CN110729240A - 一种pi基板及其制备方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种PI基板及其制备方法。其中所述PI基板定义有第一区域和第二区域,其中所述第二区域包括2个或以上数量并且成相互间隔的方式设置在所述第一区域内;其包括玻璃大板基板和其上设置的PI层;其中所述PI层只对应于所述第二区域设置进而使得所述玻璃大板基板上设置的PI层成相互间隔的方式排列。本发明提供了一种PI基板,其采用新型的结构设计,使得其能够在一定程度上缩减其所需定义的边界区(Border)的区域范围。
Description
技术领域
本发明涉及平面显示技术领域,尤其是,其中的一种PI基板及其制备方 法。
背景技术
已知,随着显示技术的不断向前发展,新型的平面显示器也开始全面取 代CRT显示器,成为市场上的主流显示设备。
平面显示器最开始被市场接受的是平面液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD),其自身的轻、薄等性能,使得其很快被市场接受,并进而 获得广泛的推广应用,这同时也使得其市场占有率很高。
但随着显示技术的发展,液晶显示器还是存有一定的显示性能上的缺陷, 因此,业界也是不断进行新型的平面显示技术的开发,这其中就包括有机发 光二极管显示器(Organic Light-Emitting Diode,OLED)。
其中所述有机发光二极管显示器具有自发光、驱动电压低、发光效率高、 响应时间短、清晰度与对比度高、近180°视角、使用温度范围宽,以及可 实现柔性显示与大面积全色显示等诸多优点,使其在显示领域、照明领域及 智能穿戴等领域有着广泛地应用,并有取代液晶显示器的趋势。而其中的 AMOLED显示面板因其高对比度、广色域、低功耗、可折叠等特性,逐渐 成为新一代主流显示技术。
具体来讲,AMOLED显示面板一般为大板设计,在具体应用时,为了 将面板(Panel)变为规格设计的形状,需要对其进行“二切”处理。但是通 常而言“二切”处理由于精度不高,并且“二切”处理中的切割应力在切割 边缘处产生的切割裂纹可能会随着切割应力延伸至面板内部,所以待处理的 切割面板上需要定义一个对应于“二切”处理的边界区(Border区),同时 还需要在该区域内做“防断裂(Anticrack)”的设计。相应的,这种待处理面 板边缘的切割道与Anticrack的设计,也就使得其预定的边界区的尺寸无法得 到有效缩减。
发明内容
本发明的一个方面是提供一种PI基板,其采用新型的结构设计,使得其 能够在一定程度上缩减其所需定义的边界区(Border)的区域范围。
本发明采用的技术方案如下:
一种PI基板,其定义有第一区域和第二区域,其中所述第二区域包括2 个或以上数量并且成相互间隔的方式设置在所述第一区域内;其包括玻璃大 板基板和其上设置的PI层;其中所述PI层只对应于所述第二区域设置进而 使得所述玻璃大板基板上设置的PI层成相互间隔的方式排列。
本发明采用的这种间隔排列设置多个PI层的方式,也可以说是一种对原 整体PI层进行图案化的工艺方式,使得在玻璃基板上设置的PI层,由原本 的整体设置形式,变更为根据需要外形尺寸而间隔设置的方式。故而,原本 因为后续面板预设尺寸的原因而需要进行的二次切割处理,现在由于对所述 PI层的图形化处理使得原本需要进行“二切”来分割的面板尺寸之间彼此并 不相接,因此,只需直接从玻璃基板上剥离即可实现,从而在避免进行二次 切割处理的同时,相应的,也避免了上述背景技术中提到的因二次切割而带来的种种问题。
进一步的,在不同实施方式中,其中所述第二区域在所述第一区域内成 阵列排布,相应的,所述PI层在所述玻璃大板基板上也成阵列式设置。
进一步的,在不同实施方式中,其中相邻两所述第二区域上的PI层间的 间隔距离在100~500μm范围内。
进一步的,在不同实施方式中,其中相邻两所述第二区域上的PI层间的 纵向间隔距离在100~500μm范围内。
进一步的,在不同实施方式中,其中相邻两所述第二区域上的PI层间的 横向间隔距离在100~500μm范围内。
进一步的,在不同实施方式中,其中所述PI基板还定义有第三区域,其 设置在所述第一区域内并与所述第二区域间隔设置,其中所述第三区域内的 玻璃大板基板上对应设置有第三区域PI层。
进一步的,在不同实施方式中,其中所述第二区域上设置的PI层用于后 续显示面板的制备;而所述第三区域上设置的PI层用于后续设置面板测试组 件功能层(TestElement Group,TEG)。而在其他实施方式中,所述第三区域 上设置的PI层也可以是用于设置其他与显示面板关联的外接功能层,并无限 定;甚至于,所述玻璃大板基板上还可以根据需要定义第四区域、第五区域 等等,这些区域上可设置各种设置于PI层上的器件功能层,同时由于其底下 的PI层与所述玻璃大板基板上设置的显示面板区域的PI层相分隔,因此也 能避免后续如背景技术描述的因玻璃大板基板上设置的PI层为一层整体设 置而必须的“二次切割”制程。
进一步的,本发明的又一方面是提供一种本发明涉及的所述PI基板的制 备方法,其包括以下步骤:
步骤S1、提供一玻璃大板基板,其定义有第一区域和第二区域;其中所 述第二区域包括2个或以上数量,并且成相互间隔的方式设置在所述第一区 域内;在所述玻璃大板基板上形成一层整体设置的PI层;
步骤S2、通过光罩对所述PI层进行图案化处理,使得所述整层PI层在 经过曝光、显影和刻蚀后仅保留设置在所述第二区域位置上的PI层。
进一步的,在不同实施方式中,在所述步骤S2中,其中所述光罩包括 本体,所述本体上设置有间隔设置的遮蔽区,这些遮蔽区之间为透光区,其 中所述遮蔽区对应于所述玻璃基板上的第二区域。
进一步的,在不同实施方式中,其中所述遮蔽区之间的间隔间距在 100~500μm范围内。
相对于现有技术,本发明的有益效果是:本发明涉及的一种PI基板及其 制备方法,其采用新型的PI层工艺,通过增加PI层图案化处理工艺,利用 光罩曝光、显影以及刻蚀,使得本来对应在后续形成的显示面板(Panel)下 方原一层整体设置的PI层,变为各所述显示面板下方设置的PI层与大板外 围的玻璃大板基板上设置的PI层相互间隔分离,这样,在后续显示面板模组 半板LLO工艺之后,就可以直接进行各显示面板与其所在玻璃大板基板之间 的剥离,从而不需要进行二切。如此,在设定的Border Spec下,因不需要预 设切割道以及相应的防断裂结构而可以使电路的布局(Layout)空间更充裕, 同时还可以大大缩减边界区(Border)尺寸,实现了所述显示面板的窄边框 设计。
进一步的,这一增加的对一层整体PI层的图形化处理工艺不仅是可以对 边界区(Border)的设计有上述好处;而且由于设置在所述玻璃大板基板上 的PI层间的相互分隔设置,使得后续形成在这些间隔设置的PI层上的显示 面板与所在玻璃大板基板之间可通过直接剥离的方式分离,因此,也就不需 在通过后续的“二切”制程进行分割行,而由于不需要进行“二切”制程, 相应的,也就不存在切割精度问题的影响。此外,在半板LLO工艺直接剥离 后,也可以避免因切割导致的裂片问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中 所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本 发明的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提 下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明的一个实施方式中提供的一种PI基板的结构示意图;以及
图2是图1的局部放大图。
具体实施方式
以下将结合附图和实施例,对本发明涉及的一种PI基板及其制备方法的 技术方案作进一步的详细描述。
请参阅图1所示,本发明涉及的一个实施方式提供了一种PI基板,其定 义有第一区域101和第二区域102,其中所述第二区域102包括2个或以上 数量并且成相互间隔的方式设置在所述第一区域101内。
其中所述PI基板包括一玻璃大板基板100和其上设置的PI层;其中所 述PI层只对应于所述第二区域102设置,为便于描述,将所述第二区域PI 层定义为第一PI层110。其中所述第一PI层110上对应于后续显示面板功能 层的设置,进而在所述玻璃大板基板100上形成成阵列分布设置的多个显示 面板(未图示),而由于这些显示面板下方的所述第一PI层110之间并不是 如现有技术中的一体构型,而是相互间隔,因此,使得原本需要通过“二切” 工艺来进行预定尺寸显示面板间的分割处理,变为直接剥离处理即可,从而 在避免进行二次切割处理的同时,相应的,也避免了上述背景技术中提到的 因二次切割而带来的种种问题。
进一步的,在不同实施方式中,其中所述第一区域101内设置的这些第 二区域102的尺寸可以是根据需要进行调整的,并不限于均为同一尺寸。
进一步的,对于所述第二区域102形成的阵列之外的第一区域101内, 还可以根据需要设置第三区域103,其上也设置PI层,为便于说明,将第三 区域上的PI层定义为第二PI层120,用于形成针对玻璃基板上第二区域102 上制备的显示面板的面板测试组件功能层(Test Element Group,TEG)。
相应的,所述第二区域102阵列外的第一区域101内,还可根据需要设 置第四区域或是第五区域等等,这些第二区域102阵列外设置的其他区域上 也均设置有PI层,进而用于形成各种针对所述第二区域102上显示面板的功 能层区域,其并不限于只设置一个面板测试组件功能层。
进一步的,如图2所示,其中相邻两所述第二区域102上的第一PI层 110间的间隔距离在100~500μm范围内,这其中包括横向的间隔距离L1和 纵向的间隔距离L2。两者具体可以均在200μm左右,但不限于。
进一步的,本发明的又一方面是提供一种本发明涉及的所述PI基板的制 备方法,其包括以下步骤:
步骤S1、提供一玻璃大板基板100,其定义有第一区域101、第二区域 102和第三区域103,其中所述第二区域102成阵列方式设置在所述第一区域 101内,而所述第三区域103则是设置在所述第二区域102阵列之外的第一 区域101内;在所述玻璃大板基板100上形成一层整体设置的PI层;
步骤S2、通过光罩对所述PI层进行图案化处理,使其经过曝光、显影 和刻蚀后仅保留设置在所述第二区域102和第三区域103上的PI层110、120。
具体来讲,在所述步骤S2中,其中涉及使用的所述光罩包括本体,所 述本体上设置有间隔设置的遮蔽区,这些遮蔽区之间为透光区,其中所述遮 蔽区对应于所述玻璃基板上的第二区域102和第三区域103,进而使得后续 曝光时,曝光光线只能入射到所述玻璃大板基板100的第一区域101上。
本发明涉及的一种PI基板及其制备方法,其采用新型的PI层工艺,通 过增加PI层图案化处理工艺,利用光罩曝光、显影以及刻蚀,使得本来对应 在后续形成的显示面板(Panel)下方原一层整体设置的PI层,变为各所述 显示面板下方设置的PI层与大板外围的玻璃大板基板上设置的PI层相互间 隔分离,这样,在后续显示面板模组半板LLO工艺之后,就可以直接进行各 显示面板与其所在玻璃大板基板之间的剥离,从而不需要进行二切。如此, 在设定的Border Spec下,因不需要预设切割道以及相应的防断裂结构而可以 使电路的布局(Layout)空间更充裕,同时还可以大大缩减边界区(Border) 尺寸,实现了所述显示面板的窄边框设计。
进一步的,这一增加的对一层整体PI层的图形化处理工艺不仅是可以对 边界区(Border)的设计有上述好处;而且由于设置在所述玻璃大板基板上 的PI层间的相互分隔设置,使得后续形成在这些间隔设置的PI层上的显示 面板与所在玻璃大板基板之间可通过直接剥离的方式分离,因此,也就不需 在通过后续的“二切”制程进行分割行,而由于不需要进行“二切”制程, 相应的,也就不存在切割精度问题的影响。此外,在半板LLO工艺直接剥离 后,也可以避免因切割导致的裂片问题。
本发明的技术范围不仅仅局限于上述说明中的内容,本领域技术人员可 以在不脱离本发明技术思想的前提下,对上述实施例进行多种变形和修 改,而这些变形和修改均应当属于本发明的范围内。
Claims (10)
1.一种PI基板;其特征在于,其定义有第一区域和第二区域,其中所述第二区域包括2个或以上数量并且成相互间隔的方式设置在所述第一区域内;其包括玻璃大板基板和其上设置的PI层;
其中所述PI层只对应于所述第二区域设置进而使得所述玻璃大板基板上设置的PI层成相互间隔的方式排列。
2.根据权利要求1所述的PI基板;其特征在于,其中所述第二区域在所述第一区域内成阵列排布,所述PI层在所述玻璃大板基板上也对应成阵列式设置。
3.根据权利要求1所述的PI基板;其特征在于,其中相邻两所述第二区域上的PI层间的间隔距离在100~500μm范围内。
4.根据权利要求3所述的PI基板;其特征在于,其中相邻两所述第二区域上的PI层间的纵向间隔距离在100~500μm范围内。
5.根据权利要求3所述的PI基板;其特征在于,其中相邻两所述第二区域上的PI层间的横向间隔距离在100~500μm范围内。
6.根据权利要求1所述的PI基板;其特征在于,其还定义有第三区域,其设置在所述第一区域内并与所述第二区域间隔设置,其中所述第三区域内的玻璃大板基板上对应设置有第三区域PI层。
7.根据权利要求6所述的PI基板;其特征在于,其中所述第二区域上设置的PI层用于后续显示面板的制备;而所述第三区域上设置的PI层用于后续设置面板测试组件功能层的制备。
8.一种制备根据权利要求1所述的PI基板的制备方法;其特征在于,其包括以下步骤:
步骤S1、提供一玻璃大板基板,其定义有第一区域和第二区域;其中所述第二区域包括2个或以上数量,并且成相互间隔的方式设置在所述第一区域内;在所述玻璃大板基板上形成一层整体设置的PI层;以及
步骤S2、通过光罩对所述PI层进行图案化处理,使得所述整层PI层在经过曝光、显影和刻蚀后仅保留设置在所述第二区域位置上的PI层。
9.根据权利要求8所述的PI基板制备方法;其特征在于,在所述步骤S2中,其中所述光罩包括本体,所述本体上设置有间隔设置的遮蔽区,这些遮蔽区之间为透光区,其中所述遮蔽区对应于所述玻璃基板上的第二区域。
10.根据权利要求9所述的PI基板制备方法;其特征在于,其中所述遮蔽区之间的间隔间距在100~500μm范围内。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20200124 |
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