CN113806151B - 一种时序参数确定方法、装置、电子设备和系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及计算机领域，尤其涉及一种时序参数确定方法、装置、电子设备和系统。所述方法包括：从待测设备的待测时序参数中确定初始时序参数；获取所述初始时序参数的属性；当所述初始时序参数的属性为所述可用属性时，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数；根据所述上限时序参数和所述下限时序参数，计算所述待测设备的目标时序参数。通过本方案来自动获取设备的时序参数值，可以节省大量的人力物力，提高测量的效率。
Description
技术领域
本发明涉及计算机领域，特别是涉及一种时序参数确定方法、装置、电子设备和系统。
背景技术
在电脑类产品，如笔记本电脑研发的阶段，设置电源时序是非常重要的一环，能决定操作系统是否可以正常开机，但在研发的初始阶段往往为了调整电源时序而需要工程师不断地花费大量时间进行测量。目前我们的时序参数是来自对应的数据手册，但是由于国产平台处于发展初期，所以这个手册仍然存在一些缺陷，在平常的设计中研发人员也会进行部分调整，如果人为地面对不同平台去测试的话，会耗费大量的人力物力。
发明内容
本发明实施例提供一种时序参数确定方法、装置、电子设备和系统，通过本发明实施例能够自动测量电源时序参数，可以提高测量的效率。
第一方面，本发明实施例提供了一种时序参数确定方法，所述方法包括：
从待测设备的待测时序参数中确定初始时序参数，所述初始时序参数为所述待测时序参数的初始值；
获取所述初始时序参数的属性；
当所述初始时序参数的属性为可用属性时，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数；
根据所述上限时序参数和所述下限时序参数，计算所述待测设备的目标时序参数，所述目标时序参数为所述待测设备的第一设备状态和第二设备状态之间的转换参数。
可选的，所述获取所述初始时序参数的属性包括：
将所述初始时序参数输入所述待测设备；
在所述初始时序参数的配置下，获取所述待测设备的状态变化信息；
根据所述状态变化信息和预设跳转信息，确定所述初始时序参数的属性。
可选的，所述当所述初始时序参数的属性为可用属性时，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数，包括：
在所述状态变化信息满足预设跳转信息时，确定所述初始时序参数的属性为可用属性；
基于所述初始时序参数的可用属性，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数。
可选的，所述基于所述初始时序参数的可用属性，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数包括：
基于所述初始时序参数的可用属性获取时序步长，所述时序步长用于更新所述初始时序参数；
对所述初始时序参数与所述时序步长进行数值运算，确定所述待测设备的第一时序参数和第二时序参数；
当所述第一时序参数的属性和所述第二时序参数的属性为可用属性时，基于所述第一时序参数、所述第二时序参数、以及所述时序步长，确定所述初始时序参数的上限时序参数和下限时序参数。
可选的，当所述第一时序参数的属性和所述第二时序参数的属性为可用属性时，基于所述第一时序参数、所述第二时序参数、以及所述时序步长，确定所述初始时序参数的上限时序参数和下限时序参数，包括：
若所述第一时序参数的属性为可用属性，则计算所述第一时序参数与所述时序步长的和值，所述和值即为新的时序参数，并判断所述新的时序参数的属性是否为所述可用属性，若为所述可用属性，则再次计算获得新的时序参数，直至所述新的时序参数的属性为不可用属性为止；
将所述不可用属性对应的时序参数的上一个时序参数作为所述初始时序参数的上限时序参数；
若所述第二时序参数的属性为可用属性，则计算所述第二时序参数与所述时序步长的差值，所述差值即为新的时序参数，并判断所述新的时序参数的属性是否为所述可用属性，若为所述可用属性，则再次计算获得新的时序参数，直至所述新的时序参数的属性为不可用属性为止；
将所述不可用属性对应的时序参数的上一个时序参数作为所述初始时序参数的下限时序参数。
可选的，所述根据所述上限时序参数和所述下限时序参数，计算所述待测设备的目标时序参数包括：
计算所述上限时序参数与所述下限时序参数的中间值，并将所述中间值作为所述待测设备的目标时序参数。
第二方面，本发明实施例还提供了一种时序参数确定装置，包括：
第一获取模块，用于从待测设备的待测时序参数中确定初始时序参数，所述初始时序参数为所述待检测时序参数的初始值；
第二获取模块，用于获取所述初始时序参数的属性；
第三获取模块，用于当所述初始时序参数的属性为所述可用属性时，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数；
输出模块，用于根据所述上限时序参数和所述下限时序参数，计算所述待测设备的目标时序参数，所述目标时序参数为所述待测设备的第一设备状态和第二设备状态之间的转换参数。
第三方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，包括：
至少一个处理器；以及，
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如上所述的方法。
第四方面，本发明实施例还提供了一种非易失性计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，当所述计算机可执行指令被处理器所执行时，使所述处理器执行如上所述的方法。
第五方面，本发明实施例还提供了一种时序参数确定系统，所述系统包括如上所述的电子设备，以及芯片，所述芯片耦合于所述电子设备，所述芯片用于响应于所述电子设备发送的命令，以测量得到所述目标时序参数。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明实施例提供的时序参数确定方法、装置、电子设备和系统，通过从待测设备的待测时序参数中确定初始时序参数；获取所述初始时序参数的属性；当所述初始时序参数的属性为所述可用属性时，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数；根据所述上限时序参数和所述下限时序参数，计算所述待测设备的目标时序参数。本发明实施例提供的时序参数确定方法、装置、电子设备和系统能够在自动获取设备的时序参数值时，节省大量的人力物力，可以提高测量的效率。
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
图1是本发明实施例提供的一种时序参数确定方法的流程示意图；
图2是本发明实施例提供的测量上限时序参数方法的流程示意图；
图3是本发明实施例提供的测量下限时序参数方法的流程示意图；
图4是本发明实施例提供的电子设备端工作的流程示意图；
图5是本发明实施例提供的芯片端工作的流程示意图；
图6是本发明实施例提供的一种时序参数确定装置的示意图；
图7是本发明实施例提供的一种时序参数确定系统的示意图；
图8是本发明实施例提供的电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
需要说明的是，如果不冲突，本发明实施例中的各个特征可以相互组合，均在本发明的保护范围之内。另外，虽然在装置示意图中进行了功能模块的划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置示意图中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。
除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是用于限制本发明。本说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
本发明实施例提供了一种时序参数确定方法，请参阅图1，该方法包括：
S11、从待测设备的待测时序参数中确定初始时序参数，初始时序参数为待测时序参数的初始值。
其中，待测设备可以为台式电脑，或者其它需要测试电源时序参数的设备，待测时序参数可以是待测设备的电源时序参数，控制待测设备的电源时序，可以为S0状态与S3状态间的电源时序参数。
需要说明的是，在本发明实施例中S0状态即待测设备的工作状态，S3命令即待测设备的睡眠命令，S3状态即待测设备的睡眠状态，S5状态即待测设备的关闭状态。
在本实施例中，每一次测试前，用户设置一组可用的时序参数，这一组时序参数可以是厂家给出的时序参数手册中的数据，也可以是其它渠道获得的数据。这一组数据可以是待测设备从S0状态到S3状态的时序参数，也可以是待测设备从S3状态到S0状态的时序参数。
本实施例中，每次测量都只测量并改变一组时序参数中的一个数据，这一数据即为初始时序参数。本实施例的目的是，按顺序将这一组时序参数中所有时序参数的目标时序参数都测量并计算出来。
S12、获取初始时序参数的属性。
本实施例中，一个时序参数的属性代表该时序参数满足的性质，初始时序参数的属性包括可用属性和不可用属性。
其中，可用属性指的是时序参数是可用的、是正确的。若一个时序参数的属性包括可用属性，表示在该时序参数的配置下，待测设备可以从S0状态正常切换到S3状态。不可用属性指的是时序参数的是不可用的、是不正确的。若一个时序参数的属性包括不可用属性，表示在该时序参数的配置下，待测设备不可以从S0状态正常切换到S3状态。
在一些实施例中，获取初始时序参数的属性可以包括：
将初始时序参数输入待测设备；
在初始时序参数的配置下，获取待测设备的状态变化信息；
根据状态变化信息和预设跳转信息，确定初始时序参数的属性。
在本实施例中，预设跳转信息有两种，第一种预设跳转信息是，电子设备下达S3命令后，待测设备从S0状态正常切换到S3状态。第二种预设跳转信息是，待测设备下达S3命令后，待测设备不能从S0状态正常切换到S3状态，而是从S0状态切换到S5状态再切换到S0状态，即自动开机过程。当测量待测设备在S0状态到S3状态的目标时序参数时，在初始时序参数的配置下，若待测设备的状态变化信息为第一种预设跳转信息，则确定该初始时序参数的属性为可用属性，若待测设备的状态变化信息为第二种预设跳转信息，则确定该初始时序参数的属性为不可用属性。
在一些实施例中，电子设备可以为台式电脑，或其它能够执行时序参数确定方法的设备，待测设备和电子设备可以为同一设备，也可以为两个不同的设备。
S13、当初始时序参数的属性为可用属性时，获取初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数。
其中，上限时序参数指的是在测量范围内满足可用属性的最大时序参数，下限时序参数指的是在测量范围内满足可用属性的最小时序参数。
在一些实施例中，当初始时序参数的属性为可用属性时，获取初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数，可以包括：
在状态变化信息满足预设跳转信息时，确定初始时序参数的属性为可用属性；
基于初始时序参数的可用属性，获取初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数。
本实施例中，在初始时序参数的配置下，若待测设备的状态变化信息为第一种预设跳转信息，则确定该初始时序参数的属性为可用属性，然后继续就该初始时序参数测量该初始时序参数的上限时序参数和下限时序参数。
在初始时序参数的配置下，若待测设备的状态变化信息为第二种预设跳转信息，则确定该初始时序参数的属性为不可用属性，然后提示用户更改初始时序参数的值，直到获得一个属性为可用属性的初始时序参数来进行测量为止。
在一些实施例中，基于初始时序参数的可用属性，获取初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数可以包括：
基于初始时序参数的可用属性获取时序步长，时序步长用于更新初始时序参数；
对初始时序参数与时序步长进行数值运算，确定待测设备的第一时序参数和第二时序参数；
当第一时序参数的属性和第二时序参数的属性为可用属性时，基于第一时序参数、第二时序参数、以及时序步长，确定初始时序参数的上限时序参数和下限时序参数。
其中，第一时序参数是初始时序参数与时序步长的和值，第二时序参数是初始时序参数与时序步长的差值。
在一些实施例中，当第一时序参数的属性和第二时序参数的属性为可用属性时，基于第一时序参数、第二时序参数、以及时序步长，确定初始时序参数的上限时序参数和下限时序参数，可以包括：
若第一时序参数的属性为可用属性，则计算第一时序参数与时序步长的和值，和值即为新的时序参数，并判断新的时序参数的属性是否为可用属性，若为可用属性，则再次计算获得新的时序参数，直至新的时序参数的属性为不可用属性为止；
将不可用属性对应的时序参数的上一个时序参数作为初始时序参数的上限时序参数；
若第二时序参数的属性为可用属性，则计算第二时序参数与时序步长的差值，差值即为新的时序参数，并判断新的时序参数的属性是否为可用属性，若为可用属性，则再次计算获得新的时序参数，直至新的时序参数的属性为不可用属性为止；
将不可用属性对应的时序参数的上一个时序参数作为初始时序参数的下限时序参数。
在一实施例中，上限时序参数的确定方法的流程示意图可以参阅图2，该方法包括：
S1310，开始，转至S1311。
S1311，获取属性为可用属性的初始时序参数，转至S1312。可以通过电子设备和芯片获取用户设置的属性为可用属性的初始时序参数。
在一些实施例中，芯片可以为EC(Embedded Controller)，即嵌入式控制器，电子设备为OS(Operating System)，可以为台式电脑，待测设备和电子设备可以在同一设备，也可以在两个不同的设备。本发明实施例中将待测设备和电子设备设置在为同一设备。
S1312，下S3命令，转至S1313。电子设备下达S3命令给芯片。
S1313，走S3状态的掉电时序，转至S1314。芯片控制待测设备走S3掉电时序。
S1314，判断是否成功，若成功，则转至S1315，若未成功则转至S1318。判断的依据是：待测设备在预设时间内走S3状态的上电时序，芯片则判断为成功，否则芯片判断为未成功并将判断结果反馈给电子设备。
S1315，获取时序步长，转至S1316。电子设备接收到芯片反馈的成功的信息，获取用户预设在电子设备中的时序步长。
S1316，向上调整时序参数，转至S1317。电子设备根据预设的时序步长加上此次使用的初始时序参数的值得到新的时序参数。
S1317，获取新的时序参数，转至S1312。芯片获得新的时序参数。
S1318，自动开机，转至S1319。芯片接收到未成功的信息，执行看门狗程序，待测设备自动开机。
S1319，输出上一个时序参数为上限时序参数。电子设备获得待测设备的每一次状态变化信息，并最后得到上限时序参数。
本实施例的流程通过用户、芯片及电子设备，三者之间的交互得到待测设备的上限时序参数。
在一实施例中，下限时序参数的确定方法的流程示意图可以参阅图3，该方法包括：
S1330，开始，转至S1331。
S1331，获取属性为可用属性的初始时序参数，转至S1332。可以通过电子设备和芯片获取用户设置的属性为可用属性的初始时序参数。
在一些实施例中，芯片可以为EC(Embedded Controller)，即嵌入式控制器，电子设备为OS(Operating System)，可以为台式电脑，待测设备和电子设备可以在同一设备，也可以在两个不同的设备。本发明实施例中将待测设备和电子设备设置在为同一设备。
S1332，下S3命令，转至S1333。电子设备下达S3命令给芯片。
S1333，走S3状态的掉电时序，转至S1334。芯片控制待测设备走S3掉电时序。
S1334，判断是否成功，若成功，则转至S1335，若未成功则转至S1338。判断的依据是：待测设备在预设时间内走S3状态的上电时序，芯片则判断为成功，否则芯片判断为未成功并将判断结果反馈给电子设备。
S1335，获取时序步长，转至S1336。电子设备接收到芯片反馈的成功的信息，获取用户预设在电子设备中的时序步长。
S1336，向下调整时序参数，转至S1337。电子设备根据此次使用的初始时序参数减去预设的时序步长的值得到新的时序参数。
S1337，获取新的时序参数，转至S1332。芯片获得新的时序参数。
S1338，自动开机，转至S1339。芯片接收到未成功的信息，执行看门狗程序，待测设备自动开机。
S1339，输出上一个时序参数为下限时序参数。电子设备获得待测设备的每一次状态变化信息，并最后得到下限时序参数。
S14、根据上限时序参数和下限时序参数，计算待测设备的目标时序参数，目标时序参数为待测设备的第一设备状态和第二设备状态之间的转换参数。
其中，目标时序参数指的是待测时序参数的较合理的时序参数的值，转换参数指的是控制待测设备的两种电源状态间实现转换的时序参数。
其中，第一设备状态指的是待测设备的一种电源状态，比如，第一设备状态可以为待测设备的S0状态，第二设备状态指的是与第一设备状态不同的待测设备的一种电源状态，比如，第二设备状态可以为待测设备的S3状态。
在一些实施例中，根据上限时序参数和下限时序参数，计算待测设备的目标时序参数包括：
计算上限时序参数与下限时序参数的中间值，并将中间值作为待测设备的目标时序参数。
需要说明的是，在获得上限时序参数和下限时序参数后，本实施例提供的计算时序参数的方法是取二者的中间值。在一些实施例中，根据不同需要可以使用其它方法计算得到一个合理的时序参数。
例如，当上限时序参数、下限时序参数都不为0时，可以取上限时序参数与下限时序参数的几何平均值，即二者相乘再开根号得到的值作为目标时序参数。
当上限时序参数、下限时序参数不相等时，可以采用黄金分割法，即上限时序参数减去下限时序参数的值乘以预设参数值，比如，0.618，加下限时序参数得到的值作为最终的目标时序参数。
还可以考虑到温度对电源时序的影响，例如，在0摄氏度下，得到一组时序参数中每个时序参数的上限时序参数和下限时序参数，然后，其它条件不变，在50摄氏度下，得到相同的一组时序参数中每个时序参数的上限时序参数和下限时序参数，取0摄氏度与50摄氏度下两组数据中每个时序参数的上限时序参数和下限时序参数范围的相同部分，得到每个时序参数的上边界和下边界，再取每个时序参数的上边界与下边界的中间值作为目标时序参数。
在本发明实施例中，通过计算上限时序参数和下限时序参数得到目标时序参数，该目标时序参数可取中间值，由于该目标时序参数与上限时序参数和下限时序参数都存在一定的距离，因此，该目标时序参数的抗压力性较强。将该目标时序参数运用到电子设备中，电子设备不容易出现死机、黑屏等问题。
本发明实施例提供了一种时序参数确定方法，该方法可用于确定待测设备的目标时序参数值，与传统方法相比，可以节省大量的人力物力，提高了参数测量效率，智能性较高；另外确定的目标时序参数值抗压力性较强，可有效减少电子设备死机、黑屏等问题。
本发明实施例提供了电子设备端工作的流程示意图，请参阅图4。图4即为电子设备所做工作的流程，该流程包括：
S400，开始，执行S401。电子设备开始工作。
S401，判断电源时序存储文档是否为空，若是，则执行S403，若否，则执行S402。
此步骤用于清空电源时序存储文档，为输入待测设备的初始时序参数或其它时序参数做准备。电源时序存储文档用于用户设置在电子设备中，用于记录电源时序参数，包括待测设备在S0状态与S3状态之间的电源时序参数。
S402，电源时序存储文档的最后一行加上“not”，执行S406。该步骤用于清空电源时序存储文档。
S403，写入初始时序参数身份属性值，执行S404。在电源时序存储文档中写入初始时序参数身份属性值，待测的一组时序参数中每个时序参数均拥有不同的身份属性值，例如，一组待测的时序参数中，有A、B、C、D四个时序参数，则用户设置A的身份属性值为0，B的身份属性值为1，C的身份属性值为2，D的身份属性值为3，则写入初始时需参数身份属性值为0，对应A的身份属性值，即此时A为初始时序参数，从A开始测量，测量得到A的目标时序参数后，改变身份属性值为1，此时B为初始时序参数，测量得到B的目标时序参数，同理依次测量C和D的目标时序参数，最终得到时序参数A、B、C、D各自的目标时序参数。
S404，写入初始时序参数属性为下限时序参数，执行S405。
S405，写入初始时序参数值，执行S406。电子设备将用户设置的初始时序参数值写入电源时序存储文档中。
S406，判断初始时序参数是否为上限时序参数，若是，则执行S407，若否，则执行S408。
S407，调整初始时序参数属性为下限时序参数，执行S410。
S408，判断身份属性值是否为最大，若是，则执行S417，若否，则执行S409。
S409，上调身份属性值，设置初始时序参数属性为上限时序参数，执行S410。该步骤用于测量完成当前时序参数后，测量同组时序参数中的下一个时序参数。即上述中A测完后测量B。
S410，检测初始时序参数是上限时序参数还是下限时序参数，执行S411。
S411，调整初始时序参数的值，执行S412。
S412，判断新的时序参数的值是否为边界数据，若是，则执行S406，若否，则执行S413。
S413，将新的时序参数的值参数写入电源时序参数存储文档，在最后一行加上“success”，执行S414。将此次拥有可用属性的时序参数保存在电源时序参数存储文档中。
S414，用工具写入自动唤醒S3状态的时间，执行S415。电子设备用一些工具写入自动唤醒待测设备进入S3状态的时间到芯片中，例如ecver工具，ecver工具是一种可以控制芯片的工具，此工具可以设置自动唤醒待测设备S3状态的时间。该时间可以设置为1秒或其它时长。
S415，调整新的时序参数的值，执行S416。若初始时序参数为上限时序参数则下调初始时序参数，即将初始时序参数减去时序步长得到新的时序参数，测量新的时序参数。若初始时序参数为下限时序参数则上调初始时序参数，即将初始时序参数加上时序步长得到新的时序参数，测量新的时序参数。
S416，下S3命令。电子设备向芯片下达S3命令，芯片控制待测设备执行S3命令。
S417，结束测试，给芯片发送结束标志位，执行S418。电子设备将结束测试的命令反馈给芯片。
S418，处理电源时序存储文档数据，执行S419。结束测试后，电源时序存储文档中有待测的一组时序参数中每个时序参数的上限时序参数和下限时序参数。
S419，输出目标时序参数，执行S420。电子设备计算各个时序参数的上限时序参数和下限时序参数得到目标时序参数。电子设备将该文档反馈给用户。
S420，测试结束。
本发明实施例提供了芯片端工作的流程示意图，请参阅图5，图5为芯片工作的流程，该流程包括：
S500，下S3命令，执行S501。芯片接收电子设备下达的S3命令。
S501，获取待测时序参数的值，执行S502。芯片获取电子设备中的待测时序参数的值。该待测时序参数可以是初始时序参数，也可以是初始时序参数上调或下调后的其它时序参数。
在一些实施例中，电子设备可以将待测时序参数的值设置在芯片10，即EC的xaddr中，xaddr是EC内部的存储器地址。
S502，走S3状态的下电时序，执行S503。响应于电子设备发出的S3命令，芯片控制待测设备依据待测时序参数的值走S3状态的下电时序。
S503，获取S3状态的唤醒时间，执行S504。芯片获取待测设备的唤醒时间。
在一些实施例中，唤醒时间可保存在ECRAM中，ECRAM是EC芯片的一段与电子设备交互的地址。
S504，S3状态的唤醒时间倒计时，执行S505。
S505，判断是否已到S3状态的自动唤醒时间；若否，则执行S504；若是，则执行S506。用户预设唤醒时长，芯片判断待测设备是否已经到了预设的唤醒时长。
S506，走S3状态的上电时序，执行S506。
S507，判断测试是否结束，若是，则执行S509，若否，则执行S508。芯片判断待测设备是否进入S3状态，若进入则测试结束，芯片将这一系列动作反馈给电子设备，电子设备确定该待测时序参数的属性为可用属性，若没有进入S3状态则控制待测设备自动开机。
S508，测试结束。
S509，S3命令完成倒计时，执行S510。
S510，判断是否已到S3命令完成时间，若否，则执行S511，若是，则执行S512。
S511，判断是否下S3命令，若是，则执行S500，若否，则执行S510。
S512，看门狗复位，执行S513。
S513，自动开机。待测设备没有进入S3状态，被强制重启，即待测设备从S0状态到S5状态再到S0状态，芯片将这一系列动作反馈给电子设备，电子设备确定该待测时序参数的属性为不可用属性。
在其中一些实施例中，芯片为EC(Embedded Controller)，即嵌入式控制器，电子设备为OS(Operating System)，即待测设备，为台式电脑。首先按照上述芯片的流程来撰写EC端的代码，将待测时序参数从固定值改为从EC内部的存储器中读取。其次按照上述电子设备的流程来撰写linux(一种操作系统)系统下OS端的脚本代码。让该脚本文件在待测设备开机时自动执行。具体的，EC端会一直等待OS端的S3命令，并且在会从EC内部的存储器中读取待测的时序参数的值，并按照该值去执行S3命令，执行完成S3命令之后，EC会自动唤醒进入OS端，此时EC会定时一个时间段，如果在此时间段内没有收到服务器OS端的S3命令，那么EC开启看门狗程序，进入死循环等待EC复位，进而待测设备自动开机，接着继续测量，直到得到时序参数的上限时序参数为止。同理获取下限时序参数的方法。最后，得到待测时序参数的上限时序参数、下限时序参数后取二者中间值保存并反馈给用户。
本实施例中，主要包括电子设备和芯片之间的工作流程，二者不断进行交互，以完成测量工作。
本发明实施例提供了一种时序参数确定装置700，请参阅图6，该装置包括：
第一获取模块701，用于从待测设备的待测时序参数中确定初始时序参数，初始时序参数为待检测时序参数的初始值。
第二获取模块702，用于获取初始时序参数的属性。
第三获取模块703，用于当初始时序参数的属性为可用属性时，获取初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数。
输出模块704，用于根据上限时序参数和下限时序参数，计算待测设备的目标时序参数，目标时序参数为待测设备的第一设备状态和第二设备状态之间的转换参数。
通过本装置来确定待测设备在S0状态与S3状态间的目标时序参数，可以节省大量的人力物力，并且得到的时序参数值抗压力性较强。
需要说明的是，上述时序参数确定装置700可执行本发明实施例所提供的任意时序参数确定方法，具备执行方法相应的功能模块。未在本时序参数确定装置实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明实施例所提供的时序参数测量方法。
本发明实施例提供的一种时序参数确定系统100，请参阅图7，该系统包括电子设备10、芯片20以及用户30，芯片20耦合于电子设备10，芯片20用于响应于电子设备20发送的命令，以测量得到目标时序参数。
芯片20耦合于电子设备10，芯片20用于响应于电子设备10发送的命令，以测量并计算目标时序参数。
电子设备10与芯片20交互，用于发送S3命令给芯片20并接收芯片20响应与S3命令的结果，以得到目标时序参数。电子设备10还与客户30交互，用户30接收客户发送的信息和指令，并将测量结果反馈给用户30。
本发明实施例提供了一种电子设备10，请参阅图8，图8为本发明实施例提供的一种电子设备的硬件结构图，其中，电子设备10可以是任何类型，具备运算功能的设备。
具体地，如图8所示，该电子设备10包括：至少一个处理器101，图8中以一个处理器101为例；以及，与至少一个处理器101通信连接的存储器102；
其中，存储器102存储有可被至少一个处理器101执行的指令，指令被至少一个处理器101执行，以使至少一个处理器101能够执行上述任意方法实施例中的时序参数确定方法。
处理器101和存储器102可以通过总线或其他方式连接，图8中以通过总线连接为例，存储器102作为一种非易失性计算机可读存储介质，可用于存储非易失性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的测量S0状态与S3状态之间的时序参数的系统对应的程序指令/模块。处理器101通过运行存储在存储器102中的非易失性软件程序、指令以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述任意方法实施例中的时序参数确定方法。
存储器102可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储根据时序参数确定装置的使用所创建的数据等。此外，存储器102可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实施例中，存储器102可选包括相对于处理器101远程设置的存储器102。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
在其中一些实施例中，芯片20为EC(Embedded Controller)，即嵌入式控制器，电子设备10为OS(Operating System)，可以为台式电脑，待测设备和电子设备可以在同一设备，也可以在两个不同的设备。本发明实施例中将待测设备和电子设备设置在为同一设备。
需要说明的是，在本发明的其他实施例中，芯片20可以为除了EC的其它能够实现控制电源时序的芯片，电子设备20也可以为除了台式电脑的其它能够实现时序参数确定方法的电子设备。
用户30在测量开始前会按照测量流程撰写芯片20的代码文件，以及按照测量流程撰写电子设备10的代码文件，并在待测设备上配置完成。用户30还需要在配置好待测设备后，在开始测量前提供一组可用的初始时序参数。
本实施例还提供了一种非易失性计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，当计算机可执行指令被处理器所执行时，可使处理器执行上述任意方法实施例中的时序参数确定方法。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
通过以上的实施方式的描述，本领域普通技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的程序可存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-OnlyMemory,ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory,RAM)等。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；在本发明的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上述的本发明的不同方面的许多其它变化，为了简明，它们没有在细节中提供；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。
Claims (10)
1.一种时序参数确定方法，其特征在于，所述方法包括：
从待测设备的待测时序参数中确定初始时序参数，所述初始时序参数为所述待测时序参数的初始值；
获取所述初始时序参数的属性；所述初始时序参数的属性包括可用属性和不可用属性，所述可用属性的初始时序参数为可使所述待测设备满足第一种预设跳转信息的时序参数，所述不可用属性的初始时序参数为可使所述待测设备满足第二种预设跳转信息的时序参数；
当所述初始时序参数的属性为可用属性时，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数；所述上限时序参数指的是在测量范围内满足可用属性的最大时序参数，所述下限时序参数指的是在测量范围内满足可用属性的最小时序参数；
根据所述上限时序参数和所述下限时序参数，计算所述待测设备的目标时序参数，所述目标时序参数为所述待测设备的第一设备状态和第二设备状态之间的转换参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述初始时序参数的属性包括：
将所述初始时序参数输入所述待测设备；
在所述初始时序参数的配置下，获取所述待测设备的状态变化信息；
根据所述状态变化信息和预设跳转信息，确定所述初始时序参数的属性。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当所述初始时序参数的属性为可用属性时，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数，包括：
在所述状态变化信息满足预设跳转信息时，确定所述初始时序参数的属性为可用属性；
基于所述初始时序参数的可用属性，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述初始时序参数的可用属性，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数包括：
基于所述初始时序参数的可用属性获取时序步长，所述时序步长用于更新所述初始时序参数；
对所述初始时序参数与所述时序步长进行数值运算，确定所述待测设备的第一时序参数和第二时序参数；
当所述第一时序参数的属性和所述第二时序参数的属性为可用属性时，基于所述第一时序参数、所述第二时序参数、以及所述时序步长，确定所述初始时序参数的上限时序参数和下限时序参数。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，当所述第一时序参数的属性和所述第二时序参数的属性为可用属性时，基于所述第一时序参数、所述第二时序参数、以及所述时序步长，确定所述初始时序参数的上限时序参数和下限时序参数，包括：
若所述第一时序参数的属性为可用属性，则计算所述第一时序参数与所述时序步长的和值，所述和值即为新的时序参数，并判断所述新的时序参数的属性是否为所述可用属性，若为所述可用属性，则再次计算获得新的时序参数，直至所述新的时序参数的属性为不可用属性为止；
将所述不可用属性对应的时序参数的上一个时序参数作为所述初始时序参数的上限时序参数；
若所述第二时序参数的属性为可用属性，则计算所述第二时序参数与所述时序步长的差值，所述差值即为新的时序参数，并判断所述新的时序参数的属性是否为所述可用属性，若为所述可用属性，则再次计算获得新的时序参数，直至所述新的时序参数的属性为不可用属性为止；
将所述不可用属性对应的时序参数的上一个时序参数作为所述初始时序参数的下限时序参数。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述上限时序参数和所述下限时序参数，计算所述待测设备的目标时序参数包括：
计算所述上限时序参数与所述下限时序参数的中间值，并将所述中间值作为所述待测设备的目标时序参数。
7.一种时序参数确定装置，其特征在于，包括：
第一获取模块，用于从待测设备的待测时序参数中确定初始时序参数，所述初始时序参数为所述待测时序参数的初始值；
第二获取模块，用于获取所述初始时序参数的属性；所述初始时序参数的属性包括可用属性和不可用属性，所述可用属性的初始时序参数为可使所述待测设备满足第一种预设跳转信息的时序参数，所述不可用属性的初始时序参数为可使所述待测设备满足第二种预设跳转信息的时序参数；
第三获取模块，用于当所述初始时序参数的属性为所述可用属性时，获取所述初始时序参数的上限时序参数与下限时序参数；所述上限时序参数指的是在测量范围内满足可用属性的最大时序参数，所述下限时序参数指的是在测量范围内满足可用属性的最小时序参数；
输出模块，用于根据所述上限时序参数和所述下限时序参数，计算所述待测设备的目标时序参数，所述目标时序参数为所述待测设备的第一设备状态和第二设备状态之间的转换参数。
8.一种电子设备，其特征在于，包括：
至少一个处理器；以及，
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-6任一项所述的方法。
9.一种非易失性计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，当所述计算机可执行指令被处理器所执行时，使所述处理器执行如权利要求1-6任一项所述的方法。
10.一种时序参数确定系统，其特征在于，所述系统包括如权利要求8所述的电子设备，以及芯片，所述芯片耦合于所述电子设备，所述芯片用于响应于所述电子设备发送的命令，以测量得到所述目标时序参数。
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