CN115061860B - 单路系统内存调试方法、装置及介质 - Google Patents

单路系统内存调试方法、装置及介质 Download PDF

Info

Publication number
CN115061860B
CN115061860B CN202210551698.0A CN202210551698A CN115061860B CN 115061860 B CN115061860 B CN 115061860B CN 202210551698 A CN202210551698 A CN 202210551698A CN 115061860 B CN115061860 B CN 115061860B
Authority
CN
China
Prior art keywords
memory
working
characteristic value
frequency
parameter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202210551698.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN115061860A (zh
Inventor
许全甫
杨有桂
刘付东
陈才
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Phytium Technology Co Ltd
Original Assignee
Phytium Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Phytium Technology Co Ltd filed Critical Phytium Technology Co Ltd
Priority to CN202210551698.0A priority Critical patent/CN115061860B/zh
Publication of CN115061860A publication Critical patent/CN115061860A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN115061860B publication Critical patent/CN115061860B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2247Verification or detection of system hardware configuration
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2289Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing by configuration test
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

本发明公开了一种单路系统内存调试方法、装置及介质,方法包括:获取内存信息,根据所述内存信息确定内存工作频率范围和工作参数范围;根据所述内存工作频率范围和工作参数范围确定最大特征值对应的工作参数和内存工作频率,所述最大特征值为所有内存工作频率下的工作参数对应的数字眼图中的特征最大值;将最大特征值对应的工作参数和内存工作频率作为内存的运行参数和运行频率。本发明可以在单路系统服务器同一型号的主板上同时兼容多种型号的内存时,自动找出适应每种型号内存的最佳参数。

Description

单路系统内存调试方法、装置及介质
技术领域
本发明涉及参数调试技术领域,尤其涉及一种单路系统内存调试方法、装置及介质。
背景技术
服务器芯片通常为单路系统,内存是单路系统的核心模块,如果内存不稳定或者配置不正确,可能导致系统非常多的异常信息。
一般服务器只能兼容同一种类型的内存条,比如RDIMM。当需要使用不同类型如UDIMM、LRDIMM,或主板使用板贴颗粒,即需要同时兼容不同型号、生产批次的颗粒时,无法使用同一个固件参数保证兼容性。此时需要多次进行内存适配,使用多套固件参数。
但是整机厂商主板内存PCB设计差异化较大,主板板材选择也不尽相同,使用的内存条型号各异。如果针对每款型号整机主板进行单独适配,工作量巨大,且无法保障一致性与多种内存的兼容性。通常内存控制器提供者(一般是CPU厂商)提供demo设计,针对demo设计适配好的参数固件,给到整机厂商作为设计参考。
专利申请CN202011349030.5公开了一种DDR调试方法及系统。该方法在向所述DDR发送读或写操作调试指令以后,多次接收或发送所述DDR输出的数据信号及数据选通信号,得到读或写操作对应的DDR眼图,并基于所述读或写操作对应的DDR眼图,得到最佳读或写操作参考电压值及最佳读或写操作相位值。但该方法并不能自动去对内存的信号质量做一个自动量化过程,或自动寻找到内存稳定运行的最佳频率。
专利申请CN201910686409.6公开一种用于读写DDR内存的延时参数优化方法和系统,该方法把预设的不同频率下延时值依次设置到硬件模块内进行遍历,通过读写内存判断参数好坏,得到最高可用频率。但是短时间的读写测试无法保证信号质量与稳定性,且没有可用于检测参数质量的量化指标。
发明内容
本发明要解决的技术问题就在于:针对现有技术存在的技术问题,本发明提供一种单路系统内存调试方法、装置及介质,可以在单路系统服务器同一型号的主板上同时兼容多种型号的内存时,自动找出适应每种型号内存的最佳工作频率和工作参数。
为解决上述技术问题,本发明提出的技术方案为:
一种单路系统内存调试方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取内存信息,根据所述内存信息确定内存工作频率范围和工作参数范围;
根据所述内存工作频率范围和工作参数范围确定最大特征值对应的工作参数和内存工作频率,所述最大特征值为所有内存工作频率下的工作参数对应的数字眼图中的特征最大值;
将最大特征值对应的工作参数和内存工作频率作为内存的运行参数和运行频率。
进一步的,根据所述内存工作频率范围和工作参数范围确定最大特征值对应的工作参数和内存工作频率的步骤具体包括:
在所述内存工作频率范围中选取目标频率,遍历所述工作参数范围进行内存训练,从内存训练结果中获取第一最大特征值,所述第一最大特征值为目标频率下的工作参数对应的数字眼图中的特征最大值;
若第一最大特征值小于预设的特征值,执行在所述内存工作频率范围中选取目标频率的步骤;
若第一最大特征值大于预设的特征值,且所述内存工作频率范围未遍历完成,用第一最大特征值替换预设的特征值,执行在所述内存工作频率范围中选取目标频率的步骤;
若第一最大特征值大于预设的特征值,且所述内存工作频率范围遍历完成,第一最大特征值对应的目标频率为最大特征值对应的内存工作频率,且第一最大特征值对应的工作参数为最大特征值对应的工作参数。
进一步的,在所述内存工作频率范围中选取目标频率的步骤具体包括:若内存工作频率范围未遍历完成,按照预设的步长对当前内存工作频率降频,将降频后的内存工作频率作为目标频率。
进一步的,遍历所述工作参数范围进行内存训练,从内存训练结果中获取第一最大特征值的步骤具体包括:
从所述工作参数范围的每种待遍历工作参数中分别选取一个工作参数,得到当前工作参数组,在目标频率下用当前工作参数组进行内存训练,若训练通过,根据当前工作参数组计算当前特征值,若训练不通过,继续从每种待遍历工作参数中分别选取一种工作参数,并在目标频率下进行内存训练直到训练通过;
将当前特征值与被保存的最优值比较,若当前特征值大于最优值,将当前特征值保存为新的最优值,继续从每种待遍历工作参数中分别选取一种工作参数并进行内存训练,直到每种待遍历工作参数均遍历结束,将所述最优值作为第一最大特征值。
进一步的,根据当前工作参数组计算当前特征值具体包括:把当前工作参数组的工作参数配置数字眼图,得到数字眼图中的眼宽、眼高和读写margin的值,作为当前特征值。
进一步的,根据所述内存信息确定内存工作频率范围和工作参数范围具体包括:用所述内存的信息匹配预设的参数表,得到所述内存的频率信息和SPD信息,以及工作参数范围,配置所述内存的初始工作频率小于所述频率信息中的最大频率以及单路系统主板可支持的最大内存频率。
进一步的,所述参数表中存储有不同类型的内存的默认参数信息,根据所述内存信息确定内存工作频率范围和工作参数范围后还包括:使用所述内存的默认参数进行内存训练,直到训练通过。
本发明还提出一种单路系统内存调试装置,包括:
内存信息读取单元,用于获取内存信息,根据所述内存信息确定内存工作频率范围和工作参数范围;
工作参数确定单元,用于根据所述内存工作频率范围和工作参数范围确定最大特征值对应的工作参数和内存工作频率;
工作参数配置单元,用于将最大特征值对应的工作参数和内存工作频率作为内存的运行参数和运行频率。
本发明还提出一种计算机设备,所述计算机设备被编程或配置以执行任一所述的单路系统内存调试方法。
本发明还提出一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有被编程或配置以执行所述的单路系统内存调试方法的计算机程序。
与现有技术相比,本发明的优点在于:
本发明通过确定内存工作频率范围和工作参数范围之后,遍历内存工作频率范围和工作参数范围以确定最大特征值,并以最大特征值对应的工作频率和工作参数运行内存,相比硬件调试手段大大提升了效率,能够自适应的寻找不同类型的内存在不同主板中的最佳运行频率点,使得单路系统服务器同一型号的主板上同时兼容多种型号的内存时,实现每种型号内存最优工作参数的自适应适配。
附图说明
图1为本发明实施例一的整体流程图。
图2为本发明实施例一中确定最大特征值的详细流程图。
具体实施方式
以下结合说明书附图和具体优选的实施例对本发明作进一步描述,但并不因此而限制本发明的保护范围。
目前内存的调试,一般整机厂商会选择市场上流行的几种型号的内存条,根据自身主板的硬件特性,调整相关参数,对整机与内存条兼容性进行适配。通常调节的参数有ODT端接电阻,vref参考电压值,时序参数(包括行选通到列选通的延时tRCD(RAS to CASDelay)、预充电延时tRP(Row Precharge))等。
现有技术中内存调试方法步骤通常为:
Step1:确认内存的频率信息以及SPD信息。内存的配置频率不得超过内存条的支持的最大频率;
Step2:根据厂商预设的工作参数进行内存训练,使内存能够稳定训练成功。内存训练过程中,可能会概率性training fail(训练失败),故再确认内存训练是否正常,需要多次重启机器,确保单板能够稳定训练成功;
Step3:使用内存测试工具进行稳定性测试,以确保内存能够稳定运行。内存训练后,若单板信号或者内存条存在兼容性问题,可能在运行过程中存在不稳定的情况。
上述内存调试过程中,需要依据内存的频率信息等对内存进行调试,而频率信息的确定是难点。此外,调试的时候需要依赖硬件观测手段,比如示波器与协议分析仪来检测配置的参数实际运行效果。满足要求后把相关参数固化在固件中。当更换未在适配列表的内存条型号时,可能出现内存无法正常运行的情况,此时再调整参数比较困难。
实施例一
本实施例针对单路系统对多种类型的内存调试时无法确定内存频率的问题,提出一种单路系统内存调试方法,如图1所示,包括如下步骤:
S1)等待并获取当前内存接入的信号,读取当前内存的信息,匹配预设的参数表,参数表中存储有不同类型的内存的默认参数信息,从而得到当前内存的默认参数,并根据当前内存的信息确定当前内存的工作频率范围和工作参数范围,本实施例中,根据内存信息确定内存工作频率范围和工作参数范围具体包括:固件启动后用当前内存的信息匹配参数表,得到当前内存的频率信息和SPD信息,通过频率信息得到工作频率范围,通过SPD信息得到工作参数范围,从参数表中获取单路系统主板可支持的最大内存频率,配置当前内存的初始工作频率小于所述频率信息中的最大频率以及单路系统主板可支持的最大内存频率,为避免在适配运行频率以及最优工作参数时出现遗漏,本实施例中配置每个内存的初始工作频率为每个内存对应的频率信息中的最大频率,以及单路系统主板可支持的最大内存频率这两者之中的较小值;
S2)用所述默认参数对当前内存进行内存训练,训练不通过的情况下再次进行内存训练,直到训练通过;
内存训练的目的在于保证时序的完整性,使信号的建立和保持时间窗口一致,内存训练的过程中,源端同步发送的时钟信号CK和数据有效信号DQS在接收端出现了偏差,一般来说时钟信号会更滞后一些。从DRAM端返回的DQ值为0,表示DQS上升沿时CK信号为低电平。源端根据DQ数值,继续加大DQS的延迟,直至DQ值为1,此时DQS上升沿时CK信号为高电平。再略微将延迟调小,源端就捕捉到了CK的上升沿,记录此时的DQS延迟值,就完成了DQS(数据)与CK的同步,即,使用内存的参数进行内存训练,若时钟信号CK和数据有效信号DQS最终出现偏差则训练不通过,若时钟信号CK和数据有效信号DQS最终同步则训练通过;
S3)根据当前内存的工作频率范围和工作参数范围,确定数字眼图中的特征最大值,以及对应的工作频率和工作参数,具体方式为:
在初始频率下,遍历工作参数范围进行内存训练,得到工作参数范围中所有工作参数对应的特征值,从所有特征值中选取第一最大特征值,即当前频率下的工作参数对应的数字眼图中的特征最大值;
将第一最大特征值和预设的特征值比较,若第一最大特征值大于预设的特征值,且所述内存工作频率范围遍历完成,将第一最大特征值对应的工作频率和工作参数作为最大特征值对应的工作频率和工作参数,并执行下一步骤;
若第一最大特征值大于预设的特征值,且所述内存工作频率范围未遍历完成,用第一最大特征值替换预设的特征值并按照预设的步长从初始频率开始降频遍历内存工作频率范围,使得当前内存的工作频率依次下降,到达对应固定的频率点,并在每个频率点下继续执行遍历工作参数范围进行内存训练的步骤;
若第一最大特征值小于预设的特征值,按照预设的步长从初始频率开始降频遍历内存工作频率范围,使得当前内存的工作频率依次下降,到达对应固定的频率点,并在每个频率点下继续执行遍历工作参数范围进行内存训练的步骤;
如果直到内存工作频率范围遍历完成,仍然没有大于预设的特征值的第一最大特征值,则报错并退出;
S4)以最大特征值对应的工作频率和工作参数运行当前内存,然后将最大特征值对应的工作频率和工作参数配置到参数表中;
S5)返回步骤S1)直到所有内存接入单路系统。
通过上述步骤,本实施例通过确定内存工作频率范围和工作参数范围之后,遍历内存工作频率范围和工作参数范围以确定最大特征值,并以最大特征值对应的工作频率和工作参数运行内存,相比硬件调试手段大大提升了效率,能够自适应的寻找不同类型的内存在不同主板中的最佳运行频率点,使得单路系统服务器同一型号的主板上同时兼容多种型号的内存时,实现每种型号内存最优工作参数的自适应适配。
本实施例中,步骤S3)具体包括以下步骤:
S31)在所述内存工作频率范围中选取目标频率,该目标频率为上一次迭代的工作频率减去预设步长的计算结果;
S32)在目标频率下,遍历工作参数范围进行内存训练,从内存训练结果中获取第一最大特征值;
S33)将第一最大特征值与预设的特征值比较,若第一最大特征值大于预设的特征值,执行步骤S34),若第一最大特征值小于预设的特征值,执行步骤S35);
S34)若目标频率大于工作频率范围的下限,将预设的特征值替换为第一最大特征值,返回步骤S31),若目标频率等于工作频率范围的下限,将第一最大特征值对应的工作频率和工作参数作为最大特征值对应的工作频率和工作参数,跳转步骤S4);
S35)若目标频率大于工作频率范围的下限,返回步骤S31),若目标频率等于工作频率范围的下限,且预设的特征值被替换过,则将预设的特征值替换后的值作为第一最大特征值,跳转步骤S4),若目标频率等于工作频率范围的下限,且预设的特征值未被替换过,则生成警报并退出,提醒工作人员检查硬件设计。
本实施例的步骤S32)中,遍历工作参数范围进行内存训练,从内存训练结果中获取第一最大特征值的步骤具体包括:
S321)从所述工作参数范围的每种待遍历工作参数中分别选取一个工作参数,得到当前工作参数组;本实施例中,待遍历工作参数包括vref参考电压值,内存条ODT端接电阻值,内存条驱动电阻值,内存控制器端接电阻值以及内存控制器驱动电阻值中的一种或多种;
S322)在目标频率下用当前工作参数组进行内存训练,若训练通过,根据当前工作参数组计算当前特征值,若训练不通过且待遍历工作参数未遍历完毕,则返回步骤S321),若训练不通过且待遍历工作参数遍历完毕,则判断目标频率是否为工作频率范围的最低频率,是则生成警报并退出,提醒工作人员检查硬件设计,否则返回步骤S31);
本实施例中通过配置数字眼图的方式计算当前目标频率下当前工作参数组的特征值,眼图(Eye Diagram)可以显示出数字信号的传输质量,经常用于需要对电子设备、芯片中串行数字信号或者高速数字信号进行测试及验证的场合,归根结底是对数字信号质量的一种快速而又非常直观的观测手段。消费电子中,芯片内部、芯片与芯片之间经常用到高速的信号传输,如果对应的信号质量不佳,将导致设备的不稳定、功能执行错误,甚至故障。眼图反映的是数字信号受物理器件、信道的影响,工程师可以通过眼图,迅速得到待测产品中信号的实测参数,并且可以预判在现场可能发生的问题。眼图上空白的区域在横轴上的距离称为眼宽(Eye Width),在眼图上叠加的数据足够多时,眼宽很好的反映了传输线上信号的稳定时间;同理,眼图上空白的区域在纵轴上的距离称为眼高(Eye Height),在眼图上叠加的数据足够多时,眼高很好的反映了传输线上信号的噪声容限,同时,眼图中眼高最大的地方,即为最佳判决时刻,根据当前工作参数组计算当前特征值具体包括:把当前工作参数组的工作参数配置数字眼图,得到数字眼图中的眼宽、眼高和读写margin的值,作为当前特征值:
S323)将当前特征值与被保存的最优值比较,若当前特征值大于最优值,将当前特征值保存为新的最优值,返回步骤S321)直到每种待遍历工作参数均遍历结束,将所述最优值作为第一最大特征值,具体的,若缓存区没有最优值,将当前特征值作为最优值并保存,若缓存区有已保存的最优值,将当前特征值与已保存的最优值进行比较,若当前特征值的眼宽、眼高和读写margin均优于最优值,将当前特征值保存为新的最优值。
本实施例中,步骤S1)之前还包括预先配置的步骤,具体包括:进行仿真,确认单路系统主板可支持的最大内存频率,并配置到参数表中。
以下通过具体事例对本实施例的方法进行说明。
Step1:确认主板设计支持的最大内存频率,主板设计厂商进行仿真,确认主板理论上可支持的最大内存频率,并将主板理论上可支持的最大内存频率的信息配置到固件参数表(flash)中;
Step2:读取内存频率信息并配置相关参数,固件启动后确认参数表配置的最大内存频率,获取内存的频率信息以及SPD信息,并配置内存的初始工作频率,内存的初始工作频率不得超过内存条的频率信息中的最大频率,以及参数表中配置的最大频率;
Step3:内存进行内存training(内存训练),在参数表中存储有不同DIMM类型的内存的参数配置信息,使用默认参数进行内存training后,若单板信号或者内存条存在兼容性问题,可能在运行过程中存在不稳定的情况,此时需要剔除这些存在兼容性的内存;
Step4:参数调优,一般按照demo设计指导进行设计的主板,进行内存training(内存训练)后可以获得内存的稳定运行的延时值等重要参数,满足内存的读写时序要求,但是由于主板设计存在差异,各型号内存条的兼容性也不同,此时需要对于内存training(内存训练)通过的内存调整ODT端接电阻、vref参考电压值等参数,通过改善信号的反射、提高信号采样质量等来提升内存读写稳定性;
Step5:进行内存稳定性测试,进入操作系统使用memtest、stressapp等专业内存测试工具进行内存测试,确认参数是否满足稳定性要求。
上述步骤中,Step4的流程如图2所示,具体包括:
1.依次遍历内存条vref参考电压值的区间、内存条ODT端接电阻值的区间、内存条驱动电阻值(ocd)的区间,内存控制器端接电阻值的区间、内存控制器驱动电阻值的区间,从上述这些区间中选取一组参数进行内存training(内存训练),直到训练通过;
2.进入操作系统使用memtest、stressapp等专业内存测试工具进行内存测试。通过则完成调试。失败则进入下一步。
3.配置固件参数使能内存优化开关,内存控制器打开数字眼图、读写margin窗口功能。遍历步骤1中提到的参数,把每个参数配置的数字眼图的眼宽、眼高,读写margin进行量化输出,与基准值进行比对,达标则判断为pass。同时保存下最优值(即最大值)参数。把最优值参数作为最终参数保存到参数表。重启使用最优值参数进行启动。或保存log日志把所有参数结果整理制作成表格,通过表格进行择优再配置到参数表中。
4.如当前频率未找到pass参数,则自动重启降频进行重新扫描参数。直到找到pass参数或频率降到最低为止。
实施例二
本实施例与实施例一基本相同,区别在于,考虑到单路系统服务器同一型号的主板上同时兼容多种型号的内存时,同一型号的内存可能有多个,因此为避免针对同一型号的内存重复进行调试,本实施例的单路系统内存调试方法增加以下步骤:
步骤S3)还包括:对于直到内存工作频率范围遍历完成,仍然没有大于预设的特征值的第一最大特征值的当前内存,标记为不兼容内存;步骤S1)还包括:若当前内存的信息与不兼容内存相同,将当前内存标记为不兼容内存,等待接入下一内存;若根据当前内存的信息匹配参数表得到最大特征值对应的工作频率和工作参数,以最大特征值对应的工作频率和工作参数运行当前内存,等待接入下一内存。
通过上述增加的步骤,当前内存不兼容,或者已经得到最优工作频率和工作参数时,与当前内存同一类型的其他内存均进行相同的处理,不需要再进行调试,从而节省了时间,提高了效率。
实施例三
本实施例根据实施例一中的单路系统内存调试方法,提出一种单路系统内存调试装置,包括:
内存信息读取单元,用于获取内存信息,根据所述内存信息确定内存工作频率范围和工作参数范围;
工作参数确定单元,用于根据所述内存工作频率范围和工作参数范围确定最大特征值对应的工作参数和内存工作频率;
工作参数配置单元,用于将最大特征值对应的工作参数和内存工作频率作为内存的运行参数和运行频率。
本实施例还提出一种计算机设备,所述计算机设备被编程或配置以执行实施例一中的单路系统内存调试方法。
本实施例还提出一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有被编程或配置以执行实施例一中的单路系统内存调试方法的计算机程序。
本领域技术人员可以理解,上述计算机装置的描述仅仅是示例,并不构成对计算机装置的限定,可以包括比上述描述更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。所称处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等,所述处理器是所述计算机装置的控制中心,利用各种接口和线路连接整个计算机装置的各个部分。
所述存储器可用于存储所述计算机程序和/或模块,所述处理器通过运行或执行存储在所述存储器内的计算机程序和/或模块,以及调用存储在存储器内的数据,实现所述计算机装置的各种功能。所述存储器可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能、图像播放功能等)等;存储数据区可存储根据手机的使用所创建的数据(比如音频数据、电话本等)等。此外,存储器可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如硬盘、内存、插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(FlashCard)、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。
所述计算机装置集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个基于模板标注的分布式爬虫方法实施例的步骤。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括:能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、电载波信号、电信号以及软件分发介质等。
上述只是本发明的较佳实施例,并非对本发明作任何形式上的限制。虽然本发明已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本发明。因此,凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰,均应落在本发明技术方案保护的范围内。

Claims (9)

1.一种单路系统内存调试方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取内存信息,根据所述内存信息确定内存工作频率范围和工作参数范围;
根据所述内存工作频率范围和工作参数范围确定最大特征值对应的工作参数和内存工作频率,所述最大特征值为所有内存工作频率下的工作参数对应的数字眼图中的特征最大值,根据所述内存工作频率范围和工作参数范围确定最大特征值对应的工作参数和内存工作频率的步骤具体包括:
在所述内存工作频率范围中选取目标频率,遍历所述工作参数范围进行内存训练,从内存训练结果中获取第一最大特征值,所述第一最大特征值为目标频率下的工作参数对应的数字眼图中的特征最大值;
若第一最大特征值小于预设的特征值,执行在所述内存工作频率范围中选取目标频率的步骤;
若第一最大特征值大于预设的特征值,且所述内存工作频率范围未遍历完成,用第一最大特征值替换预设的特征值,执行在所述内存工作频率范围中选取目标频率的步骤;
若第一最大特征值大于预设的特征值,且所述内存工作频率范围遍历完成,第一最大特征值对应的目标频率为最大特征值对应的内存工作频率,且第一最大特征值对应的工作参数为最大特征值对应的工作参数;
将最大特征值对应的工作参数和内存工作频率作为内存的运行参数和运行频率。
2.根据权利要求1所述的单路系统内存调试方法,其特征在于,在所述内存工作频率范围中选取目标频率的步骤具体包括:若内存工作频率范围未遍历完成,按照预设的步长对当前内存工作频率降频,将降频后的内存工作频率作为目标频率。
3.根据权利要求1所述的单路系统内存调试方法,其特征在于,遍历所述工作参数范围进行内存训练,从内存训练结果中获取第一最大特征值的步骤具体包括:
从所述工作参数范围的每种待遍历工作参数中分别选取一个工作参数,得到当前工作参数组,在目标频率下用当前工作参数组进行内存训练,若训练通过,根据当前工作参数组计算当前特征值,若训练不通过,继续从每种待遍历工作参数中分别选取一种工作参数,并在目标频率下进行内存训练直到训练通过;
将当前特征值与被保存的最优值比较,若当前特征值大于最优值,将当前特征值保存为新的最优值,继续从每种待遍历工作参数中分别选取一种工作参数并进行内存训练,直到每种待遍历工作参数均遍历结束,将所述最优值作为第一最大特征值。
4.根据权利要求3所述的单路系统内存调试方法,其特征在于,根据当前工作参数组计算当前特征值具体包括:把当前工作参数组的工作参数配置数字眼图,得到数字眼图中的眼宽、眼高和读写margin的值,作为当前特征值。
5.根据权利要求1所述的单路系统内存调试方法,其特征在于,根据所述内存信息确定内存工作频率范围和工作参数范围具体包括:用所述内存的信息匹配预设的参数表,得到所述内存的频率信息和SPD信息,以及工作参数范围,配置所述内存的初始工作频率小于所述频率信息中的最大频率以及单路系统主板可支持的最大内存频率。
6.根据权利要求5所述的单路系统内存调试方法,其特征在于,所述参数表中存储有不同类型的内存的默认参数信息,根据所述内存信息确定内存工作频率范围和工作参数范围后还包括:使用所述内存的默认参数进行内存训练,直到训练通过。
7.一种单路系统内存调试装置,其特征在于,包括:
内存信息读取单元,用于获取内存信息,根据所述内存信息确定内存工作频率范围和工作参数范围;
工作参数确定单元,用于根据所述内存工作频率范围和工作参数范围确定最大特征值对应的工作参数和内存工作频率,包括:
在所述内存工作频率范围中选取目标频率,遍历所述工作参数范围进行内存训练,从内存训练结果中获取第一最大特征值,所述第一最大特征值为目标频率下的工作参数对应的数字眼图中的特征最大值;
若第一最大特征值小于预设的特征值,执行在所述内存工作频率范围中选取目标频率的步骤;
若第一最大特征值大于预设的特征值,且所述内存工作频率范围未遍历完成,用第一最大特征值替换预设的特征值,执行在所述内存工作频率范围中选取目标频率的步骤;
若第一最大特征值大于预设的特征值,且所述内存工作频率范围遍历完成,第一最大特征值对应的目标频率为最大特征值对应的内存工作频率,且第一最大特征值对应的工作参数为最大特征值对应的工作参数;
工作参数配置单元,用于将最大特征值对应的工作参数和内存工作频率作为内存的运行参数和运行频率。
8.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备被编程或配置以执行权利要求1~7任一所述的单路系统内存调试方法。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有被编程或配置以执行权利要求1~6任一所述的单路系统内存调试方法的计算机程序。
CN202210551698.0A 2022-05-20 2022-05-20 单路系统内存调试方法、装置及介质 Active CN115061860B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210551698.0A CN115061860B (zh) 2022-05-20 2022-05-20 单路系统内存调试方法、装置及介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210551698.0A CN115061860B (zh) 2022-05-20 2022-05-20 单路系统内存调试方法、装置及介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN115061860A CN115061860A (zh) 2022-09-16
CN115061860B true CN115061860B (zh) 2023-08-29

Family

ID=83197790

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210551698.0A Active CN115061860B (zh) 2022-05-20 2022-05-20 单路系统内存调试方法、装置及介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN115061860B (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109960616A (zh) * 2017-12-22 2019-07-02 龙芯中科技术有限公司 基于处理器的内存参数的调试方法及系统
CN110428856A (zh) * 2019-07-29 2019-11-08 珠海市一微半导体有限公司 一种用于读写ddr内存的延时参数优化方法和系统
CN110928736A (zh) * 2019-12-06 2020-03-27 迈普通信技术股份有限公司 内存参数调试方法及装置
CN112328441A (zh) * 2020-11-26 2021-02-05 展讯通信(上海)有限公司 Ddr调试方法及系统、可读存储介质、电子设备
CN112596963A (zh) * 2020-12-14 2021-04-02 成都海光集成电路设计有限公司 一种快速内存训练的方法及系统
CN114416446A (zh) * 2021-12-30 2022-04-29 深圳云天励飞技术股份有限公司 内存参数适配方法、装置、终端设备及存储介质

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20200293415A1 (en) * 2019-03-15 2020-09-17 Qualcomm Incorporated Memory training

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109960616A (zh) * 2017-12-22 2019-07-02 龙芯中科技术有限公司 基于处理器的内存参数的调试方法及系统
CN110428856A (zh) * 2019-07-29 2019-11-08 珠海市一微半导体有限公司 一种用于读写ddr内存的延时参数优化方法和系统
CN110928736A (zh) * 2019-12-06 2020-03-27 迈普通信技术股份有限公司 内存参数调试方法及装置
CN112328441A (zh) * 2020-11-26 2021-02-05 展讯通信(上海)有限公司 Ddr调试方法及系统、可读存储介质、电子设备
CN112596963A (zh) * 2020-12-14 2021-04-02 成都海光集成电路设计有限公司 一种快速内存训练的方法及系统
CN114416446A (zh) * 2021-12-30 2022-04-29 深圳云天励飞技术股份有限公司 内存参数适配方法、装置、终端设备及存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN115061860A (zh) 2022-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112331253B (zh) 一种芯片的测试方法、终端和存储介质
CN111209152B (zh) Dram芯片老化测试设备、方法、计算机设备及存储介质
CN113178223A (zh) 存储器的数据训练方法、计算机装置及计算机可读存储介质
US20100131221A1 (en) Method for determining quality parameter and the electronic apparatus using the same
US20110307671A1 (en) Training a Memory Controller and a Memory Device Using Multiple Read and Write Operations
US7984326B2 (en) Memory downsizing in a computer memory subsystem
CN114530188A (zh) 一种半导体测试方法、系统及存储介质
CN112559267B (zh) 集成电路间总线i2c从机以及i2c控制器测试方法
CN108874686A (zh) 内存参数调节方法、装置及设备
CN111028881B (zh) 一种Open Block测试装置、方法及系统
US20170103797A1 (en) Calibration method and device for dynamic random access memory
US20130036334A1 (en) Computing device and method for testing serial attached scsi ports of servers
US8001443B2 (en) Data storage apparatus, data storage controller, and related automated testing method
CN110070906A (zh) 一种存储系统的信号调试方法
CN110928731A (zh) 一种基于硬件自测模块的dram眼图评估方法
CN117409847B (zh) 一种存储测试装置及其测试方法
CN115061860B (zh) 单路系统内存调试方法、装置及介质
CN112506820B (zh) Usb端口硬件参数分析方法、装置、设备及存储介质
CN115376606B (zh) 动态随机存储器通道测试方法、系统、装置及存储介质
US9058863B2 (en) Reference frequency setting method, memory controller and memory storage apparatus
CN115662492A (zh) 一种数据存储设备的量产测试方法及装置
CN114283876A (zh) Ddr信号质量的测试方法、测试装置与测试设备
JP6414297B1 (ja) メモリコントローラ、情報処理システム、及び不揮発性メモリの不良判断方法
CN113722265A (zh) 一种用于多cpu系统中互联通道的调试优化方法及装置
CN117330942B (zh) 芯片调试方法及相关装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant