CN113742198B - 测试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：构建测试指令集；其中，测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，测试指令集中任意两个测试指令均不相同；多种测试中的任意一种测试需要通过执行测试指令集中的一个或多个测试指令实现；根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数；根据确定的测试的配置参数，由主状态机控制各子状态机执行测试指令集中的测试指令，以对测试对象进行多种测试，获得测试结果；解决了现有技术中的测试方法所获得的测试结果中含有重复的故障信息的技术问题，提高了测试结果的精确度，进而提高了故障修复效率。
Description
技术领域
本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种测试方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
在集成芯片的制造工艺不断进步，且得到广泛应用的同时，集成芯片中存储器的故障类型也在增加，为了对存储器的多种故障类型进行测试，需要在存储器内建多种类型的测试指令；其中，不同的故障类型对应有不同类型的测试指令。
在现有技术中，通过主状态机控制各子状态机是否执行与其对应的测试指令；一般的，当需要对不同测试类型的测试进行切换时，主状态机需要根据切换的测试类型进行参数配置，在每个测试类型的测试运行完毕后，均会获得一组测试结果。
但是，不同测试类型的测试中可能存在冗余的测试指令，所以在运行完毕多个测试后，所获得的多组测试结果中可能含有重复报出的故障信息，对后续的故障修复工作造成影响。
发明内容
本申请提供一种测试方法、装置、电子设备及存储介质，以解决现有技术中的测试方法所获得的测试结果中含有重复的故障信息的技术问题。
本申请第一个方面提供一种测试方法，包括：
构建测试指令集；其中，所述测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，所述测试指令集中任意两个测试指令均不相同；所述多种测试中的任意一种测试需要通过执行所述测试指令集中的一个或多个测试指令实现；
根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数；其中，所述配置参数适用于所述多种测试；
根据确定的测试的配置参数，由主状态机控制各子状态机执行所述测试指令集中的测试指令，以对所述测试对象进行所述多种测试，获得测试结果；其中，每个子状态机执行所述测试指令集中的一种测试的测试指令，且不同子状态机执行的测试指令不同。
可选地，所述构建测试指令集，包括：
构建测试指令全集，所述测试指令全集中包括各种测试的全部测试指令；
确定各种测试之间的测试顺序；并
根据所述测试顺序，对所述测试指令全集中全部测试指令进行排序；
对所述全部测试指令进行去重处理，得到所述测试指令集。
可选地，所述构建测试指令集，还包括：
在所述测试指令集的不同测试之间插入复原指令，所述复原指令用于在对所述测试对象执行完前一种测试之后，对测试对象的状态进行还原，和/或，在对所述存储器执行下一种测试之前，对执行所述复原指令的子状态机进行初始化。
可选地，所述复原指令包括：
空操作指令，和/或，不关心操作指令。
可选地，所述确定测试的配置参数，包括：
分别确定主状态机在控制各子状态机执行不同测试类型的测试时的原始配置参数；
当确定各原始配置参数存在冲突参数时，调整各原始配置参数，以使调整后得到的配置参数可用于主状态机对各子状态机的控制。
可选地，所述根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数，还包括：
根据测试对象的类型，确定主状态机控制各子状态机执行不同测试类型的测试时在该测试对象类型下的配置参数；
根据该测试对象类型下的各配置参数，确定测试的配置参数。
可选地，所述根据确定的测试的所述配置参数，由主状态机控制各子状态机执行所述测试指令集，以对所述测试对象进行所述多种测试，包括：
根据确定的测试的配置参数，设置主状态机的运行状态；
指示所述主状态机在设置的运行状态下，依次向各子状态发送执行指令，以使各子状态机依次执行所述测试指令集中不同测试对应的测试指令；
其中，所述主状态机还用于监测各子状态机获得的测试结果，并在获得任一子状态机的测试结果时，向所述任一子状态机的下一子状态机发送执行指令。
本申请第二个方面提供一种测试装置，包括：
构建模块，用于构建测试指令集；其中，所述测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，所述测试指令集中任意两个测试指令均不相同；所述多种测试中的任意一种测试需要通过执行所述测试指令集中的一个或多个测试指令实现；
配置模块，用于根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数；其中，所述配置参数适用于所述多种测试；
执行模块，用于根据确定的测试的配置参数，由主状态机控制各子状态机执行所述测试指令集中的测试指令，以对所述测试对象进行所述多种测试，获得测试结果；其中，每个子状态机执行所述测试指令集中的一种测试的测试指令，且不同子状态机执行的测试指令不同。
可选地，构建模块具体用于：
构建测试指令全集，所述测试指令全集中包括各种测试的全部测试指令；
确定各种测试之间的测试顺序；并
根据所述测试顺序，对所述测试指令全集中全部测试指令进行排序；
对所述全部测试指令进行去重处理，得到所述测试指令集。
可选地，构建模块还用于：
在所述测试指令集的不同测试之间插入复原指令，所述复原指令用于在对所述测试对象执行完前一种测试之后，对所述测试对象的状态进行还原，和/或，在所述存储器执行下一种测试之前，对执行所述复原指令的子状态机进行初始化。
可选地，所述复原指令包括：
空操作指令，和/或，不关心操作指令。
可选地，配置模块具体用于：
分别确定主状态机在控制各子状态机执行不同测试类型的测试时的原始配置参数；
当确定各原始配置参数存在冲突参数时，调整各原始配置参数，以使调整后得到的配置参数可用于主状态机对各子状态机的控制。
可选地，配置模块还用于：
根据测试对象的类型，确定主状态机控制各子状态机执行不同测试类型的测试时在该测试对象类型下的配置参数；
根据该测试对象类型下的各配置参数，确定测试的配置参数。
可选地，执行模块具体用于：
根据确定的测试的配置参数，设置主状态机的运行状态；
指示所述主状态机在设置的运行状态下，依次向各子状态发送执行指令，以使各子状态机依次执行所述测试指令集中不同测试对应的测试指令；
其中，所述主状态机还用于监测各子状态机获得的测试结果，并在获得任一子状态机的测试结果时，向所述任一子状态机的下一子状态机发送执行指令。
本申请第三个方面提供一种电子设备，包括：一个或多个处理器；
存储装置，用于存储一个或多个程序；
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如上第一个方面以及第一个方面各种可能的设计所述的方法。
本申请第四个方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当处理器执行所述计算机执行指令时，实现如上第一个方面以及第一个方面各种可能的设计所述的方法。
本申请提供的一种测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过构建测试指令集；其中，所述测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，所述测试指令集中任意两个测试指令均不相同；所述多种测试中的任意一种测试需要通过执行所述测试指令集中的一个或多个测试指令实现；根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数；根据确定的测试的配置参数，由主状态机控制各子状态机执行所述测试指令集中的测试指令，以对所述测试对象进行所述多种测试，获得测试结果；其中，每个子状态机执行所述测试指令集中的一种测试的测试指令。上述方案提供的测试方法，其通过根据多种测试的不同测试指令构建测试指令集，并根据多种测试的测试类型确定测试的配置参数，以使主状态机可以根据该配置参数控制测试指令集中各测试指令对应的子状态机，并基于所构建的测试指令集进行测试，由于测试指令集中的任意两个测试指令均不相同，且不同子状态机执行的测试指令也不会相同，从而不会出现重复测试的情况，所以该测试方法所获得的测试结果中不存在重复报出的故障信息，提高了测试结果的精确度，进而提高了故障修复效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例基于的集成芯片的结构示意图；
图2为本申请一实施例提供的测试方法的流程示意图；
图3为本申请另一实施例提供的测试方法的流程示意图；
图4为本申请再一实施例提供的测试方法的流程示意图；
图5为本申请又一实施例提供的测试方法的流程示意图；
图6为本申请又一实施例提供的测试方法的流程示意图；
图7为本申请又一实施例提供的一种测试方法的流程示意图；
图8为本申请一实施例提供的另一种测试方法的流程示意图；
图9为本申请一实施例提供的主状态机的工作流程示意图；
图10为本申请一实施例提供的各子状态机的工作流程示意图；
图11为本申请一实施例提供的测试装置的结构示意图；
图12为本申请一实施例提供的电子设备的结构示意图。
通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本公开构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本申请的概念。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
首先对本申请所涉及的名词进行解释：
状态机：状态机由状态寄存器和组合逻辑电路组成，可以根据控制信号(如控制指令)执行预先设定的操作。其中，状态机可以分为主状态机和子状态机，一个主状态机可以对应多个子状态机，即可由一个主状态机向多个子状态机发送控制信号，以控制多个子状态机的运行状态，具体用于控制子状态机是否开始运行；子状态机用于执行测试指令，子状态机在接收到主状态机发送的控制指令后，将自动执行预设的测试指令。通常情况下，一个子状态机在同一个时间点仅执行一种测试类型的测试指令。
冲突参数：不同子状态机所执行的测试指令的测试类型不同，当主状态机控制不同的子状态机时，主状态机针对不同的子状态机和不同的测试类型的配置参数也会存在差异，主状态机在控制各子状态机之前，需要根据各子状态机所执行的测试指令的测试类型对其当前的配置参数进行调整，以适应待执行的测试指令的测试类型，从而使主状态机可以对待执行的测试指令对应的子状态机进行控制，需要进行调节的参数即为冲突参数。
此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。在以下各实施例的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。
在现有技术中，各子状态机分别执行与其对应的测试类型的测试指令，各子状态机对应不同的测试类型的测试，当通过主状态机控制各子状态机执行测试指令时，在每个测试类型的测试运行完毕后，均会获得一组测试结果，也就是说，多种测试类型的测试运行完毕后，将会获得多组测试结果，操作人员根据所获得的多组测试结果进行故障修复；然而，由于不同测试类型的测试中可能存在重复的测试指令，所以基于该方法获得的测试结果中可能存在大量的重复报出的故障信息，对后续的故障修复工作造成了严重的影响。
针对上述问题，本申请实施例提供的测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过构建测试指令集；其中，测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，所述测试指令集中任意两个测试指令均不相同；所述多种测试中的任意一种测试需要通过执行所述测试指令集中的一个或多个测试指令实现；根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数；根据确定的测试的配置参数，由主状态机控制各子状态机执行测试指令集中的测试指令，以对测试对象进行多种测试，获得测试结果；其中，每个子状态机执行测试指令集中的一种测试的测试指令。上述方案提供的测试方法，其通过根据多种测试的不同测试指令构建测试指令集，并根据多种测试的测试类型确定测试的配置参数，以使主状态机可以根据该配置参数控制测试指令集中各测试指令对应的子状态机。由于测试指令集中不包含重复的测试指令，因此，基于所构建的测试指令集进行测试，其获得的测试结果中不存在重复报出的故障信息，提高了测试结果的精确度，进而提高了故障修复效率。
下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本发明的实施例进行描述。
首先，对本申请所基于的网络结构进行说明：
本申请实施例提供的测试方法，适用于测试集成芯片中的测试对象是否有存储单元出现了故障。如图1所示，为本申请实施例基于的集成芯片的结构示意图，该集成芯片可以包括测试对象和用于测试测试对象中的存储单元是否发生故障的测试装置，测试装置包括至少一个主状态机，以及和每个主状态机分别对应的至少一个子状态机。本发明实施例中，测试对象可以为存储器，即该测试装置可以应用于对存储器中的故障进行测试。
具体的，测试装置可以根据测试对象所需进行的各测试中的不同测试指令构建测试指令集，根据所构建的测试指令集对主状态机进行参数配置，使主状态机可以控制各子状态机执行测试指令集中与其相对应的测试指令，以对测试对象进行多种测试，并获得测试结果。
实施例一
本实施例提供一种测试方法，该测试方法适用于集成芯片中的测试对象。本实施例的执行主体为测试装置。
如图2所示，为本实施例提供的测试方法的流程示意图，该方法包括：
步骤101，构建测试指令集。
其中，测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，测试指令集中任意两个测试指令均不相同；多种测试中的任意一种测试需要通过执行测试指令集中的一个或多个测试指令实现。
具体的，由于测试对象的故障类型较多，针对不同类型的故障需要采用与其对应的测试类型的测试，每个测试类型的测试中包括一个或多个测试指令，根据所确定的测试类型，确定各测试类型的测试中所包括的各测试指令，根据各测试中的不同测试指令，构建测试指令集，以对多种测试的不同测试指令进行管理。
其中，测试对象可以是集成芯片中的存储器。
步骤102，根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数。
具体的，由于不同测试类型的测试的配置参数会存在一定的差异，所以需要根据所采用的各测试的测试类型，确定各测试的配置参数，进而确定用于执行测试指令集中各测试指令的配置参数，并根据该配置参数对主状态机进行相应的参数配置，以使主状态机可以控制各子状态机执行测试指令集中与其相对应的测试指令。
步骤103，根据配置参数，主状态机控制各子状态机执行测试指令集中的测试指令，以对测试对象进行多种测试，获得测试结果。
其中，每个子状态机执行测试指令集中的一种测试的测试指令。
具体的，根据所确定的测试的配置参数，确定主状态机当前所需的配置参数，并根据所确定的配置参数对主状态机进行参数配置，使主状态机可以控制各子状态机执行测试指令集中与其对应的各测试指令，以对测试对象进行多种测试，并根据各测试中的测试指令的执行情况，确定测试结果。
本实施例提供的测试方法，通过根据多种测试的多个测试指令构建测试指令集，并根据多种测试的测试类型确定测试的配置参数，以使主状态机可以根据该配置参数控制测试指令集中各测试指令对应的子状态机，并基于所构建的测试指令集进行测试，由于测试指令集中的任意两个测试指令均不相同，不会出现重复测试的情况，所以该测试方法所获得的测试结果中不存在重复报出的故障信息，提高了测试结果的精确度，进而提高了故障修复效率。
实施例二
由于不同测试类型的测试中可能包含相同的测试指令，若相同的测试指令重复执行，则获得的测试结果中将存在重复报出的故障信息，操作人员若根据含有大量的重复报出的故障信息的测试结果进行故障修复，则会出现同一故障存储单元重复修复的情况，从而降低了故障修复效率。
为了避免出现这种情况，图3是本实施例提供的测试方法的流程示意图。
如图3所示，作为一种可实施的方式，在上述实施例的基础上，可选地，构建测试指令集，具体包括：
步骤1011，构建测试指令全集。
其中，测试指令全集中包括各测试的全部测试指令。
步骤1012，确定各种测试之间的测试顺序；
步骤1013，根据测试顺序，对测试指令全集中全部测试指令进行排序。
步骤1014，对全部测试指令进行去重处理，得到测试指令集。
具体的，根据测试对象的测试需求，确定所需进行的测试，并确定各种测试中的测试指令，将所需采用的各种测试的全部测试指令进行汇总，获得包括各测试的全部测试指令的测试指令全集。根据测试对象的测试需求和所需采用的测试类型确定各测试之间的测试顺序，根据测试顺序对测试指令全集中各测试对应的测试指令进行排序，使测试指令全集中的测试指令的排序与各测试之间测试顺序相对应。最后针对测试指令全集中的重复的测试指令进行去重处理，以获得包括多种测试的不同测试指令的测试指令集。其中，去重处理可以是将测试指令全集中重复的测试指令进行筛选，并仅保留其中排序最靠前的一个测试指令，对排序在后的其他重复的测试指令进行删除处理。
示例性的，若测试对象为集成芯片中的存储器，且其当前需要诊断的故障类型分别为：
固定型故障(stuck at fault，简称SAF)：存储单元中的值固定为O或固定为1；
转换故障(transition fault，简称TF)：存储单元在写入与当前内容不同的值时无法在期望时间内完成0→1转换或1→0转换；
耦合故障(coupling fault，简称CF)：存储器一个单元的改变导致另一个相邻存储单元也发生了改变。
为了实现上述故障类型的诊断，所需采用的测试主要包括：
MATS测试，用于测试SAF故障和部分CF故障；其中，MAST测试的测试指令包括：
{a(w0),↑(r0,w1),↓(r1,w0),a(r0)}
March C测试，用于测试SAF故障、TF故障和状态传输故障；其中，March C测试的测试指令包括：
{a(w0),↑(r0,w1),↑(r1,w0),↓(r0,w1),↓(r1,w0),DEL↑(r0,w1),↑(r1)}
March G测试，用于测试SAF故障、CF故障和状态传输故障；其中，March G测试的测试指令包括：
{a(w0),↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1),↑(r0,w0,w1),↓(r1,w0,w1,w1),↓(r0,w1,w0)}
其中，a(w0)表示全部写0(初始化指令)(任意方向)，a(r0)表示全部读O(任意方向)，↑(r0,w1)表示从低地址到高地址读0写1，“↑”表示从低地址到高地址，“↓”表示从高地址到低地址，“r”表示读操作，“w”表示写操作，DEL表示延迟，使下一个测试指令延迟期望时间后执行。
其中，确定各测试之间的测试顺序为：MATS测试→March C测试→March G。
据此，可以构建测试指令全集：
{a(w0),↑(r0,w1),↓(r1,w0),a(r0),a(w0),↑(r0,w1),↑(r1,w0),↓(r0,w1),↓(r1,w0),DEL↑(r0,w1),↑(r1),a(w0),↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1),↑(r0,w0,w1),↓(r1,w0,w1,w1),↓(r0,w1,w0)}
由于当前的测试指令全集中包括重复的测试指令，所以需要对测试指令全集中的测试指令进行去重处理，以获得测试指令集：
{a(w0),↑(r0,w1),↓(r1,w0),a(r0),↓(r0,w1),↓(r1,w0),DEL↑(r0,w1),↑(r1),↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1),↑(r0,w0,w1),↓(r1,w0,w1,w1),↓(r0,w1,w0)}。
本实施例提供的测试方法，在前述实施例的基础上，在面对不同类型的测试中存在相同的测试指令，导致所获得的测试结果中含有重复报出的故障信息这一问题上，通过对包括各种测试的全部测试指令的测试指令全集进行去重处理，获得包括多种测试的不同测试指令的测试指令集；以及基于所获得的测试指令集进行测试并获得测试结果，该测试结果中不存在重复报出的故障信息，进一步提高了测试结果的精确度，进而提高了故障修复效率。
实施例三
在上述各实施例的基础上，在多个不同测试类型的测试依次执行的过程中，由于来自不同测试类型的测试指令在连续执行时，可能会出现异常跳转，使排序在后面的测试指令无法正常执行，也可能导致排序在后面的测试指令的执行结果不准确，从而导致测试结果的可信度较低。
为了避免出现这种情况，图4是本实施例提供的测试方法的流程示意图，作为一种可实施的方式，在上述各实施例的基础上，可选地，构建测试指令集，还包括：
步骤1015，在测试指令集的不同测试之间插入复原指令。
其中，复原指令用于在对测试对象执行完前一测试之后，对测试对象的状态进行还原，和/或，对执行所述复原指令的子状态机进行初始化。
优选地，复原指令可以包括空操作指令，和/或，不关心操作指令。
具体的，复原指令可以是单个操作指令，也可以同时包括两个及以上操作指令。复原指令所包括的指令的类型是根据不同测试的连接处之前的最后一个测试指令，以及连接处之后的第一个测试指令确定的；其中，复原指令所包括的指令的类型不限定于空操作指令，和/或，不关心操作指令，且复原指令由连接处之后的测试指令所对应的子状态机执行。
其中，执行空操作指令可以使测试对象的状态进行还原，也可以使执行空操作指令的子状态机的寄存器进行初始化。此外，当连接处之前的最后一个执行指令是读操作时，基于执行不关心操作指令可以对其读出的数据进行覆盖，避免对后续待执行的测试指令的测试结果造成影响。
示例性的，以获得的测试指令集包括：{a(w0),↑(r0,w1),↓(r1,w0),a(r0),↓(r0,w1),↓(r1,w0),DEL↑(r0,w1),↑(r1),↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1),↑(r0,w0,w1),↓(r1,w0,w1,w1),↓(r0,w1,w0)}，且测试对象对集成芯片中的存储器为例。
其中，测试指令集中连续的测试指令可以根据其对应的测试类型进行划分，{a(w0),↑(r0,w1),↓(r1,w0),a(r0)}为MATS测试的测试指令；{↓(r0,w1),↓(r1,w0),DEL↑(r0,w1),↑(r1)}为March C测试的测试指令；{↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1),↑(r0,w0,w1),↓(r1,w0,w1,w1),↓(r0,w1,w0)}为March G测试的测试指令。
其中，MATS测试的最后一个测试指令是a(r0)，与其相邻的March C测试的第一测试指令是↓(r0,w1)，即MATS测试与March C测试在连接处的测试指令分别为a(r0)和↓(r0,w1)。由于二者所读取的存储单元的地址顺序不同，为了保证↓(r0,w1)测试指令的准确性，可以在a(r0)和↓(r0,w1)之间插入复原指令mask(不关心操作指令)，以对a(r0)读出的数据进行覆盖。
其中，March C测试的最后一个测试指令是↑(r1)，与其相邻的March G测试的第一个测试指令是↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1),即March C测试与March G测试在连接处的测试指令分别为↑(r1)和↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1)。由于在执行完连接处前一测试指令↑(r1)之后，无法执行↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1)测试指令中的第一操作↑(r0)，所以需要在↑(r1)和↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1)之间插入复原指令nop(空操作指令)，以对存储器的状态进行还原，使存储器的状态还原至执行完初始化指令a(w0)之后的状态。也可以基于nop对执行测试指令↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1)的子状态机的寄存器进行初始化设置，初始化设置指令即为a(w0)，以保证测试指令↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1)可以正常执行。
综上，在测试指令集的不同测试之间插入相应的复原指令后的测试指令集为：{a(w0),↑(r0,w1),↓(r1,w0),a(r0),mask,↓(r0,w1),↓(r1,w0),DEL↑(r0,w1),↑(r1),nop,↑(r0,w1,r1,w0,r0,w1),↑(r0,w0,w1),↓(r1,w0,w1,w1),↓(r0,w1,w0)}。在前一测试对应的子状态机执行完毕后，由后一测试对应的子状态机执行相应的复原指令，在复原指令执行完毕后，后一测试对应的子状态机再执行其对应的测试指令，依次类推，直至测试指令集中的全部测试指令执行完毕。
本实施例提供的测试方法，在前述实施例的基础上，在针对不同测试类型的测试指令在连续执行的过程中可能出现异常跳转的技术问题，通过在测试指令集的不同测试之间插入相应的复原指令，使排序在后的测试指令可以正常执行，避免出现异常跳转，并获得准确的测试结果，进而提高了测试结果的可信度。
实施例四
在上述各实施例的基础上，当根据各测试的测试类型确定主状态机的原始配置参数，以保证主状态机可以正常控制各测试所对应的子状态机时，由于各测试的测试类型不同，导致各测试的原始配置参数也存在一定的差异，甚至可能存在冲突参数，导致主状态机无法基于固定的原始配置参数控制各测试对应的子状态机。
为了解决上述技术问题，图5是本实施例提供的测试方法的流程示意图，作为一种可实施的方式，在上述各实施例的基础上，可选地，根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数，具体包括：
步骤1021，确定主状态机在控制各子状态机执行不同测试类型的测试时的原始配置参数。
步骤1022，当确定各原始配置参数存在冲突参数时，调整各原始配置参数，以使调整后得到的配置参数可用于主状态机对各子状态机的控制。
相应的，若不存在冲突参数，则不对原始配置参数进行调整，原始配置参数即可用于主状态机对各子状态机的控制，即根据原始配置参数，主状态机控制各子状态机执行测试指令集中的测试指令，以对测试对象进行多种测试，获得测试结果。
需要说明的是，在现有技术中，当对不同测试类型的测试进行切换时，主状态机需要根据待运行测试的测试类型确定原始配置参数，以实现对待运行测试所对应的子状态机进行控制；其中，不同测试类型的测试所对应的原始配置参数可能存在一定的差异。
示例性的，根据测试对象的测试需求，确定所需采用的测试分别为第一测试、第二测试和第三测试；若确定第一测试所对应的原始配置参数中的测试向量为8bit，第二测试所对应的原始配置参数中的测试向量为16bit，第三测试所对应的原始配置参数中的测试向量为32bit，根据各测试所应的原始配置参数中的测试向量，可以确定各测试所应的测试向量是不同的；本发明实施例中，将上述原始配置参数中不同的测试向量确定为冲突参数。需要对各测试的测试向量进行调整，可以全部调整为8bit，也可以全部调整为16bit，类似的，也可以全部调整为32bit，并根据各测试调整后的测试向量，对主状态机的原始配置参数进行相应的调整。
具体的，若将各测试的测试向量同时调整为16bit，则将主状态机的原始配置参数中的测试向量也调整为16bit，以保证主状态机可以基于同一配置参数对各测试所对应的子状态机进行控制，并保证各测试的正常运行。此外，配置参数还可以为步长控制信息，当不同测试的原始配置参数不同，即步长控制信息不同时，不同步长控制信息的原始配置参数即为冲突参数，此时，需要将冲突参数调整为相同的步长控制信息，以消除冲突。
其中，主状态机在控制各子状态机执行不同测试类型的测试时的原始配置参数，即为主状态机根据待执行的测试的测试类型进行配置的配置参数，该原始配置参数可以根据各测试的测试类型确定。
本实施例提供的测试方法，在前述各实施例的基础上，在面对不同测试类型的测试所对应的主状态机的原始配置参数中可能存在冲突参数这一问题上，通过确定各测试分别对应的原始配置参数是否存在冲突参数，若存在冲突参数，则对各测试的原始配置参数中的冲突参数进行调整，并根据调整后的冲突参数对主状态机的原始配置参数进行相应的调整，以使调整后的配置参数可用于主状态机对各子状态机的控制，且在测试过程中无需对配置参数进行多次调整，在保证各测试可以正常运行的同时，提高了检测效率，且进一步提高了测试结果的可信度。
实施例五
在上述各实施例的基础上，当上述测试方法应用于不同类型的测试对象时，由于不同类型的测试对象的属性存在一定的差异性，比如存储单元容量不同、读取速度不同等，所以在进行配置参数确定的过程中，若忽略了测试对象类型这一因素，则会导致配置参数出现偏差，影响测试方法的适配性，进而降低了测试结果的可信度。
为了解决上述技术问题，图6为本实施例提供的测试方法的流程示意图，作为一种可能实施的方式，在上述各实施例的基础上，可选地，根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数，还包括：
步骤1023，根据测试对象的类型，确定主状态机控制各子状态机执行不同测试类型的测试时在该测试对象类型下的配置参数。
步骤1024，根据该测试对象类型下的各配置参数，确定测试的配置参数。
需要说明的是，当同一测试应用到不同类型的测试对象时，由于测试对象类型不同，所以测试的配置参数也会存在一定的差异。
进一步的，为了保证主状态机可以基于固定的配置参数对各测试所对应的子状态机进行控制，需要确定各测试在该测试对象类型下的配置参数，并根据该测试对象类型下的各配置参数，判断是否存在冲突参数。若存在冲突参数，则根据冲突参数对各配置参数进行调整，获得调整后的配置参数，以使调整后的配置参数可用于主状态机对各子状态机的控制；若不存在冲突参数，则将任一测试在该测试对象类型下的配置参数确定为测试的配置参数；即任一测试在该测试对象类型下的配置参数均可用于主状态机对各子状态机的控制，以控制各子状态机执行测试指令集中的测试指令，以对测试对象进行多种测试，并获得测试结果。
可选地，在根据不同测试类型的测试确定原始配置参数，并根据实际情况对原始配置参数进行调整的同时，也可以根据测试对象的类型对原始配置参数或根据测试类型调整后的原始配置参数做进一步的调整，以确定更为准确的配置参数。
本实施例提供的测试方法，在前述各实施例的基础上，在面对不同类型的测试对象所适用的配置参数存在一定的差异性这一问题上，通过根据测试对象的类型，确定各测试所对应的配置参数，并根据各配置参数进一步确定可用于主状态机对各子状态机进行控制的配置参数，以获得更为准确的配置参数，提高了测试方法的适配性，且进一步提高了测试结果的准确性。
实施例六
在上述各实施例的基础上，在确定了配置参数之后，为了进一步保证测试指令集中的测试指令可以正常按照预设测试顺序依次执行，以避免由于测试顺序出现错误，而对测试结果的准确性造成的影响。
图7为本实施例提供的一种测试方法的流程示意图，作为一种可能实施的方式，在上述各实施例的基础上，可选地，根据配置参数，主状态机控制各子状态机执行测试指令集中的测试指令，以对测试对象进行多种测试，获得测试结果，具体包括：
步骤1031，根据配置参数设置主状态机的运行状态，主状态机在该运行状态下依次向各子状态发送执行指令，以使各子状态机依次执行测试指令集中不同测试对应的测试指令。
其中，主状态机还用于监测各子状态机获得的测试结果，并在获得任一子状态机的测试结果时，向下一子状态机发送执行指令。
具体的，根据所确定的配置参数对主状态机进行相应的参数配置，以对主状态机的运行状态进行设置，使其达到可对各子状态机进行控制的运行状态，主状态机在该运行状态下可以控制各子状态机依次执行与其对应的测试指令。
其中，主状态机主要用于依次向各子状态机发送执行指令，各子状态机在接收到执行指令后，开始执行测试指令集中与其对应的测试指令，以完成相应的测试，并生成测试结果，最后将测试结果反馈至主状态机。
如图8所示，为本实施例提供的另一种测试方法的流程示意图，如图8所示的流程可以是如图7所示流程的一种实现方式。
具体的，主状态机首先向测试指令集中的第一个测试指令所对应的子状态机(第一子状态机)发送执行指令，该子状态机在接收到执行指令后，该子状态机依次执行测试指令集中与其对应的测试指令，并将其测试结果发送至主状态机；主状态机在接收到该测试结果后，向与第一子状态机相邻的下一个子状态机(第二子状态机)发送执行指令，下一个子状态机在接收到执行指令后，首先执行其复原指令，复原指令执行完毕后，依次执行测试指令集中与上述下一个子状态机(第二子状态机)对应的测试指令，最后将其测试结果发送至主状态机。依次类推，直至最后一个子状态机(第三子状态机)执行测试指令完毕后，该最后一个子状态机在向主状态机发送其测试结果的同时，还向主状态机发送结束信号，以表示测试指令集中的全部测试指令已执行完毕，即测试对象的测试已完成。操作人员可以基于所获得的各子状态机的测试结果，对故障存储单元进行修复。
其中，如图9所示，为本实施例提供的主状态机的工作流程示意图，主状态机在进行参数配置之前，首先进行复位，以使主状态机的运行状态到达初始状态，在初始状态的基础上进行相应的参数配置，以使主状态机的运行状态达到可对各子状态机进行控制的运行状态。
相应的，如图10所示，为本实施例提供的各子状态机的工作流程示意图，各子状态机在接收到主状态机的执行指令后，开始执行与其相应的测试指令，其中，在子状态机之间进行切换的过程中，待执行的子状态机首先执行复原指令，复原指令执行完毕后，再执行与其相应的测试指令。
本实施例提供的测试方法，在前述各实施例的基础上，为了进一步保证测试指令集中的测试指令可以正常按照预设测试顺序依次执行，通过根据已经确定的配置参数，对主状态机的运行状态进行设置，使处于当前运行状态下的主状态机可以对各子状态机发送执行指令，其中，主状态机在接收到任一子状态机的测试结果时，向与其相邻的下一子状态机发送执行指令，从而保证了各子状态机可以按照预设测试顺序依次执行，进而保证了测试指令集中的测试指令可以按照预设测试顺序依次执行，从而进一步提高了测试结果的准确性。
实施例七
本实施例提供一种测试装置，用于执行上述各实施例的方法。
如图11所示，为本实施例提供的测试装置的结构示意图。该测试装置70包括构建模块71、配置模块72和执行模块73。
其中，构建模块，用于构建测试指令集，测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，测试指令集中任意两个测试指令均不相同；多种测试中的任意一种测试需要通过执行测试指令集中的一个或多个测试指令实现；配置模块，用于根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数；执行模块，用于根据配置参数，由主状态机控制各子状态机执行测试指令集中的测试指令，以对测试对象进行多种测试，获得测试结果；其中，每个子状态机执行测试指令集中的一种测试的测试指令，且不同子状态机执行的测试指令不同。
可选地，构建模块具体用于：
构建测试指令全集，测试指令全集中包括各种测试的全部测试指令；
确定各测试之间的测试顺序；并根据测试顺序，对测试指令全集中全部测试指令进行排序；
对全部测试指令进行去重处理，得到测试指令集。
可选地，构建模块还用于：
在测试指令集的不同测试之间插入复原指令，复原指令用于在对测试对象执行完前一种测试之后，对测试对象的状态进行还原，和/或，在测试对象执行下一种测试之前，对执行复原指令的子状态机进行初始化。
可选地，复原指令包括：
空操作指令，和/或，不关心操作指令。
可选地，配置模块具体用于：
分别确定主状态机在控制各子状态机执行不同测试类型的测试时的原始配置参数；
当确定各原始配置参数存在冲突参数时，调整各原始配置参数，以使调整后得到的配置参数可用于主状态机对各子状态机的控制。
可选地，配置模块还用于：
根据测试对象的类型，确定主状态机控制各子状态机执行不同测试类型的测试时在该测试对象类型下的配置参数；
根据该测试对象类型下的各配置参数，确定测试的配置参数。
可选地，执行模块具体用于：
根据配置参数设置主状态机的运行状态，主状态机在该运行状态下依次向各子状态发送执行指令，以使各子状态机依次执行测试指令集中不同测试对应的测试指令；
其中，主状态机还用于监测各子状态机获得的测试结果，并在获得任一子状态机的测试结果时，向下一子状态机发送执行指令。
关于本实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
根据本实施例提供的测试对象的测试装置，可用于执行前述实施例中提供的测试方法，其实现方式与原理相同，不再赘述。
实施例八
本实施例提供一种电子设备，用于执行上述实施例提供的方法。
如图12所示，为本实施例提供的电子设备的结构示意图。该电子设备80包括：一个或多个处理器81和存储装置82；
其中，存储装置，用于存储一个或多个程序，所述一个或多个处理器执行所述存储设备存储的程序，使得一个或多个处理器执行如上任一实施例提供的方法。
根据本实施例的电子设备，可用于执行前述实施例中提供的测试方法，其实现方式与原理相同，不再赘述。
实施例九
本实施例提供一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述存储介质中存储有计算机处理器执行指令，当处理器执行所述计算机执行指令时，实现如上任一实施例提供的方法。
根据本实施例的包含计算机可执行指令的存储介质，可用于存储前述实施例中提供的测试方法的计算机执行指令，其实现方式与原理相同，不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本申请各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本领域技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的装置的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。
Claims (8)
1.一种测试方法，其特征在于，包括：
构建测试指令集；其中，所述测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，所述测试指令集中任意两个测试指令均不相同；所述多种测试中的任意一种测试需要通过执行所述测试指令集中的一个或多个测试指令实现；所述测试对象为存储器；所述测试指令集用于对所述存储器中的故障进行测试；
根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数；其中，所述配置参数适用于所述多种测试；
根据确定的测试的配置参数，由主状态机控制各子状态机执行所述测试指令集中的测试指令，以对所述测试对象进行所述多种测试，获得测试结果；其中，每个子状态机执行所述测试指令集中的一种测试的测试指令，且不同子状态机执行的测试指令不同；
所述构建测试指令集，包括：
构建测试指令全集，所述测试指令全集中包括对所述测试对象进行的所有测试的全部测试指令；
确定各种测试之间的测试顺序；并
根据所述测试顺序，对所述测试指令全集中全部测试指令进行排序；
对所述全部测试指令进行去重处理，得到所述测试指令集；
在所述测试指令集的不同测试之间插入复原指令，所述复原指令用于在对所述测试对象执行完前一种测试之后，对所述测试对象的状态进行还原，和/或，在对所述测试对象执行下一种测试之前，对执行所述复原指令的子状态机进行初始化。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述复原指令包括：
空操作指令，和/或，不关心操作指令。
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述确定测试的配置参数，包括：
分别确定主状态机在控制各子状态机执行不同测试类型的测试时的原始配置参数；
当确定各原始配置参数存在冲突参数时，调整各原始配置参数，以使调整后得到的配置参数可用于主状态机对各子状态机的控制。
4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数，还包括：
根据测试对象的类型，确定主状态机控制各子状态机执行不同测试类型的测试时在该测试对象类型下的配置参数；
根据该测试对象类型下的各配置参数，确定测试的配置参数。
5.根据权利要求1、2-4中任一项所述的测试方法，其特征在于，所述根据确定的测试的配置参数，由主状态机控制各子状态机执行所述测试指令集，以对所述测试对象进行所述多种测试，包括：
根据确定的测试的配置参数，设置主状态机的运行状态；
指示所述主状态机在设置的运行状态下，依次向各子状态发送执行指令，以使各子状态机依次执行所述测试指令集中不同测试对应的测试指令；
其中，所述主状态机还用于监测各子状态机获得的测试结果，并在获得任一子状态机的测试结果时，向所述任一子状态机的下一子状态机发送执行指令。
6.一种测试装置，其特征在于，包括：
构建模块，用于构建测试指令集；其中，所述测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，所述测试指令集中任意两个测试指令均不相同；所述多种测试中的任意一种测试需要通过执行所述测试指令集中的一个或多个测试指令实现；所述测试对象为存储器；所述测试指令集用于对所述存储器中的故障进行测试；
配置模块，用于根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数；其中，所述配置参数适用于所述多种测试；
执行模块，用于根据确定的测试的配置参数，由主状态机控制各子状态机执行所述测试指令集中的测试指令，以对所述测试对象进行所述多种测试，获得测试结果；其中，每个子状态机执行所述测试指令集中的一种测试的测试指令，且不同子状态机执行的测试指令不同；
所述构建模块，具体用于
构建测试指令全集，所述测试指令全集中包括对所述测试对象进行的所有测试的全部测试指令；
确定各种测试之间的测试顺序；并
根据所述测试顺序，对所述测试指令全集中全部测试指令进行排序；
对所述全部测试指令进行去重处理，得到所述测试指令集；
在所述测试指令集的不同测试之间插入复原指令，所述复原指令用于在对所述测试对象执行完前一种测试之后，对所述测试对象的状态进行还原，和/或，在对所述测试对象执行下一种测试之前，对执行所述复原指令的子状态机进行初始化。
7.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
一个或多个处理器；
存储装置，用于存储一个或多个程序；
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-5中任一所述的方法。
8.一种包含计算机可执行指令的存储介质，其特征在于，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如权利要求1-5中任一所述的方法。
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