KR102176707B1

KR102176707B1 - 벤딩 구조의 인터페이스, 및 그 인터페이스를 포함하는 인터페이스 어셈블리

Info

Publication number: KR102176707B1
Application number: KR1020200008751A
Authority: KR
Inventors: 이승용
Original assignee: 이승용
Priority date: 2020-01-22
Filing date: 2020-01-22
Publication date: 2020-11-09

Abstract

본 발명의 기술적 사상은 테스트 대상을 신뢰성 있고 신속하게 테스트할 수 있도록 하는 인터페이스, 그 인터페이스를 포함하는 인터페이스 어셈블리를 제공한다. 그 인터페이스 어셈블리는 벤딩 구조의 인터페이스; 및 상기 인터페이스의 구조를 유지시키고, 상기 인터페이스의 내부 공간에 삽입되어 결합하는 어댑터(adaptor);를 포함하고, 상기 어댑터는, 하면의 상기 제1 방향의 양쪽 끝단 부분에 상기 제2 방향으로 연장하면서 하방으로 돌출된 형태의 스타퍼(stopper)가 형성되고, 상기 하부 단자 핀들은 상기 스타퍼 사이에 배치되며, 상기 하면에 상기 제1 방향으로 연장하는 2개의 제1 삽입 홈이 형성되고, 상기 제1 삽입 홈에 탄성 재질의 제1 완충물이 삽입된다.

Description

벤딩 구조의 인터페이스, 및 그 인터페이스를 포함하는 인터페이스 어셈블리 {Interface of vending structure, and interface assembly comprising the interface}

본 발명의 기술적 사상은 테스트 소켓에 관한 것으로서, 특히 테스트 대상을 테스트할 때, 테스트 대상의 단자 핀들과 테스트 PCB의 단자 핀들을 연결하는 인터페이스, 및 그 인터페이스를 포함하는 인터페이스 어셈블리에 관한 것이다.

최근 반도체 및 디지털 가전제품의 다기능화, 소형화 추세에 따라 전자 제품도 초소형화되어 가고 있고, 또한, 그러한 전자 제품들에 대한 신뢰성 있고 신속한 테스트가 요구되고 있다. 특히, 다양한 구조의 단자 핀들을 갖는 반도체 패키지들, 예컨대, QFP(Quad Flat Package), SOP(Small Outline Package), LGA(Land Grid Array) 패키지, 및 SMD(Surface Mounting Device) 패키지 등에 대해 신뢰성 있고 신속한 테스트가 요구되고 있다. 한편, 소형 디스플레이 모듈과 카메라 모듈 등과 같이 보드와 보드를 바로 연결하는 고기능 마이크로 커넥터(Micro-Connector) 또는 비투비 커넥터(Board to Board Connector)를 실장한 형태의 제품이 급격히 증가하고 있다.

기존의 경우, 반도체 패키지 또는 마이크로 커넥터를 포함하는 전자 제품에 대한 테스트는 주로 포고-핀을 이용한 방식으로 진행되고 있다. 그러나 포고-핀을 이용한 방식은 장시간 사용과 물리적인 힘으로 인한 핀의 불량이 자주 발생하는 문제가 있다. 또한, 핀의 불량 발생시 마이크로 커넥터의 단자부의 함몰 및 들림 현상이 발생하여 전자 제품의 품질 불량 사고로 이어질 수 있다. 더 나아가, 포고-핀을 이용 시 극히 제한된 부분만 접촉이 이루어지므로 접촉 불량으로 인한 검사 에러가 발생할 수도 있다.

본 발명의 기술적 사상이 해결하고자 하는 과제는 테스트 대상을 신뢰성 있고 신속하게 테스트할 수 있도록 하는 인터페이스, 그 인터페이스를 포함하는 인터페이스 어셈블리를 제공하는 데에 있다.

상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 기술적 사상은, 개의 부분 인터페이스, 및 상기 2개의 부분 인터페이스를 연결하는 연결 몸체를 포함하고, 상기 2개의 부분 인터페이스 각각은, 상부 단자 핀들이 제1 방향을 따라 배치된 상부 접촉부; 상기 상부 접촉부의 하부에 배치되고, 하부 단자 핀들이 상기 제1 방향을 따라 배치된 하부 접촉부; 상기 상부 단자 핀들 각각을 대응하는 상기 하부 단자 핀들 각각으로 연결하는 연결 라인들을 구비하고, 상기 연결 라인들 각각은 2개의 벤딩부를 통해 동일 방향으로 2번 벤딩되어 상부 라인, 측면 라인, 및 하부 라인을 갖는, 연결부; 및 상기 2개의 부분 인터페이스와 상기 연결 몸체의 상면을 덮는 상부 지지 테이프와, 상기 2개의 부분 인터페이스와 상기 연결 몸체의 하면을 덮는 하부 지지 테이프를 구비한 지지 테이프;를 포함하고, 상기 상부 단자 핀들 각각은 대응하는 상기 연결 라인들 각각과 상기 하부 연결 라인들 각각에 일체로 연결되며, 상기 상부 지지 테이프와 하부 지지 테이프 각각은, 상기 2개의 부분 인터페이스의 상부 접촉부와 상기 연결 몸체에 대응하는 중앙부와 상기 중앙부에서 양쪽으로 연장하는 2개의 연장부를 구비하고, 상기 상부 지지 테이프의 연장부는 상기 제1 방향에 수직하는 제2 방향으로 상기 하부 지지 테이프의 연장부보다 짧고 상기 하부 단자 핀들의 적어도 일부를 노출시키며, 상기 하부 지지 테이프의 연장부는 상기 하부 단자 핀들을 덮는 것을 특징으로 하는 벤딩 구조의 인터페이스를 제공한다.

또한, 본 발명의 기술적 사상은, 상기 과제를 해결하기 위하여, 벤딩 구조의 인터페이스; 및 상기 인터페이스의 구조를 유지시키고, 상기 인터페이스의 내부 공간에 삽입되어 결합하는 어댑터(adaptor);를 포함하고, 상기 어댑터는, 하면의 상기 제1 방향의 양쪽 끝단 부분에 상기 제2 방향으로 연장하면서 하방으로 돌출된 형태의 스타퍼(stopper)가 형성되고, 상기 하부 단자 핀들은 상기 스타퍼 사이에 배치되며, 상기 하면에 상기 제1 방향으로 연장하는 2개의 제1 삽입 홈이 형성되고, 상기 제1 삽입 홈에 탄성 재질의 제1 완충물이 삽입된, 것을 특징으로 하는 인터페이스 어셈블리를 제공한다.

본 발명의 기술적 사상에 의한 인터페이스는, 'ㄷ'자 벤딩 구조를 갖는 제1 부분 인터페이스 및 제2 부분 인터페이스가 연결 몸체를 통해 서로 결합한 구조를 가지며, 또한, 상부 단자 핀들이 대응하는 하부 단자 핀들로 연결 라인들을 통해 직접 연결되는 구조를 가질 수 있다. 그에 따라, 본 실시예의 인터페이스(100)는 테스트 대상을 신뢰성 있게 테스트할 수 있도록 하며, 또한, 테스트의 반복을 통해 쌓이는 오염 물질 등에 대해서도 전혀 영향을 받지 않을 수 있다.

또한, 본 발명의 기술적 사상에 의한 인터페이스 어셈블리는 바디에 스타퍼가 형성된 어댑터를 포함함으로써, 인터페이스 어셈블리가 테스트 소켓에 결합하여 테스트 대상을 테스트할 때, 상부에서 가해지는 압력이 하부 단자 핀들 및 그에 연결된 연결부의 부분으로 바로 전달되는 것을 저지할 수 있고, 따라서, 인터페이스의 하부 단자 핀들 및 연결부의 부분이 상방으로 과도하게 휘어져 변형되는 문제를 해결할 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 벤딩 구조의 인터페이스에 대한 사시도이다.
도 2a 내지 도 2c는 도 1의 인터페이스에 부착되는 상부 지지 테이프, 하부 지지 테이프들, 및 인터페이스에 지지 테이프들이 부착된 형태를 보여주는 평면도들이다.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예에 따른 어댑터에 대한 사시도들이다.
도 4a 내지 도 4c 본 발명의 일 실시예들에 따른 어댑터들에 대한 사시도들이다.
도 5a 및 도 5b는 본 발명의 일 실시예에 따른 인터페이스와 어댑터가 결합한 인터페이스 어셈블리에 대한 사시도들이다.
도 6a 내지 도 6c 본 발명의 일 실시예들에 따른 인터페이스와 어댑터가 결합한 인터페이스 어셈블리에 대한 사시도들이다.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 본 발명의 실시예들은 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위하여 제공되는 것이며, 하기 실시예는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것은 아니다. 오히려, 이들 실시예는 본 개시를 더욱 충실하고 완전하게 하고, 통상의 기술자에게 본 발명의 사상을 완전하게 전달하기 위하여 제공되는 것이다.

이하의 설명에서 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 연결된다고 기술될 때, 이는 다른 구성 요소와 바로 연결될 수도 있지만, 그 사이에 제3의 구성 요소가 개재될 수도 있다. 유사하게, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소의 상부에 존재한다고 기술될 때, 이는 다른 구성 요소의 바로 위에 존재할 수도 있고, 그 사이에 제3의 구성 요소가 개재될 수도 있다. 또한, 도면에서 각 구성 요소의 구조나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되었고, 설명과 관계없는 부분은 생략되었다. 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다.

달리 정의되지 않는 한, 여기에 사용되는 모든 용어들은 기술 용어와 과학 용어를 포함하여 본 발명 개념이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 공통적으로 이해하고 있는 바와 동일한 의미를 지닌다. 또한, 통상적으로 사용되는, 사전에 정의된 바와 같은 용어들은 관련되는 기술의 맥락에서 이들이 의미하는 바와 일관되는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 여기에 명시적으로 정의하지 않는 한 과도하게 형식적인 의미로 해석되어서는 아니 될 것이다. 한편, 사용되는 용어들은 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 벤딩 구조의 인터페이스에 대한 사시도이다.

도 1을 참조하면, 본 실시예의 벤딩 구조의 인터페이스(100, 이하, 간단히 '인터페이스'라 한다)는 제1 부분 인터페이스(100-1), 제2 부분 인터페이스(100-2), 연결 몸체(140), 및 지지 테이프(150)를 포함할 수 있다. 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)는 중앙에 형성된 오픈 영역(H0)을 중심으로 대칭된 구조를 가질 수 있다. 그에 따라, 설명의 편의를 위해 제1 부분 인터페이스(100-1)에 대해서만 설명한다.

제1 부분 인터페이스(100-1)는 상부 접촉부(110), 하부 접촉부(120), 및 연결부(130)를 포함할 수 있다. 상부 접촉부(110)에는 다수의 상부 단자 핀들(112)이 제1 방향(x 방향)을 따라 배치될 수 있다. 하부 접촉부(120)는 상부 접촉부(110)의 하부에 위치하며, 하부 접촉부(120)에는 다수의 하부 단자 핀들(122)이 제1 방향(x 방향)을 따라 배치될 수 있다. 연결부(130)는 다수의 연결 라인들(132)을 포함하고, 연결 라인들(132) 각각은 상부 단자 핀들(112) 각각을 대응하는 하부 단자 핀들(122) 각각으로 서로 연결할 수 있다.

한편, 상부 단자 핀들(112) 각각은 그에 대응하는 연결 라인들(132)의 각각, 그리고 하부 단자 핀들(122)의 각각과 일체로 하나의 메탈 라인을 구성할 수 있다. 다시 말해서, 제1 부분 인터페이스(100-1)는 다수의 메탈 라인들로 구성되고, 메탈 라인들 각각이 상부 접촉부(110)에 대응하는 상부 단자 핀(112), 하부 접촉부(120)에 대응하는 하부 단자 핀(122), 및 연결부(130)에 대응하는 연결 라인(132)으로 구별된다고 볼 수 있다. 그에 따라, 상부 단자 핀들(112), 하부 단자 핀들(122), 및 연결 라인들(132)은 모두 동일한 메탈 물질로 형성될 수 있다. 예컨대, 상부 단자 핀들(112), 하부 단자 핀들(122), 및 연결 라인들(132)은 베릴륨-카파(Beryllium-Copper)나 스테인레스 스틸(SUS) 등의 메탈로 형성될 수 있다. 그러나 상부 단자 핀들(112), 하부 단자 핀들(122), 및 연결 라인들(132)의 재질이 전술한 재질에 한정되는 것은 아니다.

실시예에 따라, 스크래치 방지 및 전도성 향상을 위해, 상부 단자 핀들(112), 하부 단자 핀들(122), 및 연결 라인들(132)에는 니켈 및 금 등이 도금될 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 상부 단자 핀들(112)의 끝단 부분은 중앙이 볼록한 구조로 형성되어, 제2 방향(y 방향)의 수직하는 단면으로 볼 때, 상부 단자 핀들(112)의 끝단 부분은 凸 구조를 가질 수 있다. 더 나아가 실시예에 따라, 하부 단자 핀들(122)의 끝단 부분은 계단 형태로 벤딩된 구조를 가질 수 있다. 그에 따라, 하부 단자 핀들(122)의 끝단 부분은 연결 라인들(132)에 연결된 하부 단자 핀들(122)의 부분보다 하방으로 더 낮게 위치할 수 있다.

연결 라인들(132) 각각은 2개의 벤딩부(134)를 포함하고, 또한, 벤딩부(134)를 통해 동일 방향으로 2번 벤딩되어 'ㄷ'자 벤딩 구조를 가질 수 있다. 여기서, 'ㄷ'자 벤딩 구조는 정확히 'ㄷ'자에 한정되지 않고 그와 유사한 벤딩 구조를 모두 포함할 수 있다. 예컨대, 'ㄷ'자 벤딩 구조는 입구 쪽으로 좁아지는 벤딩 구조나 넓어지는 벤딩 구조를 포함할 수 있다. 또한, 'ㄷ'자 벤딩 구조는 벤딩 부분이 특정 각도를 가지지 않고 라운드 형태를 가질 수도 있다. 더 나아가 'ㄷ'자 벤딩 구조는 상부 부분과 하부 부분을 연결하는 측면 부분 전체가 라운드 형태를 가질 수도 있다.

'ㄷ'자 벤딩 구조에 기초하여, 연결 라인들(132) 각각은 상부 단자 핀(112)과 일체로 연결된 상부 라인, 하부 단자 핀(122)과 일체로 연결된 하부 라인, 및 2개의 벤딩부(134) 사이의 측면 라인을 구비할 수 있다. 예컨대, 상부 라인은 상부 단자 핀(112)이 연장하는 제2 방향(y 방향)으로 연장하고, 하부 라인은 하부 단자 핀(122)이 연장하는 제2 방향(y 방향)으로 연장할 수 있다. 또한, 측면 라인은 제3 방향(z 방향)으로 연장할 수 있다. 한편, 벤딩부(134)는 다른 부분보다 얇은 두께나 폭을 가질 수 있다. 그러나 실시예에 따라, 벤딩부(134)는 다른 부분과 동일한 두께를 가질 수도 있다.

연결 몸체(140)는 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)를 결합할 수 있다. 연결 몸체(140)는 인터페이스(100)의 상부 층, 예컨대, 상부 접촉부(110)와 연결부(130)의 상부 라인이 배치된 부분에 배치되고, 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)로부터 제1 방향(x 방향)의 양쪽으로 돌출된 구조를 가질 수 있다.

한편, 연결 몸체(140)에는 오픈 영역(H0)이 형성되며, 전술한 바와 같이, 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)는 오픈 영역(H0)을 기준으로 대칭된 구조를 가질 수 있다. 좀더 구체적으로, 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)의 상부 단자 핀들(112)은 제2 방향(y 방향)으로 연장하여 오픈 영역(H0)으로 돌출되는 구조를 가지며, 오픈 영역(HO)에서 대칭되는 구조로 배치될 수 있다. 또한, 오픈 영역(HO)에서 대칭된 구조를 가짐에 따라, 제1 부분 인터페이스(100-1)의 상부 단자 핀들(112)과 제2 부분 인터페이스(100-2)의 상부 단자 핀들(112) 사이에 제1 방향(x 방향)으로 연장하는 형태의 오픈 라인(Hl)이 형성될 수 있다.

한편, 연결 몸체(140)는 제1 부분 인터페이스(100-1)와 동일 재질로 형성되나 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)와는 전기적으로 분리될 수 있다. 연결 몸체(140)에는 결합 홀(H1)이 형성되어 있는데, 결합 홀(H1)을 통해 인터페이스(100)가 어댑터(도 3a의 200 참조)에 결합할 수 있다. 도 1에서 결합 홀(H1)이 4개 형성되고 있지만, 결합 홀(H1)의 개수가 4개에 한정되는 것은 아니다. 예컨대 실시예에 따라, 결합 홀은 2개 또는 6개 등 다양한 개수로 형성될 수 있다.

지지 테이프(150)는 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)를 고정하여 지지할 수 있다. 좀더 구체적으로, 지지 테이프(150)는, 상부 단자 핀들(112) 각각, 하부 단자 핀들(122) 각각, 그리고 연결 라인들(132) 각각을 제1 방향(x 방향)으로 서로 이격되게 고정 및 유지시킬 수 있다. 지지 테이프(150)는 연결 몸체(140), 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)의 상면을 덮는 상부 지지 테이프(150u)와, 연결 몸체(140), 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)의 하면을 덮는 하부 지지 테이프(150d)를 포함할 수 있다.

지지 테이프(150)의 중앙 부분에는 연결 몸체(140)의 오픈 영역(H0)에 대응하는 오픈 영역(도 2a의 Huc 또는 도 2b의 Hdc 참조)이 형성될 수 있다. 그에 따라, 상부 단자 핀들(112) 각각은 적어도 일부분이 오픈 영역을 통해 지지 테이프(150)로부터 노출될 수 있다. 지지 테이프(150)의 구조 및 그에 따른 상부 단자 핀들(112)의 노출 구조에 대해서는 도 2a 내지 도 2c의 설명 부분에서 좀더 상세히 설명한다.

참고로, 본 실시예의 인터페이스(100)에서, 상부 지지 테이프(150u)에 의해 덮인 부분이 연결부(130)로 정의되고, 상부 지지 테이프(150u)로부터 노출된 부분이 상부 접촉부(110)와 하부 접촉부(120)로 정의될 수 있다. 그러나 실시예에 따라, 2개의 벤딩부(134)의 사이의 측면 부분만이 연결부로 정의되고, 상면 부분 전체가 상부 접촉부로, 그리고 하면 부분 전체가 하부 접촉부로 정의될 수도 있다.

지금까지, 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)가 중앙의 오픈 영역(H0)을 중심으로 대칭된 구조의 인터페이스(100)에 대해서 설명하였지만, 인터페이스의 구조가 그에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 실시예에 따라, 도 6b 또는 도 6c에 도시된 바와 같이, 오픈 영역(H0)이 제2 방향(y 방향)의 한쪽으로 치우친 구조를 가질 수 있다. 그에 따라, 상부 접촉부(110) 및 그에 연결된 연결부(130)의 부분도 대칭되지 않고, 제2 방향(y 방향)의 한쪽으로 치우친 구조를 가질 수 있다.

본 실시예의 인터페이스(100)는 'ㄷ'자 벤딩 구조를 갖는 제1 부분 인터페이스(100-1) 및 제2 부분 인터페이스(100-2)가 연결 몸체(140)를 통해 서로 결합한 구조를 가질 수 있다. 또한, 본 실시예의 인터페이스(100)는 상부 단자 핀들(112)이 대응하는 하부 단자 핀들(122)로 연결 라인들(132)을 통해 직접 연결되는 구조를 가질 수 있다. 그에 따라, 본 실시예의 인터페이스(100)는 테스트 대상을 신뢰성 있게 테스트할 수 있도록 하며, 또한, 테스트의 반복을 통해 쌓이는 오염 물질 등에 대해서도 전혀 영향을 받지 않을 수 있다. 결과적으로, 본 실시예의 인터페이스(100)는 테스트 대상을 고속으로 신뢰성 있게 테스트하는 데에 기여할 수 있다.

좀더 구체적으로 설명하면, 본 실시예의 인터페이스(100)는 인터페이스 어셈블리(도 5a의 300 참조)와 함께 테스트 소켓에 포함될 수 있다. 이러한 테스트 소켓에 의해 테스트 대상을 테스트할 때, 테스트 대상과 테스트 PCB 사이에 인터페이스(100)만이 개입되고, 테스트 대상의 단자 핀들은 인터페이스(100)의 상부 단자 핀들(112)로 연결되며, 테스트 PCB의 단자 핀들은 하부 단자 핀들(122)로 연결될 수 있다. 또한, 상부 단자 핀들(112)은 연결 라인들(132)을 통해 대응하는 하부 단자 핀들(122)로 직접 연결될 수 있다. 따라서, 본 실시예의 인터페이스(100)를 포함하는 테스트 소켓은 접촉 불량에 따른 에러를 최소화할 수 있고, 직접 연결된 구조에 기인하여, 끊어지는 경우를 제외하고 이물질의 개입 등에 의한 전기적인 차단의 염려가 전혀 없다.

도 2a 내지 도 2c는 도 1의 인터페이스에 부착되는 상부 지지 테이프, 하부 지지 테이프들, 및 인터페이스에 지지 테이프들이 부착된 형태를 보여주는 평면도들이다.

도 2a 내지 도 2c를 참조하면, 본 실시예의 인터페이스(100)는 지지 테이프(150)를 포함하고, 지지 테이프(150)는 상부 지지 테이프(150u)와 하부 지지 테이프(150d)를 포함할 수 있다. 상부 지지 테이프(150u)는, 제1 부분 인터페이스(100-1)의 연결부(130), 제2 부분 인터페이스(100-2)의 연결부(130), 및 연결 몸체(140)의 상면을 덮을 수 있다. 상부 지지 테이프(150u)에는 연결 몸체(140)에 형성된 오픈 영역(H0)과 결합 홀(H1)에 대응하여 오픈 영역(Huc)과 결합 홀(H1')이 형성될 수 있다. 또한, 상부 지지 테이프(150u)에는 연결부(130)의 벤딩부(134) 대응하여 제1 방향(x 방향)으로 연장된 오픈 라인(Hul)이 형성될 수 있다.

그에 따라, 상부 지지 테이프(150u)는 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)의 연결부(130)의 벤딩부(134)를 노출하며, 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)의 상부 접촉부(110)과 하부 접촉부(120)를 노출할 수 있다. 또한, 상부 지지 테이프(150u)는 연결 몸체(140)에 대응하는 부분에서부터 제2 방향(y 방향)으로 제1 길이(L1)를 가질 수 있다.

본 실시예의 인터페이스(100)에서, 하부 지지 테이프(150d)는 오픈 영역(Hdc)에서 제1 미세 돌출부(P1)를 가지며, 또한, 제2 방향(y 방향)으로 양 끝단 부분에 제2 미세 돌출부(P2)를 갖는다는 점에서, 상부 지지 테이프(150u)의 구조와 다를 수 있다. 구체적으로, 하부 지지 테이프(150d)는, 상부 지지 테이프(150u)의 구조와 유사하게, 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)의 연결부(130), 및 연결 몸체(140)의 하면을 덮는 구조를 가질 수 있고, 연결 몸체(140)에 형성된 오픈 영역(H0)과 결합 홀(H1)에 대응하여 오픈 영역(Hdc)과 결합 홀(H1")이 형성될 수 있다. 또한, 하부 지지 테이프(150d)에는 연결부(130)의 벤딩부(134) 대응하여 제1 방향(x 방향)으로 연장된 오픈 라인(Hdl)이 형성될 수 있다.

한편, 하부 지지 테이프(150d)는, 제1 미세 돌출부(P1)를 통해 상부 접촉부(110)의 하면을 덮을 수 있다. 즉, 제1 미세 돌출부들(P1)은, 오픈 영역(Hdc)에서 제2 방향(y 방향)의 중앙 부분으로 돌출되고 제1 방향(x 방향)을 따라 배치되며, 서로 분리된 구조를 가질 수 있다. 또한, 도 2c에서 알 수 있듯이, 제1 미세 돌출부들(P1) 각각은 인터페이스(100)의 상부 접촉부(110)의 대응하는 상부 단자 핀들(112) 각각의 하면을 덮을 수 있다. 이러한 제1 미세 돌출부(P1)는 상부 접촉부(110)를 지지하고, 또한, 상부 접촉부(110)의 탄성력 강화에 기여할 수 있다.

하부 지지 테이프(150d)는, 제2 미세 돌출부(P2)를 통해 하부 접촉부(120)를 덮을 수 있다. 즉, 제2 미세 돌출부들(P2)은, 제2 방향(y 방향)으로 양 끝단 부분에서 제1 방향(x 방향)을 따라 배치되며, 서로 분리된 구조를 가질 수 있다. 또한, 하부 지지 테이프(150d)는 제2 미세 돌출부(P2)를 포함함으로써, 연결 몸체(140)에 대응하는 부분에서부터 제2 방향(y 방향)으로 제1 길이(L1)보다 긴 제2 길이(L2)를 가질 수 있다. 그에 따라, 도 2c에서 알 수 있듯이, 제2 미세 돌출부들(P2) 각각은 인터페이스(100)의 하부 접촉부(120)의 대응하는 하부 단자 핀들(122) 각각의 하면을 덮을 수 있다. 이러한 제2 미세 돌출부(P2)는 하부 접촉부(120)를 지지하고, 또한, 하부 접촉부(120)의 탄성력 강화에 기여할 수 있다.

결국, 하부 지지 테이프(150d)는 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)의 연결부(130)의 벤딩부(134)만을 노출하고, 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)의 상부 접촉부(110)와 하부 접촉부(120)는 노출하지 않을 수 있다. 참고로, 도 2c는 상부 지지 테이프(150u) 쪽에서 본 평면도로서, 하부 지지 테이프(150d)의 제1 미세 돌출부(P1)는 상부 단자 핀들(112) 사이에 노출되고, 제2 미세 돌출부(P2)는 하부 단자 핀들(122) 사이에 노출될 수 있다.

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예에 따른 어댑터에 대한 사시도들로서, 도 3a는 어댑터의 상부 쪽에서 본 사시도이고, 도 3b는 어댑터의 하부 쪽에서 본 사시도이다.

도 3a 및 도 3b를 참조하면, 본 실시예의 어댑터(200)는 바디(201), 바디의 상면(201t) 상에 형성된 결합 돌기(203), 및 바디의 하면(201b)의 하부 삽입 홈(Gd)에 삽입된 하부 완충물(220d)을 포함할 수 있다.

결합 돌기(203)는 바디(201)의 상면(201t) 상에 4개 형성될 수 있다. 그러나 결합 돌기(203)의 개수가 4개에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 결합 돌기(203)는 인터페이스(100)의 결합 홀(H1)에 대응하는 부분에 결합 홀(H1)의 개수만큼 배치될 수 있다. 따라서, 인터페이스(100)의 결합 홀(H1)이 4개가 아닌 경우, 결합 돌기(203)도 그와 대응하는 개수로 형성될 수 있다.

어댑터(200)의 바디(201)는 인터페이스(100)의 형태에 대응하여 제1 방향(x 방향)으로 연장하는 구조를 가질 수 있다. 또한, 제1 방향(x 방향)에 수직하는 바디(201)의 단면은 직사각형 구조를 가질 수 있다. 또한, 바디(201)의 하면(201b) 상에는 도 3b에 도시된 바와 같이, 제1 방향(x 방향)의 양쪽 끝 부분에 제2 방향(y 방향)으로 연장하면서 제3 방향(z 방향)으로 돌출된 스타퍼(201p, stopper)가 형성될 수 있다. 도 5b에서 알 수 있듯이, 인터페이스(100)는 양쪽 스타퍼(201p) 사이에 배치될 수 있다.

스타퍼(201p)가 바디(201)의 하면(201b) 상에 형성됨으로써, 인터페이스(100)를 포함한 인터페이스 어셈블리(도 5a의 300 참조)가 테스트 소켓에 포함되어 테스트 대상을 테스트할 때, 상부에서 가해지는 압력이 하부 단자 핀들(122) 및 그에 연결된 연결부(130)의 부분으로 바로 전달되는 것을 저지할 수 있다. 그에 따라, 인터페이스(100)의 하부 단자 핀들(122) 및 연결부(130)의 부분이 상방으로 과도하게 휘어져 변형되는 문제를 해결할 수 있다.

한편, 바디(201)의 하면(201b)에는 하부 삽입 홈(Gd)이 형성되어 있고, 하부 삽입 홈(Gd)에는 하부 완충물(220d)이 삽입되어 배치될 수 있다. 하부 삽입 홈(Gd)은 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)의 하부 접촉부(120)에 대응하여 2개에 형성될 수 있다. 또한, 2개의 하부 삽입 홈(Gd)에 대응하여, 하부 완충물(220d) 역시 2개씩 배치될 수 있다.

하부 삽입 홈(Gd)은 제1 방향(x 방향)으로 연장하는 형태로 형성되고, 하부 완충물(220d) 역시 제1 방향(x 방향)으로 연장하는 형태를 가질 수 있다. 예컨대, 하부 완충물(220d)은 일 방향으로 연장하는 원기둥, 타원 기둥이나 다각 기둥 형태를 가질 수 있다. 물론, 하부 완충물(220d)은 하부 삽입 홈(Gd)의 제1 방향(x 방향)의 길이에 대응하는 길이를 가지며, 또한, 하부 삽입 홈(Gd)의 폭에 대응하는 지름이나 폭을 가질 수 있다. 하부 완충물(220d)은 예컨대, 실리콘 고무와 같은 탄성을 갖는 물질로 형성될 수 있다. 이러한 하부 완충물(220d)은 테스트 PCB의 단자 핀들이 하부 단자 핀들(122)과 접촉할 때, 탄성을 통해 완충 작용을 함으로써, 접촉을 원활하고 안정적으로 유도할 수 있다.

도 4a 내지 도 4c 본 발명의 일 실시예들에 따른 어댑터들에 대한 사시도들로서, 모두 어댑터의 상부 쪽에서 본 사시도들이며, 하부 쪽의 사시도는 도 3b의 사시도와 실질적으로 동일할 수 있다. 도 3a 및 도 3b에서 이미 설명한 내용은 간단히 설명하거나 생략한다.

도 4a를 참조하면, 본 실시예의 어댑터(200a)는 바디(201)의 상면(201t) 상에 상부 삽입 홈(Guc)이 형성되고, 또한 상부 삽입 홈(Guc)에 상부 완충물(220u)이 배치된다는 점에서, 도 3a의 어댑터(200)와 다를 수 있다. 구체적으로, 본 실시예의 어댑터(200a)에서, 바디(201)의 상면(201t)의 중앙 부분에는 상부 삽입 홈(Guc)이 형성될 수 있다. 상부 삽입 홈(Guc)은 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)의 상부 접촉부(110)에 대응하여 2개에 형성될 수 있다. 또한, 2개의 상부 삽입 홈(Guc)에 대응하여, 상부 완충물(220u) 역시 2개씩 배치될 수 있다. 상부 삽입 홈(Guc)의 구조, 및 상부 완충물(220u)의 형태와 재질 등은 하부 삽입 홈(Gd) 및 하부 완충물(220d)에 대해 설명한 바와 같다. 상부 완충물(220u)은 테스트 대상의 단자 핀들이 상부 단자 핀들(112)과 접촉할 때, 탄성을 통해 완충 작용을 함으로써, 접촉을 원활하고 안정적으로 유도할 수 있다.

도 4b를 참조하면, 본 실시예의 어댑터(200b)는 바디(201)의 상면(201t) 상에 결합 돌기(203)가 2개 형성된다는 점에서, 도 3a의 어댑터(200)와 다를 수 있다. 구체적으로, 본 실시예의 어댑터(200b)에서, 바디(201)의 상면(201t)의 4개의 꼭지점들 중에 제2 방향(y 방향)으로 어느 한쪽의 2개의 꼭지점 부분에만 결합 돌기(203)가 형성될 수 있다. 이와 같이, 제2 방향(y 방향)으로 어느 한쪽으로 결합 돌기(203)가 형성된 구조는, 도 6b에서 알 수 있듯이, 바디(201)의 상면(201t) 상에서, 제1 부분 인터페이스(100-1)와 제2 부분 인터페이스(100-2)의 연결부(130)의 길이가 다르고, 그에 따라, 상부 접촉부(110)의 위치가 제2 방향(y 방향)으로 치우친 인터페이스(100a)의 구조에 기인할 수 있다. 참고로, 이러한 인터페이스(100a)의 구조는, 인터페이스(100a)를 포함하는 테스트 소켓이, 테스트 대상의 마이크로 커넥터와 결합할 때, 마이크로 커넥터의 구조에 대응하여 결합 마진을 확보하기 위하여 채용될 수 있다.

도 4c를 참조하면, 본 실시예의 어댑터(200c)는 바디(201)의 상면(201t) 상에 결합 돌기(203)가 2개 형성되고, 또한, 상부 삽입 홈(Gue)에 상부 완충물(220u)이 배치된다는 점에서, 도 3a의 어댑터(200)와 다를 수 있다. 구체적으로, 본 실시예의 어댑터(200c)에서, 결합 돌기(203)는 도 4b의 어댑터(200b)와 같이 바디(201)의 상면(201t) 상에 2개 형성될 수 있다.

또한, 본 실시예의 어댑터(200c)의 바디(201)의 상면(201t)에서, 제2 방향(y 방향)으로 2개의 결합 돌기(203)가 형성된 부분에 반대되는 에지 부분에 상부 삽입 홈(Gue)이 형성될 수 있다. 상부 삽입 홈(Gue)은 상부 접촉부(110)의 위치가 치우친 인터페이스(100a)의 제1 부분 인터페이스(100a-1)와 제2 부분 인터페이스(100a-2)의 상부 접촉부(110)에 대응하는 위치에 2개에 형성될 수 있다. 또한, 2개의 상부 삽입 홈(Gue)에 대응하여, 상부 완충물(220u) 역시 2개씩 배치될 수 있다. 상부 삽입 홈(Gue)의 구조, 및 상부 완충물(220u)의 형태와 재질 등은 하부 삽입 홈(Gd) 및 하부 완충물(220d)에 대해 설명한 바와 같다. 상부 완충물(220u)은 테스트 대상의 단자 핀들이 상부 단자 핀들(112)과 접촉할 때, 탄성을 통해 완충 작용을 함으로써, 접촉을 원활하고 안정적으로 유도할 수 있다.

도 5a 및 도 5b는 본 발명의 일 실시예에 따른 인터페이스와 어댑터가 결합한 인터페이스 어셈블리에 대한 사시도들로서, 각각 도 3a 및 도 3b의 어댑터에 대응한다. 도 1 내지 도 4c의 설명 부분에서 이미 설명한 내용은 간단히 설명하거나 생략한다.

도 5a 및 도 5b를 참조하면, 본 실시예의 인터페이스 어셈블리(300)는 인터페이스(100), 및 어댑터(200)를 포함할 수 있다. 인터페이스(100)는 도 1의 인터페이스에 해당할 수 있다. 다만, 도 5a 및 도 5b에서, 편의상 지지 테이프(150)는 생략되어 도시되지 않고 있다. 인터페이스(100)는, 연결 몸체(140)가 결합 홀(H1)을 통해 어댑터(200)의 결합 돌기(203)에 결합함으로써, 어댑터(200)에 결합할 수 있다.

도 5b에서 알 수 있듯이, 인터페이스(100)의 하부 접촉부(120) 및 그에 연결된 연결부(130)의 부분은 바디(201)의 양쪽 스타퍼(201p) 사이에 배치될 수 있다. 또한, 인터페이스(100)의 하부 접촉부(120)는 바디(201)의 하면 상에 배치된 하부 완충물(220d) 상에 배치될 수 있다. 전술한 바와 같이, 하부 완충물(220d)은 테스트 PCB의 단자 핀들이 하부 단자 핀들(122)과 접촉할 때, 탄성을 통해 완충 작용을 함으로써, 접촉을 원활하고 안정적으로 유도할 수 있다.

도 6a 내지 도 6c 본 발명의 일 실시예들에 따른 인터페이스와 어댑터가 결합한 인터페이스 어셈블리에 대한 사시도들로서, 각각 도 4a 내지 4c의 어댑터에 대응한다. 도 1 내지 도 5b의 설명 부분에서 이미 설명한 내용은 간단히 설명하거나 생략한다.

도 6a를 참조하면, 본 실시예의 인터페이스 어셈블리(300a)는 도 4a의 어댑터(200a)를 포함한다는 점에서, 도 5a의 인터페이스 어셈블리(300)와 다를 수 있다. 구체적으로, 본 실시예의 인터페이스 어셈블리(300a)에서, 인터페이스(100)는, 연결 몸체(140)가 결합 홀(H1)을 통해 어댑터(200a)의 결합 돌기(203)에 결합함으로써, 어댑터(200a)에 결합할 수 있다. 또한, 인터페이스(100)의 하부 접촉부(120) 및 그에 연결된 연결부(130)의 부분은 바디(201)의 양쪽 스타퍼(201p) 사이에 배치되고, 하부 접촉부(120)는 하부 완충물(220d) 상에 배치될 수 있다.

도 6a에 도시된 바와 같이, 인터페이스(100)의 상부 접촉부(110)는, 상부 삽입 홈(Guc)에 삽입된 상부 완충물(220u) 상에 배치될 수 있다. 전술한 바와 같이, 상부 완충물(220u)은 테스트 대상의 단자 핀들이 상부 단자 핀들(112)과 접촉할 때, 탄성을 통해 완충 작용을 함으로써, 접촉을 원활하고 안정적으로 유도할 수 있다.

도 6b를 참조하면, 본 실시예의 인터페이스 어셈블리(300b)는 한쪽으로 치우친 구조의 인터페이스(100a)와 그에 대응하는 도 4b의 어댑터(200b)를 포함한다는 점에서, 도 5a의 인터페이스 어셈블리(300)와 다를 수 있다. 구체적으로, 본 실시예의 인터페이스 어셈블리(300b)에서, 인터페이스(100a)는, 제2 방향(y 방향)으로 제1 부분 인터페이스(100a-1)와 제2 부분 인터페이스(100a-2)의 어댑터(200b)의 상면 상의 연결부(130)의 길이가 다를 수 있다. 예컨대, 어댑터(200b)의 상면 상에서, 제1 부분 인터페이스(100a-1)의 연결부(130)가 제2 부분 인터페이스(100a-2)의 연결부(130)의 길이보다 길 수 있다. 그에 따라, 상부 접촉부(110)는 제2 방향(y 방향)으로 제2 부분 인터페이스(100a-2) 부분 쪽으로 치우쳐 배치될 수 있다.

한편, 본 실시예의 인터페이스 어셈블리(300b)에서, 인터페이스(100a)는, 연결 몸체(140)가 2개의 결합 홀(H1)을 통해 어댑터(200b)의 2개의 결합 돌기(203)에 결합함으로써, 어댑터(200b)에 결합할 수 있다. 결합 돌기(203)는 제2 방향(y 방향)으로 상부 접촉부(110)가 배치된 부분의 반대 방향에 형성될 수 있다.

도 6c를 참조하면, 본 실시예의 인터페이스 어셈블리(300c)는 도 4c의 어댑터(200c)를 포함한다는 점에서, 도 6b의 인터페이스 어셈블리(300b)와 다를 수 있다. 구체적으로, 본 실시예의 인터페이스 어셈블리(300c)에서, 어댑터(200c)는 바디(201)의 상면 상의 제2 부분 인터페이스(100a-2) 쪽에, 상부 삽입 홈(Gue)이 형성되고, 상부 삽입 홈(Gue) 내에 상부 완충물(220u)이 삽입되어 배치될 수 있다. 또한, 인터페이스(100a)의 상부 접촉부(110)는, 상부 완충물(220u) 상에 배치될 수 있다. 상부 완충물(220u)은 테스트 대상의 단자 핀들이 상부 단자 핀들(112)과 접촉할 때, 탄성을 통해 완충 작용을 함으로써, 접촉을 원활하고 안정적으로 유도할 수 있다.

지금까지, 본 발명을 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

100, 100a: 인터페이스, 110: 상부 접촉부, 112: 상부 단자 핀, 120: 하부 접촉부, 122: 하부 단자 핀, 130: 연결부, 132: 연결 라인, 134: 벤딩부, 140: 연결 몸체, 150: 지지 테이프, 200, 200a ~ 200c: 어댑터, 201: 바디, 201p: 스타퍼, 203: 결합 돌기, 220u: 하부, 상부 완충물, 300, 300a, 300b: 인터페이스 어셈블리

Claims

2개의 부분 인터페이스, 및 상기 2개의 부분 인터페이스를 연결하는 연결 몸체를 포함하고,
상기 2개의 부분 인터페이스 각각은,
상부 단자 핀들이 제1 방향을 따라 배치된 상부 접촉부;
상기 상부 접촉부의 하부에 배치되고, 하부 단자 핀들이 상기 제1 방향을 따라 배치된 하부 접촉부;
상기 상부 단자 핀들 각각을 대응하는 상기 하부 단자 핀들 각각으로 연결하는 연결 라인들을 구비하고, 상기 연결 라인들 각각은 2개의 벤딩부를 통해 동일 방향으로 2번 벤딩되어 상부 라인, 측면 라인, 및 하부 라인을 갖는, 연결부; 및
상기 2개의 부분 인터페이스와 상기 연결 몸체의 상면을 덮는 상부 지지 테이프와, 상기 2개의 부분 인터페이스와 상기 연결 몸체의 하면을 덮는 하부 지지 테이프를 구비한 지지 테이프;를 포함하고,
상기 상부 단자 핀들 각각은 대응하는 상기 연결 라인들 각각과 상기 하부 연결 라인들 각각에 일체로 연결되며,
상기 상부 지지 테이프와 하부 지지 테이프 각각은,
상기 2개의 부분 인터페이스의 상부 접촉부와 상기 연결 몸체에 대응하는 중앙부와 상기 중앙부에서 양쪽으로 연장하는 2개의 연장부를 구비하고,
상기 상부 지지 테이프의 연장부는 상기 제1 방향에 수직하는 제2 방향으로 상기 하부 지지 테이프의 연장부보다 짧고 상기 하부 단자 핀들의 적어도 일부를 노출시키며, 상기 하부 지지 테이프의 연장부는 상기 하부 단자 핀들을 덮는 것을 특징으로 하는 벤딩 구조의 인터페이스.
제1 항에 있어서,
상기 상부 지지 테이프의 상기 중앙부에 직사각형 형태의 제1 오픈 영역이 형성되고, 상기 제1 오픈 영역을 통해 상기 2개의 부분 인터페이스의 상부 단자 핀들의 상면이 노출되며,
상기 하부 지지 테이프의 상기 중앙부에 상기 제1 오픈 영역에 대응하는 제2 오픈 영역이 형성되되, 상기 제2 오픈 영역에서 중앙 쪽으로 돌출되고 상기 2개의 부분 인터페이스의 상부 단자 핀들 각각의 하면을 덮으며 서로 분리된 미세 돌출부가 형성된 것을 특징으로 하는 벤딩 구조의 인터페이스.
제2 항에 있어서,
상기 연장부에는 상기 벤딩부에 대응하여 상기 제1 방향을 따라 연장된 형태의 오픈 라인이 형성되며,
상기 하부 지지 테이프의 연장부의 끝단 부분은, 대응하는 상기 부분 인터페이스의 상기 하부 단자 핀들을 서로 분리된 형태로 덮는 것을 특징으로 하는 벤딩 구조의 인터페이스.
제1 항 내지 제3 항 중 어느 한 항의 벤딩 구조의 인터페이스; 및
상기 인터페이스의 구조를 유지시키고, 상기 인터페이스의 내부 공간에 삽입되어 결합하는 어댑터(adaptor);를 포함하고,
상기 어댑터는, 하면의 상기 제1 방향의 양쪽 끝단 부분에 상기 제2 방향으로 연장하면서 하방으로 돌출된 형태의 스타퍼(stopper)가 형성되고, 상기 하부 단자 핀들은 상기 스타퍼 사이에 배치되며,
상기 하면에 상기 제1 방향으로 연장하는 2개의 제1 삽입 홈이 형성되고, 상기 제1 삽입 홈에 탄성 재질의 제1 완충물이 삽입된, 것을 특징으로 하는 인터페이스 어셈블리.
제4 항에 있어서,
상기 제1 완충물은 실리콘의 기둥 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 인터페이스 어셈블리.
제4 항에 있어서,
상기 어댑터는, 상면에 상기 제1 방향으로 연장하는 2개의 제2 삽입 홈이 형성되고, 상기 제2 삽입 홈에 탄성 재질의 제2 완충물이 삽입된, 것을 특징으로 하는 인터페이스 어셈블리.