CN109814287B - 显示面板的检测方法及装置、控制器、存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种显示面板的检测方法及装置、控制器、存储介质，包括：利用第一装置测量目标面板的第一支撑柱高度；利用第二装置测量所述目标面板的第一盒间距；根据所述第一支撑柱高度计算所述目标面板的第二盒间距；当所述第一盒间距与所述第二盒间距的差的绝对值小于或等于阈值时，所述目标面板为合格产品；否则，调整所述目标面板的液晶量。本申请通过测量目标面板的支撑柱高度，得到在该支撑柱高度下目标面板的最佳液晶量，提高了面板的良率，减少了成本的浪费。

Description

显示面板的检测方法及装置、控制器、存储介质

技术领域

本申请涉及显示领域，特别涉及一种显示面板的检测方法及装置、控制器、存储介质。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)是目前市场上应用最为广泛的显示产品，其生产工艺技术十分成熟，产品良率高，生产成本相对较低，市场接受度高。

现有液晶显示面板由彩膜基板(CF)、阵列基板(Array)、夹于彩膜基板与阵列基板之间的液晶组成。CF基板主要包括通过色阻单元(R/G/B)形成有色光的彩色滤光层、防止像素边缘漏光的黑色矩阵(BM)、以及维持盒厚的隔垫物(PS)。

在现有液晶显示面板的工艺中，当充入的液晶量过多时，液晶显示面板会出现不均匀点；当充入的液晶量过少时，液晶显示面板会出现气泡。因此液晶量的多少对液晶显示面板的品质至关重要。现有技术中，存在对液晶量的检测装置，但是无法确定液晶的具体滴入量，导致面板出现气泡、不均匀点等其他缺点，降低面板的良率。

发明内容

本申请提供一种显示面板的检测方法及装置、控制器、存储介质，以提高现有显示面板的良率。

为实现上述目的，本申请提供的技术方案如下：

本申请提供了一种显示面板的检测方法，其包括：

利用第一装置测量目标面板的第一支撑柱高度；

利用第二装置测量所述目标面板的第一盒间距；

根据所述第一支撑柱高度计算所述目标面板的第二盒间距；

计算所述第一盒间距与所述第二盒间距的差的绝对值；

当所述第一盒间距与所述第二盒间距的差的绝对值小于或等于阈值时，所述目标面板为合格产品；否则，调整所述目标面板的液晶量。

在本申请的检测方法中，利用第一装置测量目标面板的第一支撑柱高度之前，还包括步骤：

获取目标面板的支撑柱高度与所述第二盒间距的第一函数关系式g(H)；

H为所述目标面板的支撑柱高度；

g(H)为所述目标面板的所述第二盒间距。

在本申请的检测方法中，

获取目标面板的支撑柱高度与所述第二盒间距的第一函数关系式f(x)的步骤包括：

当所述目标面板的支撑柱高度不变时，通过调整所述目标面板的液晶量，获取所述目标面板的液晶量与支撑柱高度的函数关系式f(V)＝a·V+b；

V为所述目标面板的液晶量；

f(V)为所述目标面板的支撑柱高度。

在本申请的检测方法中，

获取目标面板的支撑柱高度与所述第二盒间距的第一函数关系式f(x)的步骤还包括：

调整所述目标面板中支撑柱的高度，当所述目标面板产生气泡时，获取所述目标面板的液晶量与支撑柱高度的函数关系式V₁＝A₁·H+B₁；

V₁为所述目标面板产生气泡时的液晶量；

H为所述目标面板产生气泡时的支撑柱高度。

在本申请的检测方法中，

获取目标面板的支撑柱高度与所述第二盒间距的第一函数关系式f(x)的步骤还包括：

调整所述目标面板中支撑柱的高度，当所述目标面板出现不均匀点时，获取所述目标面板的液晶量与支撑柱高度的函数关系式V₂＝A₂·H+B₂；

V₂为所述目标面板出现不均匀点时的液晶量；

H为所述目标面板出现不均匀点时的支撑柱高度。

在本申请的检测方法中，

当所述目标面板产生气泡时，获取所述目标面板的支撑柱高度与对应盒间距的第二函数关系式：f₁(H)＝a·(A₁·H+B₁)+b；

当所述目标面板出现不均匀点时，获取所述目标面板的支撑柱高度与对应盒间距的第三函数关系式：f₂(H)＝a·(A₂·H+B₂)+b；

获取所述目标面板的支撑柱高度与所述第二盒间距的第一函数关系式

在本申请的检测方法中，根据所述第一支撑柱高度计算所述目标面板的第二盒间距的步骤包括：

根据所述目标面板的所述第一支撑柱高度及所述第一函数关系式g(H)计算所述目标面板的所述第二盒间距。

本申请还提出了一种控制器，所述控制器用于执行存储于存储器的若干指令，以实现上述的检测方法。

本申请还提出了一种显示面板的检测装置，所述显示面板的检测装置包括上述控制器和存储器。

本申请还提出了一种存储介质，所述存储介质中存储若干指令，其特征在于，所述指令用于供控制器执行以实现上述的检测方法。

有益效果：本申请通过测量目标面板的支撑柱高度，得到在该支撑柱高度下目标面板的最佳液晶量，提高了面板的良率，减少了成本的浪费。

附图说明

为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请显示面板检测方法的步骤图。

具体实施方式

以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本申请可用以实施的特定实施例。本申请所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本申请，而非用以限制本申请。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。

请参阅图1，图1为本申请显示面板检测方法的步骤图。

所述显示面板的检测方法包括：

S10、获取目标面板的支撑柱高度与第二盒间距的第一函数关系式g(H)；

在本步骤中，H为所述目标面板的支撑柱高度，g(H)为所述目标面板的所述第二盒间距。

步骤S10具体包括：

S101、当所述目标面板的支撑柱高度不变时，通过调整所述目标面板的液晶量，获取所述目标面板的液晶量与盒间距的函数关系式f(V)＝a·V+b；

在本步骤中，首先记录所述目标面板的支撑柱高度。保持目标面板的支撑柱高度不变，在该面板内滴入液晶，利用第一装置测量该面板的盒间距，并记录所滴入的液晶。

其次，调整滴入该面板内的液晶，再次利用第一装置测量该面板的盒间距，并再次记录所滴入的液晶。

重复上述操作，获取多组数据，并得到该数据的拟合方程。

在本申请待测面板中，当液晶增加时，支撑柱承受的压力变小，液晶层承受的压力变大，对应的盒间距增加；当液晶减小时，支撑柱承受的压力变大，液晶层承受的压力变小，对应的盒间距减小。由于目标面板中的支撑柱由有机材料构成，具有一定的伸缩性。因此，对应盒间距的变化为非线性。为了计算方便，本申请将上述数据拟合成线性方程。

在一种实施例中，所述目标面板的液晶量与支撑柱高度的函数关系式为f(V)＝a·V+b。

在一种实施例中，V为所述目标面板的液晶量。

在一种实施例中，f(V)为所述目标面板的支撑柱高度。

S102、调整所述目标面板中支撑柱的高度，当所述目标面板产生气泡时，获取所述目标面板的液晶量与支撑柱高度的函数关系式V₁＝A₁·H+B₁；

在本步骤中，首先记录所述目标面板的支撑柱高度。保持目标面板的支撑柱高度不变，在该目标面板内滴入液晶，当所述目标面板产生气泡时，记录所滴入的液晶。

其次，改变所述目标面板的支撑柱高度，并记录该支撑柱高度。保持目标面板的支撑柱高度不变，在该目标面板内滴入液晶，当所述目标面板产生气泡时，记录所滴入的液晶。

重复上述操作，获取不同支撑柱高度下，当所述目标基板出现气泡时所滴入的液晶量。

最后，将获得的数据进行拟合，获取所述目标面板的液晶量与支撑柱高度的函数关系式。

在本实施例中，所述目标面板的液晶量与支撑柱高度的函数关系式为V₁＝A₁·H+B₁。

在一种实施例中，步骤S102可以在低温环境下进行。

在一种实施例中，V₁为所述目标面板产生气泡时的液晶量。

在一种实施例中，H为所述目标面板产生气泡时的支撑柱高度。

S103、调整所述目标面板中支撑柱的高度，当所述目标面板出现不均匀点时，获取所述目标面板的液晶量与支撑柱高度的函数关系式V₂＝A₂·H+B₂；

与步骤S102相同或相似，在本步骤中：

首先记录所述目标面板的支撑柱高度。保持目标面板的支撑柱高度不变，在该目标面板内滴入液晶，当所述目标面板产生不均匀点时，记录所滴入的液晶。

其次，改变所述目标面板的支撑柱高度，并记录该支撑柱高度。保持目标面板的支撑柱高度不变，在该目标面板内滴入液晶，当所述目标面板产生不均匀点时，记录所滴入的液晶。

重复上述操作，获取不同支撑柱高度下，当所述目标基板出现不均匀点时所滴入的液晶量。

最后，将获得的数据进行拟合，获取所述目标面板的液晶量与支撑柱高度的函数关系式。

在一种实施例中，步骤S103在高温环境下进行。

在一种实施例中，V₂为所述目标面板出现不均匀点时的液晶量。

在一种实施例中，H为所述目标面板出现不均匀点时的支撑柱高度。

在一种实施例中，步骤S102为减小所述目标面板的液晶量。步骤S103为增加所述目标面板的液晶量。

S104、当所述目标面板产生气泡时，获取所述目标面板的支撑柱高度与对应盒间距的第二函数关系式：f₁(H)＝a·(A₁·H+B₁)+b；

S105、当目标面板出现不均匀点时，获取所述目标面板的支撑柱高度与对应盒间距的第三函数关系式：f₂(H)＝a·(A₂·H+B₂)+b；

在步骤S104～S105中，根据步骤S101～S103所得到的公式：

f(V)＝a·V+b (1)

V₁＝A₁·H+B₁ (2)

V₂＝A₂·H+B₂ (3)

将式(2)及式(3)分别代入式(1)中，得到：

f₁(H)＝a·(A₁·H+B₁)+b (4)

f₂(H)＝a·(A₂·H+B₂)+b (5)

将支撑柱高度与液晶量的关系式转换成支撑柱高度与盒间距的函数关系式。

S106、获取所述目标面板的支撑柱高度与所述第二盒间距的第一函数关系式

从步骤S104～S105可知：

在支撑柱高度一定的情况下，当所述目标面板产生气泡时，此时所述目标面板所对应的盒间距为：f₁(H)＝a·(A₁·H+B₁)+b。

在支撑柱高度一定的情况下，当目标面板出现不均匀点时，此时所述目标面板所对应的盒间距为：f₂(H)＝a·(A₂·H+B₂)+b。

因此，在进行盒间距设计时，在避免出现气泡及不均匀点时，取二者的平均值作为所述目标面板的第二盒间距值。

所述第二盒间距值为：

在一种实施例中，第二盒间距为目标面板的最佳盒间距。

S20、利用第一装置测量目标面板的第一支撑柱高度；

S30、利用第二装置测量所述目标面板的第一盒间距；

在目标面板的制程工艺中，当目标完成支撑柱的工艺后，将使用第一装置测量所述目标面板的第一支撑柱高度。所述第一装置将测量数据传输至监控装置。

在一种实施例中，所述监控装置记录有所述步骤S10中的相关数据。

其次，在所述目标面板内滴入液晶，并利用第二装置测量所述目标面板的第一盒间距。

S40、根据所述第一支撑柱高度计算所述目标面板的第二盒间距；

在本步骤中，主要在所述监控装置中进行。

所述第一装置将测量数据传输至监控装置。所述监控装置根据所述第一支撑柱高度得到在该支撑柱高度下，所述目标面板所对应的最佳盒间距，即根据所述目标面板的所述第一支撑柱高度及所述第一函数关系式g(H)计算所述目标面板的所述第二盒间距。

S50、计算所述第一盒间距与所述第二盒间距的差的绝对值；

在本步骤中，主要在所述监控装置中进行。

当所述第一盒间距与所述第二盒间距的差的绝对值小于或等于阈值时，所述目标面板为合格产品。

当所述第一盒间距与所述第二盒间距的差的绝对值大于阈值时，调整所述目标面板的液晶量，并重新测量所述第一盒间距，直到所述第一盒间距与所述第二盒间距的差的绝对值小于或等于阈值，则进行下一步工艺。

本申请的显示面板的检测方法，实现了对所述目标面板盒间距的实时监控，并根据目标面板的支撑柱高度与第二盒间距的第一函数关系式g(H)，获取所述目标面板的最佳盒间距。将所述第一盒间距与所述第二盒间距的差的绝对值与阈值进行对比，可以对所述目标面板进行动态调整，避免气泡或不均匀点等其他异常出现，提高了面板的良率，减少了成本。

本申请还提出了一种控制器，所述控制器用于执行存储于存储器的若干指令，以实现上述的检测方法。

本申请还提出了一种显示面板的检测装置，所述显示面板的检测装置包括上述控制器和存储器。

本申请还提出了一种存储介质，所述存储介质中存储若干指令，其特征在于，所述指令用于供控制器执行以实现上述的检测方法。

本申请提供了一种显示面板的检测方法及装置、控制器、存储介质，包括：利用第一装置测量目标面板的第一支撑柱高度；利用第二装置测量所述目标面板的第一盒间距；根据所述第一支撑柱高度计算所述目标面板的第二盒间距；当所述第一盒间距与所述第二盒间距的差的绝对值小于或等于阈值时，所述目标面板为合格产品；否则，调整所述显示面板的液晶量。本申请通过测量目标面板的支撑柱高度，得到在该支撑柱高度下目标面板的最佳液晶量，提高了面板的良率，减少了成本的浪费。

综上所述，虽然本申请已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本申请，本领域的普通技术人员，在不脱离本申请的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本申请的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (7)

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：

利用第一装置测量目标面板的第一支撑柱高度；

利用第二装置测量所述目标面板的第一盒间距；

根据所述第一支撑柱高度计算所述目标面板的第二盒间距，具体包括：

获取目标面板的支撑柱高度与所述第二盒间距的第一函数关系式f(x)的步骤包括：

调整所述目标面板中支撑柱的高度，当所述目标面板产生气泡时，获取所述目标面板的液晶量与支撑柱的函数关系式V₁＝A₁·H+B₁；V₁为所述目标面板产生气泡时的液晶量；H为所述目标面板产生气泡时的支撑柱高度；

获取目标面板的支撑柱高度与所述第二盒间距的第一函数关系式f(x)的步骤还包括：

调整所述目标面板中支撑柱的高度，当所述目标面板出现不均匀点时，获取所述目标面板的液晶量与支撑柱高度的函数关系式V₂＝A₂·H+B₂；V₂为所述目标面板出现不均匀点时的液晶量；H为所述目标面板出现不均匀点时的支撑柱高度；

当所述目标面板产生气泡时，获取所述目标面板的支撑柱高度与对应盒间距的第二函数关系式：f₁(H)＝a·(A₁·H+B₁)+b；当所述目标面板出现不均匀点时，获取所述目标面板的支撑柱高度与对应盒间距的第三函数关系式：f₂(H)＝a·(A₂·H+B₂)+b；

获取所述目标面板的支撑柱高度与所述第二盒间距的第一函数关系式

计算所述第一盒间距与所述第二盒间距的差的绝对值；

当所述第一盒间距与所述第二盒间距的差的绝对值小于或等于阈值时，所述目标面板为合格产品；否则，调整所述目标面板的液晶量。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，利用第一装置测量目标面板的第一支撑柱高度之前，还包括步骤：

获取目标面板的支撑柱高度与所述第二盒间距的第一函数关系式g(H)；

H为所述目标面板的支撑柱高度；

g(H)为所述目标面板的所述第二盒间距。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，

获取目标面板的支撑柱高度与所述第二盒间距的第一函数关系式f(x)的步骤包括：

当所述目标面板的支撑柱高度不变时，通过调整所述目标面板的液晶量，获取所述目标面板的液晶量与盒间距的函数关系式f(V)＝a·V+b；

V为所述目标面板的液晶量；

f(V)为所述目标面板的所述盒间距。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，根据所述第一支撑柱高度计算所述目标面板的第二盒间距的步骤包括：

根据所述目标面板的所述第一支撑柱高度及所述第一函数关系式g(H)计算所述目标面板的所述第二盒间距。

5.一种控制器，其特征在于，所述控制器用于执行存储于存储器的若干指令，以实现如权利要求1-4任一项所述的检测方法。

6.一种显示面板的检测装置，其特征在于，所述显示面板的检测装置包括如权利要求5所述的控制器和存储器。

7.一种存储介质，所述存储介质中存储若干指令，其特征在于，所述指令用于供控制器执行以实现如权利要求1-4任一项所述的检测方法。

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