CN110349524A - 显示装置 - Google Patents

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Abstract

提供了一种显示装置，所述显示装置包括多个像素列、第一数据线、第二数据线、数据驱动器、第一测试部件和第二测试部件。所述多个像素列中的每个像素列包括多个像素。第一数据线设置在所述多个像素列之中的两个相邻像素列之间。第二数据线设置在所述两个相邻像素列之间。数据驱动器配置为将至少一个数据信号提供到第一数据线和第二数据线。第一测试部件连接到第一数据线和第二数据线中的一者，并且设置在所述多个像素列和数据驱动器之间。第二测试部件电连接到第一数据线和第二数据线中的另一者。

Description

显示装置
本申请要求于2018年4月6日提交的第10-2018-0040156号韩国专利申请的优先权和权益，出于所有目的，该韩国专利申请通过引用包含于此，就像在这里被充分地阐述一样。
技术领域
示例性实施例总体上涉及显示技术，更具体地，涉及一种包括具有高清晰度的显示面板的显示装置。
背景技术
显示装置的清晰度已经从提供1920×1080的清晰度的全高清(FHD)改进为提供7680×4320的8K清晰度(8K)或3840×2160的4K清晰度(4K)的超高清。当制造构成显示装置的显示面板时，利用用于检测是否产生产品缺陷的各种检查工艺来提高输出质量。开路/短路(OS)测试是用于检查显示面板的各种检查方法中的一种。OS测试检查形成在基底上的数据线上是否产生缺陷。OS测试以这样的方式执行：将检查信号施加到数据线的一侧，并且在数据线的另一侧检测检查信号。在执行OS检查时，使用检查设备的探针将检查信号施加到每条数据线；然而，由于在高清显示面板中数据线之间的距离非常窄，因此使用探针施加检查信号正变得困难。
本部分中公开的上述信息仅用于理解发明构思的背景，因此可以包含不形成现有技术的信息。
发明内容
一些示例性实施例提供了一种显示装置，该显示装置具有能够测试在具有高清晰度的显示面板的数据线上是否产生缺陷的结构。
附加的方面将在随后的详细描述中进行阐述，并且部分地将通过本公开而清楚，或者可以通过发明构思的实践而了解。
根据一些示例性实施例，一种显示装置包括多个像素、多条数据线、数据驱动器、多个第一测试部件和多个第二测试部件。所述多个像素中的每个像素包括晶体管。晶体管包括输入电极、输出电极以及与输入电极和输出电极设置在不同的层中的控制电极。所述多条数据线包括与输入电极和输出电极设置在同一层中的多条主数据线以及与控制电极设置在同一层中的多条扇出数据线。所述多条扇出数据线分别通过接触孔电连接到所述多条主数据线的第一端。数据驱动器电连接到所述多条扇出数据线，并且被配置为将数据信号提供到所述多条数据线。所述多个第一测试部件与所述多条主数据线设置在同一层中，并且设置在所述多个像素和数据驱动器之间。所述多个第一测试部件电连接到第一组数据线和第二组数据线之中的一组数据线。第一组数据线包括所述多条数据线之中的奇数数据线。第二组数据线包括所述多条数据线之中的偶数数据线。所述多个第二测试部件从第一组数据线和第二组数据线之中的另一组数据线中的多条数据线的多条主数据线的相应的第二端延伸。
根据一些示例性实施例，一种显示装置包括多个像素列、第一数据线、第二数据线、数据驱动器、第一测试部件和第二测试部件。所述多个像素列中的每个像素列包括多个像素。第一数据线设置在所述多个像素列中的两个相邻像素列之间。第二数据线设置在所述两个相邻像素列之间。数据驱动器配置为将至少一个数据信号提供到第一数据线和第二数据线。第一测试部件连接到第一数据线和第二数据线中的一者。第一测试部件设置在所述多个像素列和数据驱动器之间。第二测试部件电连接到第一数据线和第二数据线中的另一者。所述多个像素列设置在第一测试部件和第二测试部件之间。
前面的一般描述和以下的详细描述是示例性的和说明性的，并且意图提供对要求保护的主题的进一步说明。
附图说明
包括附图以提供对发明构思的进一步理解，附图被包括在本说明书中并构成本说明书的一部分，附图示出了发明构思的示例性实施例，并与描述一起用于解释发明构思的原理。
图1是示出根据一些示例性实施例的显示装置的示意图。
图2A是示出根据一些示例性实施例的图1中的显示装置的框图。
图2B是示出根据一些示例性实施例的图2A中的像素的等效电路图。
图3A是示出根据一些示例性实施例的图1中的显示装置的框图。
图3B是示出根据一些示例性实施例的图3A中的像素的等效电路图。
图4是示出根据一些示例性实施例的图3B中的像素的组件的一部分的剖视图。
图5是示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分AA的放大图。
图6是根据一些示例性实施例的沿图5中的剖面线I-I'截取的剖视图。
图7是示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分BB的放大图。
图8是示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分AA的放大图。
图9至图12是示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分BB的放大图。
图13是示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分AA和部分BB的放大图。
图14是示出根据一些示例性实施例的与部分BB对应的部分的示图。
图15是示例性地示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分BB和外围区域的示图。
具体实施方式
在下面的描述中，为了解释的目的，阐述了许多具体细节，以提供对各种示例性实施例的彻底理解。然而，明显的是，可以不利用这些具体细节或者利用一个或更多个等同布置来实施各种示例性实施例。在其他情况下，以框图的形式示出公知的结构和装置，以避免使各种示例性实施例不必要地模糊。此外，各种示例性实施例可以是不同的，但不必是排他的。例如，在不脱离发明构思的情况下，可以在另一示例性实施例中使用或实现示例性实施例的特定形状、构造和特性。
除非另有说明，否则示出的示例性实施例将被理解为提供一些示例性实施例的不同细节的示例性特征。因此，除非另有说明，否则在不脱离发明构思的情况下，可以将各种图示的特征、组件、模块、层、膜、面板、区域、方面等(在下文中单独地或共同地被称为“元件”或“多个元件”)另外组合、分离、互换和/或重新布置。
在附图中，为了清楚和/或描述目的，可以夸大元件的尺寸和相对尺寸。如此，各个元件的尺寸和相对尺寸不必限于附图中所示的尺寸和相对尺寸。当可以不同地实现示例性实施例时，可以与所描述的顺序不同地执行具体工艺顺序。例如，可以基本上同时执行或者以与所描述的顺序相反的顺序执行两个连续描述的工艺。此外，同样的附图标记表示同样的元件。
当元件被称作“在”另一元件“上”、“连接到”或“结合到”另一元件时，该元件可以直接在所述另一元件上、直接连接到或直接结合到所述另一元件，或者可以存在中间元件。然而，当元件被称作“直接在”另一元件“上”、“直接连接到”或“直接结合到”另一元件时，不存在中间元件。用于描述元件之间的关系的其他术语和/或短语应该以同样的方式解释，例如，“在……之间”与“直接在……之间”、“相邻”与“直接相邻”、“在……上”与“直接在……上”等。此外，术语“连接”可以指物理连接、电气连接和/或流体连接。为了本公开的目的，“X、Y和Z中的至少一个(种/者)”以及“从由X、Y和Z组成的组中选择的至少一个(种/者)”可以被解释为仅X、仅Y、仅Z，或者X、Y和Z中的两个(种/者)或更多个(种/者)的任意组合，诸如以XYZ、XYY、YZ和ZZ为例。如这里所用的，术语“和/或”包括一个或更多个相关列出项的任意和全部组合。
虽然在这里可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件，但是这些元件不应该受这些术语限制。这些术语用来将一个元件与另一个元件区分开。因此，在不脱离公开的教导的情况下，下面讨论的第一元件可以被称为第二元件。
为了描述的目的，在这里可以使用诸如“在……之下”、“在……下方”、“在……下面”、“下”、“在……上方”、“上”、“在……之上”、“较高”、“侧”(例如，如在“侧壁”中)等的空间相对术语，从而来描述如附图中所示的一个元件与另一(另一些)元件的关系。除了附图中描绘的方位之外，空间相对术语还意图包括设备在使用、操作和/或制造中的不同方位。例如，如果附图中的设备被翻转，则被描述为“在”其他元件或特征“下方”或“之下”的元件将随后被定位为“在”所述其他元件或特征“上方”。因此，示例性术语“在……下方”可以包含上方和下方两种方位。此外，设备可以被另外定位(例如，旋转90度或者在其他方位)，如此，相应地解释这里使用的空间相对描述语。
这里使用的术语是出于描述具体实施例的目的，并非意图限制。如这里所使用的，除非上下文另外清楚地指出，否则单数形式的“一个(种/者)”和“该/所述”也意图包括复数形式。此外，当在本说明书中使用术语“包含”、“包括”和/或它们的变型时，说明存在所陈述的特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组，但不排除存在或附加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。还注意的是，如这里所使用的，术语“基本上”、“约(大约)”和其他类似术语被用作近似术语，而不用作程度术语，如此，被用来考虑测量、计算和/或提供的值中的将被本领域普通技术人员认可的固有偏差。
这里参照作为理想化示例性实施例和/或中间结构的示意图的剖视图、轴测图、透视图、平面图和/或分解图来描述各种示例性实施例。如此，将预计由例如制造技术和/或公差引起的图示的形状的变化。因此，这里公开的示例性实施例不应被解释为局限于区域的具体示出形状，而是将包括因例如制造引起的形状的偏差。为此，附图中示出的区域本质上可以是示意性的，这些区域的形状可以不反应装置的区域的实际形状，如此，不意图是限制的。
除非另有定义，否则这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开是其一部分的领域的普通技术人员所通常理解的意思相同的意思。除非这里明确地如此定义，否则术语(诸如在通用字典中定义的术语)应该被解释为具有与它们在相关领域的上下文中的意思一致的意思，并且将不以理想化或者过于形式化的含义来解释它们。
如本领域中惯常的，就功能块、单元和/或模块而言，在附图中描述和示出了一些示例性实施例。本领域技术人员将理解的是，这些块、单元和/或模块通过可使用基于半导体的制造技术或其他制造技术而形成的电子(或光学)电路(诸如，逻辑电路、分立组件、微处理器、硬线电路、存储器元件、布线连接等)被物理实现。在块、单元和/或模块通过微处理器或其他类似硬件实现的情况下，可以使用软件(例如，微代码)对它们进行编程和控制以执行这里讨论的各种功能，并且可以由固件和/或软件可选择地驱动它们。还预期的是，每个块、单元和/或模块可以通过专用硬件来实现，或者可以被实现为用于执行一些功能的专用硬件和用于执行其他功能的处理器(例如，一个或更多个编程的微处理器和关联电路)的组合。此外，在不脱离发明构思的情况下，一些示例性实施例的每个块、单元和/或模块可以被物理分成两个或更多个相互作用且分立的块、单元和/或模块。此外，在不脱离发明构思的情况下，一些示例性实施例的块、单元和/或模块可被物理组合成更复杂的块、单元和/或模块。
在下文中，将参照附图来详细解释各种示例性实施例。
图1是示出根据一些示例性实施例的显示装置的示意图。图2A是示出根据一些示例性实施例的图1中的显示装置的框图。图2B是示出根据一些示例性实施例的图2A中的像素的等效电路图。图3A是示出根据一些示例性实施例的图1中的显示装置的框图。图3B是示出根据一些示例性实施例的图3A中的像素的等效电路图。图4是示出根据一些示例性实施例的图3B中的像素的组件的一部分的剖视图。
参照图1，显示装置DD通过显示表面DSF向用户提供图像IM。尽管示出蝴蝶作为图像IM的示例，但是示例性实施例不限于此。显示表面DSF可以平行于由第一方向DR1和第二方向DR2限定的平面。第三方向DR3垂直于第一方向DR1和第二方向DR2中的每个。
如图2A或图3A中所示，根据一些示例性实施例的显示装置DD包括显示面板DP、栅极驱动电路100和数据驱动电路200。
示例性实施例不限于特定类型的显示面板DP。例如，显示面板DP可以包括诸如液晶显示面板、有机发光显示面板、电泳显示面板和电润湿显示面板的各种类型的显示面板中的至少一种。出于描述和说明的目的，显示面板DP将被描述为液晶显示面板。包括液晶显示面板的液晶显示装置还可以包括偏振构件(未示出)和背光单元(未示出)中的至少一个。
显示面板DP包括第一基底DS1、与第一基底DS1间隔开的第二基底DS2以及设置在第一基底DS1与第二基底DS2之间的液晶层LCL。在平面上(或在平面图中)，显示面板DP包括其上布置有多个像素PX的显示区域DA和在显示区域DA外部(例如，围绕显示区域DA)的非显示区域NDA。图1中的显示表面DSF可以对应于显示区域DA。
显示面板DP包括设置在第一基底DS1上的多条栅极线GL以及与栅极线GL交叉并与栅极线GL绝缘的多条数据线DL。多条栅极线GL连接到栅极驱动电路100。多条数据线DL连接到数据驱动电路200。图2A仅示出了多条栅极线GL中的一部分以及多条数据线DL中的仅一部分。尽管未示出，但显示面板DP还可以包括设置在第一基底DS1的非显示区域NDA上(或设置在第一基底DS1的非显示区域NDA中)的虚设栅极线。
图2A仅示出了多个像素PX中的一部分。多个像素PX分别连接到多条栅极线GL中的相应的栅极线GL和多条数据线DL中的相应的数据线DL。
多个像素PX可以显示原色中的一种。原色可以包括红色、绿色、蓝色和白色。然而，示例性实施例不限于此。例如，多个像素PX可以显示混合颜色中的一种。混合颜色还可以包括诸如黄色、青色和品红色的各种颜色。
栅极驱动电路100产生栅极信号并将产生的栅极信号输出到栅极线GL。尽管在图2A中示例性地示出了连接到多条栅极线GL的左端的一个栅极驱动电路100，但示例性实施例不限于栅极驱动电路100的数量和布置位置。
数据驱动电路200根据接收的图像数据产生数据信号。数据驱动电路200将产生的数据信号输出到多条数据线DL。出于本公开的目的，数据信号可以被称为数据电压。
数据驱动电路200可以包括数据驱动器210和其上安装有数据驱动器210的柔性电路板220。数据驱动器210和柔性电路板220中的每者可以设置成多个。多个数据驱动器210分别将相应的数据信号提供到多条数据线DL中的相应的数据线DL。
图2A示出了带载封装(TCP)型数据驱动电路200的示例。在一些示例性实施例中，数据驱动器210可以按玻璃上芯片(COG)方式设置在第一基底DS1的非显示区域NDA上。
参照图2A，像素PX以矩阵型布置，并包括多个像素行和多个像素列。包括在每个像素行中的像素PX沿第一方向DR1布置。像素行沿第二方向DR2布置。包括在每个像素列中的像素PX沿第二方向DR2布置。像素列沿第一方向DR1布置。
每个像素列可以连接到两条数据线DL。例如，两条数据线DL中的一条可以连接到像素列的像素PX中的奇数像素，并且两条数据线DL中的另一条可以连接到偶数像素。多个像素行中的两个相邻像素行可以连接到一条栅极线GL。
如上所述，显示装置DD可以使用栅极线GL构成，栅极线GL的数量是像素行的数量的一半。因此，与其中栅极线GL以与像素行的数量相同的数量设置的其他方法相比，可以进一步确保用于施加栅极信号的时间。当延长用于施加栅极信号的时间时，可以尽可能地增强施加到像素PX的信号的准确度，以稳定地实现具有高清晰度的显示面板DP。在这种情况下，随着数据线DL的数量增加两倍，数据线DL之间的距离减小。在下文中，根据一些示例性实施例，可以至少部分地解决由于数据线DL的数量增加而产生的限制。
图2B示例性地示出了像素PX中的彼此相邻设置的两个像素PX。参照图2B，每个像素PX可以包括第一子像素PX-S1和第二子像素PX-S2。第一子像素PX-S1可以包括第一晶体管TR1、第一液晶电容器Clc1和第一存储电容器Cst1。第二子像素PX-S2可以包括第二晶体管TR2、第三晶体管TR3、第二液晶电容器Clc2和第二存储电容器Cst2。
第一晶体管TR1包括连接到栅极线GL的控制电极、连接到数据线DL的输入电极以及连接到第一液晶电容器Clc1和第一存储电容器Cst1的输出电极。
第一液晶电容器Clc1包括与第一晶体管TR1的输出电极连接的第一电极以及接收共电压Vcom的第二电极。第一存储电容器Cst1包括与第一晶体管TR1的输出电极连接的第一电极以及接收存储电压Vcst的第二电极。
第二晶体管TR2包括连接到栅极线GL的控制电极、连接到数据线DL的输入电极以及连接到第二液晶电容器Clc2和第二存储电容器Cst2的输出电极。
第三晶体管TR3包括连接到栅极线GL的控制电极、接收存储电压Vcst的输入电极以及与第二晶体管TR2的输出电极连接的输出电极。
第二液晶电容器Clc2包括与第二晶体管TR2的输出电极连接的第一电极以及接收共电压Vcom的第二电极。第二存储电容器Cst2包括与第二晶体管TR2的输出电极连接的第一电极以及接收存储电压Vcst的第二电极。
共电压Vcom和存储电压Vcst可以具有基本相同的电压。
第一晶体管TR1、第二晶体管TR2和第三晶体管TR3通过经过栅极线GL提供的栅极信号来导通。
数据线DL的数据电压通过导通的第一晶体管TR1提供到第一子像素PX-S1。与提供的数据电压和共电压Vcom之间的电平差对应的第一像素电压被充入到第一液晶电容器Clc1。根据充入到第一液晶电容器Clc1的电荷量，改变包括在液晶层LCL中的液晶指向矢的取向。根据液晶指向矢的取向，可以透射或阻挡入射到液晶层LCL中的光。第一存储电容器Cst1与第一液晶电容器Clc1并联连接，以对预定部分保持液晶指向矢的取向。
数据线DL的数据电压通过导通的第二晶体管TR2提供到第二子像素PX-S2。此外，存储电压Vcst通过导通的第三晶体管TR3提供到第二子像素PX2-S2。
在第二晶体管TR2连接到第三晶体管TR3的接触点节点CN处的电压(下文中，被称为分配电压)具有根据导通的第二晶体管TR2和第三晶体管TR3的电阻值的比率分配的值。也就是说，分配电压具有在通过导通的第二晶体管TR2提供的数据电压和通过导通的第三晶体管TR3提供的存储电压Vcst之间的值。
因此，与分配电压和共电压Vcom之间的电平差对应的第二像素电压被充入到第二液晶电容器Clc2。根据充入到第二液晶电容器Clc2的电荷量，改变包括在液晶层LCL中的液晶指向矢的取向。根据液晶指向矢的取向，可以透射或阻挡入射到液晶层LCL中的光。第二存储电容器Cst2与第二液晶电容器Clc2并联连接，以对预定部分保持液晶指向矢的取向。
由于充入到第一液晶电容器Clc1的第一像素电压和充入到第二液晶电容器Clc2的第二像素电压彼此不同，因此在第一子像素PX-S1中显示的灰度不同于在第二子像素PX-S2中显示的灰度。如上所述，在第一子像素PX-S1和第二子像素PX-S2中显示具有彼此不同的灰度的图像，并且可以增强像素PX的可视性。
尽管图2B中示例性地示出了像素PX的等效电路图，但是示例性实施例不限于此。在另一示例性实施例中，可以省略存储电容器Cst1和Cst2。
参照图3A，每个像素PX连接到相应的栅极线GL和两条相应的数据线DL。栅极线GL的数量与像素行的数量相同。
参照图3B，每个像素PX包括高电平像素PX-H和低电平像素PX-L。高电平像素PX-H可以对应于图2B中的第一子像素PX-S1，低电平像素PX-L可以对应于图2B中的第二子像素PX-S2的一部分。
高电平像素PX-H和低电平像素PX-L从同一栅极线GL接收栅极信号。高电平像素PX-H从数据线DL中的高电平数据线DL-H接收数据，低电平像素PX-L从数据线DL中的低电平数据线DL-L接收数据。
分别充入到高电平像素PX-H的液晶电容器Clc1和低电平像素PX-L的液晶电容器Clc2的电压彼此不同，并且在高电平像素PX-H中显示的灰度和在低电平像素PX-L中显示的灰度彼此不同。
如上所述，由于具有彼此不同的灰度的图像分别显示在高电平像素PX-H和低电平像素PX-L中，因此可以增强像素PX的可视性。
图4示例性地示出了与图3B的像素中的组件中的第一晶体管TR1、第一液晶电容器Clc1和第一存储电容器Cst1对应的部分。
参照图4，第一晶体管TR1包括连接到栅极线GL的控制电极CTE、与控制电极CTE叠置的有源层ALP、连接到数据线DL的输入电极IE以及与输入电极IE间隔开的输出电极OE。
第一液晶电容器Clc1包括像素电极PE和共电极CE。第一存储电容器Cst1包括像素电极PE以及存储线STL的与像素电极PE叠置的部分。
栅极线GL和存储线STL设置在第一基底DS1的一个表面上。控制电极CTE可以从栅极线GL分支。
覆盖控制电极CTE和存储线STL的第一绝缘层10设置在第一基底DS1的一个表面上。第一绝缘层10可以包括无机材料和有机材料中的至少一种。第一绝缘层10可以是有机层或无机层。第一绝缘层10可以具有包括例如氮化硅层和氧化硅层的多层结构。
与控制电极CTE叠置的有源层ALP设置在第一绝缘层10上。有源层ALP可以包括半导体层(未示出)和欧姆接触层(未示出)。有源层ALP可以包括非晶硅或多晶硅。可选择地，有源层ALP可以包括金属氧化物半导体。
输出电极OE和输入电极IE设置在有源层ALP上。输出电极OE和输入电极IE彼此间隔开。输出电极OE和输入电极IE中的每个可以与控制电极CTE部分地叠置。
尽管图4中示例性地示出了第一晶体管TR1的结构，但示例性实施例不限于此。例如，第一晶体管TR1可以具有不同的结构。
覆盖有源层ALP、输出电极OE和输入电极IE的第二绝缘层20设置在第一绝缘层10上。第二绝缘层20提供平坦的表面。第二绝缘层20可以包括有机材料。
像素电极PE设置在第二绝缘层20上。像素电极PE通过穿过第二绝缘层20的接触孔CH连接到输出电极OE。覆盖像素电极PE的取向层30可以设置在第二绝缘层20上。
滤色器层CF设置在第二基底DS2的一个表面上。共电极CE设置在滤色器层CF上。共电压Vcom施加到共电极CE。
覆盖共电极CE的取向层(未示出)可以设置在共电极CE上，例如，取向层可以设置在共电极CE和液晶层LCL之间。另一绝缘层可以设置在滤色器层CF和共电极CE之间。
像素电极PE、共电极CE以及设置在像素电极PE与共电极CE之间的液晶层LCL可以形成第一液晶电容器Clc1。此外，像素电极PE的一部分和存储线STL以及设置在像素电极PE和存储线STL之间的第一绝缘层10和第二绝缘层20可以形成第一存储电容器Cst1。存储线STL接收具有与像素电压的值不同的值的存储电压Vcst。
这里，图4中的像素PX的截面可以仅仅是一个示例。例如，与图4的图示不同，滤色器层CF和共电极CE中的至少一个可以设置在第一基底DS1上。也就是说，根据一些示例性实施例的液晶显示面板可以包括诸如垂直取向(VA)模式像素、图案化垂直取向(PVA)模式像素、面内切换(IPS)模式像素、边缘场切换(FFS)模式像素或平面到线切换(PLS)模式像素的像素。然而，示例性实施例不限于前述像素结构。
图5是示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分AA的放大图。图6是根据一些示例性实施例的沿图5中的剖面线I-I'截取的剖视图。
每条数据线DL包括主数据线DL-M和扇出数据线DL-P。在图5中，示例性地示出了2n条数据线DL1至DL2n，其中，“n”是整数。
主数据线DL-M连接到像素PX。主数据线DL-M可以与第一晶体管TR1(参照图4)的输入电极IE(参照图4)和输出电极OE(参照图4)设置在同一层上。也就是说，主数据线DL-M可以设置在第一绝缘层10(参照图4)上，使得第一绝缘层10设置在主数据线DL-M和第一基底DS1之间。
扇出数据线DL-P将数据驱动器210电连接到主数据线DL-M。扇出数据线DL-P可以与第一晶体管TR1(参照图4)的控制电极CTE(参照图4)设置在同一层上。也就是说，参照图6，扇出数据线DL-P可以设置在第一基底DS1上，使得扇出数据线DL-P设置在第一绝缘层10和第一基底DS1之间。
扇出数据线DL-P可以通过限定在第一绝缘层10中的接触孔CH10连接到主数据线DL-M。
扇出数据线DL-P的与数据驱动器210相邻的部分可以具有用于通过扇出来均衡具有彼此不同长度的数据线DL的电阻值的不均匀形状。
根据一些示例性实施例的显示装置DD可以包括第一测试部件TS1，第一测试部件TS1电连接到数据线DL1至DL2n中的偶数数据线DL2、DL4、……和DL2n。第一测试部件TS1可以在由第一方向DR1和第二方向DR2限定的平面上(或平行于由第一方向DR1和第二方向DR2限定的平面)设置在像素PX和数据驱动器210之间。每个第一测试部件TS1是用于执行开路/短路(OS)测试的部分，并且每个第一测试部件TS1包括第一测试线TL1和第一测试垫(“pad”，或被称为“焊盘”或“焊垫”)PD1。
当执行开路/短路测试时，第一测试线TL1被施加有来自第一检查设备(未示出)的探针的检查信号。第一测试线TL1与主数据线DL-M在相同的方向(例如，第二方向DR2)上延伸。第一测试线TL1可以与主数据线DL-M设置在同一层上。也就是说，参照图6，第一测试线TL1可以设置在第一绝缘层10上，使得第一绝缘层10位于第一测试线TL1和第一基底DS1之间。
第一测试线TL1的长度L1(在下文中，被称为第一长度)可以等于或大于约300μm且等于或小于约500μm，例如等于或大于约350μm且等于或小于约450μm、诸如等于或大于约300μm且等于或小于约400μm、例如等于或大于约400μm且等于或小于约500μm。在一些示例性实施例中，第一长度L1可以等于或大于约300μm并且等于或小于约350μm。在一些示例性实施例中，第一长度L1可以等于或大于约450μm且等于或小于约500μm。当第一长度L1小于约300μm时，第一检查设备的探针会难以对准。当第一长度L1大于约500μm时，因为显示装置DD的非显示区域NDA(参照图1)增大，所以会难以实现窄边框。
第一测试线TL1中的彼此相邻的两条第一测试线TL1之间的距离L2(在下文中，被称为第二距离)可以等于或大于约50μm且等于或小于约100μm，诸如等于或大于约75μm且等于或小于约90μm、例如等于或大于约50μm且等于或小于约80μm、例如等于或大于约60μm且等于或小于约70μm。当第二距离L2小于约50μm时，彼此相邻的两条第一测试线TL1会由于第一检查设备的探针而短路。当第二距离L2大于约100μm时，由于像素PX之间的距离增大，会难以实现具有高清晰度的显示面板DP。
第一测试垫PD1是与第二检查设备的探针接触以便执行检查的部分，该检查用于检测当通过第一检查设备确定数据线DL开路或短路时产生缺陷的部分的精确坐标。第一测试垫PD1可以在由第一方向DR1和第二方向DR2限定的平面上设置在像素PX和第一测试线TL1之间。
第一测试垫PD1与第一测试线TL1设置在同一层中并且从第一测试线TL1延伸。第一测试垫PD1可以具有横向长度(在下文中，被称为第三长度)L3和纵向长度(在下文中，被称为第四长度)L4，第三长度L3和第四长度L4中的每个等于或大于约30μm且等于或小于约60μm，例如等于或大于约40μm且等于或小于约50μm、诸如等于或大于约30μm且等于或小于约45μm、例如等于或大于约45μm且等于或小于约60μm。当第三长度L3和第四长度L4中的每个小于约30μm时，第二检查设备的探针会难以接触第一测试垫PD1。当第三长度L3和第四长度L4中的每个大于约60μm时，第一测试垫PD1会接触与其相邻的另一第一测试垫PD1，从而引起缺陷。
尽管在图5中第一测试垫PD1布置成一行，但是示例性实施例不限于此。在一些示例性实施例中，第一测试垫PD1可以布置成多个行。
图7是示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分BB的放大图。
根据一些示例性实施例的显示装置DD可以包括第二测试部件TS2，第二测试部件TS2电连接到数据线DL1至DL2n中的奇数数据线DL1、DL3、……和DL2n-1。像素PX在由第一方向DR1和第二方向DR2限定的平面上设置在第一测试部件TS1(参照图5)和第二测试部件TS2之间。
在一些示例性实施例中，偶数数据线DL2、DL4、……和DL2n的一部分可以延伸到非显示区域NDA，但是可以不延伸到布置有第二测试部件TS2的区域。
为了本公开的目的，数据线DL中的连接到第一测试部件TS1的数据线DL可以被称为第一组，连接到第二测试部件TS2的数据线DL可以被称为第二组。
与第一测试部件TS1(参照图5)类似，每个第二测试部件TS2是用于执行开路/短路(OS)测试的部分。每个第二测试部件TS2包括第二测试线TL2和第二测试垫PD2。
与第一测试部件TS1(参照图5)类似，当执行开路/短路测试时，第二测试线TL2被施加有来自第一检查设备(未示出)的探针的检查信号。第二测试线TL2与主数据线DL-M在相同的方向(例如，第二方向DR2)上延伸。第二测试线TL2可以与主数据线DL-M设置在同一层上，使得第一绝缘层10设置在第二测试线TL2和第一基底DS1之间。
关于第二测试线TL2的长度(在下文中，被称为第五长度)L5的描述与关于在图5中描述的第一长度L1的描述基本相同，因此，在这里被省略。关于第二测试线TL2中的彼此相邻的两条第二测试线TL2的距离(在下文中，被称为第六距离)L6的描述与关于在图5中描述的第二距离L2的描述基本相同，因此，在这里被省略。
第二测试垫PD2是与第二检查设备的探针接触以便执行检查的部分，该检查用于检测当通过第一检查设备确定数据线DL开路或短路时产生缺陷的部分的精确坐标。第二测试垫PD2可以在由第一方向DR1和第二方向DR2限定的平面上设置在像素PX和第二测试线TL2之间。
第二测试线TL2从第二测试垫PD2延伸。关于第二测试垫PD2的横向长度(在下文中，被称为第七长度)L7和纵向长度(在下文中，被称为第八长度)L8的描述与关于在图5中描述的第三长度L3和第四长度L4的描述基本相同，因此，在这里被省略。
如图5至图7中所示，由于第一测试部件TS1和第二测试部件TS2设置在彼此不同的位置(或层)上，因此为了使用第一检查设备，可以确保第二距离L2和第六距离L6，并且为了使用第二检查设备，可以确保第三长度L3、第四长度L4、第七长度L7和第八长度L8。
尽管在图7中第二测试垫PD2布置成一行，但示例性实施例不限于此。在一些示例性实施例中，第二测试垫PD2可以布置成多个行。
尽管在图5至图7中第一测试部件TS1连接到偶数数据线，并且第二测试部件TS2连接到奇数数据线，但示例性实施例不限于此。在一些示例性实施例中，第一测试部件TS1可以连接到奇数数据线，第二测试部件TS2可以连接到偶数数据线。
图8是示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分AA的放大图。
参照图8，每个第一测试部件TS1-1包括第一测试线TL1-1和第一测试垫PD1-1。第一测试线TL1-1可以在由第一方向DR1和第二方向DR2限定的平面上设置在像素PX和第一测试垫PD1-1之间。关于其他组件的描述与图5和图6中描述的其他组件基本相同，因此，在这里被省略。
图9至图12是示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分BB的放大图。
参照图9，每个第二测试部件TS2-1包括第二测试线TL2-1和第二测试垫PD2-1。第二测试垫PD2-1布置成两行。在这种情况下，第二测试垫PD2-1可以具有横向长度(在下文中，被称为第九长度)L9和纵向长度(在下文中，被称为第十长度)L10，横向长度L9和纵向长度L10大于图7中的第七长度L7和第八长度L8。当第九长度L9和第十长度L10增大时，可以更容易地使用第二检查设备。
参照图10，每个第二测试部件TS2-2包括第二测试线TL2-2和第二测试垫PD2-2。第二测试垫PD2-2布置成三行。在这种情况下，第二测试垫PD2-2可以具有横向长度(在下文中，被称为第十一长度)L11和纵向长度(在下文中，被称为第十二长度)L12，横向长度L11大于图7和图9中的第七长度L7和第九长度L9中的每个，纵向长度L12大于图7和图9中的第八长度L8和第十长度L10中的每个。当第十一长度L11和第十二长度L12增大时，可以更容易地使用第二检查设备。
当第二测试垫PD2-1和PD2-2中的每个的面积增加时，探针可以更精确地接触第二测试垫PD2-1和PD2-2中的每个。
在一些示例性实施例中，奇数主数据线DL-M中的第(3k-2)(这里，“k”是等于或大于1的自然数)主数据线DL-M可以连接到第一行中的第二测试垫PD2-2。此外，奇数主数据线DL-M中的第(3k-1)主数据线DL-M可以连接到第二行中的第二测试垫PD2-2。此外，奇数主数据线DL-M中的第3k主数据线DL-M可以连接到第三行中的第二测试垫PD2-2。然而，示例性实施例不限于此。例如，可以改变第二测试垫PD2-2和奇数主数据线DL-M之间的连接关系。
参照图11，与图10的第二测试垫PD2-2类似，第二测试垫PD2-3布置成三行。连接到不同行中的第二测试垫PD2-3的两条线设置在包括在任何一行中的两个相邻的第二测试垫PD2-3之间。例如，连接到包括在第二行中的第二测试垫PD2-3的线(例如，数据线)以及连接到包括在第三行中的第二测试垫PD2-3的线(例如，数据线)设置在包括在第一行中的两个相邻的第二测试垫PD2-3之间。第一行最靠近显示区域DA设置，第三行最远离显示区域DA设置，第二行设置在第一行和第三行之间。连接到包括在第一行中的第二测试垫PD2-3的线(例如，第二测试线)以及连接到包括在第三行中的第二测试垫PD2-3的线(例如，数据线)设置在包括在第二行中的两个相邻的第二测试垫PD2-3之间。连接到包括在第一行中的第二测试垫PD2-3的线(例如，第二测试线)以及连接到包括在第二行中的第二测试垫PD2-3的线(例如，第二测试线)设置在包括在第三行中的两个相邻的第二测试垫PD2-3之间。
参照图12，每个第二测试部件TS2-4包括第二测试线TL2-4和第二测试垫PD2-4。第二测试线TL2-4可以设置在第二测试垫PD2-4和像素PX之间。关于图9至图12的除了以上描述之外的描述与图7中描述的描述基本相同，因此，在这里被省略。
图13是示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分AA和部分BB的放大图。图14是示出根据一些示例性实施例的与部分BB对应的部分的示图。
参照图13，每个第一测试部件TS1-2包括第一测试线TL1-2和第一测试垫PD1-2。每个第二测试部件TS2-5包括第二测试线TL2-5和第二测试垫PD2-5。
第一测试线TL1-2从每条主数据线DL-M的一端延伸并且设置在像素PX和数据驱动器210之间。与先前描述的其他示例性实施例不同，第一测试垫PD1-2从每条主数据线DL-M的另一端延伸。在一些示例性实施例中，第一测试垫PD1-2可以设置在与第二测试垫PD2-5的行不同的行上。然而，示例性实施例不限于第一测试垫PD1-2和第二测试垫PD2-5的布置。
参照图14，第一测试垫PD1-2可以布置在多个第一垫行中，第二测试垫PD2-6可以布置在多个第二垫行中。第一垫行和第二垫行可以彼此交替地布置。
图15是示例性地示出根据一些示例性实施例的图2A或图3A中的部分BB和外围区域的示图。尽管图11中的部分BB被示例性地示出为图15中的部分BB，但是发明构思的示例性实施例不限于此。例如，部分BB可以由图7、图9、图10、图12、图13或图14中的部分BB代替。
共电压线VP和连接电极VT可以设置在部分BB下方。共电压线VP可以将从外部提供的电压(例如，与共电压和存储电压对应的电压)提供到像素(参照图2B和图3B)的存储线STL。
连接电极VT在平面上与共电压线VP部分地叠置。连接电极VT可以电连接到共电压线VP，并且将从共电压线VP提供的共电压Vcom(参照图2B和图3B)提供到共电极CE(参照图4)。
第一开口OP-VP1和多个开口OP-VP2可以限定在共电压线VP中。
对准标记ALM可以设置在第一开口OP-VP1上(或与第一开口OP-VP1叠置)。对准标记ALM可以设置在栅极驱动电路100下方，并且用于在切割第一基底DS1(参照图4)之后执行的大多数制造工艺中实现对准。
检查图案CKP可以设置在每个第二开口OP-VP2上(或与每个第二开口OP-VP2叠置)。检查图案CKP是用于在连接电极VT电连接到共电压线VP之后检查是否适当地实现共电压线VP和连接电极VT之间的对准的图案。
根据各种示例性实施例，可以测试是否在具有高清晰度的显示面板的数据线上(或中)产生缺陷。具体地，可以对具有高清晰度的显示面板执行开路/短路检查，而无需应用大的变化或利用新设备代替现有的检查设备。
尽管这里已经描述了某些示例性实施例和实施方式，但是其他实施例和修改通过该描述将是明显的。因此，发明构思不限于这样的实施例，而是限于所附权利要求的更宽范围以及对于本领域普通技术人员而言将明显的各种明显的修改和等同布置。

Claims (10)

1.一种显示装置，所述显示装置包括：
多个像素，每个像素包括晶体管，所述晶体管包括输入电极、输出电极以及与所述输入电极和所述输出电极设置在不同的层中的控制电极；
多条数据线，所述多条数据线包括：多条主数据线，与所述输入电极和所述输出电极设置在同一层中；以及多条扇出数据线，与所述控制电极设置在同一层中，所述多条扇出数据线分别通过接触孔电连接到所述多条主数据线的第一端；
数据驱动器，电连接到所述多条扇出数据线并被配置为将数据信号提供到所述多条数据线；
多个第一测试部件，与所述多条主数据线设置在同一层中并设置在所述多个像素和所述数据驱动器之间，所述多个第一测试部件电连接到第一组数据线和第二组数据线之中的一组数据线，所述第一组数据线包括所述多条数据线之中的奇数数据线，所述第二组数据线包括所述多条数据线之中的偶数数据线；以及
多个第二测试部件，从所述第一组数据线和所述第二组数据线之中的另一组数据线中的多条数据线的多条主数据线的相应的第二端延伸。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其中：
所述多个第一测试部件包括：多条第一测试线，在平面图中与所述多条扇出数据线中的相应的扇出数据线叠置；以及多个第一测试垫，分别从所述多条第一测试线延伸，并且
所述多个第二测试部件包括：多条第二测试线；以及多个第二测试垫，分别从所述多条第二测试线延伸。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述多个第二测试垫设置在所述多条第二测试线和所述多条数据线之间。
4.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述多条第二测试线设置在所述多个第二测试垫和所述多条数据线之间。
5.根据权利要求2所述的显示装置，其中：
所述多个第一测试垫布置成一行；并且
所述多个第二测试垫布置成多个行。
6.根据权利要求5所述的显示装置，其中：
所述多个第二测试垫布置成三行；
所述另一组数据线中的所述多条数据线的每条第(3k-2)主数据线分别连接到所述多个第二测试垫之中的第一行中的第二测试垫；
所述另一组数据线中的所述多条数据线的每条第(3k-1)主数据线分别连接到所述多个第二测试垫之中的第二行中的第二测试垫；并且
所述另一组数据线中的所述多条数据线的每条第3k主数据线分别连接到所述多个第二测试垫之中的第三行中的第二测试垫，
其中，“k”是大于或等于1的自然数。
7.根据权利要求2所述的显示装置，其中：
所述多个像素布置成多个列；并且
位于所述多个列之中的一列中并且布置在奇数位置中的多个像素电连接到所述多条数据线之中的第一数据线；并且
位于所述一列中并且布置在偶数位置中的多个像素电连接到所述多条数据线之中的第二数据线，所述第二数据线与所述第一数据线相邻。
8.根据权利要求7所述的显示装置，所述显示装置还包括：
多条栅极线，配置为将栅极信号提供到所述多个像素，
其中，所述多条栅极线中的每条栅极线连接到布置在所述奇数位置中的所述多个像素中的一个以及布置在所述偶数位置中的所述多个像素中的一个。
9.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述多条第一测试线之中的两条相邻的第一测试线之间的距离以及所述多条第二测试线之中的两条相邻的第二测试线之间的距离中的每个距离大于或等于50μm且小于或等于100μm。
10.根据权利要求9所述的显示装置，其中，所述多条第一测试线中的每条第一测试线和所述多条第二测试线中的每条第二测试线具有大于或等于300μm且小于或等于500μm的长度。
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