事件的结果；对比SOE事件信息和SOE事件设置信息得到待测DCS系统40的SOE功能测试结果。
本实施例中，待测DCS系统40采集到SOE事件后，会解析SOE事件并在控制器内存指定区域内记录解析所得到的SOE事件信息，该SOE事件信息包括但不局限于SOE事件发生的信号名称、信号状态变化、信号在控制器内存中的物理地址、信号产生的时间标签。
上位机10通过以太网读取待测DCS系统40控制器内存中的SOE事件信息，并按照系统的协议对数据进行解析，解析结果与SOE事件设置信息进行对比，确定待测DCS记录的SOE事件的准确性。上位机10可以实时显示SOE功能测试结果。
此外，为给测试人员提供参考，提高测试质量和效率，本实施例中上位机10还可以基于SOE功能测试结果输出测试报告。参见图3所示的测试报告示例，上位机10将待测DCS记录错误的SOE事件标注为异常事件、将待测DCS系统40记录正确的SOE事件标注为正常事件。
此外，为让测试人员直观看到测试过程，本实施例中上位机10还可以输出待测DCS系统40的测试过程信息。参见图4所示的测试过程界面示例，上位机10给出当前测试进度、产生SOE事件数量、(待测DCS系统40)记录SOE事件数量、(待测DCS系统40)SOE事件记录环绕次数、(待测DCS系统40)SOE事件记录起始地址、(待测DCS系统40)当前SOE事件记录地址、以及(上位机10)SOE事件读取地址。
本发明实施例提供的SOE功能自动化测试系统，可以实现SOE事件发生、事件记录读取和测试结果输出的全流程自动化操作，实现了SOE功能自动化测试。
基于上述实施例提供的SOE功能自动化测试系统，本发明实施例则提供一种SOE功能自动化测试方法，该方法应用于SOE功能自动化测试系统中的上位机，方法流程图如图5所示，包括如下步骤：
S10，获取SOE事件设置信息，并将SOE事件设置信息对应的序列数组发送至PXI6251板卡，以使PXI6251板卡基于序列数组生成第一SOE事件，第一SOE事件是转接端子板转换得到符合待测DCS系统的采样条件的第二SOE事件的基础，PXI6251板卡位于SOE信号发生器中。
S20，读取待测DCS系统中记录的SOE事件信息，SOE事件信息是待测DCS系统解析第二SOE事件的结果。
S30，对比SOE事件信息和SOE事件设置信息得到待测DCS系统的SOE功能测试结果。
可选的，上述方法还包括：
基于SOE功能测试结果输出测试报告。
可选的，上述方法还包括：
输出待测DCS系统的测试过程信息。
本发明实施例提供的SOE功能自动化测试方法，可以实现SOE事件发生、事件记录读取和测试结果输出的全流程自动化操作，实现了SOE功能自动化测试。
以上对本发明所提供的一种SOE功能自动化测试系统及方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备所固有的要素，或者是还包括为这些过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种SOE功能自动化测试系统，其特征在于，所述系统包括：上位机、SOE信号发生器、转接端子板和待测DCS系统，SOE信号发生器中包含PXI6251板卡；
所述上位机的输出端与所述PXI6251板卡的输入端连接，所述PXI6251板卡的输出端与所述转接端子板的输入端连接，所述转接端子板的输出端与所述待测DCS系统的输入端连接，所述待测DCS系统的输出端与所述上位机的输入端连接；
所述上位机，用于获取SOE事件设置信息，并将所述SOE事件设置信息对应的序列数组发送至所述PXI6251板卡；
所述PXI6251板卡，用于基于所述序列数组生成第一SOE事件，并将所述第一SOE事件发送至所述转接端子板；
所述转接端子板，用于将所述第一SOE事件转换为符合所述待测DCS系统的采样条件的第二SOE事件，并将所述第二SOE事件发送至所述待测DCS系统；
所述上位机，还用于读取所述待测DCS系统中记录的SOE事件信息，所述SOE事件信息是所述待测DCS系统解析所述第二SOE事件的结果；对比所述SOE事件信息和所述SOE事件设置信息得到所述待测DCS系统的SOE功能测试结果。
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述上位机，还用于：
基于所述SOE功能测试结果输出测试报告。
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述上位机，还用于：
输出所述待测DCS系统的测试过程信息。
4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述转接端子板，还用于：
增加所述第二SOE事件的通道数量。
5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，用于基于所述序列数组生成第一SOE事件的所述PXI6251板卡，具体用于：
基于所述序列数组生成事件类型为同步和/或异步的第一SOE事件。
6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，事件类型为同步的第一SOE事件包括：SOE雪崩事件。
7.根据权利要求5或6所述的系统，其特征在于，所述第一SOE事件包括：多个连续的单个SOE事件构成的脉冲群。
8.一种SOE功能自动化测试方法，其特征在于，所述方法应用于上位机，所述方法包括：
获取SOE事件设置信息，并将所述SOE事件设置信息对应的序列数组发送至PXI6251板卡，以使所述PXI6251板卡基于所述序列数组生成第一SOE事件，所述第一SOE事件是所述转接端子板转换得到符合待测DCS系统的采样条件的第二SOE事件的基础，所述PXI6251板卡位于SOE信号发生器中；
读取所述待测DCS系统中记录的SOE事件信息，所述SOE事件信息是所述待测DCS系统解析所述第二SOE事件的结果；
对比所述SOE事件信息和所述SOE事件设置信息得到所述待测DCS系统的SOE功能测试结果。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
基于所述SOE功能测试结果输出测试报告。
10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
输出所述待测DCS系统的测试过程信息。
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|---|---|
| CN (1) | CN110737559A (zh) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1801023A (zh) * | 2005-11-14 | 2006-07-12 | 杨卫民 | 一种多事件顺序记录与测试系统 |
| CN101430561A (zh) * | 2008-12-15 | 2009-05-13 | 北京国电智深控制技术有限公司 | 一种事件顺序记录测试信号发生器及其测试方法 |
| CN201348514Y (zh) * | 2008-12-15 | 2009-11-18 | 北京国电智深控制技术有限公司 | 一种事件顺序记录测试信号发生器 |
| CN103777622A (zh) * | 2012-10-25 | 2014-05-07 | 杨卫民 | 大型集散型控制系统中多事件顺序记录准确性的测试方法 |
| CN105529826A (zh) * | 2015-06-30 | 2016-04-27 | 国家电网公司 | 一种基于pxi总线的便携式模拟智能单元 |
-
2019
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Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1801023A (zh) * | 2005-11-14 | 2006-07-12 | 杨卫民 | 一种多事件顺序记录与测试系统 |
| CN101430561A (zh) * | 2008-12-15 | 2009-05-13 | 北京国电智深控制技术有限公司 | 一种事件顺序记录测试信号发生器及其测试方法 |
| CN201348514Y (zh) * | 2008-12-15 | 2009-11-18 | 北京国电智深控制技术有限公司 | 一种事件顺序记录测试信号发生器 |
| CN103777622A (zh) * | 2012-10-25 | 2014-05-07 | 杨卫民 | 大型集散型控制系统中多事件顺序记录准确性的测试方法 |
| CN105529826A (zh) * | 2015-06-30 | 2016-04-27 | 国家电网公司 | 一种基于pxi总线的便携式模拟智能单元 |
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