CN107301103A - 一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置，该方法，包括：预先设置内存参数的调整规则；S1：部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息；S2：调试端根据待调试信息，向调试模块发送内存参数调试指令；S3：调试模块在接收到内存参数调试指令后，获取待调试设备的当前内存参数，发送给调试端；S4：调试端判断当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据当前内存参数和内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将调整后的内存参数发送给调试模块；S5：调试模块接收调整后的内存参数，将调整后的内存参数作为当前内存参数，重新启动待调试设备，返回步骤S1。本发明能够更加简单地调整内存参数。

Description

一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置。

背景技术

随着国产处理器的技术进步与行业发展加速，目前涉及国产处理器的设计研发厂商越来越多。由于国产处理器的架构与X86架构的处理器存在较大差异，国产处理器平台在内存子系统方面无法像X86平台一样做到即插即用，在硬件调试完成后，需要进行内存参数的调整工作，并将调整后的内存参数写入固件中，才能使内存子系统正常工作。

现有技术中，在进行内存参数的调整适配时，需要通过人工来实现，实现过程比较复杂。

发明内容

本发明实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置，能够更加简单地调整内存参数。

一方面，本发明实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的方法，包括：

预先设置内存参数的调整规则；

S1：部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；

S2：所述调试端根据所述待调试信息，向所述调试模块发送内存参数调试指令；

S3：所述调试模块在接收到所述内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端；

S4：所述调试端判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块；

S5：所述调试模块接收所述调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

进一步地，

当所述内存参数为内存阻抗时，

所述内存参数调试指令为内存阻抗调试指令；

所述当前内存参数为当前内存阻抗；

所述内存参数的调整规则为内存阻抗的调整规则；

所述S3，包括：

所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，根据所述内存阻抗调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗，将所述当前内存阻抗发送给所述调试端；

所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，进一步包括：

对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第一测试结果，将所述当前第一测试结果发送给所述调试端；

所述S4，包括：

所述调试端根据所述当前第一测试结果，判断所述当前内存阻抗是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存阻抗和所述内存阻抗的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗发送给所述调试模块；

所述S5，包括：

所述调试模块接收所述调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗作为所述当前内存阻抗，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

进一步地，

当所述内存参数为内存电压时，

所述内存参数调试指令为内存电压调试指令；

所述当前内存参数为当前内存电压；

所述内存参数的调整规则为内存电压的调整规则；

所述S3，包括：

所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，根据所述内存电压调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存电压，将所述当前内存电压发送给所述调试端；

所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，进一步包括：

对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第二测试结果，将所述当前第二测试结果发送给所述调试端；

所述S4，包括：

所述调试端根据所述当前第二测试结果，判断所述当前内存电压是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存电压和所述内存电压的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压发送给所述调试模块；

所述S5，包括：

所述调试模块接收所述调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压作为所述当前内存电压，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

进一步地，

当所述调试端判断出所述当前内存参数中不存在异常时，执行：

A1：所述调试端向所述调试模块发送正常启动指令，以使所述待调试设备根据所述当前内存参数进入操作系统；

A2：当所述待调试设备成功进入所述操作系统时，所述调试模块向所述调试端发送系统启动成功的信息；

A3：所述调试端在接收到所述系统启动成功的信息时，判断系统启动成功的次数是否为预设值，如果是，则根据所述当前内存参数生成所述待调试设备的固件，否则，执行A1。

进一步地，

当所述内存参数为内存时序时，

所述内存参数调试指令为内存时序调试指令；

所述当前内存参数为当前内存时序；

所述内存参数的调整规则为内存时序的调整规则。

进一步地，

所述调试模块部署在所述待调试设备的BIOS(Basic Input Output System，基本输入输出系统)中。

进一步地，

所述S5中，所述将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，包括：

将所述调整后的内存参数写入所述待调试设备的FLASH中，使得所述待调试设备利用所述FLASH中的所述调整后的内存参数启动。

另一方面，本发明实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的装置，包括：

调试模块和调试端；

所述调试模块部署在待调试设备中，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；

所述调试模块，用于向所述调试端发送待调试信息；在接收到所述调试端发来的内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端；在接收到所述调试端发来的调整后的内存参数后，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回所述向所述调试端发送待调试信息；

所述调试端，用于保存内存参数的调整规则，在接收到所述调试模块发来的所述待调试信息后，向所述调试模块发送所述内存参数调试指令；在接收到所述调试模块发来的所述当前内存参数后，判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块。

进一步地，

当所述内存参数为内存阻抗时，

所述内存参数调试指令为内存阻抗调试指令；

所述当前内存参数为当前内存阻抗；

所述内存参数的调整规则为内存阻抗的调整规则；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述内存阻抗调试指令后，根据所述内存阻抗调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗，将所述当前内存阻抗发送给所述调试端；

所述调试模块，进一步用于在接收到所述调试端发来的所述内存阻抗调试指令后，对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第一测试结果，将所述当前第一测试结果发送给所述调试端；

所述调试端，用于当接收到所述调试模块发来的所述当前内存阻抗和所述当前第一测试结果后，根据所述当前第一测试结果，判断所述当前内存阻抗是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存阻抗和所述内存阻抗的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗发送给所述调试模块；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述调整后的内存阻抗后，将所述调整后的内存阻抗作为所述当前内存阻抗，重新启动所述待调试设备，返回所述向所述调试端发送待调试信息。

进一步地，

当所述内存参数为内存电压时，

所述内存参数调试指令为内存电压调试指令；

所述当前内存参数为当前内存电压；

所述内存参数的调整规则为内存电压的调整规则；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述内存电压调试指令后，根据所述内存电压调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存电压，将所述当前内存电压发送给所述调试端；

所述调试模块，进一步用于在接收到所述调试端发来的所述内存电压调试指令后，对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第二测试结果，将所述当前第二测试结果发送给所述调试端；

所述调试端，用于当接收到所述调试模块发来的所述当前内存电压和所述当前第二测试结果后，根据所述当前第二测试结果，判断所述当前内存电压是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存电压和所述内存电压的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压发送给所述调试模块；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述调整后的内存电压后，将所述调整后的内存电压作为所述当前内存电压，重新启动所述待调试设备，返回所述向所述调试端发送待调试信息。

进一步地，

所述调试端，进一步用于当判断出所述当前内存参数中不存在异常时，向所述调试模块发送正常启动指令，以使所述待调试设备根据所述当前内存参数进入操作系统；在接收到所述调试模块发来的系统启动成功的信息时，判断系统启动成功的次数是否为预设值，如果是，则根据所述当前内存参数生成所述待调试设备的固件，否则，返回所述向所述调试模块发送正常启动指令；

所述调试模块，进一步用于当所述待调试设备成功进入所述操作系统时，向所述调试端发送所述系统启动成功的信息。

进一步地，

当所述内存参数为内存时序时，

所述内存参数调试指令为内存时序调试指令；

所述当前内存参数为当前内存时序；

所述内存参数的调整规则为内存时序的调整规则。

进一步地，

所述调试模块部署在所述待调试设备的BIOS中。

进一步地，

所述调试模块，用于将所述调整后的内存参数写入所述待调试设备的FLASH中，使得所述待调试设备利用所述FLASH中的所述调整后的内存参数启动。

在本发明实施例中，通过调试模块获取待调试设备的当前内存参数，通过调试端判断出当前内存参数有异常时，根据预先设置的内存参数的调整规则和当前内存参数进行调整处理，生成调整后的内存参数，直到待调试设备的当前内存参数中不存在异常，无需通过人工进行调整，能够更加简单地调整内存参数。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明一实施例提供的一种调整国产处理器的内存参数的方法的流程图；

图2是本发明一实施例提供的另一种调整国产处理器的内存参数的方法的流程图；

图3是本发明一实施例提供的一种调整国产处理器的内存参数的装置的示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的方法，该方法可以包括以下步骤：

S0：预先设置内存参数的调整规则；

S1：部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；

S2：所述调试端根据所述待调试信息，向所述调试模块发送内存参数调试指令；

S3：所述调试模块在接收到所述内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端；

S4：所述调试端判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块；

S5：所述调试模块接收所述调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

在本发明实施例中，通过调试模块获取待调试设备的当前内存参数，通过调试端判断出当前内存参数有异常时，根据预先设置的内存参数的调整规则和当前内存参数进行调整处理，生成调整后的内存参数，直到待调试设备的当前内存参数中不存在异常，无需通过人工进行调整，能够更加简单地调整内存参数。

如图1所示，本发明实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的方法，该方法可以包括以下步骤：

步骤101：预先设置内存参数的调整规则；

步骤102：部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；

步骤103：所述调试端根据所述待调试信息，向所述调试模块发送内存参数调试指令；

步骤104：所述调试模块在接收到所述内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端；

步骤105：所述调试端判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，执行依次步骤106、步骤107，否则，执行步骤108；

步骤106：所述调试端根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块；

步骤107：所述调试模块接收所述调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回步骤102；

步骤108：所述调试端保存所述当前内存参数。

在本发明实施例中，当调试端判断出当前内存参数不存在异常时，保存当前内存参数，后续可以根据当前内存参数生成待逃生设备的固件，使得待调试设备能够根据当前内存参数正常运行。

内存参数可以包括：内存阻抗、内存电压、内存时序，针对不同的内存参数可以分别进行如下处理：

在本发明一实施例中，当所述内存参数为内存阻抗时，

所述内存参数调试指令为内存阻抗调试指令；

所述当前内存参数为当前内存阻抗；

所述内存参数的调整规则为内存阻抗的调整规则；

所述S3，包括：

所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，根据所述内存阻抗调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗，将所述当前内存阻抗发送给所述调试端；

所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，进一步包括：

对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第一测试结果，将所述当前第一测试结果发送给所述调试端；

所述S4，包括：

所述调试端根据所述当前第一测试结果，判断所述当前内存阻抗是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存阻抗和所述内存阻抗的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗发送给所述调试模块；

所述S5，包括：

所述调试模块接收所述调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗作为所述当前内存阻抗，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

在本发明实施例中，调试模块对内存进行读写测试，具体地，调试模块控制CPU发送数据给内存，实现写操作，内存发送数据给CPU，实现读操作。

内存阻抗的调整规则可以根据待调试设备的内存控制器的设计手册的要求来生成。

调试模块在获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗时，具体是从待调试设备的内存控制器的寄存器中获取，内存控制器的多个寄存器中存储当前内存阻抗，在获取时，从多个寄存器中获取当前内存阻抗，当前内存阻抗是一组值。

在本发明一实施例中，当所述内存参数为内存电压时，

所述内存参数调试指令为内存电压调试指令；

所述当前内存参数为当前内存电压；

所述内存参数的调整规则为内存电压的调整规则；

所述S3，包括：

所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，根据所述内存电压调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存电压，将所述当前内存电压发送给所述调试端；

所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，进一步包括：

对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第二测试结果，将所述当前第二测试结果发送给所述调试端；

所述S4，包括：

所述调试端根据所述当前第二测试结果，判断所述当前内存电压是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存电压和所述内存电压的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压发送给所述调试模块；

所述S5，包括：

所述调试模块接收所述调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压作为所述当前内存电压，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

在本发明实施例中，调试模块对内存进行读写测试，具体地，调试模块控制CPU发送数据给内存，实现写操作，内存发送数据给CPU，实现读操作。

内存电压的调整规则可以根据待调试设备的内存控制器的设计手册的要求来生成，

调试模块在获取所述待调试设备的所述当前内存电压时，具体是从待调试设备的内存控制器的寄存器中获取，内存控制器的多个寄存器中存储当前内存电压，在获取时，从多个寄存器中获取当前内存电压，当前内存电压是一组值。

在本发明一实施例中，调试模块对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前测试结果，具体可以通过以下步骤实现：

A1：调试模块控制CPU对内存进行写操作，然后，控制CPU对内存进行读操作，比较写入的数据与读出的数据是否相同，如果是，执行A2，否则，执行A3；

A2：读写次数加一，判断读写次数是否等于预设次数，如果是，则生成当前测试结果，其中，当前测试结果中包括：数据读写一致；否则，返回A1；

A3：生成当前测试结果，其中，当前测试结果中包括：数据读写不一致。

调试端根据当前测试结果，判断当前内存参数是否存在异常，具体可以通过以下步骤实现：

在当前测试结果为数据读写不一致时，调试端判断当前内存参数存在异常；

在当前测试结果为数据读写一致时，调试端判断当前内存参数不存在异常。

在本发明实施例中，当前测试结果可以是当前第一测试结果或者当前第二测试结果，该实施例可以用于对内存阻抗或者内存电压调整。

通过该方式实现对内存的读写测试，能够测试出内存参数对数据读写的影响，如果不能保证连续预设次数次读写操作均达到数据读写一致，则说明当前内存参数会导致内存数据的读写错误，需要进一步调整。

在本发明一实施例中，当所述内存参数为内存时序时，

所述内存参数调试指令为内存时序调试指令；

所述当前内存参数为当前内存时序；

所述内存参数的调整规则为内存时序的调整规则。

在本发明实施例中，内存时序的调整规则可以根据JDEC(内存规范)的规范来确定。在确定当前内存时序是否存在异常时，可以通过内存时序的调整规则来确定。举例来说，当前内存时序不符合内存时序的调整规则，则说明当前内存实现存在异常。

在本发明一实施例中，当所述调试端判断出所述当前内存参数中不存在异常时，执行：

A1：所述调试端向所述调试模块发送正常启动指令，以使所述待调试设备根据所述当前内存参数进入操作系统；

A2：当所述待调试设备成功进入所述操作系统时，所述调试模块向所述调试端发送系统启动成功的信息；

A3：所述调试端在接收到所述系统启动成功的信息时，判断系统启动成功的次数是否为预设值，如果是，则根据所述当前内存参数生成所述待调试设备的固件，否则，执行A1。

在本发明实施例中，当第一次对待调试设备进行正常启动时，可以先重启待调试设备，使得待调试设备进入等待指令状态，等待接收调试端发来的正常启动指令，待调试设备在接收到正常启动指令时，尝试引导进入操作系统，进入操作系统后，调试端可以通过调试模块给操作系统发送正常启动指令。这里的预设值可以是200次。这里的固件可以用于大规模的测试验证工作。

在本发明一实施例中，所述调试模块部署在所述待调试设备的BIOS中。

在本发明实施例中，调试模块作为待调试设备的BIOS的一部分，这样调试模块可以对待调试设备进行操作。

在本发明一实施例中，所述S5中，所述将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，包括：

将所述调整后的内存参数写入所述待调试设备的FLASH中，使得所述待调试设备利用所述FLASH中的所述调整后的内存参数启动。

在本发明实施例中，通过将调整后的内存参数保存到FLASH中，使得调整后的内存参数在待调试设备启动时能够被使用。

在本发明实施例中，待调试设备的处理器可以是国产处理器。通过本发明实施例提供的方案，可以对安装国产处理器的待调试设备进行内存参数的调整。

在本发明实施例中，可以使用该方法分别对内存时序、内存阻抗和内存电压进行调整，获取不存在异常的内存时序、内存阻抗和内存电压。在进行调整时，可以先调整内存时序，在获取不存在异常的内存时序后，基于不存在异常的内存时序对内存阻抗和内存电压进行调整。

如图2所示，本发明实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的方法，该方法可以包括以下步骤：

步骤200：预先设置内存参数的调整规则。

具体地，内存参数的调整规则可以根据用户的经验设置，也可以根据内存的相关规范来设置。针对不同的内存参数设置不动的调整规则。

步骤201：部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息，其中，待调试设备按照当前内存参数运行。

具体地，调试模块可以获取待调试设备的状态信息，当根据该状态信息可以确定出待调试设备已经准备就绪，则发送待调试信息。

具体地，待调试信息可以是待调试设备准备就绪的信息，通知调试端可以进行后续的内存参数的调整处理。

该步骤在内存控制器初始化执行，可以通过串口向调试端发送待调试信息，并暂停待调试设备，等待调试端的内存参数调试指令。

步骤202：调试端根据待调试信息，向调试模块发送内存参数调试指令。

具体地，调试端在接收到待调试信息后，确定待调试设备已经准备就绪，可以发送内存参数调试指令。

步骤203：调试模块在接收到内存参数调试指令后，根据内存参数调试指令，获取待调试设备的当前内存参数，将当前内存参数发送给调试端。

步骤204：调试端判断当前内存参数中是否存在异常，如果是，依次执行步骤205、步骤206，否则，执行步骤207。

具体地，可以预先设置用于判断当前内存参数是否存在异常的判断规则，该判断规则可以根据内存参数相关规范来设置。

步骤205：根据当前内存参数和内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将调整后的内存参数发送给调试模块。

具体地，可以在当前内存参数的基础上，基于内存参数的调整规则进行调整，例如：当内存参数为内存电压时，当前内存电压中包括：4个电压值，可以根据内存电压的调整规则，针对每个电压值，对当前电压值加上一个电压增量，实现对当前电压值的调整，这里的电压增量可以是正数、0或负数。

步骤206：调试模块接收调整后的内存参数，将调整后的内存参数作为当前内存参数，重新启动待调试设备，返回步骤201。

具体地，调试模块在接收到调整后的内存参数，将调整后的内存参数配置到相应的内存控制器的寄存器中。例如：当内存参数为内存电压时，当前内存电压中包括：4个电压值，其中，电压值A是从寄存器A中获取的，这时，对电压值A进行调整后得到电压值A1，调整模块将电压值A1保存到寄存器A中。重新启动待调试设备，待调试设备会根据调整后的内存参数启动。

步骤207：调试端向调试模块发送正常启动指令，以使待调试设备根据当前内存参数进入操作系统。

具体地，为了验证当前内存参数是否能够引导待调试设备进入操作系统，调试端向调试模块发送正常启动指令。

步骤208：调试模块判断待调试设备是否成功进入操作系统，如果是，则，执行步骤209，否则，执行步骤210，

具体地，通过系统启动成功的信息可以通知调试端当前内存参数的运行情况，使得调试端能够进行后续处理。

步骤209：调试模块向调试端发送系统启动成功的信息，执行步骤211。

步骤210：调试模块确定调试失败，结束当前流程。

调试模块在确定出调试失败后，可以通知调试端调试失败。调试端在确定调试失败后，结束当前流程，并可以通知相关工作人员。

步骤211：调试端在接收到系统启动成功的信息时，判断系统启动成功的次数是否为预设值，如果是，执行步骤212，则否则，执行步骤207。

具体地，为了保证当前内存参数的稳定性，需要进行多次启动测试，只有连续预设值次使得待调试设备成功进入操作系统，当前内存参数才是稳定的，可以生成待调试设备的固件，进行广泛使用。如果不能连续预设值次使得待调试设备成功进入操作系统，则当前内存参数是不稳定的，需要重新调试。

步骤212：根据当前内存参数生成待调试设备的固件。

具体地，可以将该固件安装在各个相同配置的设备上。

在本发明实施例中，调试端可以运行在调试用的计算机，该计算机可以通过串口数据线与待调试设备相连。

待调试设备设置的处理器可以是国产处理器，针对不同的国产处理器，只需修改相应的内存参数的调整规则即可，可以使用同一调试平台完成不同国产处理器的内存参数适配工作。

在本发明实施例中，通过部署在待调试设备上的调试模块、调试端以及预先设置的内存参数的调整规则，可以对待调试设备的内存参数进行调试，以使的调整后的内存参数能够适配于待调试设备，无需人工进行调试，有效提高了产品研发阶段固件的调试效率。

如图3所示，本发明实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的装置，包括：

调试模块301和调试端302；

所述调试模块301部署在待调试设备中，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；

所述调试模块301，用于向所述调试端302发送待调试信息；在接收到所述调试端302发来的内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端302；在接收到所述调试端302发来的调整后的内存参数后，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回所述向所述调试端302发送待调试信息；

所述调试端302，用于保存内存参数的调整规则，在接收到所述调试模块301发来的所述待调试信息后，向所述调试模块301发送所述内存参数调试指令；在接收到所述调试模块301发来的所述当前内存参数后，判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块301。

在本发明一实施例中，当所述内存参数为内存阻抗时，

所述内存参数调试指令为内存阻抗调试指令；

所述当前内存参数为当前内存阻抗；

所述内存参数的调整规则为内存阻抗的调整规则；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述内存阻抗调试指令后，根据所述内存阻抗调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗，将所述当前内存阻抗发送给所述调试端；

所述调试模块，进一步用于在接收到所述调试端发来的所述内存阻抗调试指令后，对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第一测试结果，将所述当前第一测试结果发送给所述调试端；

所述调试端，用于当接收到所述调试模块发来的所述当前内存阻抗和所述当前第一测试结果后，根据所述当前第一测试结果，判断所述当前内存阻抗是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存阻抗和所述内存阻抗的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗发送给所述调试模块；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述调整后的内存阻抗后，将所述调整后的内存阻抗作为所述当前内存阻抗，重新启动所述待调试设备，返回所述向所述调试端发送待调试信息。

在本发明一实施例中，当所述内存参数为内存电压时，

所述内存参数调试指令为内存电压调试指令；

所述当前内存参数为当前内存电压；

所述内存参数的调整规则为内存电压的调整规则；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述内存电压调试指令后，根据所述内存电压调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存电压，将所述当前内存电压发送给所述调试端；

所述调试模块，进一步用于在接收到所述调试端发来的所述内存电压调试指令后，对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第二测试结果，将所述当前第二测试结果发送给所述调试端；

所述调试端，用于当接收到所述调试模块发来的所述当前内存电压和所述当前第二测试结果后，根据所述当前第二测试结果，判断所述当前内存电压是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存电压和所述内存电压的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压发送给所述调试模块；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述调整后的内存电压后，将所述调整后的内存电压作为所述当前内存电压，重新启动所述待调试设备，返回所述向所述调试端发送待调试信息。

在本发明一实施例中，所述调试端，进一步用于当判断出所述当前内存参数中不存在异常时，向所述调试模块发送正常启动指令，以使所述待调试设备根据所述当前内存参数进入操作系统；在接收到所述调试模块发来的系统启动成功的信息时，判断系统启动成功的次数是否为预设值，如果是，则根据所述当前内存参数生成所述待调试设备的固件，否则，返回所述向所述调试模块发送正常启动指令；

所述调试模块，进一步用于当所述待调试设备成功进入所述操作系统时，向所述调试端发送所述系统启动成功的信息。

在本发明一实施例中，当所述内存参数为内存时序时，

所述内存参数调试指令为内存时序调试指令；

所述当前内存参数为当前内存时序；

所述内存参数的调整规则为内存时序的调整规则。

在本发明一实施例中，所述调试模块部署在所述待调试设备的BIOS中。

在本发明一实施例中，所述调试模块，用于将所述调整后的内存参数写入所述待调试设备的FLASH中，使得所述待调试设备利用所述FLASH中的所述调整后的内存参数启动。

在本发明实施例中，调试端与待调试设备可以通过串口数据线相连。

上述装置内的各单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本发明方法实施例基于同一构思，具体内容可参见本发明方法实施例中的叙述，此处不再赘述。

本发明各个实施例至少具有如下有益效果：

1、在本发明实施例中，通过调试模块获取待调试设备的当前内存参数，通过调试端判断出当前内存参数有异常时，根据预先设置的内存参数的调整规则和当前内存参数进行调整处理，生成调整后的内存参数，直到待调试设备的当前内存参数中不存在异常，无需通过人工进行调整，能够更加简单地调整内存参数。

2、在本发明实施例中，可以使用该方法分别对内存时序、内存阻抗和内存电压进行调整，获取不存在异常的内存时序、内存阻抗和内存电压。在进行调整时，可以先调整内存时序，在获取不存在异常的内存时序后，基于不存在异常的内存时序对内存阻抗和内存电压进行调整。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个······”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同因素。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储在计算机可读取的存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质中。

最后需要说明的是：以上所述仅为本发明的较佳实施例，仅用于说明本发明的技术方案，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种调整国产处理器的内存参数的方法，其特征在于，包括：

预先设置内存参数的调整规则；

S1：部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；

S2：所述调试端根据所述待调试信息，向所述调试模块发送内存参数调试指令；

S3：所述调试模块在接收到所述内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端；

S4：所述调试端判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块；

S5：所述调试模块接收所述调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

当所述内存参数为内存阻抗时，

所述内存参数调试指令为内存阻抗调试指令；

所述当前内存参数为当前内存阻抗；

所述内存参数的调整规则为内存阻抗的调整规则；

所述S3，包括：

所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，根据所述内存阻抗调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗，将所述当前内存阻抗发送给所述调试端；

所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，进一步包括：

对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第一测试结果，将所述当前第一测试结果发送给所述调试端；

所述S4，包括：

所述调试端根据所述当前第一测试结果，判断所述当前内存阻抗是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存阻抗和所述内存阻抗的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗发送给所述调试模块；

所述S5，包括：

所述调试模块接收所述调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗作为所述当前内存阻抗，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

当所述内存参数为内存电压时，

所述内存参数调试指令为内存电压调试指令；

所述当前内存参数为当前内存电压；

所述内存参数的调整规则为内存电压的调整规则；

所述S3，包括：

所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，根据所述内存电压调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存电压，将所述当前内存电压发送给所述调试端；

所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，进一步包括：

对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第二测试结果，将所述当前第二测试结果发送给所述调试端；

所述S4，包括：

所述调试端根据所述当前第二测试结果，判断所述当前内存电压是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存电压和所述内存电压的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压发送给所述调试模块；

所述S5，包括：

所述调试模块接收所述调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压作为所述当前内存电压，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

当所述调试端判断出所述当前内存参数中不存在异常时，执行：

A1：所述调试端向所述调试模块发送正常启动指令，以使所述待调试设备根据所述当前内存参数进入操作系统；

A2：当所述待调试设备成功进入所述操作系统时，所述调试模块向所述调试端发送系统启动成功的信息；

A3：所述调试端在接收到所述系统启动成功的信息时，判断系统启动成功的次数是否为预设值，如果是，则根据所述当前内存参数生成所述待调试设备的固件，否则，执行A1。

5.根据权利要求1-4中任一所述的方法，其特征在于，

当所述内存参数为内存时序时，

所述内存参数调试指令为内存时序调试指令；

所述当前内存参数为当前内存时序；

所述内存参数的调整规则为内存时序的调整规则；

和/或，

所述调试模块部署在所述待调试设备的基本输入输出系统BIOS中；

和/或，

所述S5中，所述将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，包括：

将所述调整后的内存参数写入所述待调试设备的FLASH中，使得所述待调试设备利用所述FLASH中的所述调整后的内存参数启动。

6.一种调整国产处理器的内存参数的装置，其特征在于，包括：

调试模块和调试端；

所述调试模块部署在待调试设备中，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；

所述调试模块，用于向所述调试端发送待调试信息；在接收到所述调试端发来的内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端；在接收到所述调试端发来的调整后的内存参数后，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回所述向所述调试端发送待调试信息；

所述调试端，用于保存内存参数的调整规则，在接收到所述调试模块发来的所述待调试信息后，向所述调试模块发送所述内存参数调试指令；在接收到所述调试模块发来的所述当前内存参数后，判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

当所述内存参数为内存阻抗时，

所述内存参数调试指令为内存阻抗调试指令；

所述当前内存参数为当前内存阻抗；

所述内存参数的调整规则为内存阻抗的调整规则；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述内存阻抗调试指令后，根据所述内存阻抗调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗，将所述当前内存阻抗发送给所述调试端；

所述调试模块，进一步用于在接收到所述调试端发来的所述内存阻抗调试指令后，对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第一测试结果，将所述当前第一测试结果发送给所述调试端；

所述调试端，用于当接收到所述调试模块发来的所述当前内存阻抗和所述当前第一测试结果后，根据所述当前第一测试结果，判断所述当前内存阻抗是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存阻抗和所述内存阻抗的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗发送给所述调试模块；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述调整后的内存阻抗后，将所述调整后的内存阻抗作为所述当前内存阻抗，重新启动所述待调试设备，返回所述向所述调试端发送待调试信息。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

当所述内存参数为内存电压时，

所述内存参数调试指令为内存电压调试指令；

所述当前内存参数为当前内存电压；

所述内存参数的调整规则为内存电压的调整规则；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述内存电压调试指令后，根据所述内存电压调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存电压，将所述当前内存电压发送给所述调试端；

所述调试模块，进一步用于在接收到所述调试端发来的所述内存电压调试指令后，对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第二测试结果，将所述当前第二测试结果发送给所述调试端；

所述调试端，用于当接收到所述调试模块发来的所述当前内存电压和所述当前第二测试结果后，根据所述当前第二测试结果，判断所述当前内存电压是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存电压和所述内存电压的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压发送给所述调试模块；

所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述调整后的内存电压后，将所述调整后的内存电压作为所述当前内存电压，重新启动所述待调试设备，返回所述向所述调试端发送待调试信息。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述调试端，进一步用于当判断出所述当前内存参数中不存在异常时，向所述调试模块发送正常启动指令，以使所述待调试设备根据所述当前内存参数进入操作系统；在接收到所述调试模块发来的系统启动成功的信息时，判断系统启动成功的次数是否为预设值，如果是，则根据所述当前内存参数生成所述待调试设备的固件，否则，返回所述向所述调试模块发送正常启动指令；

所述调试模块，进一步用于当所述待调试设备成功进入所述操作系统时，向所述调试端发送所述系统启动成功的信息。

10.根据权利要求6-9中任一所述的装置，其特征在于，

当所述内存参数为内存时序时，

所述内存参数调试指令为内存时序调试指令；

所述当前内存参数为当前内存时序；

所述内存参数的调整规则为内存时序的调整规则；

和/或，

所述调试模块部署在所述待调试设备的基本输入输出系统BIOS中；

和/或，

所述调试模块，用于将所述调整后的内存参数写入所述待调试设备的FLASH中，使得所述待调试设备利用所述FLASH中的所述调整后的内存参数启动。