CN109960616B - 基于处理器的内存参数的调试方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种基于处理器的内存参数的调试方法及系统，涉及计算机技术领域，该方法包括：基于处理器的内存参数的调试方法，包括：对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，确定待测的内存参数，所述内存参数包括时延参数和时序参数；依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果；判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致；若不一致，则依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，对所述需要调整的时延参数进行调整。本发明实施例能够实现内存参数的自动调试，提高内存参数的调试效率。

Description

基于处理器的内存参数的调试方法及系统

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种基于处理器的内存参数的调试方法、一种基于处理器的内存参数的调试系统、一种电子设备以及一种存储介质。

背景技术

内存(Memory)是现代计算机中重要的部件之一，它是与中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)进行沟通的桥梁。计算机中所有程序的运行都是在内存中进行的，因此内存的性能对计算机的影响非常大。

其中，内存的读写速度对计算机的整体性能影响重大。具体而言，内存参数是CPU运行时的一个重要参数，合适的内存参数可以保证计算机重载情况下的正常运行。若内存参数不合适，则在普通情况下计算机可正常运行，在负载突然加大的情况下计算机的系统可能会运行出错，甚至会导致计算机宕机，无法正常运行。

目前在CPU领域中，内存参数的调试通常是人工进行的。具体而言，在进行内存参数调试时，需要人工手动修改参数，然后手动进行程序烧写，再进行测试，如此反复，导致内存调试的工作量大。例如，在计算机应用于重载情况下时，由于CPU电压的不合适，还需要人工重新调节内存参数，再次测试内存参数，造成人力工作的大量反复。由于人工的局限性，以及各种板卡调试情况不同，需要反复进行参数的调节，降低了内存参数的调试效率。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种基于处理器的内存参数的调试方法，以提高内存参数的调试效率。

相应的，本发明实施例还提供了一种基于处理器的内存参数的调试系统、一种电子设备以及一种存储介质，用以保证上述方法的实现及应用。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种基于处理器的内存参数的调试方法，包括：对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，确定待测的内存参数，所述内存参数包括时延参数和时序参数；依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果；判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致；若不一致，则依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，对所述需要调整的时延参数进行调整。

可选地，所述对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，确定待测的内存参数，包括：接收输入的板卡参数；对所述输入的板卡参数进行硬件环境模拟处理，确定目标模板的硬件环境信息；基于所述硬件环境信息和预设参考参数进行综合处理，确定待测的时延参数和时序参数，所述预设参考参数包括预设的参考板卡的参考时延参数和参考时序参数。

可选地，依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果，包括：依据所述时序参数，设置处理器中的内存控制器的值，其中，所述内存控制器的值用于控制所述内存控制器发送的信号波形；依据所述内存控制器发送的信号波形，将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中；依据所述时延参数从所述内存中读取数据，以及基于读取到的数据生成测试结果。

可选地，所述将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中之前，还包括：设置所述处理器的电压值。所述对所述需要调整的时延参数进行调整，包括：对需要调整的时延参数进行调整，确定时延参数的边界值；依据所述时延参数的边界值进行综合处理，确定所述电压值对应的优化内存参数。所述依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果，包括：依据所述优化内存参数进行时序参数测试，得到所述电压值对应的测试结果。

可选地，还包括：在所述测试结果中的读取数据与预设数据一致时，判断所述处理器的电压值是否到达所述处理器的工作调整电压阈值；若所述电压值未到达所述工作调整电压阈值，则对所述电压值进行调整，基于调整后的电压值重新进行时序参数测试；若所述电压值到达所述工作调整电压阈值，则将所述电压值对应的优化内存参数导入到输出结果中。

可选地，所述板卡参数包括以下至少一项：处理器型号、内存型号、信号走线长度。

可选地，所述依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，包括：基于预设数据对所述测试结果中的读取数据进行误码分析，得到误码分析结果；基于所述误码分析结果，确定需要调整的时延参数。

本发明实施例还公开了一种基于处理器的内存参数的调试系统，包括：

控制模块，用于对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，确定待测的内存参数，所述内存参数包括时延参数和时序参数；

测试模块，用于依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果；

反馈模块，用于判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致；若不一致，则依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，触发所述控制模块对所述需要调整的时延参数进行调整。

可选地，所述控制模块包括：

接收子模块，用于接收输入的板卡参数；

分析处理子模块，用于对所述输入的板卡参数进行硬件环境模拟处理，确定目标模板的硬件环境信息；

综合处理子模块，用于基于所述硬件环境信息和预设参考参数进行综合处理，确定待测的时延参数和时序参数，所述预设参考参数包括预设的参考板卡的参考时延参数和参考时序参数。

可选地，所述测试模块包括：

设置子模块，用于依据所述时序参数，设置处理器中的内存控制器的值，其中，所述内存控制器的值用于控制所述内存控制器发送的信号波形；

数据写入子模块，用于依据所述内存控制器发送的信号波形，将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中；

测试结果子模块，用于依据所述时延参数从所述内存中读取数据，以及基于读取到的数据生成测试结果。

可选地，控制模块，还用于设置所述处理器的电压值；对需要调整的时延参数进行调整，确定时延参数的边界值；依据所述时延参数的边界值进行综合处理，确定所述电压值对应的优化内存参数；以及触发所述测试模块依据所述优化内存参数进行时序参数测试。所述测试模块，具体用于依据所述优化内存参数进行时序参数测试，得到所述电压值对应的测试结果。

可选地，所述反馈模块，具体用于在所述测试结果中的读取数据与预设数据一致时，判断所述处理器的电压值是否是到达所述处理器的工作调整电压阈值；若所述电压值未到达所述工作调整电压阈值，则触发所述控制模块对所述电压值进行调整；若所述电压值到达所述工作调整电压阈值，则触发所述控制模块将所述电压值对应的优化内存参数导入到输出结果中。所述测试模块，还用于基于调整后的电压值重新进行时序参数测试。

可选地，所述板卡参数包括以下至少一项：处理器型号、内存型号、信号走线长度。

可选地，所述反馈模块包括：

误码分析子模块，用于基于预设数据对所述测试结果中的读取数据进行误码分析，得到误码分析结果；

调整确定子模块，用于基于所述误码分析结果，确定需要调整的时延参数。

本发明实施例还公开了一种电子设备包括有存储器，以及一个或者一个以上的程序，其中一个或者一个以上程序存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行所述一个或者一个以上程序包含用于进行以下操作的指令：

对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，确定待测的内存参数，所述内存参数包括时延参数和时序参数；

依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果；

判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致；

若不一致，则依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，对所述需要调整的时延参数进行调整。

本发明实施例还公开了一种可读存储介质，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行本发明实施例中一个或多个所述的基于处理器的内存参数的调试方法。

本发明实施例包括以下优点：

本发明实施例可以通过输入目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，确定出待测的内存参数，待测的内存参数包括时延参数和时序参数，然后可以依据时延参数对时序参数进行测试；在测试结果中的读取数据与预设数据不一致时，依据测试结果确定出需要调整的时延参数，随后对需要调整的时延参数进行调整，以依据调整后的时延参数重新对时序参数进行测试，直到测试结果中的读取数据与预设数据一致，实现了内存参数的自动调试，突破人工调试内存参数的局限性，提高内存参数的调试效率。

附图说明

图1是本发明的一种基于处理器的内存参数的调试方法实施例的步骤流程图；

图2A是本发明一个示例中的一种调试系统的结构示意图；

图2B是本发明一个示例中的内存测试模块的示意图；

图2C是本发明一个示例中的反馈模块的示意图；

图2D是本发明一个示例中的控制模块的示意图；

图3是本发明的一种基于处理器的内存参数的调试系统实施例的结构框图；

图4是根据一示例性实施例示出的一种用于基于处理器的内存参数的调试的电子设备的结构框图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

本发明实施例的核心构思之一在于，通过输入板卡参数实现内存参数的自动调试，从而突破人工调试内存参数的局限性，提高内存参数的调试效率。

参照图1，示出了本发明的一种基于处理器的内存参数的调试方法实施例的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤102，对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，确定待测的内存参数，所述内存参数包括时延参数和时序参数。

在具体实现中，可以将需要调试内存参数的板卡称为目标板卡，如可以是新制作板卡，板卡上可以包括一个或多个内存，本发明实施例对此不作限制。

具体的，在将目标板卡对应的板卡参数输入到调试系统后，该调试系统可以通过对输入的板卡参数进行分析处理，模拟出目标板卡的硬件环境，然后可以将该目标板卡的硬件环境与预设的标准模板板卡的参数进行综合，如将目标板卡的硬件环境信息与标准模板板卡的时延参数、时序参数进行综合处理，形成新的时延参数和时序参数，随后可将新的时延参数和时序参数确定为目标板卡对应待测的内存参数，执行步骤104。

在本发明的一个可选实施例中，对目标板卡对应的板卡参数进行综合分析，确定待测的内存参数，可以包括如下子步骤：

子步骤1020，接收输入的板卡参数。

在具体实现中，输入的板卡参数可以目标板卡当前所使用的处理器型号、内存型号、各种信号的走线长度等等。因此在本发明的一个可选实施例中，输入的板卡参数可以包括以下至少一项：处理器型号、内存型号、信号走线长度。处理器型号可以包括目标板卡上所包含的处理器的信号，如中央处理器(Central Processing Unit，CPU)型号等。内存型号可以包括目标板卡上所包含的一个或多个内存的信号，如可以包括内存1的型号、内存2的型号，内存3的型号……内存n的型号，其中，内存n的型号为第n个内存的型号，n为整数。信号走线长度可以用于表征板卡上的各种信号的走线长度，如可以包括：时钟信号的走线长度、控制信号的走线长度、命令信号的走线长度和数据信号的走线长度等等，本发明实施例对此不作限制。

子步骤1022，对所述输入的板卡参数进行硬件环境模拟处理，确定目标模板的硬件环境信息。

子步骤1024，基于所述硬件环境信息和预设参考参数进行综合处理，确定待测的时延参数和时序参数，所述预设参考参数包括预设的参考板卡的参考时延参数和参考时序参数。

在本发明实施例中，硬件环境信息可以用于模拟出目标板卡的硬件环境，可以包括该目标板卡上的处理器的正常工作的电压范围，如处理器的正常工作的工作电压范围为1.1-1.3伏特(Volt，V)，即处理器的工作电压的最大值为1.3V，处理器的工作电压的最大值为1.1V。预设参考参数可以为预设的参考板卡的参数，可以用于表征预设的标准板卡的参数，具体可以包括：预设的参考板卡的参考时延参数和参考时序参数，以及还可以包括预设的时序波形的参数，如时序波形的频率、波幅等。其中，参考板卡可以是预先设置的标准板卡，该标准板卡可以是预设的内存参数模板。

具体而言，在确定出目标模板的硬件环境信息后，可获取预设参考参数，随后可运用预设的算法对硬件环境信息中的各种参数和预设参考参数进行综合计算，确定出当前待测的内存参数。其中，待测的内存参数可以包括内存测试所需要的各种时延参数和时序参数，如可以包括：控制信号相对于时钟信号的时延参数、命令信号相对于时钟信号的时延参数、数据信号相对于时钟信号的时延参数、数据信号内部的时延参数、内存接口的时序参数等等，本发明实施例对此不作限制。内存接口的时序参数可以依据配置的内存接口确定，如可以是按照固态技术协会(Joint Electron Device Engineering Council，JEDEC)要求的内存接口的时序参数。

步骤104，依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果。

在具体实现中，调试系统在确定待测的内存参数后，可以依据时序参数设置相应模块的值，如可以依据时序参数和各种信号的时延参数设置处理器中的内存控制器的值，该内存控制器的值可以用于控制所述内存控制器发送的信号波形；随后可以依据内存接口的时序参数进行时序参数测试。例如，可以根据内存控制器发送的信号波形，将预设数据写入到能够与该内存控制器进行通信的内存中；随后可以从写入数据的内存中读取数据，基于读取到的数据生成对应的测试结果，并输出测试结果。该测试结果可以包括一个或多个读取数据，读取数据用于表示从内存中读取到的数据。其中，预设数据可以是指预先设置的需要写入到内存中的一段数据，如可以是按照十六进制编写的一段数据等等，本发明实施例对此不作限制。

步骤106，判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致。

在具体实现中，可将该测试结果中的读取数据与预设数据进行对比，以确定测试结果中的读取数据是否与预设数据一致。若不一致，则，可以确定当前的测试结果存在误码，即需要对时延参数进行调整，执行步骤108。若测试结果中的读取数据与预设数据一致，则可以确定当前的测试结果不存在误码情况，可以确定完成时序参数测试，将时延参数和时序参数导入到输出结果，然后依据输出结果进行输出。

步骤108，依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，对所述需要调整的时延参数进行调整。

在本发明实施例中，调试系统在确定测试结果中的读取数据与预先写入到内存中的预设数据不一致时，可以结合预设数据分析当前的测试结果的误码情况，以综合分析出误码情况出现的原因；随后可基于分析出的误码出现原因确定出需要调整的时延参数，然后对需要调整的时时延参数进行调整，以依据调整后的时延参数重新对时序参数进行测试，即返回执行步骤104。

具体而言，在返回执行步骤104后，即可依据调整后的时延参数重新对时序参数进行测试，等到新的测试结果，然后执行步骤106，以判断新的测试结果中的读取数据是否与预设数据一致，若不一致，则可以继续依据测试结果调整需要调整的时延参数，以依据调整后的时延参数重新进行测试，直到测试结果中的读取数据与预设数据一致。

综上，本发明实施例可以通过输入目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，确定出待测的内存参数，待测的内存参数包括时延参数和时序参数，然后可以依据时延参数对时序参数进行测试；在测试结果中的读取数据与预设数据不一致时，依据测试结果确定出需要调整的时延参数，随后可需要调整的时延参数行调整，以及依据调整后的时延参数重新对时序参数进行测试，直到测试结果中的读取数据与预设数据一致，实现了内存参数的自动调试，突破人工调试内存参数的局限性，提高内存参数的调试效率。

为使本领域技术人员更好地理解本发明实施例，以下结合应用场景进行说明：

作为本发明的一种应用场景，本发明实施例可以应用在基于处理器的调试系统中，该调试系统可以包括一个或多个模块，如图2A所示，可以包括：控制模块210、内存测试模块220和反馈模块230。具体而言，在输入板卡参数后，控制系统210可以调用内存参数模板，将输入的板卡参数与内存参数模板的参数进行综合，形成新的参数，并将新形成的参数作为待测的内存参数，该待测的内存参数可以包括时延参数和时序参数，然后将该待测的内存参数传递给内存测试模块220，以触发内存测试模块220依据时延参数进行时序参数测试。内存测试模块220可以负责测试当前的内存参数是否能够使用，并且可以将测试结果实时传递给反馈模块230。反馈模块230可以接收内存测试模块230输出的测试结果，并可依据测试结果综合分析出需要调整的时延参数，传递给控制模块210。控制模块210在接收到反馈模块230传递过来的需要调整的时延参数后，可以对需要调整的时延参数进行微调，然后再将调整后的时延参数传递给内存测试模块220进行时序参数测试，如此反复，直到找到最合适的内存参数，即找到优化内存参数，从而可以将优化内存参数导入到输出结果240。

一个可选示例中，在板卡图设计完成后，如在完成印制电路板(Printed CircuitBoard，PCB)设计后，将该板卡对应的板卡参数输入到调试系统中，通过调试系统中的控制模块、内存测试模块和反馈模块实现内存参数的自动调试，以方便导出新设计板卡的优化内存参数。具体的，在板卡图设计完成后，在硬件板卡回板前可以将新设计板卡的电子参数导出，并输入到调试系统中，以通过调试系统中的控制模块210将新设计板卡的电子参数与现有模板参数结合，形成待测的内存参数，然后通过内存测试模块220进行测试，同时可以通过反馈模块230不断进行微调，实现内存参数的自动调试。可见，本示例在板卡回板前即可完成内存参数调试，如在板卡绘制完成后即可以进行CPU的内存参数自动调试，从而在板卡回板后就可以直接进入板卡功能调试，毋需再次花费大量人工和时间进行内存参数的调试，实现产品的快速发布，快速批量生产。

在具体实现中，在待测的内存参数传递给内存测试模块220后，可以将与内存测试相关的内存参数写到内存控制器中。内存控制器在接收到处理器发出的读写命令后，可以将其转化为内存芯片可以识别的动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)，并负责处理时序相关问题，最终返回数据或者返回一个响应给处理器。其中，数据可以是针对读命令返回的；响应可以是针对写命令返回的。相关的内存参数写入到内存控制器后，可以决定内存控制器输出的信号时序参数。因此，在本发明的一个可选实施例中，依据所述内存参数进行测试，输出测试结果，可以包括：依据所述时序参数，设置处理器中的内存控制器的值，其中，所述内存控制器的值用于控制所述内存控制器发送的信号波形；依据所述内存控制器发送的信号波形，将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中；依据所述时延参数从所述内存中读取数据，以及基于读取到的数据生成测试结果。

在一种可选实施方式中，如图2B所示，内存测试模块220可包含有处理器221，该处理器221中可以包含一个或多个内存控制器，以通过内存控制器与内存槽上安装的内存进行通信，如将数据写入到内存中、从内存中读取数据等等，从而可以同时对一个或多个内存控制器所连接的内存进行测试。其中，一个内存控制器可以用于控制一个或多个内存，本发明实施例对此不作限制。

例如，该内存测试模块220可以同时测试四个内存槽的内存参数。具体的，内存测试模块220中的处理器221可以内置两个内存控制器，并且可以通过其中一个内存控制器控制安装在内存槽01上的内存和安装在内存槽02上的内存，通过另一个内存控制器控制安装在内存槽03上的内存和安装在内存槽04上的内存，从而可以同时对四个内存进行内存参数的测试。

在具体实现中，处理器221可以调用内存参数接口222传递的参数进行测试，并且可以通过结果输出接口223实时地将测试结果输出，同时可以支持在不同电压下进行系统重载能力的测试。这里的电压可以是指处理器的电压。需要说明的是，处理器的接口电压可以决定其输出信号的电平值大小。

其中，电平值越大，差分信号眼睛越大，信号质量更有保障，但功耗会更高，因此需要兼顾这两方面的原因，确定一个合适的电平值。因此，在本发明的一个可选实施例中，所述将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中之前，还包括：设置所述处理器的电压值。

在具体实现中，如图2A所示，可预先将处理器的电压250调为比较高的电压值，如在内存控制器正常工作的工作电压范围为1.1-1.3V时，将电压250中的电压值设置为1.3V。在进行测试之前，还可以设置处理器控制信号224，该处理器控制信号224可以用于表征处理器221启动所需要预先设置的信号，如可以包括：复位信号、时钟频率信号、内存频率信号、中断信号、测试信号等等，本发明实施例对此不作限制。处理器221可以通过内存参数传递接口222，接收控制模块210传递过来的内存参数，如控制信号相对于时钟信号的时延参数、命令信号相对于时钟信号的时延参数、数据信号相对于时钟信号的时延参数、数据信号内部的时延参数等等；并在收到这些内存参数后，可以依据这些内存参数进行测试，即依据待测的时延参数进行时序参数测试，然后输出一段从内存中读取出的数据，作为测试结果，通过结果输出接口223传递给反馈模块230。

反馈模块230在接收到内存测试的测试结果后，可以进行分析，以确定出当前的测试结果的误码情况，并且可以综合分析误码情况出现的原因，以确定出需要调整的时延参数，反馈给控制模块210，从而使得控制模块210可以依据反馈的时延参数进行时延参数的微调。在本发明的一个可选实施例中，所述依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，可以包括：基于预设数据对所述测试结果中的读取数据进行误码分析，得到误码分析结果；基于所述误码分析结果，确定需要调整的时延参数。随后，可通过对需要调整的时延参数进行微调，并基于微调后的时延参数重新对时序参数进行测试，确定出时延参数的边界值，从而可以通过时延参数的边界值进行时序参数测试，得到处理器当前的电压值对应的优化内存参数。

例如，结合上述示例，如图2C所示，反馈模块230可以通过内存测试结果接口231接收到测试模块通过结果输出接口223输出的测试结果，该测试结果可以是一个段读取数据。反馈模块可以将测试结果中的这段读取数据与预设数据进行比较，确定是否存在误码。若测试结果中的这段读取数据与预设数据不一致，则可以确定出现误码，分析出现误码的原因，然后可以基于分析出的误码原因生成误码分析结果，以基于误码分析结果确定需要调整的测试参数，随后可通过反馈接口232可将该测试参数反馈给控制模块210。此外，反馈模块可以同时进行电压检测，如可以通过分析电压检测接口获取处理器当前的电压250，以分析电压对内存参数是否有影响。

在本发发明的一个可选实施例中，还包括：在所述测试结果中的读取数据与预设数据一致时，判断处理器的电压值是否到达所述处理器的工作调整电压阈值。若所述电压值未到达所述工作调整电压阈值，则对所述电压值进行调整，基于调整后的电压值重新进行时序参数测试；若所述电压值到达所述工作调整电压阈值，则将所述电压值对应的优化内存参数导入到输出结果中。其中，工作调整电压阈值可以为工作电压的最小值。

在实际处理中，在检测到测试结果中的读取数据与预设数据一致时，即在测试结果没有出现误码的情况下，可以通过控制模块210降低处理器的电压250，重新进行测试，以确定出最小功耗对应的优化内存参数。

在本发明实施例中，可选地，所述对需要调整的时延参数进行调整，包括：对需要调整的时延参数进行调整，确定时延参数的边界值；依据所述时延参数的边界值进行综合处理，确定所述电压值对应的优化内存参数。所述依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果，可以包括：依据所述优化内存参数进行时序参数测试，得到所述电压值对应的测试结果。

在一种可选示例中，如图2D所示，控制模块210可以通过输入接口211接收输入的板卡参数，然后对输入的参数进行分析处理，模拟出新制作板卡的硬件环境，随后可将模拟出的硬件环境与内存参数模板212的预设参考参数进行综合，得到待测的时延参数和时序参数；通过内存参数接口222将待测的时延参数和时序参数传递给内存测试模块220进行时序参数测试，同时可以检测反馈接口232传递过来的时延参数，即反馈模块230所反馈回来的需要调整的时延参数。

具体的，控制模块210在首次时序参数测试通过后，可以开始对内存参数中的每项参数依次进行微调，然后传递给内存测试模块220重新进行时序参数测试，同时检测反馈接口232传递过来的时延参数，找到每个时延参数的边界值。这样往复多次后，将内存参数的所有项目的时延参数边界值找到后，运用算法综合计算出处理器当前的电压值下对应的优化内存参数，然后再次通过内存测试系统进行时序参数测试。在测试出处理器当前的电压值下的优化内存参数后，控制模块210可以通过电压控制接口213对电压250的电压值进行调整，以测试内存参数在不同电压下的鲁棒性，进而可根据不同电压确定出最终的优化内存参数，即确定出所述目标板卡的最优内存参数，以及将目标板卡的最优内存参数导入到输出结果240中，随后可通过输出接口214对输出结果240进行输出。

综上，本示例在输入板卡参数后，可通过调试系统中的控制模块、测试模块和反馈模块实现内存参数的自动调试，突破人工调试内存参数的局限性，提高内存参数的调试效率，从而实现产品的快速发布和快速批量生产。

需要说明的是，对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。

参照图3，示出了本发明的一种基于处理器的调试系统实施例的结构框图，具体可以包括如下模块：

控制模块310，用于对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，确定待测的内存参数，所述内存参数包括时延参数和时序参数；

测试模块320，用于依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果；

反馈模块330，用于判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致；若不一致，则依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，触发所述控制模块对所述需要调整的时延参数进行调整。

本发明实施里中，若测试结果中的读取数据与预设数据一致，则可以确定当前的测试结果不存在误码情况，可以确定完成时序参数测试，反馈模块330可以触发所述控制模块310将时延参数和时序参数导入到输出结果，使得控制模块310可依据输出结果进行输出。所述测试模块320，还科用于依据调整后的时延参数重新对时序参数进行测试，直到测试结果中的读取数据与预设数据一致。

在本发明的一个可选实施例中，所述控制模块310可以包括如下子模块：

接收子模块，用于接收输入的板卡参数；

分析处理子模块，用于对所述输入的板卡参数进行硬件环境模拟处理，确定目标模板的硬件环境信息；

综合处理子模块，用于基于所述硬件环境信息和预设参考参数进行综合处理，确定待测的时延参数和时序参数，所述预设参考参数包括预设的参考板卡的参考时延参数和参考时序参数。

在本发明的一个可选实施例中，所述测试模块320可以包括如下子模块：

设置子模块，用于依据所述时序参数，设置处理器中的内存控制器的值，其中，所述内存控制器的值用于控制所述内存控制器发送的信号波形；

数据写入子模块，用于依据所述内存控制器发送的信号波形，将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中；

测试结果子模块，用于依据所述时延参数从所述内存中读取数据，以及基于读取到的数据，生成测试结果。

在本发明实施例中，可选的，控制模块310还用于设置所述处理器的电压值；对需要调整的时延参数进行调整，确定时延参数的边界值；依据所述时延参数的边界值进行综合处理，确定所述电压值对应的优化内存参数；以及触发所述测试模块320依据所述优化内存参数进行时序参数测试。所述测试模块320具体用于依据所述优化内存参数进行时序参数测试，得到所述电压值对应的测试结果。

在本发明的一个可选实施例中，所述反馈模块330具体用于在所述测试结果中的读取数据与预设数据一致时，判断所述处理器的电压值是否是到达所述处理器的工作调整电压阈值；若所述电压值未到达所述工作调整电压阈值，则触发所述控制模块310对所述电压值进行调整；若所述电压值到达所述工作调整电压阈值，则触发所述控制模块310将所述电压值对应的优化内存参数导入到输出结果中。所述测试模块320还用于基于调整后的电压值重新进行时序参数测试。

在本发明的一个可选实施例中，所述板卡参数可以包括以下至少一项：处理器型号、内存型号、信号走线长度。

在本发明的一个可选实施例中，所述反馈模块330可以包括如下子模块：

误码分析子模块，用于基于预设数据对所述测试结果中的读取数据进行误码分析，得到误码分析结果；

调整确定子模块，用于基于所述误码分析结果，确定需要调整的时延参数。

对于系统实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

图4是根据一示例性实施例示出的一种用于基于处理器的调试的电子设备400的结构框图。例如，电子设备400可以是移动电话，计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。

参照图4，电子设备400可以包括以下一个或多个组件：处理组件402，存储器404，电源组件406，多媒体组件408，音频组件410，输入/输出(I/O)的接口412，传感器组件414，以及通信组件416。

处理组件402通常控制电子设备400的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件402可以包括一个或多个处理器420来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件402可以包括一个或多个模块，便于处理组件402和其他组件之间的交互。例如，处理组件402可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件408和处理组件402之间的交互。

存储器404被配置为存储各种类型的数据以支持在设备400的操作。这些数据的示例包括用于在电子设备400上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器404可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件406为电子设备400的各种组件提供电力。电源组件406可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为电子设备400生成、管理和分配电力相关联的组件。

多媒体组件408包括在所述电子设备400和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件408包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当电子设备400处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件410被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件410包括一个麦克风(MIC)，当电子设备400处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器404或经由通信组件416发送。在一些实施例中，音频组件410还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/O接口412为处理组件402和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件414包括一个或多个传感器，用于为电子设备400提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件414可以检测到设备400的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为电子设备400的显示器和小键盘，传感器组件414还可以检测电子设备400或电子设备400一个组件的位置改变，用户与电子设备400接触的存在或不存在，电子设备400方位或加速/减速和电子设备400的温度变化。传感器组件414可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件414还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件414还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件416被配置为便于电子设备400和其他设备之间有线或无线方式的通信。电子设备400可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，2G或3G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件416经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件416还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，电子设备400可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述方法。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器404，上述指令可由电子设备400的处理器420执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行一种基于处理器的调试方法，所述方法包括：对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，确定待测的内存参数，所述内存参数包括时延参数和时序参数；依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果；判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致；若不一致，则依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，对所述需要调整的时延参数进行调整。

可选地，所述对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，确定待测的内存参数，包括：接收输入的板卡参数；对所述输入的板卡参数进行硬件环境模拟处理，确定目标模板的硬件环境信息；基于所述硬件环境信息和预设参考参数进行综合处理，确定待测的时延参数和时序参数，所述预设参考参数包括预设的参考板卡的参考时延参数和参考时序参数。

可选地，依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果，包括：依据所述时序参数，设置处理器中的内存控制器的值，其中，所述内存控制器的值用于控制所述内存控制器发送的信号波形；依据所述内存控制器发送的信号波形，将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中；依据所述时延参数从所述内存中读取数据，以及基于读取到的数据生成测试结果。

可选地，所述将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中之前，还包括：设置所述处理器的电压值。所述对所述需要调整的时延参数进行调整，包括：对需要调整的时延参数进行调整，确定时延参数的边界值；依据所述时延参数的边界值进行综合处理，确定所述电压值对应的优化内存参数。所述依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果，包括：依据所述优化内存参数进行时序参数测试，得到所述电压值对应的测试结果。

可选地，还包括：在所述测试结果中的读取数据与预设数据一致时，判断所述处理器的电压值是否到达所述处理器的工作调整电压阈值；若所述电压值未到达所述工作调整电压阈值，则对所述电压值进行调整，基于调整后的电压值重新进行时序参数测试；若所述电压值到达所述工作调整电压阈值，则将所述电压值对应的优化内存参数导入到输出结果中。

可选地，所述板卡参数包括以下至少一项：处理器型号、内存型号、信号走线长度。

可选地，所述依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，包括：基于预设数据对所述测试结果中的读取数据进行误码分析，得到误码分析结果；基于所述误码分析结果，确定需要调整的时延参数。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以预测方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种基于处理器的调试方法和系统、一种电子设备以及一种储存介质，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种基于处理器的内存参数的调试方法，其特征在于，包括：

对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，模拟出目标板卡的硬件环境，确定待测的内存参数，所述内存参数包括时延参数和时序参数；

依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果；

判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致；

若不一致，则依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，对所述需要调整的时延参数进行调整；

其中，依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果，包括：

依据所述时序参数，设置处理器中的内存控制器的值，其中，所述内存控制器的值用于控制所述内存控制器发送的信号波形；

依据所述内存控制器发送的信号波形，将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中；

依据所述时延参数从所述内存中读取数据，以及基于读取到的数据生成测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，模拟出目标板卡的硬件环境，确定待测的内存参数，包括：

接收输入的板卡参数；

对所述输入的板卡参数进行硬件环境模拟处理，确定目标板卡的硬件环境信息；

基于所述硬件环境信息和预设参考参数进行综合处理，确定待测的时延参数和时序参数，所述预设参考参数包括预设的参考板卡的参考时延参数和参考时序参数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中之前，还包括：设置所述处理器的电压值；

所述对所述需要调整的时延参数进行调整，包括：对需要调整的时延参数进行调整，确定时延参数的边界值；依据所述时延参数的边界值进行综合处理，确定所述电压值对应的优化内存参数；

所述依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果，包括：依据所述优化内存参数进行时序参数测试，得到所述电压值对应的测试结果。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括：

在所述测试结果中的读取数据与预设数据一致时，判断所述处理器的电压值是否到达所述处理器的工作调整电压阈值；

若所述电压值未到达所述工作调整电压阈值，则对所述电压值进行调整，基于调整后的电压值重新进行时序参数测试；

若所述电压值到达所述工作调整电压阈值，则将所述电压值对应的优化内存参数导入到输出结果中。

5.根据权利要求1至4任一所述的方法，其特征在于，所述依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，包括：

基于预设数据对所述测试结果中的读取数据进行误码分析，得到误码分析结果；

基于所述误码分析结果，确定需要调整的时延参数。

6.一种基于处理器的内存参数的调试系统，其特征在于，包括：

控制模块，用于对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，模拟出目标板卡的硬件环境，确定待测的内存参数，所述内存参数包括时延参数和时序参数；

测试模块，用于依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果；

反馈模块，用于判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致；若不一致，则依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，触发所述控制模块对所述需要调整的时延参数进行调整；

其中，所述测试模块包括：

设置子模块，用于依据所述时序参数，设置处理器中的内存控制器的值，其中，所述内存控制器的值用于控制所述内存控制器发送的信号波形；

数据写入子模块，用于依据所述内存控制器发送的信号波形，将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中；

测试结果子模块，用于依据所述时延参数从所述内存中读取数据，以及基于读取到的数据生成测试结果。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，

所述控制模块包括：

接收子模块，用于接收输入的板卡参数；

分析处理子模块，用于对所述输入的板卡参数进行硬件环境模拟处理，确定目标板卡的硬件环境信息；

综合处理子模块，用于基于所述硬件环境信息和预设参考参数进行综合处理，确定待测的时延参数和时序参数，所述预设参考参数包括预设的参考板卡的参考时延参数和参考时序参数。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，

控制模块，还用于设置所述处理器的电压值；对需要调整的时延参数进行调整，确定时延参数的边界值；依据所述时延参数的边界值进行综合处理，确定所述电压值对应的优化内存参数；以及触发所述测试模块依据所述优化内存参数进行时序参数测试；

所述测试模块，具体用于依据所述优化内存参数进行时序参数测试，得到所述电压值对应的测试结果。

9.根据权利要求6至8任一所述的系统，其特征在于，所述反馈模块包括：

误码分析子模块，用于基于预设数据对所述测试结果中的读取数据进行误码分析，得到误码分析结果；

调整确定子模块，用于基于所述误码分析结果，确定需要调整的时延参数。

10.一种可读存储介质，其特征在于，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行如方法权利要求1-5中一个或多个所述的基于处理器的内存参数的调试方法。

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