CN110221191A - 包括可移动连接器的测试插座和包括该测试插座的测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种测试插座，用于通过将测试插座的连接器准确地连接到其上安装有微连接器且待测试的产品的连接器来稳定地执行测试，而不损坏连接器和包括测试插座的测试装置。测试插座包括：位于印刷电路板(PCB)上并且电连接到PCB的端子的橡胶连接器；位于橡胶连接器上的接口，用于与橡胶连接器电连接，并包括设置在两侧的端子引脚；上引导块，位于接口上，并具有形成在上引导块中心部分的第一通孔；和第一微连接器，通过第一通孔定位在接口上，与接口电连接，并可在接口上移动。

Description

包括可移动连接器的测试插座和包括该测试插座的测试装置

相关申请的交叉参考

本申请要求于2018年3月2日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2018-0025416的权益，其公开内容通过引用整体并入本文。

技术领域

本发明的一个或多个实施例涉及测试装置，更具体地，涉及用于测试其上安装有微连接器的半导体封装模块的测试插座和包括该测试插座的测试装置。

背景技术

根据最近制造具有多功能的小型半导体和数字家用电器的趋势，电子部件已经小型化。具体地，安装有用于直接连接板的高性能微连接器或板对板(B对B)连接器的产品，例如小型显示模块和相机模块，已迅速增加。因此，对用于在工业领域中测试这些产品的高性能测试插座的需求不断增长。

使用微连接器的测试方法包括使用弹簧引脚的方法和将凸形连接器插入凹形连接器的方法。使用弹簧引脚的方法存在的问题是，由于长时间使用和物理力，引脚经常具有缺陷。此外，当引脚一旦有缺陷时，微连接器的端子部分可能会凹陷和抬起，从而导致产品质量差。此外，当使用弹簧引脚时，由于仅非常有限的部分接触，因此可能由于接触不良而发生检查错误。将凸形连接器插入凹形连接器的方法存在的问题是，连接器可能由于连接器之间的不对准而损坏，并且测试插座的寿命可能降低，从而导致差的产品质量。

发明内容

一个或多个实施例包括测试插座，用于通过将测试插座的连接器精确地联接到其上安装有微连接器且待测试的产品的连接器来稳定地执行测试，而不损坏连接器和包括测试插座的测试装置。

另外的方面将部分地在下面的描述中阐述，并且部分地将从描述中显而易见，或者可以通过实践所呈现的实施例来学习。

根据一个或多个实施例，测试插座包括：橡胶连接器，位于印刷电路板(PCB)上并且电连接到PCB的端子；位于橡胶连接器上的接口，用于与橡胶连接器电连接，并包括设置在两侧的端子引脚；上引导块，位于接口上，并具有形成在上引导块的中心部分中的第一通孔；和第一微连接器，定位在接口上，与接口电连接，并可在接口上移动。

根据一个或多个实施例，测试插座包括：下引导块，其位于印刷电路板(PCB)上并且具有形成在下引导块的中心部分中的第一通孔；橡胶连接器，通过第一通孔定位在PCB上，并电连接到PCB的端子；上引导块，位于下引导块和橡胶连接器上，并具有形成在上引导块的中心部分中的第二通孔；和微连接器，位于橡胶连接器上，与橡胶连接器电连接，并且可在橡胶连接器上移动。

根据一个或多个实施例，测试装置包括：测试插座；以及安装有测试插座的印刷电路板(PCB)，其中测试插座包括：下引导块，位于PCB上并具有形成在下引导块的中心部分中的第一通孔；橡胶连接器，通过第一通孔定位在PCB上并且电连接到PCB的端子；上引导块，位于下引导块和橡胶连接器上并且具有形成在上引导块的中心部分中的第二通孔；和微连接器，通过第二通孔定位在橡胶连接器上，与橡胶连接器电连接，并可在橡胶连接器上移动。

附图说明

从以下结合附图对实施例的描述中，这些和/或其它方面将变得显而易见并且更容易理解，其中：

图1是根据本公开实施例的测试插座的透视图；

图2A是沿图1的测试插座的线I-I'截取的剖视透视图，图2B是图2A的区域A的放大平面图；

图3A是沿图1的测试插座的线I-I'截取的剖视图；

图3B至3E是图3A的区域B的放大剖视图；

图4是图1的测试插座的分解透视图；

图5A是图1的测试插座的第一微连接器的详细透视图；

图5B是沿图5A的第一微连接器的线II-II'截取的剖视图；

图5C是图5A的第一微连接器的区域C的放大透视图；

图6A是待测试的第二微连接器的详细透视图；

图6B是沿图6A的第二微连接器的线III-III'截取的剖视图；

图6C是图6A的第二微连接器的区域D的放大透视图；

图7A是图1的测试插座的接口的详细透视图；

图7B是沿图7A的接口的线IV-IV'截取的剖视图；

图8A是图1的测试插座的接口的详细透视图；

图8B是沿图8A的接口的线V-V'截取的剖视图；

图9A是图1的测试插座的橡胶连接器的详细平面图；

图9B和9C是沿图9A的橡胶连接器的线VI-VI'截取的剖视图；

图10是图1的测试插座的橡胶连接器的详细平面图；

图11是根据本公开的一个实施例的测试插座的分解透视图；和

图12是根据本公开的一个实施例的包括测试插座的测试装置和测试印刷电路板(PCB)的照片。

具体实施方式

现在将在下文中参考附图更全面地描述本发明，附图中示出了元件。然而，本公开可以以许多不同的形式实施，并且不应该被解释为限于这里阐述的实施例。相反，提供这些实施例是为了使本公开彻底和完整，并且将本公开的范围完全传达给本领域普通技术人员。

应当理解，当一个元件被称为“连接到”另一个元件时，它可以直接连接到另一个元件，或者也可以存在中间元件。应当理解，当一个元件被称为在另一个元件“上”时，它可以直接在另一个元件上，或者也可以存在中间元件。此外，在附图中，为了便于解释和清楚，夸大了元件的结构或尺寸以及部件的尺寸，并且省略了与详细描述无关的附图中的部分。附图中相同的附图标记表示相同的元件。

如果没有特别限定术语，则本文使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有本领域普通技术人员通常可理解的含义。此外，如果本公开在本文中没有特别限定术语，则词典定义的一般术语应该被理解为具有本领域中可以在上下文中理解并且不应具有理想或过度正式含义的含义。这里使用的术语应仅被认为是描述性的，而不是为了限制权利要求所限定的本公开的含义或范围。

图1是根据本公开的实施例的测试插座100的透视图。图2A是沿图1的测试插座100的线I-I'截取的剖视透视图，图2B是图2A的区域A的放大平面图。图3A是沿图1的测试插座100的线I-I'截取的剖视图，图3B至3E是图3A的区域B的放大剖视图。图4是图1的测试插座100的分解透视图。

参考图1至图4，本实施例的测试插座100可包括橡胶连接器110、接口120、第一微连接器130、上引导块140和下引导块150。

橡胶连接器110可包括橡胶本体110b(参见图9A)和形成在橡胶本体110b中的多个导线110l(参见图9A)。橡胶连接器110可以位于测试装置1000的印刷电路板(PCB)300上(参见图12)，并且导线110l可以电连接到PCB 300的端子310。将参考图9A至10更详细地描述橡胶连接器110。

下引导块150可以位于PCB 300上。下引导块150可以在中心处具有第一通孔H1，并且可以包括围绕第一通孔H1的具有预定深度的第一凹槽G1。橡胶连接器110可以通过下引导块150的第一通孔H1定位在PCB 300上。第一通孔H1可以引导橡胶连接器110定位在PCB300上的正确位置处，例如，端子310所在的凹槽部分Gp。此外，第一凹槽G1可以通过提供空间来执行缓冲操作，当通过位于第一凹槽G1上方的接口120向橡胶连接器110施加压力时接口120可以在该空间中弯曲。

根据一个实施例，可以省略下引导块150。如图4所示，PCB 300的凹槽部分Gp(端子310所在的位置)可以形成为具有比橡胶连接器110的尺寸更大的尺寸。当省略下引导块150时，PCB 300的凹槽部分Gp可以形成为具有与橡胶连接器110的尺寸相等的尺寸，并且可以引导橡胶连接器110定位在其正确位置处。

接口120可包括位于中心部分两侧处的多个端子引脚122和位于外部部分处的支撑件124。接口120可以位于橡胶连接器110和下引导块150上。接口120的端子引脚122可以电连接到位于端子引脚122下方的橡胶连接器110的导线110l(参见图9A)。将参考图7A至8B更详细地描述接口120。

第一微连接器130可包括多个第一端子引脚132(参见图5A)和第一连接器本体134，该第一连接器本体用于容纳第一端子引脚132并保持第一微连接器130的整体形状。第一微连接器130可以具有凸形连接器结构，如图1至图4所示。然而，应该理解的是，第一微连接器130不限于凸形连接器结构，并且可以具有凹形连接器结构。将参考图5A至5C更详细地描述第一微连接器130的结构。

第一微连接器130可以位于接口120上。第一微连接器130的第一端子引脚132可以电连接到接口120的端子引脚122。第一微连接器130可以在接口120上移动。换言之，第一微连接器130可以简单地放置在接口120上，而不通过使用焊接或类似方式固定到接口120。因此，当第一微连接器130联接到待测产品的第二微连接器210时，第一微连接器130可自由移动，从而使得第一微连接器130和第二微连接器210可以稳定且精确地彼此联接并防止损坏第一微连接器130的第一端子引脚132和第二微连接器210的第二端子引脚212。待测产品可以是小型显示模块或安装有微连接器的相机模块。然而，待测试产品的类型不限于此。例如，安装微连接器的任何类型的装置可以是待测试的产品。

当下面描述上引导块140时，将更详细地描述第一微连接器130的移动。

上引导块140可以位于接口120上。上引导块140可以在中心处具有第二通孔H2，并且可以包括围绕第二通孔H2的具有多级结构的第二凹槽G2。第一微连接器130可以通过上引导块140的第二通孔H2定位在接口120上。第二通孔H2可以引导第一微连接器130定位在接口120上的正确位置处。此外，第二凹槽G2可以引导待测产品的第二微连接器210容易且稳定地联接到第一微连接器130。根据包括待测产品的第二微连接器210的连接器部分的结构，可以以各种方式修改第二凹槽G2的结构。

上引导块140的第二通孔H2的水平横截面区域可以大于第一微连接器130的水平横截面区域。为了方便起见，水平横截面区域可以限定在平行于PCB 300的顶表面的平面上，例如，包括第一方向(x方向)和第二方向(y方向)的平面。此外，为了便于比较，第二通孔H2和第一微连接器130的水平横截面区域可以被定义为矩形区域。例如，如图2B所示，由虚线标记的部分而不是弯曲部分可以包括在第二通孔H2的水平横截面区域中。此外，从第一微连接器130的底表面沿第二方向(y方向)朝向两个侧表面突出的第一端子引脚132的引线部分132l(参见图5B)可以不包括在第一微连接器130的水平横截面区域中。

如图2B和3B所示，第二通孔H2可以在第一方向(x方向)和第二方向(y方向)上大于第一微连接器130。例如，当第一微连接器130位于第二通孔H2的中心处时，第二通孔H2可以比第一微连接器130大第一方向(x方向)上的第一间隔Wx的两倍和在第二方向(y方向)上的第二间隔Wy的两倍。

如上所述，第一微连接器130可以不固定到接口120并且可以在接口120上移动。然而，第一微连接器130可以仅在第二通孔H2的横截面区域的范围内移动。因此，第一微连接器130可以在第二通孔H2中移动与第一方向(x方向)上的第一间隔Wx的两倍相对应的距离，如箭头M2所示。此外，第一微连接器130可以在第二通孔H2中移动与第二方向(y方向)上的第二间隔Wy的两倍相对应的距离，如箭头M1所示。考虑到安装在待测产品上的第二微连接器210的位置(称为“安装位置”)中的可能误差，可以适当地确定作为第一微连接器130的可移动宽度的第一间隔Wx和第二间隔Wy。

在本实施例的测试插座100中，由于第一微连接器130在接口120上移动，因此第一微连接器130和第二微连接器210可以稳定且精确地彼此联接并且还可以防止损坏第一和第二微连接器130和210的第一和第二端子引脚132和212。更详细地，凹形或凸形连接器(下文中，称为“产品连接器”)通常安装并固定到待测产品上，并且测试插座的凸形或凹形连接器(下文中，称为“插座连接器”)安装并固定到测试PCB上。当测试产品时，产品连接器联接到插座连接器。如果产品连接器和/或插座连接器的安装位置存在错误，则产品连接器和/或插座连接器可能未对准，并且可能由于在联接过程期间安装位置的错误而损坏。此外，在某些情况下，产品连接器和插座连接器甚至可能不会彼此联接。这可能是因为产品连接器固定在产品上而插座连接器固定在测试PCB上。相反，在本实施例的测试插座100中，对应于插座连接器的第一微连接器130可以在联接过程中移动。因此，即使在对应于产品连接器的第二微连接器210的安装位置存在错误时，也可以稳定且精确地执行联接过程，并且还可以防止损坏第一和第二微连接器130和210。

图3B至3E示出了上引导块140和140a至140c的各种结构。例如，上引导块140和140a至140c的结构可以根据位于第一微连接器130下方的接口120和120a的结构稍微变化。

在图3B中，接口120可以具有这样的结构，其中端子引脚122通过支撑膜126固定，如图7A所示。上引导块140可以包括朝向第一微连接器130突出的侧突起Ps，并且侧突起Ps的侧表面可以限定第二通孔H2。侧突起Ps可以使第一微连接器130的第一端子引脚132能够与接口120的端子引脚122强烈地接触。例如，当第二微连接器210联接到第一微连接器130时，待测产品的PCB部分向上引导块140施加负载，并且侧突起Ps按压第一微连接器130的第一端子引脚132的每个引线部分132l。因此，第一微连接器130的第一端子引脚132可以强烈且紧密地接触接口120的端子引脚122。

在第一微连接器130和第二微连接器210彼此联接之前，侧突起Ps可以与第一微连接器130的第一端子引脚132的每个引线部分132l稍微间隔开。因此，当第一微连接器130和第二微连接器210开始彼此联接时，第一微连接器130可以自由移动以与第二微连接器210对准。

图3C的上引导块140a与图3B的上引导块140的不同之处可以在于，上引导块140a还包括从侧突起Ps的底表面突出的下突起Pl。因为上引导块140a包括下突起Pl，所以由于侧突起Ps而能够进一步改善第一微连接器130的第一端子引脚132与接口120的端子引脚122之间的接触强度。

在图3D中，接口120a可以具有这样的结构，其中端子引脚122a位于柔性印刷电路板(FPCB)128的顶表面和底表面上，如图8A所示，并且在端子引脚122a的顶表面上可以不存在另外的支撑膜。因此，上引导块140b的本体部分的底表面可以低于侧突起Ps的底表面。其它结构与参考图3B的上引导块140描述的结构相同。根据一个实施例，如图3B所示，上引导块140b的本体部分的底表面和侧突起Ps的底表面可以在同一平面上。

图3E的上引导块140c与图3D的上引导块140b的不同之处可以在于，上引导块140c还包括从侧突起Ps的底表面突出的下突起Pl。其它结构与参考图3C的上引导块140a描述的结构相同。另外，根据一个实施例，如图3C所示，上引导块140c的本体部分的底表面和侧突起Ps的底表面可以在同一平面上。

作为参考，在图4中，作为安装在待测产品上并固定到待测产品的微连接器的第二微连接器210可以具有凹形连接器结构。应该理解，第二微连接器210可以具有凸形连接器结构。换言之，当产品的第二微连接器210具有凹形连接器结构时，本实施例的测试插座100的第一微连接器130可具有如图1等所示的凸形连接器结构。相反，当产品的第二微连接器210具有凸形连接器结构时，本实施例的测试插座100的第一微连接器130可以具有凹形连接器结构。此外，应当理解，即使当第一微连接器130具有凹形连接器结构时，第一微连接器130也可以在接口120上移动。将参考图6A至6C更详细地描述第二微连接器210。

图4可以示出测试装置1000的PCB 300的一部分(参见图12)，测试插座100安装在该部分上。此外，测试插座100可以通过使用紧固构件360(例如，螺钉或螺栓)安装并固定到PCB 300上。

在本实施例的测试插座100中，第一微连接器130可以不通过使用焊接或类似方式固定到接口120，并且可以在接口120上移动。因此，当第一微连接器130联接到待测产品的第二微连接器210时，第一微连接器130自由移动以与第二微连接器210对准，从而使第一微连接器130和第二微连接器210能够稳定且精确地彼此联接并防止损坏第一和第二微连接器130和210的第一和第二端子引脚132和212。结果，可以延长测试插座100的寿命，可以减少产品缺陷，并且可以提高测试可靠性。此外，由于第一微连接器130没有通过焊接或类似方式固定到接口120，因此即使发生缺陷，第一微连接器130和/或接口120也可以单独地更换，从而降低更换测试插座100的成本。

图5A是图1的测试插座的第一微连接器130的详细透视图，图5B是沿图5A的第一微连接器130的线II-II'截取的剖视图，图5C是示出图5A的第一微连接器130的区域C的放大透视图。

参考图5A至5C，第一微连接器130可包括第一端子引脚132和第一连接器本体134。多个第一端子引脚132可以沿第一连接器本体134的侧表面定位。每个第一端子引脚132可以包括围绕第一连接器本体134的突出侧表面的接触部分132c和从第一连接器本体134的底表面延伸并且侧向突出的引线部分132l。第一端子引脚132的接触部分132c可以是接触第二微连接器210的第二端子引脚212(参见图6B)的接触部分212c(参见图6B)的部分。此外，第一端子引脚132的引线部分132l可以是与接口120的端子引脚122接触的部分。第一微连接器130的第一端子引脚132可以与第二微连接器210的第二端子引脚212处于2点或3点接触。将参考图6A至6C更详细地描述2点或3点接触。

第一连接器本体134可以容纳和支撑第一端子引脚132并且可以保持第一微连接器130的整体形状。第一连接器本体134可以由绝缘材料形成，用于使第一端子引脚132绝缘。如图5A所示，第一连接器本体134可以具有开口的盒状形状，在中心处具有凹槽并且在一个方向上伸长。

第一微连接器130和第二微连接器210彼此联接，使得突出部分插入相应的凹槽部分中。例如，第一连接器本体134的突出侧表面可以插入第二微连接器210的第二连接器本体214(参见图6A)的凹槽部分中，并且第二连接器本体214的中心突出部分可以插入第一连接器本体134的凹槽部分中。

第一连接器本体134的突出侧表面可以具有倒圆结构R1和R2。当第一微连接器130和第二微连接器210彼此联接时，倒圆结构R1和R2允许自然插入，从而使第一微连接器130和第二微连接器210能够容易地彼此联接并防止损坏第一微连接器130和第二微连接器210的第一和第二端子引脚132和212。此外，在本实施例的测试插座100中，第一微连接器130是可移动的。因此，由于倒圆结构R1和R2以及第一微连接器130的移动性，第一微连接器130和第二微连接器210可以更容易且稳定地彼此联接。

图6A是待测产品的第二微连接器210的详细透视图，图6B是沿图6A的第二微连接器210的线III-III'截取的剖视图，以及图6C是示出图6A的第二微连接器210的区域D的放大透视图。

参考图6A至图6C，第二微连接器210可包括第二端子引脚212和第二连接器本体214。多个第二端子引脚212可以沿着第二连接器本体214的两个凹槽定位。每个第二端子引脚212可以包括围绕第二连接器本体214的凹槽的接触部分212c和从接触部分212c延伸到第二连接器本体214的底表面的引线部分212l。如上所述，第二端子引脚212的接触部分212c可以接触第一端子引脚132的接触部分132c。第二端子引脚212的引线部分212l可以接触待测产品的PCB的端子，并且通常，引线部分212l可以通过使用焊接或类似方式固定到产品的PCB，从而可以将第二微连接器210安装在产品的PCB上。

第一微连接器130的第一端子引脚132可以与第二微连接器210的第二端子引脚212处于2点或3点接触。例如，如图5B和6B所示，当第一端子引脚132的突出部分插入第二端子引脚212的凹槽部分时，第一端子引脚132的两个突出侧表面接触第二端子引脚212的在凹槽中的两个侧表面。因此，第一端子引脚132可以与第二端子引脚212进行2点接触。此外，根据一个实施例，当第一端子引脚132深深地插入到凹槽中时，第一端子引脚132的顶表面部分可以接触第二端子引脚212的底部部分。因此，第一端子引脚132可以与第二端子引脚212处于2点或3点接触。

由于第一微连接器130的第一端子引脚132与第二微连接器210的第二端子引脚212处于2点或3点接触，因此可以提高接触可靠性，从而可以提高测试可靠性。图5B和6B的第一微连接器130的第一端子引脚132和第二微连接器210的第二端子引脚212仅仅是示例，第一和第二端子引脚132和212的结构不限于此。例如，应当理解，支撑2点或3点接触的各种结构可以应用于第一微连接器130和第二微连接器210的端子引脚。此外，具有1点接触结构的端子引脚也可以应用于第一微连接器130和第二微连接器210。

第二连接器本体214可以容纳和支撑第二端子引脚212并且可以保持第二微连接器210的整体形状。第二连接器本体214可以由绝缘材料形成，用于使第二端子引脚212绝缘。如图6A所示，第二连接器本体214可以具有在一个方向上伸长的开口盒状形状，并且可以具有其中长突出部分位于中心并且凹槽围绕突出部分的结构。第二连接器本体214的这种结构可以对应于第一微连接器130的第一连接器本体134的结构。例如，第一连接器本体134的突出侧表面可以插入第二连接器本体214的凹槽部分中，并且第二连接器本体214的中心突出部分可以插入第一连接器本体134的凹槽部分中。

倒圆结构R3和R4可以形成在第二连接器本体214的外侧表面和中心突起上。当第一微连接器130和第二微连接器210彼此联接时，倒圆结构R3和R4允许自然插入，从而使第一微连接器130和第二微连接器210能够容易地彼此联接并防止损坏第一微连接器130和第二微连接器210的第一和第二端子引脚132和212。此外，在本实施例的测试插座100中，第一微连接器130是可移动的。因此，由于倒圆结构R1和R2以及第一微连接器130的移动性和第二微连接器210的倒圆结构R3和R4，第一微连接器130和第二微连接器210可以更容易且稳定地相互联接。

此外，具有诸如第二微连接器210的凹形连接器结构的微连接器可以定位成可在测试插座100的接口120上移动，并且具有诸如第一微连接器130的凸形连接器结构的微连接器可以定位成安装在待测产品上并固定到待测产品上。换言之，本实施例的测试插座100可以包括与安装在待测产品上的微连接器结构相对应的微连接器结构，并且可以包括可在接口120上移动的微连接器结构。

图7A是图1的测试插座100的接口120的详细透视图，图7B是沿图7A的接口120的线IV-IV'截取的剖视图。

参考图7A和7B，接口120可包括端子引脚122、支撑件124和支撑膜126。端子引脚122可以沿着形成在中心部分处且是伸长的第三通孔H3的两侧定位，并且可以彼此电气地和物理地分离。端子引脚122可以由导电材料形成。例如，端子引脚122可以由诸如铍铜或不锈钢(SUS)的金属材料形成。然而，端子引脚122的材料不限于此。可以在端子引脚122上进行镀镍或镀金以防止划痕并改善导电性。

支撑件124可以位于第三通孔H3延伸的方向上的两个外部部分处。支撑件124可以由与端子引脚122的金属材料相同的金属材料形成，并且可以与端子引脚122电分离。根据一个实施例，支撑件124可以在沿着第三通孔H3的外部部分处分离。接口120可以通过支撑件124包括在测试插座100中，并且可以安装在PCB上。

支撑膜126可以安装在端子引脚122和支撑件124的顶表面和底表面上。例如，支撑膜126可以包括位于端子引脚122和支撑件124的顶表面上的上支撑膜126u和位于端子引脚122和支撑件124的底表面上的下支撑膜126d。支撑膜126可以以预定间隔固定端子引脚122，使得端子引脚122接触第一微连接器130的第一端子引脚132。例如，端子引脚122可以通过支撑膜126以约0.3mm至约0.4mm的间隔固定。端子引脚122的间隔不限于该值。此外，支撑膜126可以定位成使得与第三通孔H3相邻的端子引脚122的部分暴露于外部。端子引脚122可以通过暴露部分电连接到位于端子引脚122上方的第一微连接器130和位于端子引脚122下方的橡胶连接器110。

支撑膜126可以是具有优异的绝缘性和耐热性的高性能胶带。然而，支撑膜126的材料不限于此。例如，支撑膜126可以由环氧树脂形成。在本实施例的测试插座100中，尽管接口120的支撑膜126附着到端子引脚122和支撑件124的两个表面，但是接口120的结构不限于此。例如，支撑膜126可以仅附着到端子引脚122和支撑件124的顶表面和底表面中的一个上。此外，支撑膜126的尺寸和形状不限于图7A中所示的尺寸和形状。例如，支撑膜126可以具有各种尺寸和形状中的任何一种，只要支撑膜126可以固定端子引脚122即可。

图8A是图1的测试插座100的接口120a的详细透视图，图8B是沿图8A的接口120a的线V-V'截取的剖视图。

参考图8A和8B，接口120a可以包括端子引脚122a和FPCB 128。端子引脚122a可以沿着形成在中心部分处且是伸长的的第三通孔H3'的两侧位于FPCB 128的顶表面和底表面上。例如，端子引脚122a可以包括位于FPCB 128的顶表面上的上端子引脚122au和位于FPCB128的底表面上的下端子引脚122ad。

端子引脚122a可以沿第三通孔H3'的两侧彼此电气地和物理地分离。端子引脚122a可以成对地定位在FPCB 128的顶表面和底表面上，并且每对中的两个端子引脚122au、122ad可以通过形成在FPCB 128中的过孔触头125彼此电连接。根据一个实施例，可以省略第三通孔H3'。

FPCB 128可以由柔性绝缘材料形成，该柔性绝缘材料可以自由弯曲和屈曲。例如，FPCB 128可以由绝缘塑料形成，例如聚酰亚胺(PI)、聚酯(PET)或玻璃环氧树脂(GE)。由于FPCB 128由柔性材料形成，因此即使在测试期间施加弯曲应力，也可以使损坏最小化。FPCB128可以具有包括一个层的单层结构，或者可以具有其中堆叠多个层的多层结构。当FPCB128具有多层结构时，布线图案可以位于层之间。

可以在FPCB 128中形成穿过FPCB 128的多个过孔触头125。过孔触头125可以由具有高导电率的金属材料形成，例如铜(Cu)、铝(Al)、镍(Ni)或Ni/Cu。每个过孔触头125可以电连接如上所述位于FPCB 128的顶表面和底表面上的每对中的两个端子引脚122au、122ad。尽管过孔触头125位于图8B中的外部部分处，但是过孔触头125的位置不限于此。例如，过孔触头125可以位于任何位置，只要每个过孔触头125可以电连接每对中的两个端子引脚122au、122ad。

作为参考，作为电子产品开发的作为电子部件的普通FPCB变得小而轻且具有优异的可加工性、高耐热性、高抗弯性和高耐化学性，因此被广泛用作任何电子产品的必要部件，例如相机、计算机和周边设备、移动电话、视频/音频装置、便携式摄像机、打印机、数字通用光盘(DVD)、薄膜晶体管液晶显示器(TFT LCD)、卫星装置、军事装置或医疗装置。制造FPCB需要比制造PCB更精确和更精细的工作，并且FPCB的示例包括单面FPCB、双面FPCB和多层FPCB，如普通PCB。

在本实施例的测试插座100中，接口120a的FPCB 128可以具有单面、双面或多层FPCB结构。然而，在本实施例的测试插座100中，由于接口120a的FPCB 128连接上端子引脚122au和下端子引脚122ad，因此可能不会在FPCB 128的顶表面和底表面上形成附加电路图案，除了过孔触头125之外。然而，根据一个实施例，可以在FPCB128的顶表面和底表面上形成电路图案。

此外，当第一微连接器130移动以自由对准时，图7A或图8A的接口120或120a可减小摩擦并可延长橡胶连接器110的寿命。此外，接口120或120a可以减小施加到橡胶连接器110的负载，并且可以通过阻挡从上侧引入的异物来保护橡胶连接器110的表面。

图9A是图1的测试插座100的橡胶连接器110的详细平面图，图9B和9C是沿图9A的橡胶连接器110的线VI-VI'截取的剖视图。

参考图9A至9C，橡胶连接器110可包括橡胶本体110b和导线110l。橡胶本体110b可以由例如硅树脂形成。然而，橡胶本体110b的材料不限于硅树脂。导线110l可以是形成在橡胶本体110b中的金属线。金属线可以穿过橡胶本体110b并且可以以非常窄的间隔密集地布置，例如，其间的间隔等于或小于0.1mm。

橡胶连接器110可以通过导线1101电连接位于橡胶连接器110上方的接口120的端子引脚122和位于橡胶连接器110下方的PCB300的端子310。由于橡胶连接器110的导线110l彼此分开，所以橡胶连接器110可以将接触导线110l的上部部分的端子引脚122电连接到与导线110l的下部部分接触的相应端子310，并且可以将接触导线110l的上部部分的端子引脚122与其它端子310电分离。

导线110l可以相对于橡胶本体110b的顶表面以预定角度θ倾斜，如图9B所示。此外，导线1101可以垂直于橡胶本体110b的顶表面，如图9C所示。当导线110l倾斜时，由于导线110l对竖直压力的应变很强，所以可以提高橡胶连接器110的寿命和稳定性。此外，在制造方法中，与垂直结构相比，导线1101可以被制造为具有非常小的间隔。可以根据施加到橡胶连接器110的压力适当地调节导线110l的倾斜角度。相反，当导线110l垂直时，可以容易地检查端子的连接关系。

图10是图1的测试插座100的橡胶连接器110a的详细平面图。

参考图10，本实施例的橡胶连接器110a具有与图9A的橡胶连接器110不同的结构。也就是，在本实施例的测试插座100中，橡胶连接器110a可以包括导电微粒110p，例如镀金镍粉，作为橡胶本体110b中的导线。导电微粒110p可以分别形成在分别对应于接口120的端子引脚122或PCB 300的端子310的位置处。也就是，接口120的端子引脚122和PCB 300的端子310可以分别通过由导电微粒110p形成的导线连接。

图11是根据本公开的实施例的测试插座100a的分解透视图。将简要地给出或省略与参考图1至10所做的描述相同的描述。

参考图11，本实施例的测试插座100a与图4的测试插座100的不同之处可以在于测试插座100a不包括接口。更详细地，在本实施例中，测试插座100a可包括橡胶连接器110、第一微连接器130、上引导块140和下引导块150。第一微连接器130可以位于橡胶连接器110上并且可以在橡胶连接器110上移动。第一微连接器130移动的程度可以受形成在上引导块140中的第二通孔H2的限制。已经参考图1至图6和图9A至图10描述了橡胶连接器110、第一微连接器130、上引导块140、下引导块150和第二微连接器210，因此，将不再给出重复的解释。

图12是根据本公开的实施例的包括测试插座和测试PCB的测试装置1000的照片。

参考图12，测试装置1000可以包括测试插座100或100a和PCB300。测试插座100或100a可以是图1的测试插座100或图11的测试插座100a。测试插座100可以安装在PCB 300上。PCB 300可以是测试PCB，用于测试其上安装有微连接器并且待测试的产品，例如小型显示模块或相机模块。

本实施例的测试装置1000可以通过使用安装在PCB 300上的图1或图11的测试插座100或100a测试产品来稳定且可靠地测试其上安装有微连接器且待测试的产品。

根据本公开的技术精神的测试插座和包括该测试插座的测试装置可以通过将测试插座的连接器精确地联接到其上安装有微连接器且待测试的产品来稳定地执行测试，而不会损坏连接器。

在根据本发明的技术精神的测试插座中，第一微连接器不通过使用焊接或类似方式固定到接口或橡胶连接器，并且可在接口或橡胶连接器上移动。因此，当第一微连接器联接到待测产品的第二微连接器时，第一微连接器自由移动以与第二微连接器对准，从而使得第一微连接器和第二微连接器可以稳定且精确地彼此联接并防止损坏第一和第二微连接器的端子引脚。结果，可以延长测试插座的寿命，可以减少产品缺陷，并且可以提高测试可靠性。此外，由于第一微连接器没有通过使用焊接或类似方式固定到接口，因此当发生缺陷时，第一微连接器和/或接口可以单独地更换，从而降低更换测试插座的成本。

虽然已经参考附图描述了一个或多个实施例，但是本领域普通技术人员将理解，在不脱离由以下权利要求限定的本公开的精神和范围的情况下，可以在形式和细节上进行各种改变。

Claims (16)

1.一种测试插座，其包括：

橡胶连接器，所述橡胶连接器位于印刷电路板(PCB)上并且电连接到PCB的端子；

接口，所述接口位于橡胶连接器上，用于与橡胶连接器电连接，并且包括布置在两侧处的端子引脚；

上引导块，所述上引导块位于接口上，并具有形成在上引导块的中心部分中的第一通孔；以及

第一微连接器，所述第一微连接器位于接口上并与接口电连接，除了被上引导块覆盖的外部部分之外，所述第一微连接器通过第一通孔暴露，并且所述第一微连接器能够在接口上移动，

其中第一微连接器具有凸形连接器结构或凹形连接器结构，以对应于待测产品的第二微连接器的凹形连接器结构或凸形连接器结构。

2.根据权利要求1所述的测试插座，其中具有凸形连接器结构的第一微连接器或第二微连接器通过插入具有凹形连接器结构的第二微连接器或第一微连接器而联接，

其中当第一微连接器和第二微连接器彼此联接时，第一微连接器能够在接口上移动。

3.根据权利要求2所述的测试插座，其中第一微连接器包括倒圆结构，当第一微连接器和第二微连接器彼此联接时，所述倒圆结构允许自然插入，并且在通过倒圆结构自然插入期间第一微连接器能够移动。

4.根据权利要求2所述的测试插座，其中当第一微连接器与第二微连接器彼此联接时，第一微连接器的端子引脚与第二微连接器的端子引脚处于2点或3点接触。

5.根据权利要求2所述的测试插座，其中当在平行于PCB的顶表面的平面上由第一方向和垂直于第一方向的第二方向限定水平横截面区域时，

第一微连接器的水平横截面区域小于第一通孔的水平横截面区域，

其中第一微连接器能够在第一通孔的水平横截面区域的范围内沿第一方向和第二方向中的至少一个方向移动。

6.根据权利要求1所述的测试插座，其还包括下引导块，所述下引导块位于PCB和接口之间并具有第二通孔，

其中橡胶连接器通过第二通孔定位在PCB上。

7.根据权利要求1所述的测试插座，其中橡胶连接器包括橡胶本体和形成在橡胶本体中的导线，

其中导线由导电微粒或金属线形成。

8.根据权利要求7所述的测试插座，其中当导线由金属线形成时，

金属线穿过橡胶本体并垂直地或倾斜地形成在橡胶本体的顶表面上。

9.根据权利要求1所述的测试插座，其中接口包括主体和支撑膜，所述本体包括所述端子引脚和外部支撑件，所述支撑膜用于固定所述端子引脚。

10.根据权利要求1所述的测试插座，其中接口包括柔性PCB(FPCB)，所述柔性PCB具有处于中心连接区域中的多个过孔触头，并且所述端子引脚位于所述中心连接区域中，

其中端子引脚在连接区域中成对地设置在FPCB的顶表面和底表面上，并且每对中的两个端子引脚通过所述多个过孔触头中的每一个彼此连接。

11.根据权利要求1所述的测试插座，其中上引导块包括侧突起，所述侧突起限定所述第一通孔并覆盖第一微连接器的端子引脚的引线部分。

12.根据权利要求11所述的测试插座，其中上引导块还包括从侧突起的底表面朝向引线部分突出的下突起。

13.一种测试插座，其包括：

下引导块，所述下引导块位于印刷电路板(PCB)上，并具有形成在下引导块的中心部分中的第一通孔；

橡胶连接器，所述橡胶连接器通过第一通孔定位在PCB上，并电连接到PCB的端子；

上引导块，所述上引导块位于下引导块和橡胶连接器上，并具有形成在上引导块的中心部分中的第二通孔；以及

微连接器，所述微连接器位于橡胶连接器上并与橡胶连接器电连接，除了被上引导块覆盖的外部部分之外，所述微连接器通过第二通孔暴露，并且所述微连接器能够在橡胶连接器上移动，

其中微连接器具有凸形连接器结构或凹形连接器结构，以对应于待测产品的微连接器的凹形连接器结构或凸形连接器结构。

14.根据权利要求13所述的测试插座，其中当所述微连接器和待测产品的微连接器彼此联接时，所述微连接器能够在橡胶连接器上移动。

15.一种测试装置，其包括：

测试插座；以及

印刷电路板(PCB)，测试插座安装在印刷电路板上，

其中测试插座包括：

下引导块，所述下引导块位于PCB上，并具有形成在下引导块的中心部分中的第一通孔，

橡胶连接器，所述橡胶连接器通过第一通孔定位在PCB上，并电连接到PCB的端子，

上引导块，所述上引导块位于下引导块和橡胶连接器上，并具有形成在上引导块的中心部分中的第二通孔，和

微连接器，所述微连接器位于橡胶连接器上并与橡胶连接器电连接，除了被上引导块覆盖的外部部分之外，所述微连接器通过第二通孔暴露，并且所述微连接器能够在橡胶连接器上移动，

其中微连接器具有凸形连接器结构或凹形连接器结构，以对应于待测产品的微连接器的凹形连接器结构或凸形连接器结构。

16.根据权利要求15所述的测试装置，其中测试插座还包括位于下引导块和橡胶连接器上的接口，所述接口电连接到橡胶连接器并包括布置在两侧处的端子引脚，

其中微连接器位于接口上以与接口电连接，并且能够在接口上移动。