CN110249316A - 调试器以及芯片调试方法 - Google Patents

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Abstract

一种调试器(10)以及芯片调试方法。调试器(10)包括至少一仿真外设接口(2)；仿真外设接口(2)连接于调试器(10)的微处理器(1)，且用于与被测芯片(5)的至少一外设接口连接(8)，仿真外设接口(2)被配置为具有支持一测试项进行测试的功能(101)；在测试项的测试过程中，通过仿真外设接口(2)将测试项对应的测试数据传输至被测芯片(5)(102)。该方法无需测试人员手动操作，提升了测试效率；无需购买外设便能完成与外设相关的测试，降低了测试成本。

Description

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116089199A (zh) * 2023-03-30 2023-05-09 湖南华自信息技术有限公司 一种io端口测试方法及服务器

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2907808B1 (ja) * 1998-03-31 1999-06-21 三洋電機株式会社 フラッシュメモリエミュレーション装置及びそれを用いたデバッグシステム
CN1339128A (zh) * 1999-01-22 2002-03-06 因芬尼昂技术北美公司 芯片内调试系统
US20020099977A1 (en) * 2000-11-30 2002-07-25 Palm, Inc.. On-chip debugging system emulator
US20030208722A1 (en) * 2002-05-01 2003-11-06 Fuchu Wen Chip fabrication procedure and simulation method for chip testing with performance pre-testing
US20040250244A1 (en) * 2003-06-03 2004-12-09 Albrecht Gregory F. Systems and methods for providing communication between a debugger and a hardware simulator
US7360117B1 (en) * 2002-10-24 2008-04-15 Verisilicon Holdings (Cayman Islands) Co. Ltd. In-circuit emulation debugger and method of operation thereof
CN101833063A (zh) * 2010-04-26 2010-09-15 广州市广晟微电子有限公司 对spi控制芯片进行测试的方法及装置
CN102567196A (zh) * 2010-12-27 2012-07-11 北京国睿中数科技股份有限公司 一种处理器仿真调试方法及装置
CN102662835A (zh) * 2012-03-23 2012-09-12 凌阳科技股份有限公司 一种针对嵌入式系统的程序调试方法及嵌入式系统
CN102750214A (zh) * 2011-04-19 2012-10-24 成都联星微电子有限公司 一种通过设备应用接口进行测试及编程的方法
CN202711241U (zh) * 2012-07-06 2013-01-30 建荣集成电路科技(珠海)有限公司 一种新型嵌入式仿真调试系统
CN106066809A (zh) * 2016-06-20 2016-11-02 深圳市普中科技有限公司 一种基于arm内核51仿真器的仿真调试方法及系统
CN106767995A (zh) * 2015-12-30 2017-05-31 深圳市汇顶科技股份有限公司 指纹识别设备测试系统
CN107305526A (zh) * 2016-04-22 2017-10-31 深圳市博巨兴实业发展有限公司 一种用于微控制器的调试器
CN107391334A (zh) * 2017-08-01 2017-11-24 上海航天控制技术研究所 基于全自主流程控制的数字仿真方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101359303B (zh) * 2007-08-03 2011-08-03 深圳艾科创新微电子有限公司 一种在线调试微控制器及其外设器件的装置及调试方法
CN102156263A (zh) * 2011-04-02 2011-08-17 华中科技大学 一种同步发电机励磁系统仿真测试装置
CN204631211U (zh) * 2015-05-29 2015-09-09 上海鑫皇实业有限公司 一种通用fpga测试系统
CN106598873A (zh) * 2017-01-11 2017-04-26 深圳市博巨兴实业发展有限公司 一种实现mcu芯片的用户调试模式的方案
CN107168867A (zh) * 2017-03-22 2017-09-15 深圳市博巨兴实业发展有限公司 一种实现微控制器芯片的用户debug模式的方法

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2907808B1 (ja) * 1998-03-31 1999-06-21 三洋電機株式会社 フラッシュメモリエミュレーション装置及びそれを用いたデバッグシステム
CN1339128A (zh) * 1999-01-22 2002-03-06 因芬尼昂技术北美公司 芯片内调试系统
US20020099977A1 (en) * 2000-11-30 2002-07-25 Palm, Inc.. On-chip debugging system emulator
US20030208722A1 (en) * 2002-05-01 2003-11-06 Fuchu Wen Chip fabrication procedure and simulation method for chip testing with performance pre-testing
US7360117B1 (en) * 2002-10-24 2008-04-15 Verisilicon Holdings (Cayman Islands) Co. Ltd. In-circuit emulation debugger and method of operation thereof
US20040250244A1 (en) * 2003-06-03 2004-12-09 Albrecht Gregory F. Systems and methods for providing communication between a debugger and a hardware simulator
CN101833063A (zh) * 2010-04-26 2010-09-15 广州市广晟微电子有限公司 对spi控制芯片进行测试的方法及装置
CN102567196A (zh) * 2010-12-27 2012-07-11 北京国睿中数科技股份有限公司 一种处理器仿真调试方法及装置
CN102750214A (zh) * 2011-04-19 2012-10-24 成都联星微电子有限公司 一种通过设备应用接口进行测试及编程的方法
CN102662835A (zh) * 2012-03-23 2012-09-12 凌阳科技股份有限公司 一种针对嵌入式系统的程序调试方法及嵌入式系统
CN202711241U (zh) * 2012-07-06 2013-01-30 建荣集成电路科技(珠海)有限公司 一种新型嵌入式仿真调试系统
CN106767995A (zh) * 2015-12-30 2017-05-31 深圳市汇顶科技股份有限公司 指纹识别设备测试系统
CN107305526A (zh) * 2016-04-22 2017-10-31 深圳市博巨兴实业发展有限公司 一种用于微控制器的调试器
CN106066809A (zh) * 2016-06-20 2016-11-02 深圳市普中科技有限公司 一种基于arm内核51仿真器的仿真调试方法及系统
CN107391334A (zh) * 2017-08-01 2017-11-24 上海航天控制技术研究所 基于全自主流程控制的数字仿真方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
杨松芳;张维;张勇;: "针对SoC的软硬件联合仿真方法", 无线电工程, no. 02 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116089199A (zh) * 2023-03-30 2023-05-09 湖南华自信息技术有限公司 一种io端口测试方法及服务器

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Publication number Publication date
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