CN110073432B - 显示装置及其接缝校正方法 - Google Patents

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Abstract

提供一种显示装置。该显示装置包括：显示器，包括多个显示模块；以及处理器，被配置为根据借助从第一相邻像素发射的光而流过在光接收模式下操作的参考像素的电流来测量第一电压，根据借助从第二相邻像素发射的光而流过在光接收模式下操作的参考像素的电流来测量第二电压，以及响应于所测量的电压之间的差大于或等于预定阈值，基于第一电压和第二电压的幅度来调整关于第二相邻像素的增益，并且第一相邻像素包括在与第二相邻像素不同的显示模块中。

Description

显示装置及其接缝校正方法
技术领域
与示例实施例一致的装置和方法涉及显示装置及其接缝(seam)校正方法，更具体地，涉及显示装置及其控制方法。
背景技术
发光二极管(LED)是一种将电流转换为光的半导体发光二极管。近来，LED越来越多地用作显示光源，汽车光源和照明光源。此外，通过使用荧光材料或组合各种颜色的发光二极管，可以实现发射具有优异效率的白光的发光二极管。
这种发光二极管可以以发光元件封装的形式大规模生产。通过根据诸如每个发光元件封装的发光强度的特性对发光元件封装进行分类，将大规模生产的发光元件封装用作光源。
当使用多个LED模块(或箱(cabinet))构造显示面板时，出现了由于LED模块的组装容差而产生暗线(或亮线)的问题。
发明内容
技术问题
一个或多个示例实施例提供了一种显示装置以及其接缝校正方法，该显示装置可以基于包括在不同显示模块中并且布置在两个相邻行之一中的像素，根据从与相应像素相邻的像素发射的光的强度，自动校正相对于参考像素的增益，以去除接缝。
技术方案
根据示例实施例的一方面，提供了一种显示装置，其包括：显示器，包括多个显示模块；以及处理器，被配置为：根据借助从与参考像素相邻的第一相邻像素发射的光而流过在光接收模式下驱动的参考像素的电流来测量第一电压，第一相邻像素和参考像素包括在多个显示模块的第一显示模块中，根据借助从与参考像素相邻的第二相邻像素发射的光而流过在光接收模式下驱动的参考像素的电流来测量第二电压，第二相邻像素包括在与第一显示模块相邻的一个或多个显示模块中，确定测量的第一电压和测量的第二电压之间的差是否大于或等于预定阈值，以及当处理器确定所确定的差大于或等于预定阈值时，基于第一电压和第二电压的幅度调整关于第二相邻像素的增益。
处理器可以通过向参考像素施加反向电压来控制将要在光接收模式下驱动的参考像素。
处理器可以通过在仅驱动包括在多个显示模块中的像素之中的第一相邻像素的状态下向参考像素施加反向电压来测量第一电压。
处理器可以通过在仅驱动包括在多个显示模块中的像素之中的第二相邻像素的状态下向参考像素施加反向电压来测量第二电压。
处理器可以响应于第一电压大于第二电压，将关于第二相邻像素的增益增加预定阈值。
处理器可以响应于第一电压小于或等于第二电压，将关于第二相邻像素的增益减小预定阈值。
在调整增益之后，处理器可以重新测量第一电压和第二电压，确定重新测量的电压之间的差是否大于或等于预定阈值，并且当处理器确定所确定的重新测量的第一电压和重新测量的第二电压之间的差大于或等于预定阈值时，基于重新测量的第一电压和重新测量的第二电压的幅度再次调整关于第二相邻像素的增益。
第一电压和第二电压可以是关于参考像素中包括的多个像素中的每一个测量的电压的平均值。
根据示例性实施例的一方面，提供一种显示装置的接缝校正方法，所述显示装置包括显示器，所述显示器包括多个显示模块，所述方法包括：由至少一个处理器执行存储在至少一个存储器中的指令，根据借助从与参考像素相邻的第一相邻像素发射的光而流过在光接收模式下驱动的参考像素的电流来测量第一电压，第一相邻像素和参考像素包括在多个显示模块的第一显示模块中，根据借助从与参考像素相邻的第二相邻像素发射的光而流过在光接收模式下驱动的参考像素的电流来测量第二电压，第二相邻像素包括在与第一显示模块相邻的一个或多个显示模块中，确定测量的电压之间的差是否大于或等于预定阈值，以及基于第一电压和第二电压的幅度调整第二相邻像素的增益。
所述方法还可以包括通过向参考像素施加反向电压来控制将要在光接收模式下驱动的参考像素。
测量第一电压可以包括通过在仅驱动包括在多个显示模块中的像素之中的第一相邻像素的状态下向参考像素施加反向电压来测量第一电压。
测量第二电压可以包括通过在仅驱动包括在多个显示模块中的像素之中的第二相邻像素的状态下向参考像素施加反向电压来测量第二电压。
调整可以包括：当所述确定确定了第一电压大于第二电压时，将关于第二相邻像素的增益增加预定阈值。
调整可以包括：当所述确定确定了第一电压小于或等于第二电压时，将关于第二相邻像素的增益减小预定阈值。
所述方法还可以包括：在操作了调整增益之后，重新测量第一电压和第二电压，确定重新测量的电压之间差是否大于或等于预定阈值，并且当所述确定确定了所确定的重新测量的第一电压和重新测量的第二电压之间的差大于或等于预定阈值时，基于重新测量的第一电压和重新测量的第二电压的幅度再次调整关于第二相邻像素的增益。
第一电压和第二电压可以是关于参考像素中包括的多个像素中的每一个测量的电压的平均值。
技术效果
根据上述各种示例实施例，根据从相邻像素发射的光的强度相对于参考像素的增益被自动校正以去除接缝，因此，与用户在视觉上去除接缝区域的情况相比，缩短了时间，并且更容易去除接缝区域。
附图说明
通过参照在附图中示出的示例实施例，上述和/或其他方面将变得更加明显。应当理解，这些附图仅描绘了示例性实施例，因此不应认为是对本发明范围的限制，本发明的原理通过使用附图以附加的特征和细节进行描述和解释，在附图中：
图1是简要示出根据示例实施例的显示装置的配置的示图；
图2是根据示例实施例的显示装置的配置的框图；
图3是示出根据示例实施例的参考像素和与其相邻的像素的示图；
图4是示出根据示例实施例的用于测量相对于参考像素的电压的方法的示图；
图5是根据示例实施例的显示装置的详细配置的框图；
图6A和6B是示出根据示例实施例的用于去除接缝的方法的示图；以及
图7是示出根据示例性实施例的显示装置的控制方法的流程图。
具体实施方式
在下文中，将参照附图更详细地描述本公开的示例实施例。
选择本公开中使用的术语作为当前在考虑本公开的配置和功能时广泛使用的一般术语，但是可以根据本领域技术人员的意图，先例，新技术的出现等而不同。另外，在特殊情况下，可以使用申请人选择的术语。在这种情况下，将在相应的详细描述中详细解释术语的含义。因此，说明书中使用的术语不一定被解释为术语的简单名称，而是基于本公开的术语和总体内容的含义来定义。
此外，当特定部分被陈述为“包括”特定元件时，除非另有说明，否则这意味着该特定部分可以包括另一个元件，而不是排除该元件。根据示例实施例，“单元”或“模块”是指执行至少一个功能或操作的单元，并且可以实现为硬件或软件，或硬件和软件的组合。
通过参照附图详细描述本发明的示例性实施例，本公开的上述和其他方面将变得更加明显。然而，示例性实施例可以以各种不同的配置来实现，并且不限于这里提供的描述。此外，省略与描述无关的那些以便更清楚地描述示例性实施例，并且在整个说明书中类似的附图标号用于类似的元件。
图1是简要示出根据示例实施例的显示装置的配置的示图。
根据图1中的图示，根据本公开示例实施例的显示装置100可以以多个显示模块110-1，110-2，110-3，110-4，...，110-n彼此物理连接的形式实现。在这种情况下，多个显示模块中的每一个可以包括以矩阵形式布置的多个像素，例如，自发光像素。具体地，显示装置模块可以实现为LED模块，其中，多个像素中的每一个被实现为LED像素，或者LED箱，其中，多个LED模块彼此连接，但是示例不限于此。这种情况下，每个像素可以包括作为子像素的红色LED，绿色LED和蓝色LED。
例如，显示模块可以实现为液晶显示器(LCD)，有机LED(OLED)，有源矩阵OLED(AMOLED)，等离子体显示板(PDP)等。然而，在下文中，为了便于说明，将描述每个显示模块被实现为LED模块或LED箱。
当通过使用单位显示模块配置显示器110时，可以实现显示器110的各种尺寸和/或形状。然而，由于显示模块的组装容差，可能产生接缝。
在这种情况下，因为布置在显示模块之间的边界处的像素之间的距离变得相对较远，所以接缝可以以黑色接缝的形式出现，因为布置在显示模块之间的边界处的像素之间的距离变得相对较近，所以接缝可以以白色接缝的形式出现。
根据各种示例实施例，通过调整像素的亮度来去除接缝，并且下面将描述各种示例实施例。
图2是根据示例实施例的显示装置的配置的框图。
参照图2，显示装置100包括显示器110和处理器120。
显示装置110包括多个显示模块。
也就是说，如上所述，显示器110可以以多个显示模块被连接和组装的形式配置。在这种情况下，多个显示模块中的每一个可以包括以矩阵形式布置的多个像素，例如，自发光像素。根据示例实施例，显示器110可以实现为多个LED模块(包括至少一个LED元件的LED模块)和/或多个LED箱。另外，LED模块可以包括多个LED像素。例如，LED像素可以实现为RGBLED，RGB LED还可以包括红色LED，绿色LED和蓝色LED。
处理器120控制显示装置100的整体操作。处理器120可以包括中央处理单元(CPU)，控制器，应用处理器(AP)，通信处理器(CP)，ARM处理器等中的一个或多个。
另外，处理器120可以包括图形处理单元(未示出)以执行与图像相对应的图形处理。处理器120可以实现为包括核(未示出)和GPU(未示出)的片上系统(SoC)。处理器120可以包括单核，双核，三核，四核和多核。
具体地，处理器120可以调整像素的亮度以去除接缝。
具体地，处理器120可以通过调整布置在参考像素的一侧上的第一相邻像素或布置在参考像素的另一侧上的第二相邻像素的亮度来去除接缝。
在此，参考像素可以包括布置在彼此相邻布置的两条线中的像素当中的布置在一条线中的像素。在这种情况下，布置在两条线中的像素当中的布置一条线中的像素和布置在另一条线中的像素可以包括在不同的显示模块中。
具体地，显示器110可以以多个显示模块被连接的形式实现。因此，显示模块与至少一个其他显示模块相邻地布置。例如，如图3所示，显示模块110-1与显示模块110-2和110-3相邻地布置。
同时，每个显示模块中的像素可以以矩阵的形式布置。因此，在显示模块中以矩阵形式布置的像素当中，布置在外水平线或外垂直线上的像素与包括在与相应显示模块相邻的另一显示模块中的像素相邻。也就是说，显示模块中包括的像素当中的布置在外水平线或外垂直线上的像素可以与另一显示模块中包括的像素当中的布置在外水平线或外垂直线上的像素相邻。
在这种情况下，像素包括在不同的显示模块中，并且布置在两个相邻线之一上的像素可以对应于参考像素。
例如，在图3的情况下，布置在显示模块110-1中的右外线上的垂直线上的像素10可以与布置在显示模块110-2中的左外线上的垂直线上的像素30相邻，并且布置在显示模块110-1中的下外线上的水平线上的像素20可以与布置在显示模块110-3中的上外线上的水平线上的像素40相邻。
在这种情况下，像素10和像素30当中的一条线的像素，也就是说，像素10或像素30，对应于参考像素，以及像素20和像素40当中的一条线的像素，即，像素20或像素40，对应于参考像素。
在这种情况下，关于参考像素，存在于参考像素的相邻线上的像素可以被称为相邻像素。也就是说，布置在参考像素的一侧上的像素可以被称为第一相邻像素，布置在参考像素的另一侧上的像素可以被称为第二相邻像素。
例如，在图3中，当假设像素10是参考像素时，布置在像素10的左侧的相邻线上的像素50和布置在像素10的右侧的相邻线上的像素30对应于相邻像素。另外，在图3中，当假设像素20是参考像素时，布置在像素20的上侧的相邻线上的像素60和布置在像素10的下侧的相邻线上的像素40对应于相邻像素。
在这种情况下，为了去除接缝，下面将描述用于参照参考像素调整增益的方法。
首先，处理器120根据在光接收模式下通过从第一相邻像素发射的光驱动的参考像素中流动的电流测量第一电压，并且根据在光接收模式下通过从第二相邻像素发射的光驱动的参考像素中流动的电流测量第二电压。
在这种情况下，第一相邻像素可以包括在与第二相邻像素不同的显示模块中。
具体地，与参考像素相邻的第一相邻像素可以包括在与参考像素相同的显示模块中，并且与参考像素相邻的第二相邻像素可以包括在与参考像素不同的显示模块中。
例如，在图3中，当假设像素10是参考像素时，第一相邻像素可以是像素50，第二相邻像素可以是像素30。此外，在图3中，当假设像素20是参考像素时，第一相邻像素可以是像素60，第二相邻像素可以是像素40。
同时，光接收模式是指向像素施加反向电压(即，反向偏压)的状态。因此，处理器120可以将反向电压施加到参考像素以控制参考像素在光接收模式下被驱动。
同时，在以光接收模式驱动像素的状态下，当光被施加到相应像素时，反向电流在该像素中流动。在这种情况下，施加到像素的光的强度越大，在该像素中流动的反向电流的量越大。
例如，每个像素被实现为LED设备，因此，当在向像素施加反向电压的状态下施加光时，反向电流根据LED设备的光接收特性在LED设备中流动。在这种情况下，施加到LED设备的光的强度越大，反向流动的电流的强度越大。
同时，在包括在多个显示模块中的像素之中的仅第一相邻像素被驱动的状态下，处理器120可以将反向电压施加到参考像素并测量第一电压。另外，在包括在多个显示模块中的像素之中的仅第二相邻像素被驱动的状态下，处理器120可以将反向电压施加到参考像素并测量第二电压。
也就是说，处理器120可以分别仅驱动包括在多个显示模块中的像素之中的相邻像素，并且控制仅从每个相邻像素发射的光被施加到参考像素。
在这种情况下，处理器120可以通过将相同增益应用到第一相邻像素和第二相邻像素来驱动第一相邻像素和第二相邻像素。
也就是说，处理器120可以相对于输入第一相邻像素和第二相邻像素中的每一个中包括的红色LED，绿色LED和蓝色LED的电流(或电压)控制增益值，以控制第一相邻像素和第二相邻像素中的每一个发出相同亮度的光。
例如，在图3中，假设像素10是参考像素，像素50是第一相邻像素，并且像素30是第二相邻像素。
在这种情况下，在向像素10施加反向电压的状态下，处理器120可以仅向包括在多个显示模块110-1，110-2，...，110-n中的像素之中的像素50施加正向驱动电压。在这种情况下，借助从像素50发射的光，反向电流在像素10中流动，并且处理器120可以通过流过像素10的反向电流来测量连接到像素10的电阻器两端的第一电压。
另外，在向像素10施加反向电压的状态下，处理器120可以仅向包括在多个显示模块110-1，110-2，...，110-n中的像素之中的像素30施加正向驱动电压。在这种情况下，借助从像素20发射的光，反向电流在像素10中流动，并且处理器120可以通过流过像素10的反向电流来测量连接到像素10的电阻器两端的第一电压。
在另一个示例中，在图3中，假设像素20是参考像素，像素60是第一相邻像素，并且像素40是第二相邻像素。
在这种情况下，在向像素20施加反向电压的状态下，处理器120可以仅向包括在多个显示模块110-1，110-2，...，110-n中的像素之中的像素60施加正向驱动电压。在这种情况下，借助从像素60发射的光，反向电流在像素20中流动，并且处理器120可以通过流过像素20的反向电流来测量连接到像素20的电阻器两端的第一电压。
另外，在向像素20施加反向电压的状态下，处理器120可以仅向包括在多个显示模块110-1，110-2，...，110-n中的像素之中的像素40施加正向驱动电压。在这种情况下，借助从像素40发射的光，反向电流在像素20中流动，并且处理器120可以通过流过像素20的反向电流来测量连接到像素20的电阻器两端的第一电压。
同时，第一电压和第二电压可以是对于参考像素中包括的多个像素中的每一个测量的电压的平均值。
也就是说，由于参考像素包括多个像素，因此处理器120可以通过流过每个像素的反向电流分别测量连接到每个像素的电阻器两端的电压，并且计算测量电压的平均值。
例如，如图4所示，假设相邻像素410包括像素410-1，410-2，...，410-n，并且参考像素420包括像素420-1，420-2，......，420-n。
在这种情况下，处理器120可以将用于正向操作的电力Va应用于相邻像素410以驱动相邻像素410。
在这种情况下，处理器120可以将用于反向操作的电力Vb施加到每个参考像素420-1，420-2，...，420-n，以通过流过每个像素的反向电流来测量施加到连接到每个像素的电阻器R的电压。
也就是说，处理器120可以通过沿反向方向流过像素420-1的电流i1来测量施加到电阻器R的电压v1，通过沿反向方向流过像素420-2的电流i2来测量施加到电阻器R的电压v2，通过沿反向方向流过像素420-3的电流i3来测量施加到电阻器R的电压v3，...，并且通过沿反向方向流过像素420-n的电流来测量施加到电阻器R的电压vn。
另外，处理器120可以相对于测量的电压v1，v2，v3，...，vn中的每一个计算平均值(＝v1+v2+v3+...+vn/n)，以根据流过参考像素的电流来测量电压。
在这种情况下，当测量的电压之间的差小于预定阈值时，处理器120不执行额外的增益调整。
也就是说，当第一电压和第二电压之间的差小于预定阈值时，由第一相邻像素施加到参考像素的光的强度与由第二相邻像素施加到参考像素的光的强度没有太大差别，不至于产生接缝区域。
因此，当第一电压和第二电压之间的差小于预定阈值时，处理器120不执行增益调整。
然而，当测量的电压之间的差大于预定阈值时，可以基于第一电压和第二电压的幅度来调整关于第二相邻像素的增益。
具体地，当第一电压大于第二电压时，处理器120可以将关于第二相邻像素的增益增加预定阈值。
也就是说，第一电压大于第二电压意味着，当仅驱动第一相邻像素时流过参考像素的反向电流大于当仅驱动第二相邻像素时流过参考像素的反向电流，并且当仅驱动第一相邻像素时施加到参考像素的光的强度大于当仅驱动第二相邻像素时施加到参考像素的光的强度。
这可以意味着第二相邻像素和参考像素之间的距离相对长于第一相邻像素和参考像素之间的距离。在此，由于参考像素和第二相邻像素包括在不同的显示模块中，可以看出作为显示模块的制造或组装的结果第二相邻像素与参考像素之间的距离变得相对远于第一相邻像素与参考像素之间的距离，并且因此，第一相邻像素和第二相邻像素之间的区域会是黑色接缝区域。
同时，为了去除黑色接缝区域，需要增加黑色接缝区域周围的像素亮度。
因此，处理器120可将施加到第二相邻像素的电流的增益增加预定阈值。
另外，当第一电压低于第二电压时，处理器120可以将关于第二相邻像素的增益减小预定阈值。
也就是说，第一电压低于第二电压意味着，当仅驱动第二相邻像素时流过参考像素的反向电流大于当仅驱动第一相邻像素时流过参考像素的反向电流，并且当仅驱动第二相邻像素时施加到参考像素的光的强度大于当仅驱动第一相邻像素时施加到参考像素的光的强度。
这可以意味着第二相邻像素和参考像素之间的距离相对短于第一相邻像素和参考像素之间的距离。在此，由于参考像素和第二相邻像素包括在不同的显示模块中，可以看出作为显示模块的制造或组装的结果第二相邻像素与参考像素之间的距离变得相对接近第一相邻像素与参考像素之间的距离，因此，第一相邻像素和第二相邻像素之间的区域可以是白色接缝区域。
同时，为去除白色接缝区域，必须降低白色接缝区域周围的像素的亮度。
因此，处理器120可将施加到第二相邻像素的电流的增益减小预定阈值。
同时，在调整增益之后，处理器120可以测量第一电压和第二电压，并确定测量的电压之间的差是否大于预定阈值，以再次调整增益。
也就是说，处理器120可以通过将具有与前一个相同增益的电流施加到第一相邻像素来驱动第一相邻像素，并且通过使用流过被施加反向电流的参考像素的反向电流来测量第一电压。然而，处理器120可以通过将具有经调整的增益的电流施加到第二相邻像素来驱动第一相邻像素，并且通过使用流过被施加反向电流的参考像素的反向电流来测量第二电压。
随后，处理器120可以确定第一电压和第二电压之间的差是否小于预定阈值。
在这种情况下，当第一电压和第二电压之间的差小于预定阈值时，处理器120不执行增益调整。
然而，当第一电压和第二电压之间的差大于预定阈值时，可以基于第一电压和第二电压的幅度来调整关于第二相邻像素的增益。
在这种情况下，当第一电压大于第二电压时，处理器可以将施加到第二相邻像素的电流的增益增加预定阈值，并且当第一电压小于第二电压时，将施加到第二相邻像素的电流的增益减小预定阈值。
随后，处理器120可以通过再次根据调整的增益测量第一电压和第二电压来确定第一电压和第二电压之间的差是否小于预定阈值。
如上所述，处理器120可以重复上述处理，直到第一电压和第二电压之间的差小于预定阈值。
同时，处理器120可以重复上述处理，并且当调整关于第二相邻像素的增益时，存储关于调整的增益的信息。也就是说，处理器120可以通过重复上述处理来调整施加到第二相邻像素的电流的增益，直到第一电压和第二电压之间的差小于预定阈值，并且在显示装置100中提供的存储器(未示出)中存储关于调整的电流增益的信息。
随后，处理器120可以通过使用预先存储的信息将具有与前一个相同的增益的电流施加到第一相邻像素来驱动第一相邻像素，并且通过将具有经调整的增益的电流施加到第二相邻像素来驱动第二相邻像素。结果，去除了黑色接缝区域或白色接缝区域。
同时，第一电压和第二电压之间的差是确定参考像素和第一相邻像素之间的距离与参考像素和第二相邻像素之间的距离的相对大小，因此处理器120可采用所测量的电压之间的差的绝对值，并确定绝对值是否小于预定阈值。
另外，处理器120可以基于用户命令执行上述操作。例如，处理器120可以通过响应于接收到自动校正命令而执行上述操作来去除接缝区域。
图5是示出根据示例实施例的显示装置的详细配置的框图。
参照图5，显示装置100可以包括显示器110，处理器120，存储器130，显示驱动器140和输入接口150。图5仅仅是示例性的，并且可以根据示例实施例添加新元件，并且可以省略至少一个元件。
同时，参照图2详细描述的图5所示的显示器110和处理器120的详细描述，在此将省略。
存储器130可以存储已经从处理器120或其他元件(例如，显示器110，显示驱动器140，输入接口150等)接收或由处理器140或其他元件生成的命令或数据。
此外，存储器130可以包括编程模块，诸如内核，中间件，应用编程接口(API)，应用等。编程模块可以由软件，固件，硬件或其组合组成。
显示驱动器140可以包括多个LED驱动模块(未示出)，其分别连接到多个显示模块110-1，110-2，...，110-n。
在这种情况下，多个LED驱动模块(未示出)可以对应于从处理器120接收的每个控制信号向多个显示模块110-1，110-2，...，110-n供应电流(即，驱动电流)，以驱动多个显示模块110-1，110-2，...，110-n。
具体地，多个LED驱动模块(未示出)可以对应于从处理器120输入的每个控制信号调节供应给至少一个显示模块110-1，110-2，...，110-n的电流(或电压(即，驱动电压))的供应时间或强度，并输出它们。
在这种情况下，处理器120可以向多个LED驱动模块(未示出)提供用于根据经调整的增益驱动像素的控制信号。
多个LED驱动模块(未示出)中的每一个可以包括至少一个LED驱动器，以控制施加到LED元件的电流。根据示例实施例，LED驱动器可以设置在电源的后端并且从电源接收电压。然而，根据另一示例实施例，它可以从单独的电源设备接收电压。可选地，电源和LED驱动器也可以以一个集成模块的形式实现。在这种情况下，电源是将AC电流转换为DC电流的硬件，使得其稳定地在多个显示模块110-1，110-2，......，110-n中使用，并且为每个系统提供合适的电力。例如，电源可以实现为开关模式电源(SMPS)。
LED驱动器可以使用PWM方法，其通过调整频率宽度来控制亮度。也就是说，LED驱动器可以使用调整频率宽度的调光方法来表现图像的各种灰度级。
LED驱动器可以包括在包括多个LED元件的多个LED区域中的每一个中。在这种情况下，LED区域可以是小于上述LED模块的区域。例如，一个LED模块可以被划分为包括预定数量的LED元件的多个LED区域，并且多个LED区域中的每一个可以包括LED驱动器。在这种情况下，可以对每个区域执行电流控制。然而，示例不限于此，并且也可以在LED模块的基础上包括LED驱动器。
同时，显示装置100还可以包括用于向对应像素施加电压以在光接收模式下驱动像素的附加电源。
输入接口150可以包括接收各种用户命令的各种输入电路。例如，输入接口150可以是接收用于控制显示装置100的用户命令(例如，电源开/关等)的配置，并且可以包括按钮(未示出)或触摸板(未示出))。同时，处理器120可以执行与在输入接口150中接收的用户命令相对应的功能。
具体地，输入接口150可以接收自动校正命令。因此，处理器120可以响应于接收到自动校正命令而执行去除接缝区域的操作，如上所述。
图6A和6B是示出根据示例实施例的用于去除接缝的方法的示图。
在这种情况下，为了便于说明，如图6A所示，可以假设，显示模块10-1和显示模块10-2彼此连接，布置在显示模块10-1的N-1行上的像素是参考像素21，布置在与存在参考像素21的显示模块相同的显示模块(即显示模块10-1)的N-2行上的像素是第一相邻像素22，并且布置在与存在参考像素21的显示模块不同的显示模块(即显示模块10-2)的M行上的像素是第二相邻像素23。
因此，参考像素21和第二相邻像素23可以被布置为在显示模块10-1和显示模块10-2的边界线处彼此相邻。
基于上述假设，下面将参照图6B更详细描述用于去除接缝区域的方法。
首先，响应于在操作S611接收到自动校正命令，显示装置100可以在操作S612驱动N-2行上的像素，即第一相邻像素。在这种情况下，显示装置100可以不驱动显示器110中包括的其他像素，即，除了第一相邻像素22之外的像素。
另外，显示装置100可以将反向电压施加到N-1行上的像素，即，参考像素21。
另外，在操作S614，显示装置100可以测量关于N-1行的像素的电压VA。具体地，显示装置100可以借助由于从N-2行的像素发射的光而流过N-1行像素的反向电流，来测量通过该反向电流施加到连接到N-1行的像素的电阻的第一电压。在这种情况下，N-1行的像素包括多个像素，因此，显示装置100可以测量关于每个像素的电压并计算所测量的电压的平均值。
随后，在操作S615，可以驱动M行的像素，即第二相邻像素23。在这种情况下，显示装置100可以不驱动包括在显示器110中的其他像素，即，除了第二相邻像素23之外的像素。
另外，在操作S616，显示装置100可以将反向电压施加到N-1行的像素。
另外，在操作S617，显示装置100可以测量关于N-1行的像素的电压VB。具体地，显示装置100可以借助由于从M行的像素发射的光而流过N-1行的像素的反向电流，来测量通过该反向电流施加到连接到N-1行的像素的电阻器的第二电压。在这种情况下，N-1行的像素包括多个像素，因此，显示装置100可以测量关于每个像素的电压并计算所测量的电压的平均值。
随后，在操作S618，显示装置可以确定第一电压VA和第二电压VB之间的差是否小于预定阈值ε。在这种情况下，显示装置可以确定第一电压VA和第二电压VB之间的差的绝对值是否小于预定阈值ε。
在这种情况下，当第一电压VA和第二电压VB之间的差小于预定阈值ε时，在操作S619，显示装置100可以不执行额外的增益调整。
然而，当第一电压VA和第二电压VB之间的差值大于或等于预定阈值ε，S618为否时，在操作S620，显示装置100可以确定第二电压VB是否大于第一电压VA。
在这种情况下，当第二电压VB大于第一电压VA，S620为是时，在操作S621，显示装置100可以将关于M行的像素的增益减小预定阈值Δ。也就是说，显示装置100可以将施加到M行的像素的电流的增益减小预定阈值Δ。
同时，当第二电压VB小于第一电压VA，S620为否时，在操作S622，显示装置100可以将关于M行的像素的增益增加预定阈值Δ。也就是说，显示装置100可以将施加到M行的像素的电流的增益增加预定阈值Δ。
随后，显示装置100可以通过使用经调整的增益重复上述处理，使得第一电压VA和第二电压VB之间的差小于预定阈值ε。
图7是示出根据示例性实施例的显示装置的控制方法的流程图。
在这种情况下，显示装置可以包括显示器，显示器包括多个显示模块。
首先，在操作S710，测量根据流过由于从第一相邻像素发射的光而在光接收模式下驱动的参考像素的电流的第一电压。然后，在操作S720，测量根据流过由于从第二相邻像素发射的光而在光接收模式下驱动的参考像素的电流的第二电压。
在此，第一相邻像素可以包括在与第二相邻像素不同的显示模块中。
随后，当所测量的电压之间的差大于预定阈值时，可以在操作S730基于第一电压和第二电压的幅度调整关于第二相邻像素的增益。
同时，可以将反向电压施加到参考像素，使得在光接收模式下驱动参考像素。
同时，在操作S710，在仅驱动包括在多个显示模块中的像素之中的第一相邻像素的状态下，可以将反向电压施加到参考像素以测量第一电压。
另外，在操作S720，在仅驱动包括在多个显示模块中的像素之中的第二相邻像素的状态下，可以将反向电压施加到参考像素以测量第二电压。
同时，在操作S730，当第一电压大于第二电压时，关于第二相邻像素的增益可以被增加预定阈值。
另外，在操作S730，当第一电压小于第二电压时，关于第二相邻像素的增益可以被减小预定阈值。
另外，在调整增益之后，测量第一电压和第二电压，并且确定所测量的电压之间的差是否大于预定阈值以再次调整增益。
在这种情况下，第一电压和第二电压可以是关于参考像素中包括的多个像素中的每一个测量的电压的平均值。
同时，上面描述了通过使用LED元件的光接收特性来校正接缝区域的具体方法。
此外，可以提供其中记录有程序以顺序执行根据示例性实施例的接缝校正方法的非暂时性计算机可读介质。
非暂时性计算机可读介质是指半永久地存储数据而不是在非常短的时间内存储数据的介质(诸如寄存器，高速缓存，存储器等)并且可由装置读取。详细地，上述各种应用或程序可以存储在非暂时性计算机可读介质中(例如，光盘(CD)，数字通用光盘(DVD)，硬盘，蓝光光盘，通用串行总线(USB)，存储卡，只读存储器(ROM)等)并且可以被提供。
另外，尽管在电子装置的框图中未示出总线，但是可以通过总线执行显示装置中的各个组件之间的通信。此外，这些组件，元件或单元中的至少一个还可以包括诸如执行各自功能的中央处理单元(CPU)的处理器，微处理器等。
前述实施例和优点仅是示例性的，不应解释为限制本公开。本教导可以容易地应用于其他类型的装置。此外，本发明构思的示例性实施例的描述旨在是说明性的，而不是限制权利要求的范围，并且许多替换，修改和变化对于本领域技术人员而言将是显而易见的。

Claims (9)

1.一种显示装置，包括：
显示器，包括多个显示模块；以及
处理器，被配置为：
根据借助从与参考像素线相邻的第一相邻像素线发射的光而流过在光接收模式下操作的参考像素线的电流来测量第一电压，第一相邻像素线和参考像素线包括在多个显示模块的第一显示模块中，
根据借助从与参考像素线相邻的第二相邻像素线发射的光而流过在光接收模式下操作的参考像素线的电流来测量第二电压，第二相邻像素线包括在与第一显示模块相邻的一个或多个显示模块中，
确定测量的第一电压和测量的第二电压之间的差是否大于或等于预定阈值，以及
当处理器确定所述测量的第一电压和测量的第二电压之间的差大于或等于预定阈值时，基于第一电压和第二电压的幅度来调整关于第二相邻像素线的增益，
其中像素线包括在一条直线上的多个像素，
其中，所述处理器被配置为通过向参考像素线施加反向电压来控制将要在光接收模式下操作的参考像素线，并且
其中，所述处理器被配置为通过在仅操作包括在多个显示模块中的像素线之中的第一相邻像素线的状态下向参考像素线施加反向电压来测量第一电压，以及通过在仅操作包括在多个显示模块中的像素线之中的第二相邻像素线的状态下向参考像素线施加反向电压来测量第二电压。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，当处理器确定第一电压大于第二电压时，处理器将关于第二相邻像素线的增益增加预定阈值。
3.根据权利要求1所述的显示装置，其中，当处理器确定第一电压小于或等于第二电压时，将关于第二相邻像素线的增益减小预定阈值。
4.根据权利要求1所述的显示装置，其中，在处理器调整增益之后，处理器重新测量第一电压和第二电压，确定重新测量的第一电压和重新测量的第二电压之间的差是否大于或等于预定阈值，并且当处理器确定所述重新测量的第一电压和重新测量的第二电压之间的差大于或等于预定阈值时，基于重新测量的第一电压和重新测量的第二电压的幅度再次调整关于第二相邻像素线的增益。
5.根据权利要求1所述的显示装置，其中，第一电压和第二电压是关于参考像素线中包括的多个像素中的每一个测量的电压的平均值。
6.一种显示装置的接缝校正方法，显示装置包括显示器，显示器包括多个显示模块，所述方法包括：
由至少一个处理器执行存储在至少一个存储器中的指令，
通过向参考像素线施加反向电压来控制将要在光接收模式下操作的参考像素线，
根据借助从与参考像素线相邻的第一相邻像素线发射的光而流过在光接收模式下操作的参考像素线的电流来测量第一电压，第一相邻像素线和参考像素线包括在多个显示模块的第一显示模块中，
根据借助从与参考像素线相邻的第二相邻像素线发射的光而流过在光接收模式下操作的参考像素线的电流来测量第二电压，第二相邻像素线包括在与第一显示模块相邻的一个或多个显示模块中，
确定测量的电压之间的差是否大于或等于预定阈值，以及
当所述测量的电压之间的差大于或等于预定阈值时，基于第一电压和第二电压的幅度来调整关于第二相邻像素线的增益，
其中，像素线包括在一条直线上的多个像素，
其中，测量第一电压包括：通过在仅操作包括在多个显示模块中的像素线之中的第一相邻像素线的状态下向参考像素线施加反向电压来测量第一电压，并且
其中，测量第二电压包括：通过在仅操作包括在多个显示模块中的像素线之中的第二相邻像素线的状态下向参考像素线施加反向电压来测量第二电压。
7.根据权利要求6所述的接缝校正方法，其中，所述调整包括：当第一电压大于第二电压时，将关于第二相邻像素线的增益增加预定阈值。
8.根据权利要求6所述的接缝校正方法，其中，所述调整包括：当第一电压小于或等于第二电压时，将关于第二相邻像素线的增益减小预定阈值。
9.根据权利要求6所述的接缝校正方法，还包括：
在操作了调整增益之后，重新测量第一电压和第二电压，并且确定重新测量的第一电压和重新测量的第二电压之间的差是否大于或等于预定阈值并且当所述重新测量的第一电压和重新测量的第二电压之间的差大于或等于预定阈值时，基于重新测量的第一电压和重新测量的第二电压的幅度再次调整关于第二相邻像素线的增益。
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