CN109974989B - 一种测试设备 - Google Patents

Abstract

本申请涉及电子设备测试技术领域，并具体公开了一种测试设备，测试设备用于电子设备伸缩机构的顶出力性能测试，测试设备包括：机台；支撑治具模组，设置在机台表面，用于容置电子设备；可调节测力模组，设置在机台表面，且与支撑治具模组间隔设置；其中，电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部，并顶持可调节测力模组，可调节测力模组用于测试不同型号的电子设备伸缩机构的顶出力性能是否正常。通过上述方式，本申请能够对不同型号的电子设备伸缩机构的性能进行评估。

Description

一种测试设备

技术领域

本申请涉及电子设备测试技术领域，特别是涉及一种测试设备。

背景技术

移动互联网时代，电子设备市场商机无限，全球各大知名厂商间的竞争已经趋于白热化，纷纷以强势的姿态抢攻市场。近来，国内智能电子设备的发展势头也颇为强劲，市场份额得到了较大提升，横向宽屏和超大屏已成为目前电子设备发展的一大趋势。

电子设备中摄像头伸缩机构的内部结构设计存在一个先天性缺陷，即运动的摩擦阻力无法避免，因此，若要摄像头伸缩机构的长久稳定性得到保障，则测试伸缩机构驱动马达的驱动力是否满足摩擦阻力的抗性要求，但现有技术中并未对电子设备伸缩机构的驱动力性能进行测试验证。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种测试设备，能够对不同型号的电子设备伸缩机构的性能进行评估。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种测试设备，测试设备用于电子设备伸缩机构的顶出力性能测试，测试设备包括：机台；支撑治具模组，设置在机台表面，用于容置电子设备；可调节测力模组，设置在机台表面，且与支撑治具模组间隔设置；其中，电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部，并顶持可调节测力模组，可调节测力模组用于测试不同型号的电子设备伸缩机构的顶出力性能是否正常。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请的测试设备包括支撑治具模组以及与支撑治具模组间隔设置的可调节测力模组，由于电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部并可顶持可调节测力模组，因此可以利用可调节测力模组测试电子设备伸缩机构的驱动力性能是否正常。本申请能够对不同型号的电子设备伸缩机构的驱动力性能进行可靠性验证，在电子设备的生产制程中，能够有效检测出因伸缩机构的驱动马达机构、滑动连杆机构、导轨或驱动芯片等诸多因素引起的伸缩机构驱动力性能异常的问题，从而能够对不同型号的电子设备伸缩机构的性能进行评估。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：

图1是本申请测试设备一实施方式的第一结构示意图；

图2是图1中可调节测力模组的第一局部结构示意图；

图3是图1中可调节测力模组的第二局部结构示意图；

图4是图1中支撑治具模组的局部结构示意图；

图5是图2中阻力元件的结构示意图；

图6是本申请测试设备一实施方式的第二结构示意图；

图7是本申请测试设备一实施方式的第三结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性的劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

参阅图1，本申请提供一种测试设备10，测试设备10用于电子设备伸缩机构的顶出力性能测试，测试设备10包括：机台11、支撑治具模组12以及可调节测力模组13。支撑治具模组12设置在机台11表面，用于容置电子设备(图未示出)。可调节测力模组13设置在机台11表面，且与支撑治具模组12间隔设置。其中，电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部，并顶持可调节测力模组13，可调节测力模组13用于测试不同型号的电子设备伸缩机构的顶出力性能是否正常。

具体地，支撑治具模组12与可调节测力模组13同侧设置，且可调节测力模组13可以设置在支撑治具模组12上，在电子设备伸缩机构伸出于电子设备壳体的外部后，电子设备伸缩机构可以顶持可调节测力模组13，此时，可调节测力模组13可以测试不同型号的电子设备伸缩机构的驱动力性能是否正常。例如，可调节测力模组13可以检测不同型号的电子设备伸缩机构的伸出距离是否满足预设伸出距离，或检测不同型号的电子设备伸缩机构的驱动力是否满足预设驱动力。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

区别于现有技术的情况，本申请的测试设备10包括支撑治具模组12以及与支撑治具模组12间隔设置的可调节测力模组13，由于电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部并可顶持可调节测力模组13，因此可以利用可调节测力模组13测试电子设备伸缩机构的驱动力性能是否正常。本申请能够对不同型号的电子设备伸缩机构的驱动力性能进行可靠性验证，在电子设备的生产制程中，能够有效检测出因伸缩机构的驱动马达机构、滑动连杆机构、导轨或驱动芯片等诸多因素引起的伸缩机构驱动力性能异常的问题，从而能够对不同型号的电子设备伸缩机构的性能进行评估。

参阅图2，上述可调节测力模组13包括：底座131、阻力元件132以及感应单元133，底座131活动设置在机台11表面，底座131上开设有第一通孔130，第一通孔130沿电子设备伸缩机构的伸缩方向贯穿底座131。阻力元件132活动收容于第一通孔130内。感应单元133设置在底座131上且与阻力元件132间隔设置，用于在电子设备伸缩机构顶持阻力元件132以使阻力元件132上升时，感应阻力元件132是否与感应单元133抵接。

具体的，底座131的中心位置开设有沿电子设备伸缩机构的伸缩方向上下完全贯穿的第一通孔130，阻力元件132活动收容于第一通孔130内，且阻力元件132可以沿电子设备伸缩机构的伸缩方向移动。感应单元133设置在底座131上且与阻力元件132间隔设置，在电子设备伸缩机构顶持阻力元件132以使阻力元件132上升时，感应单元133可以感应阻力元件132是否与感应单元133抵接。

其中，阻力元件132的外圆周壁设置有朝外凸出延伸的限位凸起，底座131的第一通孔130的内圆周壁对应限位凸起开设有限位槽，限位凸起嵌插于限位槽内。在本申请测试设备10的工作过程中，通过限位凸起与限位槽相配合，本申请能够有效地避免阻力元件132在收缩或者伸展过程中出现移位，进而保证阻力元件132安装位置的稳定性。

上述可调节测力模组13进一步包括：滑轨134，设置在机台11上，滑轨134沿电子设备伸缩机构的伸缩方向延伸，其中，底座131安装在滑轨134上，且底座131可沿滑轨134移动。底座131和机台11上分别设有相应的第一定位孔13A和第二定位孔13B。测试设备10包括：第一定位件，第一定位件穿过第一定位孔13A和第二定位孔13B，以将底座131定位于机台11。

具体地，滑轨134的数量可以为一个、两个或多个，滑轨134沿电子设备伸缩元件的伸缩方向延伸，底座131可以活动安装在滑轨134上。可调节测力模组13可以进一步包括：驱动元件(图未示出)，驱动元件连接底座131，驱动元件可以带动底座131沿滑轨134移动，以使控制底座131与支撑治具模组12的距离，适应不同型号的电子设备的尺寸高度。

参阅图3，底座131和机台11上分别设有相应的第一定位孔13A和第二定位孔13B。测试设备10包括：第一定位件(图未示出)，在底座131沿滑轨134移动到预设位置后，第一定位件可以穿过第一定位孔13A和第二定位孔13B，以将底座131定位于机台11上。在完成一组电子设备伸缩元件的驱动力性能测试后，驱动元件可以带动底座131沿缩入方向滑动，以便电子设备伸缩元件不再抵接可调节测力模组13，便于取出电子设备，并进行下一组电子设备伸缩元件的驱动力性能测试。

上述感应单元133包括感应元件1333以及用于支撑感应元件1333的支架1331本体，支架1331本体活动设置在底座131上且可沿电子设备伸缩机构的伸缩方向移动。底座131和支架1331本体上分别设有相应的第三定位孔13C和第四定位孔13D。测试设备10包括：第二定位件(图未示出)，第二定位件穿过第三定位孔13C和第四定位孔13D，以将支架1331本体定位于底座131。

具体地，支架1331本体活动设置在底座131上且可沿电子设备伸缩机构的伸缩方向移动，通过移动支架1331本体，以使控制感应元件1333与支撑治具模组12的距离，适应不同型号的电子设备伸缩机构的伸缩行程。测试设备10包括：第二定位件，在支架1331本体移动到预设位置后，第二定位件可以穿过第三定位孔13C和第四定位孔13D，以将支架1331本体定位于底座131。在完成一组电子设备伸缩元件的驱动力性能测试后，支架1331本体可以沿伸缩方向滑动，以适应不同型号的电子设备伸缩机构的伸缩行程。

上述感应单元133包括进一步支架横梁1332，支架横梁1332活动设置在支架1331本体上且可沿电子设备伸缩机构的伸缩方向移动。支架1331本体和支架横梁1332上分别设有相应的第五定位孔13E和第六定位孔13F。测试设备10包括：第三定位件(图未示出)，第三定位件穿过第五定位孔13E和第六定位孔13F，以将支架横梁1332定位于支架1331本体上。

具体地，机台11上可以设置有支架横梁1332，支架横梁1332平行于底座131，感应元件1333可以安装在支架横梁1332上。考虑到不同电子设备伸缩机构的最大伸出行程不同，支架横梁1332活动设置在支架1331本体上且可沿电子设备伸缩机构的伸缩方向移动，以调节支架横梁1332与第二横梁1332之间的间距。通过调节支架横梁1332与第二横梁1332之间的间距，以使测试设备10适用于不同行程的电子设备伸缩机构。

上述阻力元件132为至少一个压缩弹簧132，预设测试阻力为压缩弹簧132的张力，其中，电子设备伸缩机构可顶持压缩弹簧132，以使压缩弹簧132上升。

具体地，上述电子设备包括马达组件(图未示出)，马达组件用于驱动电子设备伸缩机构伸缩，可调节测力模组13用于提供一预设测试阻力，其中，预设测试阻力为马达组件的整体工作阻力的1.1-2.4倍。

电子设备伸缩机构的马达组件可以包括导轨以及马达，其中，导轨材料选型确认后，导轨的摩擦系数可以确认，而马达本身的驱动阻力在选型时也可测算，因此可以确定马达组件的整体工作阻力。当电子设备装配完成后，对马达组件的整体工作阻力进行测试验证时，可以设定预设测试阻力为马达组件的整体工作阻力的1.1-2.4倍。在电子设备伸缩机构伸出并可顶持可调节测力模组13后，若电子设备伸缩机构正常工作时，则电子设备伸缩机构可以克服预设测试阻力，进而推动可调节测力模组13。若电子设备伸缩机构正常异常时，则电子设备伸缩机构将无法克服预设测试阻力，进而不能推动可调节测力模组13。

其中，预设测试阻力可以为压缩弹簧132的张力，通过旋转弹簧132调节压缩弹簧132的张力，以匹配不同型号的电子设备伸缩机构的整体工作阻力。压缩弹簧132的个数可以为一个、两个或多个，感应元件1333间隔设置在压缩弹簧132上方，感应元件1333用于在电子设备伸缩机构顶持可调节测力模组13以使可调节测力模组13上升时，以感应压缩弹簧132是否与感应元件1333抵接。电子设备伸缩机构顶持可调节测力模组13并克服预设测试阻力，进而推动压缩弹簧132上升，直至压缩弹簧132与感应元件1333抵接，此时，由于感应元件1333感应到压缩弹簧132与感应元件1333抵接，则判断电子设备伸缩机构的驱动力性能测试正常。

在电子设备伸缩机构无法顶持可调节测力模组13时，或者电子设备伸缩机构已顶持可调节测力模组13但无法克服预设测试阻力时，压缩弹簧132无法上升并与感应元件1333抵接。此时，由于感应元件1333感应到压缩弹簧132与感应元件1333并未抵接，则判断电子设备伸缩机构的驱动力性能测试异常。

上述阻力元件132为气缸132，预设测试阻力为气缸132所产生的压力，其中，电子设备伸缩机构可顶持气缸132，以使气缸132上升。

具体地，电子设备伸缩机构顶持气缸132并克服预设测试阻力，进而使气缸132收缩，直至气缸132收缩到预设位置，此时，可调节测力模组13可以判断电子设备伸缩机构的驱动力性能测试正常。在电子设备伸缩机构无法顶持气缸132，或者电子设备伸缩机构顶持气缸132，但无法克服预设测试阻力时，气缸132无法收缩，则可调节测力模组13可以判断电子设备伸缩机构的驱动力性能测试异常。

上述支撑治具模组12的上端面与阻力元件132的下端面之间具有第一间隔距离，阻力元件132的上端面与感应单元133的下端面之间具有第二间隔距离。第一间隔距离与第二间隔距离之和小于等于电子设备伸缩机构的最大伸出行程。

具体地，感应单元133间隔设置在阻力元件132上方，支撑治具模组12的上端面与阻力元件132的下端面之间具有第一间隔距离，阻力元件132的上端面与感应单元133的下端面之间具有第二间隔距离。第一间隔距离与第二间隔距离之和可以小于等于电子设备伸缩机构的最大伸出行程。

参阅图4，上述支撑治具模组12包括：支撑治具本体121以及多个限位件122。多个限位件122间隔且活动设置于支撑治具本体121的边缘，限位件122用于卡紧电子设备。

具体地，支撑治具模组12包括：支撑治具本体121以及多个限位件122，多个限位件122间隔设置于支撑治具本体121上。其中，多个限位件122围成一收容空间125，收容空间125用于容置电子设备，限位件122用于卡紧电子设备。收容空间125具有一开口，开口朝向可调节测力模组13，电子设备伸缩机构可沿开口滑出。

限位件122可以设为规则的方块或不规则的块体，限位件122可以垂直设置于支撑治具本体121上。其中，限位件122可以等间隔分布在支撑治具本体121上，或不规则分布在支撑治具本体121上，其中，在收容空间125内容置有电子设备时，限位件122需要承载该电子设备，以防电子设备滑落。如图所示，限位件122可以呈“凹”型设置在支撑治具本体121上，以承载该电子设备。

进一步地，限位件122可以为弹性凸块，弹性凸块凸起于限位件122的边缘。在电子设备放置在收容空间125内时，弹性凸块抵接电子设备，进而保证电子设备与限位件122卡紧时具有足够的稳定性。

进一步地，为了便于电子设备伸缩机构的伸出，收容空间125可以具有一个开口，该开口大小可以与电子设备伸缩机构的大小匹配。

进一步地，如图所示，支撑治具模组12与电子设备的接触面上可以设置有多个凸起棱边，用于增强支撑治具模组12与电子设备之间的摩擦力。

通过上述方式，限位件122可以卡紧并承载该电子设备，以防电子设备滑落，同时，在电子设备伸缩机构沿收容空间125的开口滑出时，可顶持可调节测力模组13，以便该可调节测力模组13检测伸缩机构的驱动力性能。

此外，本申请中术语“多个”的含义是至少两个，例如两个、三个、四个等，除非另有明确具体地限定。

继续参阅图4，上述支撑治具本体121上开设有一第二通孔123，支撑治具模组12进一步包括：吸附元件(图未示出)，吸附元件与外部气路系统(图未示出)连接，吸附元件穿设于第二通孔123内，以吸附固定电子设备。

具体地，吸附元件的一端可以通过吸气管(图未示出)与外部气路系统(例如真空机械泵)相接，吸附元件的另一端可以直接穿设于通孔内，其他实施方式中，吸附元件的一端也可以通过吸气管(图未示出)与通孔相连通，以使外部气路系统连通通孔，为通孔提供真空吸取力，进而吸附固定电子设备。

进一步地，如图4所示，支撑治具模组12与电子设备的接触面上可以设置有多个凸起棱边124，用于增强支撑治具模组12与电子设备之间的摩擦力。

请参阅图6，上述测试设备10进一步包括提示模组14，提示模组14设置在机台11上，提示模组14与可调节测力模组13连接，用于根据电子设备的驱动力性能检测结果输出对应提示信息。其中，提示模组14包括蜂鸣器、指示灯或显示屏中的至少一种。

具体地，在提示模组14为蜂鸣器时，在电子设备放入提示模组14后，蜂鸣器可以发出蜂鸣声，在感应元件1333感应到压缩弹簧与感应元件1333抵接或者气缸推杆收缩到预设位置时(即可调节测力模组13可以判断电子设备伸缩机构的驱动力性能测试正常)，蜂鸣器可以停止发出蜂鸣声。

在提示模组14为指示灯时，在感应元件1333感应到压缩弹簧与感应元件1333抵接或者气缸推杆收缩到预设位置时(即可调节测力模组13可以判断电子设备伸缩机构的驱动力性能测试正常)，指示灯可以亮起。

在提示模组14为显示屏时，在感应元件1333感应到压缩弹簧与感应元件1333抵接或者气缸推杆收缩到预设位置时(即可调节测力模组13可以判断电子设备伸缩机构的驱动力性能测试正常)，显示屏可以显示代表“测试正常”的信息。在感应元件1333未感应到压缩弹簧与感应元件1333抵接或者气缸推杆收缩到预设位置时，显示屏可以显示代表“测试异常”的信息。

请参阅图7，上述测试设备10进一步包括控制模组15，设置在机台11表面，用于控制测试设备10的工作状态。

具体地，控制模组15可以包括吸附开关151、启动开关152以及复位开关153。其中，吸附开关151连接吸附元件，用于控制吸附元件的启停；启动开关152连接提示模组，用于控制提示模组的启停；复位开关153连接驱动元件，用于控制驱动元件的启停。

下面以一实施场景描述本申请测试设备10的测试过程。

步骤11：将电子设备放入机台11的收容空间125内，开启吸附开关，吸附元件吸附固定电子设备。

步骤12：设定预设测试阻力。

其中，预设测试阻力可以根据电子设备伸缩机构的马达组件的选型计算评估得出，预设测试阻力为马达组件的整体工作阻力的1.1-2.4倍，其中，预设测试阻力可以通过压缩弹簧或者气缸实现。

步骤13：开启启动开关，提示模组工作，提示模组的蜂鸣器保持蜂鸣声。

此时，可以将预设测试阻力作用于伸缩机构最高点。

步骤14：打开电子设备的摄像机功能，启动电子设备伸缩机构上升。

步骤15：电子设备伸缩机构上升到最高点，并驱动阻力元件132接触感应元件1333，以触发感应元件1333。

此时，提示模组的提示灯亮起，蜂鸣器停止蜂鸣，显示设备显示测试结果为：电子设备伸缩机构的驱动力性能正常。

如果电子设备伸缩机构未能升起到最高点，则无法驱动阻力元件132接触感应元件1333，则无法触发感应元件1333，提示模组将一直保持蜂鸣器声音，提示灯未亮起，显示设备显示测试结果为：电子设备伸缩机构的驱动力性能异常。

步骤16：工作人员按下复位开关，驱动元件可以带动底座131沿滑轨134上升，以使底座131退回原位，此时，将预设测试阻力不再作用于电子设备伸缩机构的最高点，提示模组停止工作，蜂鸣器消失，结束测试。

区别于现有技术的情况，本申请的测试设备10包括支撑治具模组12以及与支撑治具模组12间隔设置的可调节测力模组13，由于电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部并可顶持可调节测力模组13，因此可以利用可调节测力模组13测试电子设备伸缩机构的驱动力性能是否正常。本申请能够对电子设备伸缩机构的驱动力性能进行可靠性验证，在电子设备的生产制程中，能够有效检测出因伸缩机构的驱动马达机构、滑动连杆机构、导轨或驱动芯片等诸多因素引起的伸缩机构驱动力性能异常的问题，从而能够更好的对电子设备伸缩机构的性能进行评估。

以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备用于电子设备伸缩机构的顶出力性能测试；

所述测试设备包括：机台、支撑治具模组以及可调节测力模组，支撑治具模组设置在所述机台表面，所述支撑治具模组用于容置电子设备，所述可调节测力模组设置在所述机台表面，且所述可调节测力模组与所述支撑治具模组间隔设置；

其中，电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部，并顶持所述可调节测力模组，所述可调节测力模组用于测试不同型号的电子设备伸缩机构的顶出力性能是否正常；

所述可调节测力模组包括：底座以及滑轨；

其中，所述底座活动设置在所述机台表面，所述滑轨设置在所述机台上，所述滑轨沿电子设备伸缩机构的伸缩方向延伸，其中，所述底座安装在所述滑轨上，且所述底座可沿所述滑轨移动；

所述底座和所述机台上分别设有相应的第一定位孔和第二定位孔；

所述测试设备包括：第一定位件，所述第一定位件穿过所述第一定位孔和所述第二定位孔，以将所述底座定位于所述机台。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，

所述底座上开设有第一通孔，所述第一通孔沿电子设备伸缩机构的伸缩方向贯穿所述底座；

所述可调节测力模组还包括：

阻力元件，活动收容于所述第一通孔内；

感应单元，设置在所述底座上且与所述阻力元件间隔设置，用于在电子设备伸缩机构顶持所述阻力元件以使所述阻力元件上升时，感应所述阻力元件是否与所述感应单元抵接。

3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述感应单元包括感应元件以及用于支撑所述感应元件的支架本体，所述支架本体活动设置在所述底座上且可沿电子设备伸缩机构的伸缩方向移动；

所述底座和所述支架本体上分别设有相应的第三定位孔和第四定位孔；

所述测试设备包括：第二定位件，所述第二定位件穿过所述第三定位孔和所述第四定位孔，以将所述支架本体定位于所述底座。

4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，

所述感应单元进一步包括支架横梁，所述支架横梁活动设置在所述支架本体上且可沿电子设备伸缩机构的伸缩方向移动；

所述支架本体和所述支架横梁上分别设有相应的第五定位孔和第六定位孔；

所述测试设备包括：第三定位件，所述第三定位件穿过所述第五定位孔和所述第六定位孔，以将所述支架横梁定位于所述支架本体上。

5.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述阻力元件为至少一个压缩弹簧，预设测试阻力为所述压缩弹簧的张力，其中，电子设备伸缩机构可顶持所述压缩弹簧，以使所述压缩弹簧上升。

6.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述阻力元件为气缸，预设测试阻力为所述气缸所产生的压力，其中，电子设备伸缩机构可顶持所述气缸，以使所述气缸上升。

7.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述支撑治具模组的上端面与所述阻力元件的下端面之间具有第一间隔距离，所述阻力元件的上端面与所述感应单元的下端面之间具有第二间隔距离；

所述第一间隔距离与所述第二间隔距离之和小于等于电子设备伸缩机构的最大伸出行程。

8.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，

所述支撑治具模组包括：支撑治具本体以及多个限位件；

多个所述限位件间隔且活动设置于所述支撑治具本体的边缘，所述限位件用于卡紧电子设备。

9.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述支撑治具本体上开设有一通孔，所述支撑治具模组进一步包括：

吸附元件，与外部气路系统连接，所述吸附元件穿设于所述通孔内，以吸附固定电子设备。

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